面板檢測裝置與方法
【專利摘要】本發明提供一種面板檢測裝置，包含一承載平臺、一輸送平臺以及一面板檢測總成。輸送平臺設置于承載平臺上方，且輸送平臺上具有用來推送面板的一推料模塊。面板檢測總成包含多個光源模塊以及與多個光源模塊相對應的多個取像模塊。多個光源模塊包含一正光光源、一第一水平光光源及一背光光源，多個取像模塊具有一正光取像模塊、一水平光取像模塊及一背光取像模塊，且推料模塊適于推送面板橫越過承載平臺，使多個光源模塊所發射的多個光束可掃描面板進行檢測。
【專利說明】
面板檢測裝置與方法
技術領域
[0001]本發明關于一種面板檢測裝置，特別指一種可以連續針對多個面板各自的上表面、下表面、兩個水平側表面及兩個垂直側表面進行檢測的面板檢測裝置。
【背景技術】
[0002]隨著消費性顯示裝置技術的增進以及需求量的增長，凡手機、平板電腦、電視等顯示裝置，為尋求更高品質的顯示效果，除了具備尖端的面板制程技術以外，面板成品良率的檢測更是提高產品價值的關鍵技術。
[0003]由于面板在制作過程中，時常伴隨著清洗、切割或是輸送等步驟，故在面板的表面或周緣處很容易出現臟污、裂痕、刮傷或是毛肩等缺陷。而在面板前期的檢測過程中，若上述缺陷未能被檢測出來，除了將造成后續組裝成品的良率受到考驗外，在組裝過程中亦有可能因為上述的面板缺陷，導致后端組裝用機械設備的損壞。
[0004]因此，為了針對面板的各表面，8卩:上表面、下表面及前、后、左、右等四個側表面進行檢測，在現有的檢測過程中，乃是通過使檢測設備分別針對面板的不同表面，采用分段檢測的方式來獲得相關檢測結果。此外，部份機械設備則采用多個機械手臂的配置方式，使其除了用來傳遞待測物-即面板以外，亦可通過翻轉、置換工作區域等方式，以獲取前述各表面的信息。
[0005]另一方面，獲取面板表面信息的檢測方式，除了采用光學技術以外，亦可能采用其他物理檢測方法。然而，即使通過各種物理檢測方法能擷取高精準度的檢測結果，但由于大部分的檢測設備皆為分段檢測或是必需進行復雜程序的檢測步驟，故前述方式不但會拖延檢測時間，亦會增加面板在檢測過程中損壞的機率。
[0006]有鑒于此，如何提供一種一次性的面板檢測作業，使其可僅在單一檢測流程中即完成各表面的檢測，以提高檢測效率并降低面板損壞率，乃是業界亟需克服的議題。
【發明內容】
[0007]本發明之一目的在于提供一種單次性(或稱:一次性)的面板檢測裝置及面板檢測方法，藉以提高面板的檢測效率、檢測良率，并降低面板損壞率。
[0008]為達上述目的，本發明提供的一種面板檢測裝置，包含一承載平臺、一輸送平臺及一面板檢測總成。輸送平臺設置于承載平臺上，并具有一推料模塊。面板檢測總成具有多個光源模塊及與多個光源模塊相互對應的多個取像模塊。其中，多個光源模塊包含一正光光源、一第一水平光光源及一背光光源，多個取像模塊具有一正光取像模塊、一第一水平光取像模塊及一背光取像模塊，且推料模塊適于推送面板橫越過承載平臺，使多個光源模塊所發射的多個光束可掃描面板進行檢測。
[0009]為達上述目的，本發明的面板檢測裝置所具有的多個光束包含一正光光束、一第一水平光光束及一背光光束，且正光光源、第一水平光光源及背光光源適于分別發射該正光光束、該第一水平光光束及該背光光束。
[0010]為達上述目的，本發明的面板檢測裝置所具有的多個光源模塊還包含一傾斜光光源以發射一傾斜光光束，多個取像模塊還包含一傾斜光取像模塊，且傾斜光取像模塊相應傾斜光光源設置，以接收被面板所反射的傾斜光光束。
[0011 ]為達上述目的，本發明的面板具有一上表面、一下表面、兩個水平側表面及兩個垂直側表面。
[0012]為達上述目的，本發明的面板檢測裝置所具有的承載平臺具有兩個對位模塊，以使面板可相對于承載平臺進行對位。
[0013]為達上述目的，本發明的面板檢測裝置所具有的推料模塊具有兩個推料裝置，該兩個推料裝置分別抵靠于面板相對的兩個垂直側邊，并以一等速度方式共同推送面板。
[0014]為達上述目的，本發明的面板檢測裝置所具有的推料模塊具有兩個推料裝置，該兩個推料裝置分別抵靠于面板相對的兩個垂直側邊，并以一變速度方式共同推送面板。
[0015]為達上述目的，本發明的面板檢測裝置所具有的推料模塊還包含多個第二水平光光源以分別發射一第二水平光束，當推料模塊推送面板時，水平光束適于照射面板相對的兩個側邊。
[0016]為達上述目的，本發明之面板檢測裝置所具有的多個第二水平光光源嵌設于兩個推料裝置內。
[0017]為達上述目的，本發明的面板檢測裝置所具有的多個第二水平光光源為一線光源。
[0018]為達上述目的，本發明的面板檢測裝置所具有的輸送平臺定義多個工作區，相鄰的各工作區之間分別設置至少一間隙，且各至少一間隙可供多個光源模塊所發射的多個光束通過。
[0019]為達上述目的，本發明的面板檢測裝置所具有的承載平臺上設置有多個氣浮裝置，使面板在檢測過程中始終呈現一氣浮狀態。
[0020]為達上述目的，本發明的面板檢測裝置所具有的至少一間隙具有一第一間隙、一第二間隙及一第三間隙，以分別供多個光源模塊所發射的多個光束通過。
[0021]為達上述目的，本發明的面板檢測裝置所具有的多個光源模塊所具有的正光光源、背光光源及/或傾斜光光源為一線光源。
[0022]本發明亦包含一種面板檢測方法，包含下列步驟:(a)提供一輸送平臺于一承載平臺上；(b)提供一面板至輸送平臺；(C)利用一對位模塊進行面板的對位；(d)提供一推料模塊，并利用推料模塊推送面板；(e)提供多個光源模塊，以在推料模塊推送面板的過程中發射多個光束至面板；以及(f)利用多個取像模塊擷取多個光束被面板所反射的多個影像、或擷取多個光束穿透面板的多個影像，以完成檢測作業。
[0023]為達上述目的，本發明的面板檢測方法所具有的多個取像模塊可用以擷取多個光束被面板的多個表面所反射的多個影像。
[0024]為達上述目的，本發明的面板所具有的多個表面為一上表面、一下表面、兩個水平側表面及兩個垂直側表面。
[0025]為達上述目的，本發明的面板檢測方法所具有的推料模塊在一氣浮狀態下，以一等速度方式推送面板。
[0026]為達上述目的，本發明的面板檢測方法所具有的推料模塊在一氣浮狀態下，以一變速度方式推送面板。
[0027]為了讓上述的目的、技術特征和優點能夠更加為本領域之人士所知悉并應用，下文以本發明的數個較佳實施例以及附圖進行詳細的說明。
【附圖說明】
[0028]圖1為本發明面板檢測裝置的立體圖；
[0029]圖2為本發明面板檢測裝置的俯視圖；
[0030]圖3為本發明面板檢測裝置的正光取像模塊、第一水平光取像模塊及背光取像模塊的設置示意圖；
[0031]圖4為本發明面板檢測裝置的正光光源、第一水平光光源及背光光源的設置示意圖；
[0032]圖5、6為本發明面板檢測裝置的第一水平光光源與第二水平光光源的設置示意圖；
[0033]圖7為本發明面板檢測裝置的傾斜光光源呈現45度時的設置示意圖；
[0034]圖8為本發明面板檢測裝置的傾斜光光源呈現14度時的設置示意圖；以及
[0035]圖9為本發明面板檢測方法的步驟圖。
【具體實施方式】
[0036]本發明的一種面板檢測裝置，其適于用以進行一面板的檢測作業，以確保后續組裝成品(如智能手機或平板電腦)的良率。
[0037]如圖1、2所示，本發明用以檢測一面板200的一面板檢測裝置100包含一承載平臺110、一輸送平臺120及一面板檢測總成130。輸送平臺120設置于承載平臺110上，且輸送平臺120并具有一推料模塊122。面板檢測總成130具有多個光源模塊140及與多個光源模塊140相互對應的多個取像模塊150。如此一來，輸送平臺120所具有的推料模塊122適于推送面板200橫越過承載平臺110，使多個光源模塊140所發射的多個光束可掃描面板200的各表面而進行相關的檢測作業。
[0038]詳細而言，由于移動裝置的普及與薄性化的需要，使得移動裝置的核心元件-顯示或觸控用的面板，其所具有的各項參數(如表面平整度、表面曲度、表面刮傷、切邊缺陷等)也都具有嚴格的數據規范。因此，前述的面板200所具有的一上表面202、與上表面202相對的一下表面204、以及分布于面板200的四個側邊的兩個水平側表面206與兩個垂直側表面208，皆被賦予嚴格的品質要求。而藉由本發明的面板檢測裝置100，便可在單次性(或稱:一次性)的檢測流程中，同時完成前述面板200的上表面202、下表面204、兩個水平側表面206與兩個垂直側表面208的檢測作業，從而大幅縮短檢測時間并有效增加檢測效率。
[0039]以下首先將對面板檢測總成130的構成與動作方式進行說明。
[0040]如圖3、4所示，面板檢測總成130所具有的多個光源模塊140包含一正光光源142、一第一水平光光源144及一背光光源146，多個取像模塊150具有一正光取像模塊152、一水平光取像模塊154及一背光取像模塊156。當推料模塊122推送面板200橫越過承載平臺110時，正光光源142、第一水平光光源144及背光光源146所分別發射的多個光束在被面板200的各表面反射、或穿透面板200后，便可分別為正光取像模塊152、水平光取像模塊154及背光取像模塊156所接收，從而供檢測人員依據所接收的影像信息進行分析并獲得面板200的各項參數的相關檢測結果。
[0041]除上述正光光源142、第一水平光光源144及背光光源146外，如圖7所示，面板檢測總成130所具有的多個光源模塊140還可進一步包含一傾斜光光源148，且多個取像模塊150還包含一傾斜光取像模塊158，使傾斜光光源148所發射的光束經面板200反射后，可相應地被傾斜光取像模塊158所接收，進而強化針對面板200進行檢測(如:刮傷檢測)的檢測品質。
[0042]實際在進行面板200的檢測時，可先通過承載平臺110所具有的兩個對位模塊(圖未示出)的校準，使面板200可相對于承載平臺110進行對位，以確保稍后的行進路線。接著，將推料模塊122所具有兩個推料裝置122a分別抵靠于面板200相對的兩個側邊(在本實施例中，該兩個側邊為面板200的兩個垂直側表面208，但并非以此作為限制)，并使兩個推料裝置122a以一等速度方式共同推送面板200，以使面板200可依序被正光光源142、第一水平光光源144及背光光源146所各自發出的光束照射，從而通過正光取像模塊152、水平光取像模塊154及背光取像模塊156所接收的反射光束或穿透光束來完成面板200的檢測作業。
[0043]另一方面，在推料模塊122中包含有多個第二水平光光源122b，使各第二水平光光源122b可針對推料模塊122所抵靠的兩個側邊(S卩:面板200的兩個垂直側表面208)分別發射一第二水平光束122c。如此一來，當推料模塊122的推料裝置122a在推送面板200時，第二水平光光源122b所發射的第二水平光束122c適于照射至面板200的兩個垂直側表面208、并被兩個垂直側表面208所反射，繼而被水平光取像模塊154所接收，以完成兩個垂直側表面208的相關檢測作業。
[0044]在本發明的一較佳實施例中，前述的多個第二水平光光源122b直接嵌設于兩個推料裝置122a內，使得兩個推料裝置122a在推送面板200的過程中，多個第二水平光光源122b得依舊可對面板200的兩個垂直側表面208進行照射，同時避免可能出現的光損現象。
[0045]需說明的是，雖然在上述實施例中，兩個推料裝置122a以一等速度方式共同推送面板200，但并非以此作為限制。換言之，藉由對多個光源模塊140與多個取像模塊150的其他適當安排與配置，如:改變正光光源142、第一水平光光源144及背光光源146與正光取像模塊152、水平光取像模塊154及背光取像模塊156之間的設置順序，或使兩個推料裝置122a以一變速度方式共同推送面板200，皆有助于在單次性的推送作業或檢測流程中，針對面板200的檢測達到相同或更好的檢測效果或檢測速度。
[0046]在本發明中，面板檢測裝置100所具有的輸送平臺120可定義有多個工作區124，以分別供正光光源142、第一水平光光源144及背光光源146與正光取像模塊152、水平光取像模塊154及背光取像模塊156等元件進行設置;且相鄰的各工作區124之間還可進一步設置有至少一間隙126，使至少一間隙126可供多個光源模塊140所發射的多個光束通過、或供被面板200所反射的多個光束通過。
[0047]另一方面，在面板檢測裝置100所具有的承載平臺110上設置有多個氣浮裝置128，藉以減少相關阻力，協助加速推料模塊122推送面板200的推送速度。因此，藉由多個氣浮裝置128的設置，可使面板200在被推料模塊122推送以橫越承載平臺110進行檢測的過程中，
始終呈現一氣浮狀態。
[0048]請再次參閱圖1、2，在本發明的一較佳實施例中，前述的至少一間隙126包含一第一間隙126a、一第二間隙126b及一第三間隙126c，以分別供多個光源模塊140所發射的多個光束通過、或供被面板200所反射的多個光束通過，并因此使該些光束能夠被設置于承載平臺110下方的正光取像模塊152、水平光取像模塊154及背光取像模塊156所接收。
[0049]以下謹針對在本發明的一較佳實施例中，當欲進行面板200的上表面202、下表面204與兩個水平側表面206的檢測作業時，第一間隙126a、第二間隙126b及第三間隙126c與各光源模塊140、各取像模塊150間的配置關系進行說明。
[0050]首先針對面板200的下表面204的檢測作業進行說明。
[0051 ] 如圖3、4所示，正光光源142與正光取像模塊152皆設置于第一間隙126a的下方，且正光光源142較佳設置于輸送平臺120以及正光取像模塊152之間。當面板200被推送而橫越過第一間隙126a的上方時，正光光源142所發射的一正光光束142a適于被一反射鏡模塊160反射，從而由下而上地通過第一間隙126a掃描面板200的下表面204。接著，面板200的下表面204被正光光束142a掃描后所反射的下表面影像，便經由第一間隙126a被設置于下方的正光取像模塊152所擷取，從而完成面板200的下表面204的檢測作業。
[0052]接著，謹針對面板200的兩個水平側表面206的檢測作業進行說明。
[0053]如圖3、4所示，水平光取像模塊154設置于第二間隙126b下方，且如圖5、6所示，第一水平光光源144位于輸送平臺120的上方，且沿面板200的前進方向的垂直兩個側邊設置。當面板200被推送而橫越過第二間隙126b的上方時，第一水平光光源144所發射的一第一水平光光束144a適于由兩側分別照射及掃描面板200的兩個水平側表面206。接著，面板200的兩個水平側表面206被第一水平光光束144a掃描后所反射的兩個水平側表面影像，便可經由第二間隙126b被設置于下方的水平光取像模塊154所擷取，以完成面板200的兩個水平側表面206的檢測作業。
[0054]最后，謹針對面板200的上表面202的檢測作業進行說明。
[0055]請再次參閱圖3、4，背光光源146設置于第三間隙126c及輸送平臺120的上方，而背光取像模塊156設置于第三間隙126c的下方。當面板200被推送而橫越過第三間隙126c的上方時，背光光源146所發射的一背光光束146a適于由上而下地掃描面板200的上表面202。接著，面板200的上表面202被背光光束146a掃描后所得的上表面影像，便會穿透面板200而經由第三間隙126c被設置于下方的背光取像模塊156所擷取，以完成面板200的上表面202的檢測作業。
[0056]因此，藉由各工作區124所定義出的第一間隙126a、第二間隙126b及第三間隙126c與各光源模塊140、各取像模塊150間的配置與動作關系，便能夠在單次推送面板200的過程中，分別獲得面板200的上表面202、下表面204與兩個水平側表面206所各具有的上表面影像、下表面影像與兩個水平側表面影像，從而完成相對應的面板參數檢測作業。
[0057]另一方面，為使相關的面板檢測數據更為精確，如圖4、7所示，還可在第二間隙126b內的兩個相對側各設置有一傾斜光光源148，并使傾斜光光源148相對于面板200的輸送方向傾斜一特定角度。當傾斜光光源148所發射的一傾斜光光束148a由下而上地以該特定角度入射并掃描面板200的上表面202與下表面204后，面板200的上表面202與下表面204被傾斜光光束148a掃描后所反射的另一上/下表面影像，便可經由第二間隙126b被設置于下方的傾斜光取像模塊158所擷取，以完成另一個針對面板200的上表面202與下表面204進行檢測的作業，藉此補足僅使用正光光源142及/或背光光源146進行面板200的檢測時所可能出現的失誤，同時強化對面板200的上/下表面進行刮傷檢測的檢測能力。
[0058]在圖7所示的實施例中，設置傾斜光光源148的傾斜角度為45度，而在圖8所示的實施例中，設置傾斜光光源148的傾斜角度為14度，但并非以此作為限制。此外，前述的傾斜光取像模塊158可直接由已設置于第二間隙126b下方的水平光取像模塊154所取代，以降低本發明的面板檢測裝置100的建構成本。
[0059]上述的傾斜光光源148雖以設置于第二間隙126b內為例進行說明，但其亦可依據檢測人員的不同需求，選擇性地設置于第一間隙126a或第三間隙126c內。
[0060]又，在本發明的一較佳實施例中，多個光源模塊140所具有的正光光源142及背光光源146皆為一線光源，以在檢測過程中可提供均勾的正光光束142a與背光光束146a，并分別發射至面板200的下表面204與上表面202。
[0061]如圖9所示，本發明亦揭示一種面板檢測方法，其包含下列步驟:首先，如步驟901所示，提供一輸送平臺120于一承載平臺110上;接著，如步驟902所示，提供一面板200至輸送平臺120;如步驟903所示，利用一對位模塊進行面板200的對位;如步驟904所示，提供一推料模塊122，并利用推料模塊122推送面板200;如步驟905所示，提供多個光源模塊140，以在推料模塊122推送面板200的過程中發射多個光束至面板200;最后，如步驟906所示，利用多個取像模塊150擷取多個光束被面板200所反射的多個影像、或擷取多個光束穿透面板200的多個影像，以完成檢測作業。
[0062]相應于前述的面板檢測裝置100，在本發明的面板檢測方法中，多個取像模塊150適于用以擷取多個光束被面板200的多個表面(即:下表面204、兩個水平側表面206與兩個垂直側表面208)所反射的多個影像，或用以擷取光束穿透面板200的上表面202后所形成的影像，以供進行相關檢測作業。
[0063]并且，有鑒于現有電子產品或移動裝置所搭載的面板多具有輕、薄等物理特性，在進行面板檢測時稍不注意，就可能對面板造成損傷，故本發明的面板檢測方法中，乃進一步在承載平臺110上設置有多個氣浮裝置128;如此一來，當推料模塊122所具有的推料裝置122a在推送面板200時，便可使面板200始終處于一氣浮狀態，在幾乎處于零摩擦力的情況下被推料裝置122a所推送，從而可輕易地橫越過設有多個光源模塊140與多個取像模塊150的承載平臺110，有效降低對面板200造成損傷的機率。
[0064]另一方面，由于面板200在進行檢測的過程中，僅有兩個垂直側表面208處于被推料裝置122a所抵靠的狀態，故除兩個垂直側表面208之外的上表面202、下表面204與兩個水平側表面206，皆可在沒有障礙物或阻絕物的情況下，在單次推送的過程中分別為被背光光源146與背光取像模塊156的組合、第一水平光光源144與水平光取像模塊154的組合、以及正光光源142與正光取像模塊152的組合進行掃描與影像的擷取。
[0065]又，相同于前述的面板檢測裝置100，在本發明的面板檢測方法中，亦可提供一傾斜光光源148以發射之一傾斜光光束148a至面板200，從而補足僅使用正光光源142及/或背光光源146進行面板200的檢測時所可能出現的失誤，同時強化對面板200的上/下表面刮傷的檢測能力。
[0066]如此一來，由于本發明所揭示的面板檢測方法，能夠在單次性(S卩:一次性)推送的過程中即同時針對面板200的上表面202、下表面204與兩個水平側表面206進行檢測，故在檢測速度與檢測品質上皆可獲得遠優于現有技術的表現。
[0067]再者，即便面板200在進行檢測的過程中，兩個垂直側表面208乃是處于被推料裝置122a所抵靠的狀態，但因包含有推料裝置122a的推料裝置122的內部同時嵌設有第二水平光光源122b，故在推送過程中，原本無法對兩個垂直側表面208提供光束的問題亦可得到解決。也就是說，藉由兩個第二水平光光源122b的設置，本發明的面板檢測裝置100依舊可在兩個垂直側表面208被抵靠的情況下，通過兩個第二水平光光源122b發射至兩個垂直側表面208的兩個第二水平光光束122c，而獲得兩個垂直側表面影像，繼而使兩個垂直側表面影像經由第二間隙126b被設置于下方的水平光取像模塊154所擷取，以完成針對面板200的兩個垂直側表面208的檢測作業。
[0068]綜上所述，由于本發明的面板檢測裝置與面板檢測方法，其可利用多個光源模塊140、多個取像模塊150與氣浮裝置128的設置，使面板200在單次性的推送過程中，即可同時地完成面板200的上表面202、下表面204、兩個水平側表面206與兩個垂直側表面208的檢測作業，故相較于現有技術的檢測方式，本發明的面板檢測裝置與面板檢測方法將具有更為快速的檢測效率與更高精度的檢測良率，并且得以有效地降低面板在檢測過程中的損壞。
[0069]上述的實施例僅用來例舉本發明的實施例，以及闡釋本發明的技術特征，并非用來限制本發明的保護范疇。任何熟悉此技術者可輕易完成的改變或均等性的安排均屬于本發明所主張的范圍，本發明的權利保護范圍應以申請專利范圍為準。
[0070]符號說明
[0071]100面板檢測裝置
[0072]HO承載平臺
[0073]120輸送平臺
[0074]122推料模塊
[0075]122a推料裝置
[0076]122b第二水平光光源
[0077]122c第二水平光光束
[0078]124工作區
[0079]126 間隙
[0080]126a 第一間隙
[0081]126b 第二間隙
[0082]126c第三間隙
[0083]128氣浮裝置
[0084]130面板檢測總成
[0085]140光源模塊
[0086]142正光光源
[0087]142a正光光束
[0088]144第一水平光光源
[0089]144a第一水平光光束
[0090]146背光光源
[0091]146a背光光束
[0092]148傾斜光光源
[0093]148a傾斜光光束
[0094]150取像模塊
[0095]152正光取像模塊
[0096]154水平光取像模塊
[0097]156背光取像模塊
[0098]158傾斜光取像模塊
[0099]160反射鏡模塊
[0100]200面板
[0101]202上表面
[0102]204下表面
[0103]206水平側表面
[0104]208垂直側表面
【主權項】
1.一種面板檢測裝置，用以進行一面板的檢測作業，包含: 一承載平臺； 一輸送平臺，設置于該承載平臺上，并具有一推料模塊；以及 一面板檢測總成，并具有多個光源模塊及與所述光源模塊相互對應的多個取像模塊； 其中，所述光源模塊包含一正光光源、一第一水平光光源及一背光光源，所述取像模塊具有一正光取像模塊、一水平光取像模塊及一背光取像模塊，且該推料模塊適于推送該面板橫越過該承載平臺，使所述光源模塊所發射的多個光束可掃描該面板進行檢測。2.如權利要求1所述的面板檢測裝置，其特征在于，所述光束包含一正光光束、一第一水平光光束及一背光光束，且該正光光源、該第一水平光光源及該背光光源適于分別發射該正光光束、該第一水平光光束及該背光光束。3.如權利要求1所述的面板檢測裝置，其特征在于，所述光源模塊還包含一傾斜光光源以發射一傾斜光光束，所述取像模塊還包含一傾斜光取像模塊，且該傾斜光取像模塊相應該傾斜光光源設置，以接收被該面板所反射的該傾斜光光束。4.如權利要求1所述的面板檢測裝置，其特征在于，該面板具有一上表面、一下表面、兩個水平側表面及兩個垂直側表面。5.如權利要求1所述的面板檢測裝置，其特征在于，該承載平臺具有兩個對位模塊，以使該面板可相對于該承載平臺進行對位。6.如權利要求1所述的面板檢測裝置，其特征在于，該推料模塊具有兩個推料裝置，該兩個推料裝置分別抵靠于該面板相對的兩個垂直側邊，并以一等速度方式共同推送該面板。7.如權利要求1所述的面板檢測裝置，其特征在于，該推料模塊具有兩個推料裝置，該兩個推料裝置分別抵靠于該面板相對的兩個側邊，并以一變速度方式共同推送該面板。8.如權利要求1所述的面板檢測裝置，其特征在于，該推料模塊還包含多個第二水平光光源以分別發射一第二水平光光束，當該推料模塊推送該面板時，該第二水平光光束適于照射該面板相對的兩個側邊。9.如權利要求8所述的面板檢測裝置，其特征在于，所述第二水平光光源嵌設于該兩個推料裝置內。10.如權利要求8所述的面板檢測裝置，其特征在于，所述第二水平光光源為一線光源。11.如權利要求1所述的面板檢測裝置，其特征在于，該輸送平臺定義多個工作區，相鄰的各該工作區之間分別設置至少一間隙，且各該至少一間隙可供所述光源模塊所發射的所述光束通過。12.如權利要求11所述的面板檢測裝置，其特征在于，該承載平臺上設置有多個氣浮裝置，使該面板在檢測過程中始終呈現一氣浮狀態。13.如權利要求11所述的面板檢測裝置，其特征在于，該至少一間隙具有一第一間隙、一第二間隙及一第三間隙，以分別供所述光源模塊所發射的所述光束通過。14.如權利要求3所述的面板檢測裝置，其特征在于，所述光源模塊所具有的該正光光源、該背光光源及/或該傾斜光光源為一線光源。15.—種面板檢測方法，用以進行一面板的一檢測作業，包含下列步驟: (a)提供一輸送平臺于一承載平臺上； (b)提供該面板至該輸送平臺； (c)利用一對位模塊進行該面板的對位； (d)提供一推料模塊，并利用該推料模塊推送該面板； (e)提供多個光源模塊，以在該推料模塊推送該面板的過程中發射多個光束至該面板；以及 (f)利用多個取像模塊擷取所述光束被該面板所反射的多個影像、或擷取所述光束穿透該面板的多個影像，以完成該檢測作業。16.如權利要求15所述的面板檢測方法，其特征在于，所述取像模塊可用以擷取所述光束被該面板的多個表面所反射的所述影像。17.如權利要求16所述的面板檢測方法，其特征在于，該面板的所述表面為一上表面、一下表面、兩個水平側表面及兩個垂直側表面。18.如權利要求15所述的面板檢測方法，其特征在于，該承載平臺上設置有多個氣浮裝置，使該推料模塊可在一氣浮狀態下，以一等速度方式推送該面板。19.如權利要求15所述的面板檢測方法，其特征在于，該承載平臺上設置有多個氣浮裝置，使該推料模塊可在一氣浮狀態下，以一變速度方式推送該面板。
【文檔編號】G01N21/88GK105823780SQ201610051638
【公開日】2016年8月3日
【申請日】2016年1月26日
【發明人】葉肇懿, 蘇品銓, 楊尚倫, 劉智遠
【申請人】政美應用股份有限公司