一種應用于集成電路檢測的篩選裝置的制造方法
【專利摘要】本發明公開了一種應用于集成電路檢測的篩選裝置，其檢測機架包括兩根橫向的底桿，底桿之間固定連接有若干根縱向的連桿，底桿的兩端設有側支架，側支架由兩根豎直桿和一根水平桿組成，側支架的水平桿的兩端固定在側支架的豎直桿的頂端，側支架的豎直桿的底端分別固定在兩根底桿上，側支架之間有翻轉支架，翻轉支架包括兩個內齒圈，內齒圈相對的兩側設有橫梁，橫梁的兩端分別固定在兩個內齒圈上，內齒圈上嚙合有小齒輪，小齒輪通過連軸鉸接在側支架的水平桿上，所述內齒圈下部兩側的外壁上抵靠有軸承，軸承通過螺栓鉸接在側支架水平桿的兩端；它能對集成電路板進行篩選，保證集成電路板正面朝上，以便后續的工業相機進行外觀檢測。
【專利說明】
一種應用于集成電路檢測的篩選裝置
技術領域
:
[0001]本發明涉及集成電路檢測裝置的技術領域，更具體地說涉及一種應用于集成電路檢測的篩選裝置。
【背景技術】
:
[0002]集成電路是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構。而集成電路在生產過程中均要想進行檢測，其檢測包括性能檢測和外觀檢測，外觀檢測的項目包括會造成集成電路性能問題的劃痕、凹陷的缺陷，而現有的集成電路的外觀檢測通過目測完成或工業相機進行檢測，而通過工業相機檢測時，則需要將集成電路板的正面朝上，即安裝有電容元件的一面朝上，從而需要進行篩選。
【發明內容】
:
[0003]本發明的目的就是針對現有技術之不足，而提供了一種應用于集成電路檢測的篩選裝置，能對集成電路板進行篩選，保證集成電路板正面朝上，以便后續的工業相機進行外觀檢測。
[0004]為實現上述目的，本發明的技術方案如下:
[0005]—種應用于集成電路檢測的篩選裝置，包括檢測機架，檢測機架包括兩根橫向的底桿，底桿之間固定連接有若干根縱向的連桿，底桿的兩端設有側支架，側支架由兩根豎直桿和一根水平桿組成，側支架的水平桿的兩端固定在側支架的豎直桿的頂端，側支架的豎直桿的底端分別固定在兩根底桿上，側支架之間有翻轉支架，翻轉支架包括兩個內齒圈，內齒圈相對的兩側設有橫梁，橫梁的兩端分別固定在兩個內齒圈上，內齒圈上嚙合有小齒輪，小齒輪通過連軸鉸接在側支架的水平桿上，所述內齒圈下部兩側的外壁上抵靠有軸承，軸承通過螺栓鉸接在側支架水平桿的兩端；
[0006]所述的橫梁上螺接有若干調節螺栓，調節螺栓的末端鉸接在橫向的槽軌上，槽軌和橫梁在同一平面內，所述槽軌之間設有定位傳感器，定位傳感器包括第一發射器和第一接收器，第一發射器位于檢測機架的上方并固定在‘門’字形的定位支架上，定位支架由水平部和豎直部組成，定位支架豎直部的底端固定在檢測機架上，所述的第一接收器固定在第一發射器正下發的連桿上，檢測機架的兩側設有檢測傳感器，檢測傳感器包括第二發射器和第二接收器，第二發射器和第二接收器分別固定在兩個調節支架上，調節支架固定在定位支架上。
[0007]所述定位支架的豎直部位于檢測機架的兩側，定位支架的水平部位于檢測機架的上方。
[0008]所述的調節支架包括支柱，支柱插接在定位支架的豎直部上并抵靠有鎖緊螺栓，鎖緊螺栓螺接在定位支架的豎直部上，支柱上固定連接有支桿，支桿上插套有‘回’字形的定位套，定位套通過螺釘固定在支桿上，所述的檢測傳感器包括第二發射器和第二接收器分別固定在定位套上。
[0009]所述槽軌的兩端成型有向外側彎曲的弧形導向，所述的調節螺栓呈線性均勻分布在弧形導向之間的槽軌上。
[0010]所述槽軌的長度小于橫梁的長度，槽軌的兩端未伸入內齒圈內。
[0011]所述側支架上鉸接有小齒輪的連軸的一端伸出側支架固定連接有帶輪。
[0012]本發明的有益效果在于:
[0013]它提供了一種應用于集成電路檢測的篩選裝置，能對集成電路板進行篩選，保證集成電路板正面朝上，以便后續的工業相機進行外觀檢測。【附圖說明】:
[0014]圖1為發明立體的結構示意圖；
[0015]圖2為發明側視的結構示意圖；
[0016]圖3為發明俯視的結構示意圖。[〇〇17]圖中:1、檢測機架；la、底桿；lb、連桿；lc、側支架；2、翻轉支架；2a、內齒圈；2b、橫梁;3、調節螺栓;4、槽軌;4a、弧形導向；5、小齒輪;6、帶輪;7、軸承;8、定位傳感器;8a、第一發射器;8b、第一接收器;9、定位支架；10、調節支架；10a、柱；10b、支桿；10c、定位套；11、檢測傳感器;11a、第二發射器;11b、第二接收器;12、鎖緊螺栓。【具體實施方式】:
[0018]實施例:見圖1、2、3所示，一種應用于集成電路檢測的篩選裝置，包括檢測機架1， 檢測機架1包括兩根橫向的底桿la，底桿la之間固定連接有若干根縱向的連桿lb，底桿la的兩端設有側支架lc，側支架lc由兩根豎直桿和一根水平桿組成，側支架lc的水平桿的兩端固定在側支架1C的豎直桿的頂端，側支架1 c的豎直桿的底端分別固定在兩根底桿la上，側支架1之間有翻轉支架2，翻轉支架2包括兩個內齒圈2a，內齒圈2a相對的兩側設有橫梁2b， 橫梁2b的兩端分別固定在兩個內齒圈2a上，內齒圈2a上嚙合有小齒輪5,小齒輪5通過連軸鉸接在側支架lc的水平桿上，所述內齒圈2a下部兩側的外壁上抵靠有軸承7,軸承7通過螺栓鉸接在側支架lc水平桿的兩端；[〇〇19]所述的橫梁2b上螺接有若干調節螺栓3,調節螺栓3的末端鉸接在橫向的槽軌4上， 槽軌4和橫梁2b在同一平面內，所述槽軌4之間設有定位傳感器8,定位傳感器8包括第一發射器8a和第一接收器8b，第一發射器8a位于檢測機架1的上方并固定在‘門’字形的定位支架9上，定位支架9由水平部和豎直部組成，定位支架9豎直部的底端固定在檢測機架1上，所述的第一接收器8b固定在第一發射器8a正下發的連桿lb上，檢測機架1的兩側設有檢測傳感器11，檢測傳感器11包括第二發射器11a和第二接收器11b，第二發射器11a和第二接收器 lib分別固定在兩個調節支架10上，調節支架10固定在定位支架9上。
[0020]所述定位支架9的豎直部位于檢測機架1的兩側，定位支架9的水平部位于檢測機架1的上方。
[0021]所述的調節支架10包括支柱10a，支柱10a插接在定位支架9的豎直部上并抵靠有鎖緊螺栓12，鎖緊螺栓12螺接在定位支架9的豎直部上，支柱10a上固定連接有支桿1 Ob，支桿1b上插套有‘回’字形的定位套10c，定位套1c通過螺釘固定在支桿1b上，所述的檢測傳感器11包括第二發射器I Ia和第二接收器I Ib分別固定在定位套1c上。
[0022]所述槽軌4的兩端成型有向外側彎曲的弧形導向4a，所述的調節螺栓3呈線性均勻分布在弧形導向4a之間的槽軌4上。
[0023]所述槽軌4的長度小于橫梁2b的長度，槽軌4的兩端未伸入內齒圈2a內。
[0024]所述側支架Ic上鉸接有小齒輪5的連軸的一端伸出側支架Ic固定連接有帶輪6。
[0025]工作原理:本發明為集成電路檢測的篩選裝置，是工業相機進行外觀檢測的前一道工序，本篩選裝置的主要作用是實現集成電路板的正面朝上，以便外觀檢測，檢測方式為，集成電路板進入槽軌4內，當定位傳感器8檢測到集成電路板，停止集成電路板的輸送，而檢測傳感器11設置在槽軌4的上方，檢測傳感器11的第二接收器Ilb接收到第二發射器I Ia所發射的光線，則就表明未被集成電路板上的電容等元器件所阻擋，則表示集成電路板是反面的，則驅使翻轉支架2翻轉集成電路板在輸出，反之則直接輸出。
【主權項】
1.一種應用于集成電路檢測的篩選裝置，包括檢測機架(1)，檢測機架(1)包括兩根橫 向的底桿(la)，底桿(la)之間固定連接有若干根縱向的連桿(lb)，底桿(la)的兩端設有側 支架(lc)，側支架(lc)由兩根豎直桿和一根水平桿組成，側支架(lc)的水平桿的兩端固定 在側支架(1 c)的豎直桿的頂端，側支架(1 c)的豎直桿的底端分別固定在兩根底桿(la)上， 其特征在于:側支架(1)之間有翻轉支架(2)，翻轉支架(2)包括兩個內齒圈(2a)，內齒圈 (2a)相對的兩側設有橫梁(2b)，橫梁(2b)的兩端分別固定在兩個內齒圈(2a)上，內齒圈 (2a)上嚙合有小齒輪(5)，小齒輪(5)通過連軸鉸接在側支架(lc)的水平桿上，所述內齒圈 (2a)下部兩側的外壁上抵靠有軸承(7)，軸承(7)通過螺栓鉸接在側支架(lc)水平桿的兩 端；所述的橫梁(2b)上螺接有若干調節螺栓(3)，調節螺栓(3)的末端鉸接在橫向的槽軌 (4)上，槽軌(4)和橫梁(2b)在同一平面內，所述槽軌(4)之間設有定位傳感器(8 )，定位傳感 器(8)包括第一發射器(8a)和第一接收器(8b)，第一發射器(8a)位于檢測機架(1)的上方并 固定在‘門’字形的定位支架(9)上，定位支架(9)由水平部和豎直部組成，定位支架(9)豎直 部的底端固定在檢測機架(1)上，所述的第一接收器(8b)固定在第一發射器(8a)正下發的 連桿(lb)上，檢測機架(1)的兩側設有檢測傳感器(11)，檢測傳感器(11)包括第二發射器 (11a)和第二接收器(11b)，第二發射器(11a)和第二接收器(lib)分別固定在兩個調節支架 (10)上，調節支架(10)固定在定位支架(9)上。2.根據權利要求1所述的一種應用于集成電路檢測的篩選裝置，其特征在于:所述定位 支架(9)的豎直部位于檢測機架(1)的兩側，定位支架(9)的水平部位于檢測機架(1)的上 方。3.根據權利要求1所述的一種應用于集成電路檢測的篩選裝置，其特征在于:所述的調 節支架(10)包括支柱(l〇a)，支柱(10a)插接在定位支架(9)的豎直部上并抵靠有鎖緊螺栓 (12 )，鎖緊螺栓(12)螺接在定位支架(9)的豎直部上，支柱(10a)上固定連接有支桿(1 Ob)， 支桿(l〇b)上插套有‘回’字形的定位套(10c)，定位套(10c)通過螺釘固定在支桿(10b)上， 所述的檢測傳感器(11)包括第二發射器(11a)和第二接收器(lib)分別固定在定位套(10c) 上。4.根據權利要求1所述的一種應用于集成電路檢測的篩選裝置，其特征在于:所述槽軌 (4)的兩端成型有向外側彎曲的弧形導向(4a)，所述的調節螺栓(3)呈線性均勻分布在弧形 導向(4a)之間的槽軌(4)上。5.根據權利要求1所述的一種應用于集成電路檢測的篩選裝置，其特征在于:所述槽軌 (4)的長度小于橫梁(2b)的長度，槽軌(4)的兩端未伸入內齒圈(2a)內。6.根據權利要求1所述的一種應用于集成電路檢測的篩選裝置，其特征在于:所述側支 架(1 c)上鉸接有小齒輪(5)的連軸的一端伸出側支架(1 c)固定連接有帶輪(6)。
【文檔編號】G01N21/01GK105973913SQ201610457203
【公開日】2016年9月28日
【申請日】2016年6月20日
【發明人】王文慶
【申請人】東莞市聯洲知識產權運營管理有限公司