一種檢測集成電路的測試探針卡的制作方法
【專利摘要】本發明公開了一種檢測集成電路的測試探針卡，其探針座上成型有探針孔，探針孔內插接有探針，探針包括中部的止擋部，止擋部的上端面檢測桿，檢測桿的上端露出探針座的上端面，止擋部的下端成型有螺柱，螺柱上螺接有上永磁體，上永磁體的下側的探針座探針孔內插接有下永磁體，下永磁體上端面的磁極和上永磁體下端面的磁極相同；探針座探針孔的側壁上成型有凹槽，探針座凹槽內插接有豎直的導電片，導電片的上端成型有圓弧形的彈性部，彈性部壓靠在探針的止擋部上，彈性部的下端彎折成型有連接部，連接部通過導電螺釘和下永磁體相連接導電螺釘抵靠在檢測電路板上。它結構簡單，制造及組裝方便，能避免因彈簧機械疲勞失效而造成的接觸不良。
【專利說明】
一種檢測集成電路的測試探針卡
技術領域
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[0001]本發明涉及集成電路檢測裝置的技術領域，更具體地說涉及一種檢測集成電路的測試探針卡。
【背景技術】
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[0002]探針卡為半導體工藝中常使用于檢測電路的元件，其內排列設置有多個探針，探針的排列位置與此探針卡欲檢測的待測電路板上的電路配置相對應。探針卡通常設置在一檢測機臺之上，待測電路板以一工具夾持并且壓制于探針上。因此使得各探針導通待測電路板上的電路，藉由探針檢測待測電路板上的電路是否正常運作。現有的探針結構一般包含有一個套筒套筒內設有二個電極以及連接在二電極之間的一彈簧。其中一個電極固定于檢測機臺并且電性連接檢測機臺，另一個電極則可活動地位于套筒內用以導接欲檢測的待測電路板上的焊點。當待測電路板觸壓探針時，彈簧被壓縮而施力于活動的電極，藉此使此電極與待測電路板加壓接觸而確實導通。或者是只設置一個活動的電極，而藉由彈簧直接導接電極與檢測機臺。
[0003]探針為微小的元件，其結構復雜，零件制作及組裝皆不易。現有的探針以彈簧作為導接元件，其因此工藝中的誤差常會導致探針接觸不良而無法導通待測電路板與檢測機臺ο
【發明內容】
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[0004]本發明的目的就是針對現有技術之不足，而提供了一種檢測集成電路的測試探針卡，其結構簡單，制造及組裝方便，同時能避免傳統測試探針內因彈簧機械疲勞失效等而造成的接觸不良。
[0005]為實現上述目的，本發明的技術方案如下:
[0006]—種檢測集成電路的測試探針卡，包括探針座和檢測電路板，探針座上成型有探針孔，探針孔內插接有探針，探針包括中部的止擋部，止擋部的上端面檢測桿，檢測桿的上端露出探針座的上端面，止擋部的下端成型有螺柱，螺柱上螺接有上永磁體，上永磁體的下側的探針座探針孔內插接有下永磁體，下永磁體上端面的磁極和上永磁體下端面的磁極相同；探針座探針孔的側壁上成型有凹槽，探針座凹槽內插接有豎直的導電片，導電片的上端成型有圓弧形的彈性部，彈性部壓靠在探針的止擋部上，彈性部的下端彎折成型有連接部，連接部抵靠在上永磁體的下端面并導電螺釘相連接在一起，導電螺釘抵靠在檢測電路板的導電區域上。
[0007]所述探針止擋部的側壁上成型有切槽，導電片的彈性部壓靠在止擋部切槽的底面上。
[0008]所述探針檢測桿的上端成型有若干錐形的針頭，針頭繞檢測桿上端面的中心呈環形均勻分布在檢測桿上。
[0009]所述上永磁體和下永磁體均呈圓柱形，上永磁體的直徑和下永磁體的直徑相等。
[0010]所述下永磁體的下端面上成型有導電螺釘的底部螺紋孔，導電片的連接部上成型有導電螺釘的過孔。
[0011]所述導電片上彈性部與探針止擋部的接觸點至止擋部上端面的距離不小于探針檢測桿露出探針座上端面的長度。
[0012]本發明的有益效果在于:
[0013]它為一種結構簡單、制造及組裝方便的測試探針，同時測試探針內彈性結構由相同磁極的永磁體代替傳統的彈簧，則能避免傳統測試探針內因彈簧機械疲勞失效等而造成的接觸不良。
【附圖說明】
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[0014]圖1為發明的結構不意圖；
[0015]圖2為發明探針、上永磁體和下永磁體立體的結構示意圖。
[0016]圖中:1、探針座；11、探針孔;2、探針;21、止擋部;211、切槽;22、檢測桿;221、針頭；23、螺柱;3、上永磁體;4、下永磁體;5、導電片;51、連接部;52、彈性部;6、導電螺釘;7、檢測電路板。
【具體實施方式】
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[0017]實施例:見圖1、2所示，一種檢測集成電路的測試探針卡，包括探針座I和檢測電路板7，探針座I上成型有探針孔11，探針孔11內插接有探針2，探針2包括中部的止擋部21，止擋部21的上端面檢測桿22，檢測桿22的上端露出探針座I的上端面，止擋部21的下端成型有螺柱23，螺柱23上螺接有上永磁體3，上永磁體3的下側的探針座I探針孔11內插接有下永磁體4，下永磁體4上端面的磁極和上永磁體3下端面的磁極相同；探針座I探針孔11的側壁上成型有凹槽，探針座I凹槽內插接有豎直的導電片5，導電片5的上端成型有圓弧形的彈性部52，彈性部52壓靠在探針2的止擋部21上，彈性部52的下端彎折成型有連接部51，連接部51抵靠在上永磁體3的下端面并導電螺釘6相連接在一起，導電螺釘6抵靠在檢測電路板7的導電區域上。
[0018]所述探針2止擋部21的側壁上成型有切槽211，導電片5的彈性部52壓靠在止擋部21切槽211的底面上。
[0019]所述探針2檢測桿22的上端成型有若干錐形的針頭221，針頭221繞檢測桿22上端面的中心呈環形均勻分布在檢測桿22上。
[0020]所述上永磁體3和下永磁體4均呈圓柱形，上永磁體3的直徑和下永磁體4的直徑相等。
[0021]所述下永磁體4的下端面上成型有導電螺釘6的底部螺紋孔，導電片5的連接部51上成型有導電螺釘6的過孔。
[0022]所述導電片5上彈性部52與探針2止擋部21的接觸點至止擋部21上端面的距離不小于探針2檢測桿22露出探針座I上端面的長度。
[0023]工作原理:本發明為檢測集成電路的測試探針，屬于探針卡的一種，主要亮點是整改了探針卡內部的結構，通過上永磁體3和下永磁體4相同磁極產生的斥力提供彈力，并另置導電片5電連接檢測電路板7和探針2，在方便組裝的基礎上其電連接接觸效果良好，亦能避免傳統測試探針內因彈簧機械疲勞失效等而造成的接觸不良。
【主權項】
1.一種檢測集成電路的測試探針卡，包括探針座(I)和檢測電路板(7)，探針座(I)上成型有探針孔(11)，探針孔(11)內插接有探針(2)，探針(2)包括中部的止擋部(21)，止擋部(21)的上端面檢測桿(22)，檢測桿(22)的上端露出探針座(I)的上端面，其特征在于:止擋部(21)的下端成型有螺柱(23)，螺柱(23)上螺接有上永磁體(3)，上永磁體(3)的下側的探針座(I)探針孔(II)內插接有下永磁體(4)，下永磁體(4)上端面的磁極和上永磁體(3)下端面的磁極相同；探針座(I)探針孔(11)的側壁上成型有凹槽，探針座(I)凹槽內插接有豎直的導電片(5)，導電片(5)的上端成型有圓弧形的彈性部(52)，彈性部(52)壓靠在探針(2)的止擋部(21)上，彈性部(52)的下端彎折成型有連接部(51)，連接部(51)抵靠在上永磁體(3)的下端面并導電螺釘(6)相連接在一起，導電螺釘(6)抵靠在檢測電路板(7)的導電區域上。2.根據權利要求1所述的一種檢測集成電路的測試探針卡，其特征在于:所述探針(2)止擋部(21)的側壁上成型有切槽(211)，導電片(5)的彈性部(52)壓靠在止擋部(21)切槽(211)的底面上。3.根據權利要求1所述的一種檢測集成電路的測試探針卡，其特征在于:所述探針(2)檢測桿(22)的上端成型有若干錐形的針頭(221)，針頭(221)繞檢測桿(22)上端面的中心呈環形均勻分布在檢測桿(22)上。4.根據權利要求1所述的一種檢測集成電路的測試探針卡，其特征在于:所述上永磁體(3)和下永磁體(4)均呈圓柱形，上永磁體(3)的直徑和下永磁體(4)的直徑相等。5.根據權利要求1所述的一種檢測集成電路的測試探針卡，其特征在于:所述下永磁體(4)的下端面上成型有導電螺釘(6)的底部螺紋孔，導電片(5)的連接部(51)上成型有導電螺釘(6)的過孔。6.根據權利要求1所述的一種檢測集成電路的測試探針卡，其特征在于:所述導電片(5)上彈性部(52)與探針(2)止擋部(21)的接觸點至止擋部(21)上端面的距離不小于探針(2)檢測桿(22)露出探針座(I)上端面的長度。
【文檔編號】G01R1/073GK105929208SQ201610455200
【公開日】2016年9月7日
【申請日】2016年6月20日
【發明人】王文慶
【申請人】東莞市聯洲知識產權運營管理有限公司