一種基于單io的ic卡并行測試方法
【專利摘要】一種基于單IO的IC卡并行測試方法，涉及IC卡技術領域。本發明使用測試機對待測IC卡上的芯片進行并行測試。所述并行測試方法包括卡片接收命令方法和卡片發送數據方法，采用內部時鐘采樣命令IO，每bit對齊收發命令。其中卡片接收命令的方法步驟為：1）使用一個外部時鐘周期的低電平作為起始標志；2）待測IC卡使用內部時鐘采樣命令IO對高低電平的長度進行采樣計數；3）待測IC卡對每一組高低電平的計數進行判斷；4）命令bit0~bit2傳送命令類型，即確定了該命令的長度，待測IC卡順序采樣，收夠指定長度的數據后，即跳出接收命令的循環。本發明采用內部時鐘采樣命令IO，每bit對齊進行命令收發，減少了時鐘IO，增加同測卡片數量，有效減少測試成本。
【專利說明】
一種基于單1的IC卡并行測試方法
技術領域
[0001]本發明涉及IC卡技術領域，特別是可以在無外部時鐘的情況下對多個IC卡進行并行測試。
【背景技術】
[0002]IC卡廣泛使用于手機通訊、信用卡支付等應用中。隨著IC卡技術的不斷進步，IC卡的單位面積日益縮減，單張晶圓上的產值持續增加。伴隨而來的是測試成本占總成本的比重顯著增長，并且此矛盾隨著IC卡存儲容量的變大而愈發明顯。
[0003]現有技術中，由于IC卡上芯片的內部時鐘，既內部晶振所產生的時鐘存在一定范圍的偏差，所以傳統生產測試均采用外部時鐘，即測試機所發出時鐘進行并行測試。此方法的好處是IC卡系統與收到的命令是同時鐘源的，命令長度可以得到有效的控制，并行測試的IC卡步調一致，操作簡單。而代價則是每顆芯片需要測試機提供兩根10，也就是命令1和時鐘10，無法做到同測卡片數量的最大化。
【發明內容】
[0004]針對上述現有技術中存在的不足，本發明的目的是提供一種基于單1的IC卡并行測試方法。它采用內部時鐘采樣命令10，每bit對齊進行命令收發，減少了時鐘10，增加同測卡片數量，有效減少測試成本。
[0005]為了達到上述發明目的，本發明的技術方案以如下方式實現:
一種基于單1的IC卡并行測試方法，它使用測試機對待測IC卡上的芯片進行并行測試。所述并行測試方法包括卡片接收命令方法和卡片發送數據方法，采用內部時鐘采樣命令10，每bit對齊收發命令。其中卡片接收命令的方法步驟為:
1)使用一個外部時鐘周期的低電平作為起始標志，一個高電平和一個低電平為一組，表示Ibit數據；
2)待測IC卡使用內部時鐘采樣命令1對高低電平的長度進行采樣計數；
3)待測IC卡對每一組高低電平的計數進行判斷，如若采到高電平的個數大于采到低電平的個數，即判斷該bit為1，反之則為O ;
4)命令bit(Tbit2傳送命令類型，即確定了該命令的長度，待測IC卡順序采樣，收夠指定長度的數據后，即跳出接收命令的循環。
[0006]其中卡片發送數據的方法步驟為:
1)當待測IC卡收到讀指令后，進入發送數據流程，等待內部時鐘采樣命令1上的低電平脈沖指不彳目號；
2)每檢測到一次低電平脈沖，發送一bit數據，即在內部時鐘采樣命令1低電平脈沖上升沿后，輸出O或I并保持一段時間，測試機在這時間段取走數據；
3)發送數據結束后，內部時鐘采樣命令1回歸輸入模式，等待下一次低電平脈沖直至全部數據發送完畢。
[0007]本發明由于采用了上述方法，同現有技術相比具有如下特點:
在卡片接收命令時:
I)卡片僅對一 bit中的高低電平計數進行判斷，不對計數的絕對數量進行判斷，所以不同卡片內部時鐘存在的偏差不會對命令的解析造成影響。
[0008]2)命令的長度可以進行調整，只需要命令寬度和內部時鐘符合一定的比例關系即可。
[0009]在卡片發送數據時:
I)發送數據的流程按bit與外部時鐘對齊，避免由內部時鐘不同步而引起的接收數據錯誤。
[0010]下面結合附圖和【具體實施方式】對本發明作進一步說明。
【附圖說明】
[0011]圖1為本發明實施例中卡片接收命令的時序圖；
圖2為本發明實施例中卡片發送數據的時序圖。
【具體實施方式】
[0012]本發明方法使用測試機對待測IC卡上的芯片進行并行測試，并行測試方法包括卡片接收命令方法和卡片發送數據方法，采用內部時鐘采樣命令10，每bit對齊收發命令。本發明中的卡片接收命令的方法步驟為:
I)使用一個外部時鐘周期的低電平作為起始標志，一個高電平和一個低電平為一組，表示Ibit數據。
[0013]2)待測IC卡使用內部時鐘采樣命令1對高低電平的長度進行采樣計數。
[0014]3)待測IC卡對每一組高低電平的計數進行判斷，如若采到高電平的個數大于采至帳電平的個數，即判斷該bit為1，反之則為O。
[0015]4)命令bit0~bit2傳送命令類型，即確定了該命令的長度。待測IC卡順序采樣，收夠指定長度的數據后，即跳出接收命令的循環。
[0016]本發明中的卡片發送數據的方法步驟為:
I)當待測IC卡收到讀指令后，進入發送數據流程，等待內部時鐘采樣命令1上的低電平脈沖指不彳目號。
[0017]2)每檢測到一次低電平脈沖，發送一 bit數據，即在內部時鐘采樣命令1低電平脈沖上升沿后，輸出O或I并保持一段時間，測試機在這時間段取走數據。
[0018]3)發送數據結束后，內部時鐘采樣命令1回歸輸入模式，等待下一次低電平脈沖直至全部數據發送完畢。
[0019]參看圖1，本發明實施例中卡片在采到start bit后的上升沿開始計數，在采到下降沿之前記錄即為高電平個數，從下降沿至下一次上升沿之前即為低電平個數。bitO中高電平明顯較低電平要短，bitO數據為0，同理，bit2種高電平要長于低電平，bit2數據為I。
[0020]參看圖2，本發明實施例中當卡片收到讀指令后，進入發送數據流程，第一次采到內部時鐘采樣命令1上的低電平后，發送bitO數據，即在內部時鐘采樣命令1上輸出O。卡I的內部時鐘頻率要高于卡2，所以會先采到其內部時鐘采樣命令1上的低電平，既而先進入發送bitO數據的狀態。而測試機采樣點I的時間為最慢的有效內部時鐘和最快的有效內部時鐘綜合計算得出，故保證了兩張卡片在采樣點I時均未數據發送狀態，發送結束后，內部時鐘采樣命令1回歸輸入模式，等待第二次內部時鐘采樣命令1上的低電平發送bitl數據。
【主權項】
1.一種基于單1的IC卡并行測試方法，它使用測試機對待測IC卡上的芯片進行并行測試，所述并行測試方法包括卡片接收命令方法和卡片發送數據方法，采用內部時鐘采樣命令10，每bit對齊收發命令，其中卡片接收命令的方法步驟為: 1)使用一個外部時鐘周期的低電平作為起始標志，一個高電平和一個低電平為一組，表示Ibit數據； 2)待測IC卡使用內部時鐘采樣命令1對高低電平的長度進行采樣計數； 3)待測IC卡對每一組高低電平的計數進行判斷，如若采到高電平的個數大于采到低電平的個數，即判斷該bit為1，反之則為O ; 4)命令bit(Tbit2傳送命令類型，即確定了該命令的長度，待測IC卡順序采樣，收夠指定長度的數據后，即跳出接收命令的循環； 其中卡片發送數據的方法步驟為: 1)當待測IC卡收到讀指令后，進入發送數據流程，等待內部時鐘采樣命令1上的低電平脈沖指不彳目號； 2)每檢測到一次低電平脈沖，發送一bit數據，即在內部時鐘采樣命令1低電平脈沖上升沿后，輸出O或I并保持一段時間，測試機在這時間段取走數據； 3)發送數據結束后，內部時鐘采樣命令1回歸輸入模式，等待下一次低電平脈沖直至全部數據發送完畢。
【文檔編號】G01R31/28GK105891695SQ201410189178
【公開日】2016年8月24日
【申請日】2014年5月7日
【發明人】白天宇, 喬瑛, 趙宇寧, 馮俊杰, 張章, 董宇, 李慧
【申請人】北京同方微電子有限公司