一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置的制造方法
【專利摘要】本發明一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置，屬于表面質量檢查設備領域。目的是提供一種能更直觀的檢查電子元件的表面情況的電子元件表面缺陷檢測裝置。包括支座和放大鏡，所述放大鏡可拆卸安裝于支座；在放大鏡下方設有電子元件成像裝置，所述電子元件成像裝置包括與支座可拆卸連接的本體，在本體上設有垂直貫穿本體的方形通孔，所述方形通孔的四個內壁上均安裝有平面鏡，所述平面鏡的鏡面由下至上向外延伸；在通孔正下方設有安裝于支座的平臺。該一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置能更直觀的檢測電子元件的表面情況，提高了觀察的準確性，且該一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置結構簡單，使用方便。
【專利說明】
一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置
技術領域
[0001]本發明屬于表面質量檢查設備領域，具體的是檢測電子元件表面缺陷的裝置。
【背景技術】
[0002]隨著電子科技技術的進步，對電子元件表面質量的要求越來越高。現有的電子元件表面缺陷的檢測通常是利用照相機拍攝出電子元件的表面情況照片，然后通過拍攝出的照片來判斷電子元件的表面質量。然后，表面有劃痕和表面臟污在照片中的表現及其相似，這時，容易將表面臟污的情況歸類為表面有劃痕的產品，對其進行表面缺陷修復或者報廢。
【發明內容】
[0003]本發明所要解決的技術問題是提供一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置，其對待檢測電子元件的表面進行放大，能更直觀的檢查電子元件的表面情況。
[0004]本發明采用的技術方案是:一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置，包括支座和放大鏡，所述放大鏡可拆卸安裝于支座;在放大鏡下方設有電子元件成像裝置，所述電子元件成像裝置包括與支座可拆卸連接的本體，在本體上設有垂直貫穿本體的方形通孔，所述方形通孔的四個內壁上均安裝有平面鏡，所述平面鏡的鏡面由下至上向外延伸；在通孔正下方設有安裝于支座的平臺。
[0005]進一步的，所述通孔的上端大于通孔的下端。
[0006]進一步的，所述支座包括左立板、右立板和底座，所述左立板和右立板的一端與底座固定連接;所述電子元件成像裝置的本體一側與左立板螺栓連接，另一側與右立板螺栓連接。
[0007]本發明的有益效果是:一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置，電子元件正面直接通過通孔經過放大鏡放大后進入觀察者的視野，而電子元件側面的情況通過平面鏡反射給放大鏡，經過放大鏡放大后進入觀察者的視野，從而能更直觀的檢測電子元件的表面情況，提高了觀察的準確性，且該一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置結構簡單，使用方便。
【附圖說明】
[0008]圖1為本發明結構圖。
[0009]圖2為圖1的A-A剖視圖。
[0010]圖中，支座1、左立板11、右立板12、底座13、放大鏡2、本體3、通孔4、平面鏡5、平臺6，電子元件100。
【具體實施方式】
[0011]下面結合附圖和實施例對本發明做進一步的說明。
[0012]本說明書所表示方位的“上”和“下”均以圖1為準。
[0013]如圖1和圖2所示，一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置，包括支座I和放大鏡2，所述放大鏡2可拆卸安裝于支座I;在放大鏡2下方設有電子元件成像裝置，所述電子元件成像裝置包括與支座I可拆卸連接的本體3，在本體3上設有垂直貫穿本體3的方形通孔4，所述方形通孔4的四個內壁上均安裝有平面鏡5，所述平面鏡5的鏡面由下至上向外延伸;在通孔4正下方設有安裝于支座I的平臺6。
[0014]放大鏡2用于放大觀察電子元件100的表面情況。由于將電子元件100直接置于放大鏡2只能觀察到電子元件100正面的情況，無法觀察到電子元件100側面的情況，因此，在放大鏡2下方設有電子元件成像裝置，用于將電子元件100側面的情況反射給放大鏡2。因此，電子元件成像裝置包括本體3，在本體3上設有垂直貫穿本體3的方形通孔4，通孔4提供光線通道，使電子元件100正面直接通過通孔4經過放大鏡2放大后進入觀察者的視野。而電子元件100的側面需要通過平面鏡5反射到放大鏡2。因此，平面鏡5安裝于方形通孔4四個內壁上，且平面鏡5的鏡面由下至上向外延伸。平面鏡5的鏡面由下至上向外延伸所訴的“外”是以通孔4為準，向通孔4以外的區域為“外”。通過將電子元件正面和側面的情況進行放大后觀察，從而能更直觀的檢測電子元件的表面情況，提高了觀察的準確性。且該一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置結構簡單，使用方便。
[0015]在上述實施方式中，通孔4可以兩端大小相等。但是，若通孔4兩端大小相等，平面鏡5的鏡面傾斜安裝不便。作為優選，所述通孔4的上端大于通孔4的下端。如此，選擇常規的平面鏡5粘貼在通孔4的內壁上即可，安裝方便。
[0016]為了便于支撐放大鏡2和電子元件成像裝置，優選的，所述支座I包括左立板11、右立板12和底座13，所述左立板11和右立板12的一端與底座13固定連接;所述電子元件成像裝置的本體3—側與左立板11螺栓連接，另一側與右立板12螺栓連接。本體3夾持于左立板11和右立板12之間，避免了本體3滑落，損壞平面鏡，而螺栓連接簡單方便。
【主權項】
1.一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置，其特征在于:包括支座(I)和放大鏡(2)，所述放大鏡(2)可拆卸安裝于支座(I);在放大鏡(2)下方設有電子元件成像裝置，所述電子元件成像裝置包括與支座(I)可拆卸連接的本體(3)，在本體(3)上設有垂直貫穿本體(3)的方形通孔(4)，所述方形通孔(4)的四個內壁上均安裝有平面鏡(5)，所述平面鏡(5)的鏡面由下至上向外延伸;在通孔(4)正下方設有安裝于支座(I)的平臺(6)。2.如權利要求1所述的一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置，其特征在于:所述通孔(4)的上端大于通孔(4)的下端。3.如權利要求1所述的一種簡易的電子元件表面缺陷檢測裝置，其特征在于:所述支座(I)包括左立板(11)、右立板(12)和底座(13)，所述左立板(11)和右立板(12)的一端與底座(13)固定連接;所述電子元件成像裝置的本體(3)—側與左立板(11)螺栓連接，另一側與右立板(12)螺栓連接。
【文檔編號】G01N21/01GK105842251SQ201610300639
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年5月9日
【發明人】廖興旺
【申請人】成都慧信實驗設備有限公司