測量裝置以及測量方法
【專利摘要】本發明涉及測量裝置以及測量方法,上述測量裝置具備:光源部,生成探測光;分支部,將由上述探測光產生的后方布里淵散射光分支為在第一光路和第二光路傳播的第一光和第二光;延遲部,對上述第一光和第二光的任一方的光賦予延遲;合波部,將上述第一光和第二光合波來生成合波光;相干檢波部,對上述合波光進行零差檢波并將其檢波到的差頻作為相位差信號輸出。根據本發明,當使用后布里淵散射光進行光纖的失真測量時,通過測量光的頻率變化作為由相干檢波所提供的差拍信號的相位差,由此取得時間和相位的2維信息。
【專利說明】
測量裝置以及測量方法
技術領域
[0001]本發明涉及使用了布里淵散射光的測量裝置以及測量方法。
【背景技術】
[0002]隨著光纖通信的發展,光纖自身作為傳感介質的分布型光纖傳感被廣泛研究。在分布型光纖傳感中,以光時域反射儀(0TDR:0ptical Time Domain Ref lectometry)為代表,在該光時域反射儀中,從光纖的一端入射光脈沖,并相對時間測量在光纖中被后方散射的光。在光纖中的后方散射中存在瑞利散射、布里淵散射以及拉曼散射。其中,測量自然布里淵散射被稱呼為BOTDR(Brillc)Uin 0TDR:布里淵光時域反射儀)(例如,參照非專利文獻
Do
[0003]布里淵散射在相對于入射到光纖的光脈沖的中心頻率在斯托克斯側以及反斯托克斯側頻移了 GHz的程度的地方被觀測到,該光譜被稱為布里淵增益光譜。布里淵增益光譜的頻移量和光譜線寬分別被稱為布里淵位移和布里淵線寬,并根據光纖的材質以及入射到光纖的光脈沖的波長而不同。例如,被報告內容中,在波長1.5 5 μπι的光脈沖入射到石英系的單模光纖的情況下,布里淵位移成為約11GHz,布里淵線寬成為約30MHz。
[0004]已知布里淵位移相對光纖的失真以500MHz/%的程度的比例線性變化。若將這些換算為拉伸失真和溫度,則分別對應于0.058ΜΗζ/με、1.18MHz/°C。
[0005]如此,在BOTDR中,能夠測量針對光纖的長度方向上的失真、溫度分布。因此,BOTDR作為橋梁、隧道等大型建筑物的監控技術而被關注。
[0006]由于BOTDR測量在光纖中發生的自然布里淵散射光的光譜波形,因此該BOTDR—般進行與另外準備的參照光一起的外差檢波。自然布里淵散射光的強度比瑞利散射光的強度小2?3位。因此,外差檢波即便在使最小感光靈敏度增加上也變得有用。
[0007]參照圖6,對以往的BOTDR進行說明(例如,參照專利文獻I)。圖6是以往的光纖失真測量裝置的示意方框圖。
[0008]從光源112被出射的連續光被光耦合器142分支為2個。被分支為2個的其中一個作為參照光使用,另一個通過光頻移器143接受與布里淵頻率相當的頻移后,通過光脈沖發生器114成為脈沖狀的探測光。
[0009]該探測光經過光耦合器120被入射到成為測量對象的光纖(被測量纖維)100。來自被測量纖維100的后方布里淵散射光在光耦合器150中與參照光被合波后,被由平衡型光電二極管(PD) 162和FET放大器164構成的接收器160外差檢波。
[0010]這里,由于探測光通過光頻移器143被實施了布里淵頻率程度的頻移,所以被外差檢波而被生成的差拍信號的頻率變低。通過混頻器170、電濾波器178使差拍信號降低頻率后,對通過利用檢波電路172進行平方檢波或者包絡檢波而得到的IF( IntermediateFrequecy)信號的功率進行測量。該結果被發送至信號處理裝置174。
[0011]這里,由于BOTDR處理針對光纖的長度方向上的頻率光譜分布的信息,所以需要取得時間、振幅以及頻率的3維信息。參照圖7,在BOTDR中,對時間、振幅以及頻率的3維信息的取得方法進行說明。圖7是用于說明在以往的光纖失真測量裝置中的時間、振幅以及頻率的3維信息的取得方法的示意圖。在上述的專利文獻I所公開的技術中,在測量布里淵頻率光譜整體時,通過掃描局部振蕩電信號源183的頻率f來取得時間t以及振幅I的2維信息。
[0012]專利文獻1:日本特開2001 —165808號公報
[0013]非專利文南犬1:T.Kurashima et al./'Brillouin Optical —fiber time domainref lectometry “,IEICE Trans.Commun.,vol.Ε76—B,n0.4,pp.382 —390( 1993)
【發明內容】
[0014]這里,由于自然布里淵散射光非常微弱,所以即使應用外差檢波也不能確保足夠的信噪比(S/N)。其結果是,需要用于S/N改善的平均化處理。由于該平均化處理和上述3維信息的取得,所以在以往的光失真測量裝置中難以縮短測量時間。
[0015]本發明正是鑒于上述的問題點而提出。本發明的目的在于提供一種光纖失真測量裝置以及光纖失真測量方法,其通過測量光的頻率變化作為由相關檢波所提供的差拍信號的相位差,并使用了取得時間和相位的2維信息的自然布里淵散射光。
[0016]一種測量裝置,具備:光源部,生成探測光;分支部,將由上述探測光產生的后方布里淵散射光分支為在第一光路和第二光路傳播的第一光和第二光;延遲部,對上述第一光和第二光的任一方的光賦予延遲;合波部,將上述第一光和第二光合波來生成合波光;相干檢波部,對上述合波光進行零差檢波并將其檢波到的差頻作為相位差信號輸出。
[0017]另外,測量裝置的構成為具備:光源部、分支部、延遲部、合波部以及相干檢波部。而且,上述光源部生成探測光。探測光被入射至成為測量對象的光纖(被測量光纖)。分支部將由探測光在被測量光纖發生的后方布里淵散射光分支為第一光路和第二光路的2個。延遲部被設置在第一光路和第二光路的任一方,并對在第一光路和第二光路傳播的光之間賦予延遲時間差。合波部將在第一光路以及第二光路傳播的光合波來生成合波光。相干檢波部對合波光進行零差檢波并將差頻作為相位差信號輸出。該相位差信號是所謂的差拍信號。
[0018]另外,根據上述測量裝置的優選實施方式,測量裝置的構成為具備:光源部、分支部、光頻移部、延遲部、合波部、相干檢波部、電信號生成部以及混頻部。而且,光源部生成探測光。探測光被入射至被測量光纖。分支部將由探測光在被測量光纖發生的后方布里淵散射光分支為第一光路和第二光路的2個。光頻移部被設置在第一光路和第二光路的任一方,并提供拍頻的頻移。延遲部被設置在第一光路和第二光路的任一方,對在第一光路和第二光路傳播的光之間賦予延遲時間差。合波部將在第一光路和第二光路傳播的光合波來生成合波光。相干檢波部對合波光進行外差檢波并將差頻率作為第一電信號輸出。電信號生成部生成頻率與第一電信號保持相同頻率的第二電信號。混頻部對第一電信號和第二電信號進行零差檢波并將差頻作為相位差信號輸出。
[0019]該第一電信號是所謂的差拍信號。
[0020]另外,根據測量裝置的其它優選實施方式,構成為代替光頻移部具備第一光頻移部和第二光頻移部。而且,第一光頻移部被設置在第一光路,賦予第一頻率的頻移。第二光頻移部被設置在第二光路,賦予第二頻率的頻移。
[0021]該情況下,由于第二電信號作為第一頻率與第二頻率的差頻被生成,所以成為所謂的差拍信號。
[0022]另外,測量方法包含以下的過程。首先,生成探測光。探測光被入射至被測量光纖。接著,將由探測光在被測量光纖發生的后方布里淵散射光分支為第一光路和第二光路的2個。接著,對在第一光路和第二光路傳播的光之間賦予延遲時間差。接著,將在第一光路和第二光路傳播的光合波來生成合波光。接著,對合波光進行零差檢波并將差頻作為相位差信號輸出。
[0023]另外,根據上述測量方法的其它優選實施方式,構成為具備以下過程。
[0024]首先,生成探測光。探測光被入射至被測量光纖。接著,將由探測光在被測量光纖發生的后方布里淵散射光分支為第一光路和第二光路的2個。對在第一光路和第二光路的任一方傳播的光賦予拍頻的頻移。接著,對在第一光路和第二光路傳播的光之間賦予延遲時間差。接著,將在第一光路和第二光路傳播的光合波來生成合波光。接著,對合波光進行外差檢波來生成第一電信號。接著,生成頻率與第一電信號保持相同頻率的第二電信號。
[0025]接著,對第一電信號和第二電信號零差檢波并將差頻作為相位差信號輸出。
[0026]另外,根據測量方法的其它優選實施方式,對在第一光路傳播的光提供第一頻率的頻移并對在第二光路傳播的光提供第二頻率的頻移。
【附圖說明】
[0027]圖1是第一光纖失真測量裝置的示意方框圖。
[0028]圖2是表示布里淵位移與差拍信號的相位變化的示意圖。
[0029]圖3是表示延遲時間與可測量頻率的關系的示意圖。
[0030]圖4是第二光纖失真測量裝置的示意方框圖。
[0031 ]圖5是第3光纖失真測量裝置的示意方框圖。
[0032]圖6是以往的光纖失真測量裝置的示意方框圖。
[0033]圖7是用于說明以往的光纖失真測量裝置的時間、振幅以及頻率的3維信息的取得方法的示意圖。
[0034]附圖標記說明:10...光源部;20...循環器;30...光放大器;32...光帶通濾波器;40、41...自身延遲外差干涉儀;42...分支部;43...光頻移部;44...第一光頻移部;46...第二光頻移部;48...延遲部;50...合波部;60...相干檢波部;62...平衡型PD; 64...FET放大器;70、86...混頻部;72、88...低通濾波器(LPF);74...信號處理裝置;80、81...電信號生成部;82...第一局部振蕩電信號源;83...局部振蕩電信號源;84...第二局部振蕩電信號源;90...定時控制器。
【具體實施方式】
[0035]以下,雖然參照附圖對本發明的實施方式進行說明,但是對于各構成要素的形狀、大小以及配置關系只不過是為了能夠適度地理解本發明而概略地表示。另外,以下雖然說明本發明的優選結構例,但各構成要素的材質以及數值的條件等只不過僅用于優選例。因此,本發明并不限定在以下的實施方式,能夠進行不脫離本發明的構成的范圍而能夠達成本發明效果的多個變更或者變形。另外,關于各構成要素,能夠使用實現以下說明的功能的任意優選的公知的元件等。
[0036](第一實施方式)
[0037]參照圖1,對第一實施方式的光纖失真測量裝置(以下也稱為第一光纖失真測量裝置。)進行說明。圖1是第一光纖失真測量裝置的示意方框圖。
[0038]第一光纖失真測量裝置的構成為具備:光源部10、循環器20、光放大器30、光帶通濾波器32、自身延遲外差干涉儀40以及定時控制器90。
[0039]光源部10生成探測光。光源部10構成為具備生成連續光的光源12、由連續光生成光脈沖的光脈沖發生器14。
[0040]這里,第一光纖失真測量裝置測量頻率變化相應的相位差。因此,光源12的頻率波動必須比布里淵位移足夠小。鑒于此,使用頻率穩定激光器作為光源12。例如,在將成為測量對象的光纖(以下,也稱為被測量光纖。)100的失真設為0.008%時,布里淵位移相當于4MHz。因此,在測量0.008 %程度的失真時,期望光源12的頻率波動與4MHz相比足夠小。
[0041 ] 光脈沖發生器14使用任意優選的以往周知的聲光(A0:Acoust Optical)調制器或者電光(E0:Electric Optical)調制器而構成。光脈沖發生器14根據由定時控制器90生成的電脈沖,由連續光生成光脈沖。該光脈沖的重復周期被設定為比光脈沖在被測量光纖100中往返所需要的時間長。該光脈沖作為探測光從光源部10被輸出。
[0042]從該光源部10被輸出的探測光經過循環器20被入射至被測量光纖100。其中,也可以使用光耦合器代替20。
[0043]來自被測量光纖100的后方散射光經過循環器20被發送至光放大器30。由光放大器30被放大的后方散射光被發送至光帶通濾波器32。光帶通濾波器32具有1GHz程度的透射頻帶,僅透射自然布里淵散射光。該自然布里淵散射光被發送至自身延遲外差干涉儀40。從該光帶通濾波器32被出射的自然布里淵散射光的在時刻t時的信號E0(t)用以下的公式
(I)表示。
[0044]Eo(t) =Aoexp{ j(23ifbt+ Φ ο)} (I)
[0045]這里,Αο表示振幅,fb表示自然布里淵散射光的光頻率、Φ ο表示初期相位。
[0046]自身延遲外差干涉儀40的構成為具備:分支部42、第一光頻移部44、第二光頻移部46、延遲部48、合波部50、相干檢波部60、混頻部70、低通濾波器(LPF)72、電信號生成部80和信號處理裝置74。
[0047]電信號生成部80的構成為具備:第一局部振蕩電信號源82、第二局部振蕩電信號源84、混頻部86以及低通濾波器(LPF)88。其中,第一局部振蕩電信號源82、第二局部振蕩電信號源84也可以存在于電信號生成部80的外部。第一局部振蕩電信號源82生成第一頻率fi的電信號。第二局部振蕩電信號源84生成第二頻率5的電信號。混頻部86由第一頻率的電信號、第二頻率f2的電信號生成第一頻率^以及第二頻率f2的和頻分量、和差頻分量。LPF88從由混頻部86生成的信號輸出差頻分量Af(Zf1-A)的差拍信號。
[0048]分支部42利用探測光接收經過光帶通濾波器32的由被測量光纖100發生的后方布里淵散射光,并將該后方布里淵散射光分支為第一光路以及第二光路。
[0049]第一光頻移部44被設置于第一光路。第一光頻移部44使用由第一局部振蕩電信號源82所生成的第一頻率的電信號針對在第一光路傳播的光提供第一頻率5的頻移。
[0050]第二光頻移部46被設置于第二光路。第二光頻移部46使用由第二局部振蕩電信號源84所生成的第二頻率f2的電信號對在第二光路傳播的光提供第二頻率f2的頻移。
[0051]在以往的例如專利文獻I中所公開的測量裝置中,提供與布里淵位移對應的數十GHz程度的頻移。與此相對,在該第一光纖失真測量裝置中,第一頻率以及第二頻率f2是數十MHz程度。因此,能夠使用比以往的測量裝置小型且便宜的頻移器。
[0052]另外,在該結構例中,在第二光路設置有延遲部48。延遲部48對于在第二光路傳播的光提供時間τ的延遲。
[0053]合波部50將在第一光路和第二光路傳播的光合波來生成合波光。被入射至合波部50且在第一光路傳播的光信號Ei(t)、在第二光路傳播的光信號E2(t — τ)分別用以下的(2)
(3)公式表不。
[0054]Ei(t) =Aiexp{ j (23Tfbt+23rfit+Φ I)} (2)
[0055]E2(t) =A2exp[ j{2jrfb(t — T)+23if2t+Φ 2} ] (3)
[0056]這里,A1、A2以及Φ 1、Φ2分別是Ei(t)以及E2(t —τ)的振幅,Φ ι以及Φ 2分別是Ei(t)以及E2(t — τ)的初期相位。
[0057]相干檢波部60外差檢波合波光來生成差拍信號。相干檢波部60的構成為具備:例如平衡型光電二極管(PD)62和FET放大器64。通過外差檢波所提供的差拍信號I用以下的公式(4)表示。
[0058]I=Ai2+A22+4AiA2Cos{2jt( Δ ft+fbx)+Φ ι~ Φ 2} (4)
[0059]由相干檢波部60所生成的差拍信號作為第一電信號被發送至混頻部70。另外,由電信號生成部80所生成的差拍信號作為第二電信號被發送至混頻部70。
[0060]混頻部70對第一電信號和第二電信號進行零差檢波并生成零差信號。這里,由于作為差拍信號的第一以及第二電信號是具有任意拍頻Af的差拍信號,所以通過對它們進行零差檢波,23ifbT的變化作為相位差被輸出。布里淵頻率&由于光源12的振蕩頻率的波動和被測量光纖100的失真這2個原因而變化。可是,通過使用頻率穩定激光器作為光源12,基于被測量光纖100的失真的影響成為主導。這里,若假定在被測量光纖100中發生基于局部的失真的布里淵位移A fb,則上述的公式(4)能夠如以下的公式(5)那樣改寫。
[0061]I =Ai2+A22+4AiA2Cos[2jt{ Δ ft+(fb+Δ fb(t) )τ} +φ ι-φ 2] (5)
[0062]低通濾波器72從零差信號去掉和頻分量來生成表示與相位差對應的電壓值的相位差信號。該相位差信號被送至信號處理裝置74進行規定的處理。
[0063]圖2(A)以及(B)是表示布里淵位移和差拍信號的相位變化的示意圖。圖2(A)示出在橫軸表示時間t,在縱軸表示頻率。另外,圖2(B)示出在橫軸表示時間t,在縱軸表示電壓。
[0064]該橫軸的時間表示發生布里淵散射的地方。即,針對探測光被出射的時間,經過時間t后在后方布里淵散射光被入射的情況下,若設被測量光纖內的光的傳播速度為V,則在距離被測量光纖的入射端為vt/2的位置發生后方布里淵散射。
[0065]在圖2(A)中,表示與從時刻tl到t2的時間T對應的區間內發生頻移的例子。此時,因為由自身延遲外差干涉儀賦予延遲時間τ,所以相位變化在從tl到tl+τ之間變化,并在從時刻t2到t2+T之間返回到原來的狀態。即,由第一光纖失真測量裝置測量相位差時,需要滿足T > τ的關系,可測量的時間分辨率(S卩,空間分辨率)由τ決定。并且,可測量的頻率變化也由τ的大小決定。即,若τ變大,則可測量的頻率范圍變小,但是空間分辨率變大。另一方面,若τ變小,則空間分辨率變小,但是可測量的頻率范圍變大。如此,在延遲時間與可測量的頻率之間存在權衡的關系。在圖3中表示延遲時間與可測量頻率的關系。在這里,設相位變化的最小檢測感度為2V1000?2jt。若設延遲時間τ為lns,則頻率測量范圍成為IMHz?1GHz。Ins的延遲時間τ對應于20cm的空間分辨率,IMHz?IGHz的頻率測量范圍相當于0.002?2%的光纖的失真。這些值作為光纖的失真測量滿足足夠的空間分辨率以及測量精度。
[0066]如上所述,通過測量光的頻率變化作為由相關檢波提供的差拍信號的相位差,由此取得時間以及相位的2維信息。因此,與需要3維信息的取得的現有技術相比,縮短了測量時間。
[0067](第二實施方式)
[0068]參照圖4,對第二實施方式的光纖失真測量裝置(以下,也稱為第二光纖失真測量裝置。)進行說明。圖4是第二光纖失真測量裝置的示意方框圖。
[0069]第二光纖失真測量裝置與第一光纖失真測量裝置的不同點在于,自身延遲外差干涉儀41的光頻移部43是I個。在這里,雖然表示了光頻移部43被設置于第二光路的例子,但是也可以被設置于第一光路。
[0070]由于光頻移部是I個,所以電信號生成部81具備的局部振蕩電信號源83也是I個。另外,來自局部振蕩電信號源83的電信號作為第二電信號被輸入至混頻部70。對于其它的結構,因與第一光纖失真測量裝置相同而省略重復的說明。
[0071]第二光纖失真測量裝置對應于在上述(I)?(5)公式中設定f2= 0、Δ f = 情形。對于第二光纖失真測量裝置而言,由于光頻移部、局部振蕩電信號源是I個,所以與第一光纖失真測量裝置相比,在制造成本方面上是有利的。另一方面,因為由合波部所合波的2個光的頻率是接近的值,所以從進行零差檢波的觀點出發,第一光纖失真測量裝置能夠進行更加高精度的測量。
[0072](第3實施方式)
[0073]參照圖5,對第3實施方式的光纖失真測量裝置(以下,也稱為第3光纖失真測量裝置。)進行說明。圖5是第3光纖失真測量裝置的示意方框圖。
[0074]第3光纖失真測量裝置與第一光纖失真測量裝置的不同點在于,不具備光頻移部。
[0075]該情況下,相干檢波部60進行零差檢波來生成差拍信號。由于該差拍信號照舊對應于相位差信號,因此不需要電信號生成部、混頻部、LPF。
[0076]第3光纖失真測量裝置對應于在上述(I)?(5)公式中設定fi = f2 = 0、Δ f = 0的情形。由于第3光纖失真測量裝置不具備光頻移部、局部振蕩電信號源,所以與第一光纖失真測量裝置、第二光纖失真測量裝置相比,在第3光纖失真測量裝置制造成本方面上是有利的。
【主權項】
1.一種測量裝置,具備: 光源部,生成探測光; 光纖,入射所述探測光,并由所述探測光發生后方布里淵散射光; 分支部,將所述后方布里淵散射光分支為第一光和第二光; 延遲部,對所述第一光和第二光的任一方的光賦予延遲; 合波部,將所述第一光和第二光合波來生成合波光;以及 相干檢波部,對所述合波光進行零差檢波并將其檢波到的差頻作為相位差信號輸出。2.—種測量裝置,具備: 光源部,生成探測光; 分支部,將由所述探測光產生的后方布里淵散射光分支為在第一光路和第二光路傳播的第一光和第二光; 延遲部,對所述第一光和第二光的任一方的光賦予延遲; 合波部,將所述第一光和第二光合波來生成合波光;以及 相干檢波部,對所述合波光進行零差檢波并將其檢波到的差頻作為相位差信號輸出。3.根據權利要求2所述的測量裝置,其中, 所述后方布里淵散射光由在所述光纖傳播的所述探測光發生。4.一種測量裝置,具備: 光源部,生成探測光; 分支部,若所述探測光入射到光纖,則在所述光纖中由所述探測光發生后方布里淵散射光,將該后方布里淵散射光分支為在第一光路和第二光路傳播的第一光和第二光; 移相部,設在所述第一光路和所述第二光路的任一方,并將所述第一光和第二光的任一方的光的頻率移相拍頻的程度; 延遲部,對所述第一光和第二光的任一方的光賦予延遲; 合波部,將所述第一光和第二光合波來生成合波光; 相干檢波部,對所述合波光進行外差檢波并將其檢波到的差頻作為第一電信號輸出;電信號生成部,生成頻率與所述第一電信號的頻率相同的第二電信號;以及混頻部,對所述第一電信號和所述第二電信號進行零差檢波,并將其檢波到的差頻作為相位差信號輸出。5.—種測量裝置,具備: 光源部,生成探測光; 分支部,若所述探測光入射到光纖,則在所述光纖中由所述探測光發生后方布里淵散射光,將該后方布里淵散射光分支為在第一光路和第二光路傳播的第一光和第二光; 第一移相部,設在所述第一光路,并將所述第一光的頻率移相第一頻率的程度; 第二移相部,設在所述第二光路,并將所述第二光的頻率移相第二頻率的程度; 延遲部,對所述第一光和第二光的任一方的光賦予延遲; 合波部,將所述第一光和第二光合波來生成合波光; 相干檢波部,對所述合波光進行外差檢波并將其檢波到的差頻作為第一電信號輸出; 電信號生成部,生成頻率與所述第一電信號的頻率相同的第二電信號;以及 混頻部,對所述第一電信號和所述第二電信號進行零差檢波,并將差頻作為相位差信號輸出。6.一種測量方法,具有: 生成過程,生成探測光; 分支過程,將由所述探測光產生的后方布里淵散射光分支為在第一光路和第二光路傳播的第一光和第二光; 延遲過程,對所述第一光和第二光的任一方的光賦予延遲; 合波過程,將所述第一光和第二光合波來生成合波光;以及 輸出過程,對所述合波光進行零差檢波并將其檢波到的差頻作為相位差信號輸出。7.根據權利要求6所述的測量方法,其中, 所述后方布里淵散射光由在所述光纖傳播的所述探測光發生。8.—種測量方法,具有: 生成過程,生成探測光; 分支過程,若所述探測光入射到光纖,則在所述光纖中由所述探測光發生后方布里淵散射光,將該后方布里淵散射光分支為在第一光路和第二光路傳播的第一光和第二光;移相過程,將所述第一光和第二光的任一方的光的頻率移相拍頻的程度; 延遲過程,對所述第一光和第二光的任一方的光賦予延遲; 合波過程,將所述第一光和第二光合波來生成合波光; 第一輸出過程,對所述合波光進行外差檢波并將其檢波到的差頻作為第一電信號輸出; 生成過程,生成頻率與所述第一電信號的頻率相同的第二電信號;以及第二輸出過程,對所述第一電信號和所述第二電信號進行零差檢波,并將其檢波到的差頻作為相位差信號輸出。9.一種測量方法,具有: 生成過程,生成探測光; 分支過程,若所述探測光入射到光纖,則在所述光纖中由所述探測光發生后方布里淵散射光,將該后方布里淵散射光分支為在第一光路和第二光路傳播的第一光和第二光;第一移相過程,將所述第一光的頻率移相第一頻率的程度; 第二移相過程,將所述第二光的頻率移相第二頻率的程度; 延遲過程,對所述第一光和第二光的任一方的光賦予延遲; 合波過程,將所述第一光和第二光合波來生成合波光; 第一輸出過程,對所述合波光進行外差檢波并將其檢波到的差頻作為第一電信號輸出; 生成過程,生成頻率與所述第一電信號的頻率相同的第二電信號;以及第二輸出過程,對所述第一電信號和所述第二電信號進行零差檢波,并將其檢波到的差頻作為相位差信號輸出。
【文檔編號】G01D5/353GK106017521SQ201610024026
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年1月14日
【發明人】小泉健吾
【申請人】沖電氣工業株式會社