一種led光源封裝用厚膜陶瓷支架的測試裝置及測試方法
【技術領域】
[0001]本發明屬于厚膜陶瓷支架測試技術領域，更具體地，涉及一種LED厚膜陶瓷支架的測試方法及裝置。
【背景技術】
[0002]研究發現，用LED陶瓷支架做襯底的LED光源，具有節能、環保、壽命長三大優勢，理論上可實現只消耗白熾燈10%的能耗，比熒光燈節能50%;它采用固體封裝，壽命是熒光燈的10倍、白熾燈的100倍；同時，LED光源無紫外光、紅外光等輻射，且能避免熒光燈管破裂溢出汞的二次污染。
[0003]由于陶瓷基板具有高散熱、低熱阻、壽命長、耐電壓等優點，隨著生產技術、設備的改良，產品價格加速合理化，進而擴大LED產業的應用領域，如家電產品的指示燈、汽車車燈、路燈及戶外大型看板等。陶瓷系列支架的開發成功，可使LED產業未來的市場應用領域更寬廣。
[0004]LED厚膜陶瓷支架制造完成后，為了確保其連通的可靠性，避免封裝后光源使用過程中壽命降低，需要對其金屬電極的導通及金屬化盲孔的導通進行嚴格的檢測以判定其是否合格。由于LED厚膜陶瓷支架一般采用陣列方式制作，因而，其測試方法不同于常規的厚膜產品測試，如何保證LED厚膜陶瓷支架制作過程中的電極導通可靠性，直接影響著最終LED封裝光源產品的質量和使用壽命，因此，對于LED厚膜陶瓷支架測試的裝置及方法有迫切的實際需求。
【發明內容】
[0005]本發明的目的是提供了一種LED厚膜陶瓷支架的測試裝置及測試方法，操作簡單、便于數據收集、監測及追溯，陣列測試可有效提高檢測效率，并提高LED光源封裝過程的生產效率。
[0006]實現本發明目的的技術方案是:一種LED厚膜陶瓷支架的測試裝置，包括IPC總控制部分、電源系統、機械控制面板、監視器、AD采集板、陣列探針卡和控制器；
[0007]IPC總控制部分提供各部分同步信號，初始數據的設置及在測試過程中監視各部分的工作狀態；
[0008]機械控制面板負責載臺的移動控制、報警信號及機械控制面板的鍵盤輸入；
[0009]電源系統為測試系統各部分提供一次電源；
[0010]監視器監視載臺的支架及顯示測試結果；
[0011 ] AD采集板實時采集測量信息，根據測試值控制測試進程；
[0012]陣列探針卡通過探針與待測支架連接，傳遞檢測電阻值，然后通過陣列探針卡的連線將測試值傳輸至陣列探針卡端口，再由陣列探針卡端口傳輸至測試裝置的機械控制面板上；
[0013]控制器控制監視器來顯示測試結果。
[0014]—種LED厚膜陶瓷支架的測試方法，其特征是將探針分別與對應待測支架的正負金屬電極穩定接觸，接通電源，測試出正負金屬電極間的電阻值經由陣列探針卡端口傳入控制器和AD采集卡，然后再由控制器和AD采集卡傳入IPC總控制部分；IPC的總控制部分將測試值與設定指標范圍進行對比，處理后再傳入控制器，再由控制器控制的監視器來顯示測定電阻值是否位于設定的指標范圍內，并且標識出不合格單元的具體位置以便LED光源封裝時有效剔除不合格單元。
[0015]本發明提供的這種LED厚膜陶瓷支架測試裝置和測試方法具有操作簡單、便于數據收集、監測及追溯的特點，陣列測試可有效提高檢測效率，并提高LED光源封裝過程的生產效率。
【附圖說明】
[0016]圖1是LED陣列結構外形示意圖。
[0017]圖2是陣列探針卡示意圖
[0018]圖3是本發明測試裝置與待測支架單元電極連接示意圖。
【具體實施方式】
[0019]下面結合附圖對本發明的具體實施方法作進一步說明。
[0020]如圖3所示，一種LED厚膜陶瓷支架的測試裝置，其特征是該測試裝置包括IPC總控制部分、電源系統、機械控制面板、監視器部分、AD采集板、陣列探針卡和控制器；
[0021]IPC總控制部分，提供各部分同步信號，初始數據的設置及在測試過程中監視各部分的工作狀態；
[0022]機械控制面板負責支架載臺的移動控制、報警信號及面板的鍵盤輸入；
[0023]電源系統為測試系統各部分提供一次電源，各部分根據需要進行二次穩壓、濾波，以減少紋波干擾，提高電源精度、檢測精度及系統的穩定性；
[0024]監視器主要用作監視載臺的支架，用來觀察測試單元的支架外觀，及顯示測試結果;
[0025]AD采集板負責實時采集測量信息，根據測試值控制測試進程；
[0026]陣列探針卡通過探針與對應待測支架的正負金屬電極穩定連接，傳遞檢測電阻值(檢測電阻值包含標準電阻值，由于被測值為豪歐級，需串聯標準電阻增加阻值的測試穩定性)，然后通過陣列探針卡的連線將測試值傳輸至探針卡端口，再由探針卡端口傳輸至測試裝置的機械控制面板上；
[0027]控制器控制監視器來顯示測定電阻信息數據。
[0028]測試方法為:探針分別與對應待測支架的正負金屬電極穩定接觸，測試出正負金屬電極間的電阻信息數據經由陣列探針卡的端口傳入控制器和AD采集卡，然后再由控制器和AD采集卡傳入IPC總控制部分；IPC總控制部分將測試結果與設定指標范圍進行對比、處理后再傳入控制器，再由控制器控制的監視器來顯示測定電阻信息數據是否位于設定的指標范圍內，并且標識出不合格單元的具體位置以便LED光源封裝時有效剔除不合格單元。
[0029]圖1是HL-3535H型LED陣列結構外形示意圖，由11行26列的單元組成，按照圖3所提供的測試裝置技術方案，將圖2所示結構的特制陣列探針卡的23根探針按序號分別與每一列的支架單元的正負金屬電極進行可靠接觸，接通電源，測試出正負金屬電極間的電阻信息數據經由陣列探針卡的端口傳入控制器和AD采集卡，然后再由控制器和AD采集卡經RS485總線和PLC總線傳入IPC總控制部分。IPC的總控制部分將測試結果與設定指標范圍(〈I Ω )進行對比、處理后再傳入控制器，再由控制器控制的監視器來顯示測定電阻信息數據是否位于設定的指標范圍內，并且標識出阻值^ I Ω單元的為不合格品，以便LED光源封裝時有效剔除不合格單元。
【主權項】
1.一種LED厚膜陶瓷支架的測試裝置，其特征是該測試裝置包括IPC總控制部分、電源系統、機械控制面板、監視器、AD采集板、陣列探針卡和控制器； IPC總控制部分提供各部分同步信號，初始數據的設置及在測試過程中監視各部分的工作狀態； 機械控制面板負責載臺的移動控制、報警信號及機械控制面板的鍵盤輸入； 電源系統為測試系統各部分提供一次電源； 監視器監視載臺的支架及顯示測試結果； AD采集板實時采集測量信息，根據測試值控制測試進程； 陣列探針卡通過探針與待測支架連接，傳遞檢測電阻值，然后通過陣列探針卡的連線將測試值傳輸至陣列探針卡端口，再由陣列探針卡端口傳輸至測試裝置的機械控制面板上； 控制器控制監視器來顯示測試結果。2.如權利要求1所述的LED厚膜陶瓷支架的測試裝置，其特征是測試方法如下:將探針分別與對應待測支架的正負金屬電極穩定接觸，接通電源，測試出正負金屬電極間的電阻值經由陣列探針卡端口傳入控制器和AD采集卡，然后再由控制器和AD采集卡傳入IPC總控制部分；IPC的總控制部分將測試值與設定指標范圍進行對比，處理后再傳入控制器，再由控制器控制的監視器來顯示測定電阻值是否位于設定的指標范圍內，并且標識出不合格單元的具體位置以便LED光源封裝時有效剔除不合格單元。
【專利摘要】本發明公開了一種LED厚膜陶瓷支架的測試裝置及測試方法，包括IPC總控制部分、電源系統、機械控制面板、監視器、AD采集板、陣列探針卡和控制器。陣列探針卡的探針分別與對應待測支架的正負金屬電極穩定接觸，測試出正負金屬電極間的電阻值經由陣列探針卡的端口傳入控制器和AD采集卡，然后再由控制器和AD采集卡傳入IPC總控制部分；IPC總控制部分將測試值與設定指標范圍進行對比，處理后再傳入控制器，再由控制器控制的監視器來顯示測定電阻值是否位于設定的指標范圍內，并且標識出不合格單元的具體位置以便LED光源封裝時有效剔除不合格單元。本發明操作簡單、便于數據收集、監測及追溯，陣列測試可有效提高檢測效率，并提高LED光源封裝過程的生產效率。
【IPC分類】G01R31/26
【公開號】CN105548855
【申請號】CN201510979563
【發明人】寇玉娟, 張紅娟, 段曉燕, 韓晴, 岳晴瑞, 王永生, 高思靜
【申請人】陜西華經微電子股份有限公司
【公開日】2016年5月4日
【申請日】2015年12月23日