一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置的制造方法
【專利摘要】本發明提供了一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，屬于槽深測量技術領域。一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置包括基準塊和測量軸，基準塊沿待測零件內圓的徑向設置在待測零件內圓的內壁上，基準塊上沿待測零件內圓徑向開設有一軸孔，軸孔中配套插設有測量軸，測量軸的一端伸入軸孔中，測量軸的另一端突出于基準塊并伸入密封槽內；本發明通過基準塊上的圓弧定位面確定基準面的位置，此時槽深的誤差通過測量軸與基準面之間的高低差來反應，并通過杠桿表測量該數值，得到槽深的偏差值，測量精度高；裝置僅通過兩個簡單部件便能精準確定槽深，且安裝和拆卸過程快速，部件制作方便，使測量更加及時、成本更低、效率更高，滿足工廠流水線生產的需求。
【專利說明】
一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置
技術領域
[0001]本發明涉及槽深測量技術領域，具體是涉及一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置。
【背景技術】
[0002]隨著人們生活水平的提高，對使用到的工具的要求也變得更加嚴格。絕大多數的裝置都存在密封的空間，且密封空間上均設置有密封槽。對于一些精度要求較高的密封槽而言，能有效的測量出槽深確保裝置密封性的重要前提。
[0003]目前，測量槽深的方法有以下兩種，其一，通過常規量具進行測量，如千分尺、卡鉗等;其二，將零件送三坐標測量，測量結果較準確。但由于常規量具存在測量過程不方便，且常規量具的測量精度誤差大，受測量范圍的限制比較大，并且會因為量具的形狀無法伸入槽中或測量的基準把握不準而直接影響槽深的測量。其次，由于量具的價格高，在工廠經費有限的情況下，常規量具的采購數量有限，難以滿足零件工廠式生產的檢測需求。對于三坐標測量而言，雖說檢測精度高，但由于三坐標測量需要送專門的檢測地，檢測存在不及時的缺點，并且檢測過程較復雜，成本較高，也難以滿足零件工廠式的生產。
[0004]綜上所述，目前對槽深的測量存在檢測裝置成本高，測量誤差大，檢測不及時，難以滿足零件工廠式生產的檢測需求的問題。
【發明內容】
[0005]針對現有技術中存在的上述問題，現旨在提供一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，以基準塊和測量軸配合，將基準塊以零件的內壁為標準設置，并在基準塊上設置與測量軸配合的軸孔，通過測量軸插入待測量的密封槽中并通過測量軸與基準塊之間的高低差，確定槽深，操作簡單，只通過兩個部件即可快速測量出槽深，并且測量精度高，效率快，可以實現對工廠中零件流水線生產的檢測。
[0006]具體技術方案如下:
一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，具有這樣的特征，包括:基準塊和測量軸，基準塊沿待測零件內圓的徑向設置在待測零件內圓的內壁上，基準塊上沿待測零件內圓徑向開設有一軸孔，軸孔中配套插設有測量軸，測量軸的一端伸入軸孔中，測量軸的另一端突出于基準塊并伸入密封槽內。
[0007]上述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其中，基準塊上設置有圓弧定位面，且圓弧定位面與待測零件內圓的內壁貼合。
[0008]上述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其中，測量軸分為大端和小端，且大端的長度長于小端長度。
[0009]上述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其中，大端側壁為軸外壁，軸孔的內壁為孔壁，且軸外壁與孔壁貼合。
[0010]上述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其中，測量軸的長度等于基準塊的厚度加上密封槽的槽深。
[0011]上述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其中，測量軸小端設置測量面，且測量面呈球面設置。
[0012]上述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其中，基準塊的上部設置大平面，基準塊的下部設置小平面，且小平面與待測零件內圓的內壁之間設置有一定間隙。
[0013]上述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其中，小平面與圓弧定位面之間設置有防觸面，防觸面的一端連接在小平面上，防觸面的另一端連接在圓弧定位面上。
[0014]上述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其中，基準塊的厚度為大平面與小平面之間的距離。
[0015]上述技術方案的積極效果是:1、通過設置基準塊和測量軸兩個部件即可完成對密封槽深度的測量，且隨時可對槽深進行測量，避免測量不及時的問題;2、通過測量基準塊與測量軸之間的高低差即可確定密封槽深度，測量過程簡單，操作方便，能有效提高測量精度;3、基準塊的圓弧定位面與待測零件內圓的內壁貼合，且測量軸的長度根據基準塊厚度和槽深理論值之和設置，可使裝置不受測量范圍的限制;4、測量裝置制作過程簡單，節省了購買大量常規量具的費用，成本更加低;5、裝置安裝、拆卸方便且快速，能提高密封槽深度測量的效率，滿足零件工廠式加工的測量需求。
[0016]上述的測量高精度內圓密封槽深度的裝置，包括基準塊和測量軸，并將基準塊設置在待測零件內圓的內壁上，同時，基準塊沿待測零件內圓徑向開設有一軸孔，軸孔中配套插設有測量軸，測量軸的測量面插設在密封槽內，結構設計合理，布局緊湊。在基準塊上設置圓弧定位面和大平面，并將大平面設置成基準面，且讓圓弧定位面與待測零件內圓的內壁貼合，確保裝置不受測量范圍的限制;并在基準塊上開設與測量軸軸外壁貼合的軸孔，測量軸可在軸孔內沿待測零件內圓徑向運動，通過測量軸與基準面之間的高低差，確定密封槽槽深，測量精度高，使用方便;裝置僅采用兩個簡單部件即可完成對密封槽深度的測量，且兩部件之間的安裝配合過程簡單，安裝和拆卸過程快速，部件制作方便，使對密封槽槽深的測量更加及時、成本更低、效率更高，滿足工廠流水線生產的需求。
【附圖說明】
[0017]圖1為本發明的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置的實施例的結構圖；
圖2為本發明一較佳實施例的基準塊的結構圖；
圖3為圖2中沿A-A剖線的剖視圖；
圖4為本發明一較佳實施例的測量軸的結構圖。
[0018]附圖中:1、基準塊;2、測量軸；3、內壁；11、圓弧定位面；12、防觸面；13、小平面；14、大平面;15、軸孔;151、孔壁;21、大端;22、小端;211、軸外壁;212、大端面;221、測量面。
【具體實施方式】
[0019]為了使本發明實現的技術手段、創作特征、達成目的與功效易于明白了解，以下實施例結合附圖1至附圖4對本發明提供的技術方案作具體闡述，但以下內容不作為本發明的限定。
[0020]圖1為本發明的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置的實施例的結構圖；圖2為本發明一較佳實施例的基準塊的結構圖；圖3為圖2中沿A-A剖線的剖視圖。如圖1、圖2和圖3所示，本實施例提供的測量高精度內圓密封槽深度的裝置包括:基準塊1、測量軸2、大平面14、圓弧定位面11、防觸面12、小平面13、以及軸孔15和孔壁151。
[0021]圖4為本發明一較佳實施例的測量軸的結構圖。如圖1和圖4所示，本實施例提供的測量高精度內圓密封槽深度的裝置還包括:大端21、小端22、大端21面、測量面221、軸外套。
[0022]具體的，在待測零件內圓(未標出)的內壁3上設置基準塊I，基準塊I徑向設置在待測零件內圓(未標出)上，且基準塊I側面形狀呈多邊形設置，基準塊I上部設置大平面14，基準塊I下部設置小平面13，基準塊I上的大平面14和小平面13平行設置，并設置大平面14為基準面，且大平面14與小平面13之間的距離為基準塊I的厚度;沿待測零件內圓(未標出)的軸向方向上，基準塊I上的兩個面均為平面，且這兩個面平行設置；除去這兩個面以及大平面14和小平面13之外的側面均貼近或抵靠在待測零件內圓(未標出)的內壁3上。
[0023]在基準塊I大平面14的中間區域，沿待測零件內圓(未標出)的徑向開設有一通孔，設置為軸孔15，基準塊I上除去大平面14和小平面13以外的側面均關于軸孔15對稱設置；以基準塊I上的軸孔15軸線為分割線將基準塊I分為對稱的兩部分，其中一部分基準塊I上的側面沿從大平面14到小平面13的方向上依次為圓弧定位面11和防觸面12，所述圓弧定位面11的輪廓線為圓弧，圓弧定位面11的圓弧面與待測零件內圓(未標出)的內壁3貼合，保證測量的精度;防觸面12—端連接在圓弧定位面11上，另一端連接在小平面13上，防觸面12呈平面設置，與小平面13之間成一定的夾角，該夾角為鈍角，夾角角度根據待測零件內圓(未標出)的尺寸決定，這樣設置既保證了基準塊I上除了圓弧定位面11與待測零件內圓(未標出)的內壁3貼合之外，其它面均不接觸待測零件內圓(未標出)的內壁3，提高了測量的精度，也簡化了基準塊I的加工過程，使基準塊I的制作更加容易。
[0024]作為優選的實施方式，小平面13與待測零件內圓(未標出)的內壁3之間設置有一定的間隙，這樣設置能防止基準塊I上除了圓弧定位面11的其它面接觸到待測零件內圓(未標出)的內壁3，進一步提高對密封槽(未標出)槽深的測量精度。
[0025]作為優選的實施方式，圓弧定位面11的面積要小于防觸面12的面積，避免圓弧定位面11與待測零件內圓(未標出)的內壁3過多接觸，減小因待測零件內圓(未標出)的尺寸加工不精準帶來的測量誤差。
[0026]具體的，在基準塊I的軸孔15中設置有測量軸2，測量軸2的長度設置為基準塊I的厚度和密封槽(未標出)槽深的理論值之和，測量軸2分為大端21和小端22，其中大端21長度長于小端22長度;測量軸2的大端21的橫截面大于小端22的橫截面，且大端21的軸外壁211與基準塊I上的軸孔15的孔壁151貼合;測量軸2可在軸孔15中沿待測零件內圓(未標出)的徑向滑動，且測量軸2的小端22伸入待測零件的密封槽(未標出)內；測量軸2的大端21上遠離小端22的一端設置大端21面，且大端21面為平面;測量軸2的小端22上遠離連接在大端21上的一端設置測量面221，且測量面221抵靠在待測零件的密封槽(未標出)內。
[0027]作為優選的實施方式，測量軸2上小端22的橫截面尺寸要小于待測零件上密封槽(未標出)的槽寬，保證測量軸2小端22能伸入到密封槽(未標出)的底部，準確測量出密封槽(未標出)槽深。
[0028]作為優選的實施方式，小端22上的測量面221呈球面設置，使測量軸2與密封槽(未標出)之間形成點接觸，提高了槽深測量的精度。
[0029]更加具體的，將基準塊I徑向設置在待測零件內圓(未標出)的內壁3上，并在基準塊I的大平面14的中部沿待測零件內圓(未標出)的徑向開設一軸孔15，并在軸孔15中配合設置一測量軸2，且測量軸2的大端21的軸外壁211與軸孔15的孔壁151貼合，測量軸2的小端22伸入密封槽(未標出)內，且測量面221抵靠在密封槽(未標出)槽底上；由于密封槽(未標出)的加工存在偏差，導致實際密封槽(未標出)的加工深度與密封槽(未標出)的理論槽深存在差異，因此測量軸2的大端21面與基準塊I的基準面之間會形成高低差，再通過杠桿表(未標出)測量出高低差的數值，此數值便是加工的密封槽(未標出)槽深與密封槽(未標出)理論槽深的偏差值，將這個偏差值與產品允許的公差進行對比，確定加工的密封槽(未標出)是否符合要求。
[0030]作為進一步優選的實施方式，同一密封槽(未標出)的測量過程可取不同位置的多段密封槽(未標出)來測量槽深，通過多次測量確保測量的準確性。
[0031]本實施例提供的測量高精度內圓密封槽深度的裝置，包括基準塊I和測量軸2，并將基準塊I徑向設置在待測零件內圓(未標出)的內壁3上，同時，基準塊I大平面14的中部沿待測零件內圓(未標出)的徑向開設一軸孔15，軸孔15中配合設置一測量軸2，測量軸2的小端22插設在密封槽(未標出)內，結構設計合理，布局緊湊。在基準塊I上設置圓弧定位面11和大平面14，并將大平面14設置成基準面，且讓圓弧定位面11與待測零件內圓(未標出)的內壁3貼合，確保裝置不受測量范圍的限制；由于測量軸2可在軸孔15內沿待測零件內圓(未標出)徑向運動，因此槽深的誤差可通過測量軸2的大端21面與基準塊I的基準面之間的高低差來反應，通過杠桿表(未標出)測量出高低差的數值，便可得到槽深的偏差值，再與零件允許的公差值進行比較，確定產品是否合格，測量過程方便，測量精度高;裝置僅采用兩個簡單部件即可完成對密封槽(未標出)深度的測量，且兩部件之間的安裝配合過程簡單，安裝和拆卸過程快速，部件制作方便，使對密封槽(未標出)槽深的測量更加及時、成本更低、效率更高，滿足工廠流水線生產的需求。
[0032]以上僅為本發明較佳的實施例，并非因此限制本發明的實施方式及保護范圍，對于本領域技術人員而言，應當能夠意識到凡運用本發明說明書及圖示內容所作出的等同替換和顯而易見的變化所得到的方案，均應當包含在本發明的保護范圍內。
【主權項】
1.一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其特征在于，包括:基準塊和測量軸，所述基準塊沿待測零件內圓的徑向設置在所述待測零件內圓的內壁上，所述基準塊上沿所述待測零件內圓徑向開設有一軸孔，所述軸孔中配套插設有所述測量軸，所述測量軸的一端伸入所述軸孔中，所述測量軸的另一端突出于所述基準塊并伸入密封槽內。2.根據權利要求1所述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其特征在于，所述基準塊上設置有圓弧定位面，且所述圓弧定位面與所述待測零件內圓的所述內壁貼合。3.根據權利要求1所述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其特征在于，所述測量軸分為大端和小端，且所述大端的長度長于所述小端的長度。4.根據權利要求3所述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其特征在于，所述大端側壁為軸外壁，所述軸孔的內壁為孔壁，且所述軸外壁與所述孔壁貼合。5.根據權利要求1所述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其特征在于，所述測量軸的長度等于所述基準塊的厚度加上所述密封槽的槽深。6.根據權利要求3所述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其特征在于，所述測量軸的所述小端設置測量面，且所述測量面呈球面設置。7.根據權利要求1所述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其特征在于，所述基準塊的上部設置大平面，所述基準塊的下部設置小平面，且所述小平面與所述待測零件內圓的所述內壁之間設置有一定間隙。8.根據權利要求2或7所述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其特征在于，所述小平面與所述圓弧定位面之間設置有防觸面，所述防觸面的一端連接在所述小平面上，所述防觸面的另一端連接在所述圓弧定位面上。9.根據權利要求7所述的一種測量高精度內圓密封槽深度的裝置，其特征在于，所述基準塊的厚度為所述大平面與所述小平面之間的距離。
【文檔編號】G01B5/18GK106091892SQ201610732107
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年8月26日
【發明人】賴曉渝, 蓋志宏, 羅駿峰
【申請人】慈溪市匯麗機電有限公司