光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置及檢測方法
【專利說明】
[0001]技術領域:
本發明涉及一種光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置及檢測方法。
[0002]【背景技術】:
近幾十年來，光電探測器在光通信、信號處理、傳感系統和測溫系統等高科技領域得到廣泛應用，在信息為導向的時代，時間就是生命，提高速度的需要求日益緊迫，提高光電探測器響應速度的努力幾乎從誕生它的一刻起就沒停止過，
【發明內容】
:
本發明的目的是提供一種光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置及檢測方法。
[0003]上述的目的通過以下的技術方案實現:
光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置，其組成包括:光電探測器，所述的光電探測器一端與偏壓連接，所述的光電探測器另一端與負載連接，所述的光電探測器與負載之間接入毫伏表，所述的光電探測器、所述的負載、所述的毫伏表分別與示波器連接，所述的示波器分別與信號發生器和電阻一端連接，所述的電阻另一端與發光二極管連接。
[0004]利用光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置檢測發光二極管響應時間的方法，測量偏壓下不同負載時其響應時間負載下部筒偏壓時其響應時間，錄在不同偏置電壓下二極管的響應時間，記錄偏置電阻時脈沖響應時間，最后根據表A和表B繪制偏置電壓和偏置電阻分別與二極管響應時間關系圖，從而得出二極管響應時間與不同時段的偏置電壓和偏執電阻的趨勢。
[0005]所述的利用光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置檢測發光二極管響應時間的方法，所述的測量偏壓下不同負載時其響應時間負載下部筒偏壓時其響應時間:首先將試驗箱面板上的偏壓和負載分別選通一組，然后將波形選擇開關撥至脈沖擋，光電探測器開關撥至光電二極管擋，此時在輸入波形的二極管處應可觀測到方波，由輸出處引出的輸出線即可得到光電二極管的輸出波形，其頻率通過頻率調節處的方法旋鈕來調節，然后按照要求分別測量偏壓下不同負載時其響應時間一定負載下部筒偏壓時其響應時間。
[0006]所述的利用光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置檢測發光二極管響應時間的方法，所述的同偏置電壓下二極管的響應時間，記錄偏置電阻時脈沖響應時間是，負載10千歐，選擇偏置電壓0V、5V、10V、15V，觀察記錄在不同偏置電壓下二極管的響應時間，記錄成表A ;在偏置電壓為15V時，選擇OK、IK、10K、50K、100Κ的偏置電阻時脈沖響應時間，記錄成表Β。
[0007]有益效果:
1.本發明的檢測方法，通過光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置來探測研究發光二極管和光敏電阻的響應時間，從而來掌握并了解其在不同偏置電壓和偏置電阻狀態下的響應時間，從而來提高其在不同領域的一個應用過程。本發明主要探討光敏電阻和光電二極管的響應時間，確定所加電壓和負載電阻變化過程中響應時間的特性，從而進一步來改進和改善其響應時間。
[0008]本發明方法簡單，實用，可以準確快捷的得到其在不同偏置電壓和偏置電阻條件下的響應時間，同時通過繪圖形式更直觀更準確的看出其隨著騙著電壓和偏置電阻變化的過程。
【附圖說明】:
附圖1是本發明的結構示意圖。
[0009]【具體實施方式】:
實施例1:
一種光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置，其組成包括:光電探測器2，所述的光電探測器一端與偏壓3連接，所述的光電探測器另一端與負載6連接，所述的光電探測器與負載之間接入毫伏表5，所述的光電探測器、所述的負載、所述的毫伏表分別與示波器4連接，所述的示波器分別與信號發生器1和電阻8 一端連接，所述的電阻另一端與發光二極管7連接。
[0010]實施例2:
根據實施例1利用光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置檢測發光二極管響應時間的方法，(1)首先將試驗箱面板上的偏壓和負載分別選通一組，然后將波形選擇開關撥至脈沖擋，光電探測器開關撥至光電二極管擋，此時在輸入波形的二極管處應可觀測到方波，由輸出處引出的輸出線即可得到光電二極管的輸出波形，其頻率可通過頻率調節處的方法旋鈕來調節，然后按照要求分別測量一定偏壓下不同負載時其響應時間一定負載下部筒偏壓時其響應時間。
[0011 ] (2)選定負載10千歐，選擇偏置電壓0V、5V、10V、15V，觀察記錄在不同偏置電壓下二極管的響應時間，記錄成表A ;在偏置電壓為15V時，選擇OK、IK、10K、50K、100Κ的偏置電阻時脈沖響應時間，記錄成表Β。
[0012](3)最后根據表Α和表B繪制偏置電壓和偏置電阻分別與二極管響應時間關系圖，從而得出二極管響應時間與不同時段的偏置電壓和偏執電阻的趨勢。
[0013]實施例3
利用實施例1所述的光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置檢測發光二極管響應時間的方法，測量偏壓下不同負載時其響應時間負載下部筒偏壓時其響應時間，錄在不同偏置電壓下二極管的響應時間，記錄偏置電阻時脈沖響應時間,最后根據表A和表B繪制偏置電壓和偏置電阻分別與二極管響應時間關系圖，從而得出二極管響應時間與不同時段的偏置電壓和偏執電阻的趨勢。
[0014]實施例4:
實施例3所述的光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置檢測發光二極管響應時間的方法，所述的測量偏壓下不同負載時其響應時間負載下部筒偏壓時其響應時間:首先將試驗箱面板上的偏壓和負載分別選通一組，然后將波形選擇開關撥至脈沖擋，光電探測器開關撥至光電二極管擋，此時在輸入波形的二極管處應可觀測到方波，由輸出處引出的輸出線即可得到光電二極管的輸出波形，其頻率通過頻率調節處的方法旋鈕來調節，然后按照要求分別測量偏壓下不同負載時其響應時間一定負載下部筒偏壓時其響應時間。
[0015]實施例5:
實施例3或4所述的光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置檢測發光二極管響應時間的方法，其特征是:所述的同偏置電壓下二極管的響應時間，記錄偏置電阻時脈沖響應時間是，負載10千歐，選擇偏置電壓0V、5V、10V、15V，觀察記錄在不同偏置電壓下二極管的響應時間，記錄成表A ;在偏置電壓為15V時，選擇OK、IK、10K、50K、100Κ的偏置電阻時脈沖響應時間，記錄成表Β。
【主權項】
1.一種光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置，其組成包括:光電探測器，其特征是:所述的光電探測器一端與偏壓連接，所述的光電探測器另一端與負載連接，所述的光電探測器與負載之間接入毫伏表，所述的光電探測器、所述的負載、所述的毫伏表分別與示波器連接，所述的示波器分別與信號發生器和電阻一端連接，所述的電阻另一端與發光二極管連接。2.一種利用權利要求1所述的光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置檢測發光二極管響應時間的方法，其特征是:測量偏壓下不同負載時其響應時間負載下部筒偏壓時其響應時間，錄在不同偏置電壓下二極管的響應時間，記錄偏置電阻時脈沖響應時間，最后根據表A和表B繪制偏置電壓和偏置電阻分別與二極管響應時間關系圖，從而得出二極管響應時間與不同時段的偏置電壓和偏執電阻的趨勢。3.根據權利要求2所述的光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置檢測發光二極管響應時間的方法，其特征是:所述的測量偏壓下不同負載時其響應時間負載下部筒偏壓時其響應時間:首先將試驗箱面板上的偏壓和負載分別選通一組，然后將波形選擇開關撥至脈沖擋，光電探測器開關撥至光電二極管擋，此時在輸入波形的二極管處應可觀測到方波，由輸出處引出的輸出線即可得到光電二極管的輸出波形，其頻率通過頻率調節處的方法旋鈕來調節，然后按照要求分別測量偏壓下不同負載時其響應時間一定負載下部筒偏壓時其響應時間。4.根據權利要求2或3所述的光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置檢測發光二極管響應時間的方法，其特征是:所述的同偏置電壓下二極管的響應時間，記錄偏置電阻時脈沖響應時間是，負載10千歐，選擇偏置電壓0V、5V、10V、15V，觀察記錄在不同偏置電壓下二極管的響應時間，記錄成表A ;在偏置電壓為15V時，選擇OK、IK、10K、50K、100Κ的偏置電阻時脈沖響應時間，記錄成表Β。
【專利摘要】<b>本發明涉及一種光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置及檢測方法。近幾十年來，光電探測器在光通信、信號處理、傳感系統和測溫系統等高科技領域得到廣泛應用。光電探測器檢測發光二極管響應時間裝置，其組成包括：光電探測器（</b><b>2</b><b>），所述的光電探測器一端與偏壓（</b><b>3</b><b>）連接，所述的光電探測器另一端與負載（</b><b>6</b><b>）連接，所述的光電探測器與負載之間接入毫伏表（</b><b>5</b><b>），所述的光電探測器、所述的負載、所述的毫伏表分別與示波器（</b><b>4</b><b>）連接，所述的示波器分別與信號發生器（</b><b>1</b><b>）和電阻（</b><b>8</b><b>）一端連接，所述的電阻另一端與發光二極管（</b><b>7</b><b>）連接。本發明用于光電探測器檢測發光二極管響應時間檢測。</b>
【IPC分類】G01R31/26
【公開號】CN105467288
【申請號】CN201410451122
【發明人】關曉東
【申請人】哈爾濱理大晟源科技開發有限公司
【公開日】2016年4月6日
【申請日】2014年9月6日