一種用于校準分析儀器的校準設備的制造方法
【技術領域】
[0001]本申請涉及設備，具體地講，涉及電工儀器儀表的校準設備。
【背景技術】
[0002]GB/T 4365-2003《電工術語電磁兼容》中對于基波和諧波有如下定義，基波:一個周期量的傅里葉級數的一次分量;諧波:一個周期的傅里葉級數中次數大于1的整數倍的分量。在理想情況下，電力系統為用戶提供的是一個恒定工頻(50Hz)的標準正弦波信號。但是由于用戶所使用的負載是多種多樣的，大量的非線性負載及變頻設備的使用會使標準的正弦信號產生畸變，即電路中有諧波產生，諧波的危害十分嚴重。諧波使電能的生產、傳輸和利用的效率降低，使電氣設備過熱、產生振動和噪聲，并使絕緣老化，使用壽命縮短，甚至發生故障或燒毀。諧波作為電能質量監控的重要技術指標日益受到了人們的重視，為了了解諧波的大小，進而對諧波源加以控制，大量的電能質量分析儀、諧波分析儀廣泛的應用在電力系統的各個領域。無論是設備生產廠家或是相關檢測機構都需要諧波標準裝置用以校準諧波分析儀器，并保證校準結果可以溯源到國家基準。
[0003]目前，市場上銷售的諧波標準源設備多是采用“信號發生器+放大器”方案來實現的。由信號發生器產生所需要的諧波小信號，經由放大器放大為標準諧波信號。此方案存在幾個缺點:
由于放大器的帶寬限制，所能輸出的諧波階次有限制。由于放大器的線性度所限，需要反饋回路以調整信號發生器輸出的諧波小信號，使得整個裝置結構比較復雜，價格昂貴。反饋回路需要使用DFT或FFT進行運算，使得裝置對于間諧波和次諧波的輸出能力降低。
【發明內容】
[0004]本申請的目的在于，針對現有技術存在的上述缺陷，提供一種用于校準分析儀器的校準設備，該設備可以校準電能質量分析儀、諧波分析儀等設備，同時，校準量值可以溯源到國家基準，解決了諧波分析儀器的校準及溯源問題。
[0005]本申請提供的一種用于校準分析儀器的校準設備，其改進之處在于包括2臺標準功率源、2臺萬用表、校準分析儀器和控制計算機，所述標準功率源、校準分析儀器和萬用表分別通過總線與控制計算機連接起來。
[0006]本申請提供的第一優選的用于校準分析儀器的校準設備，所述總線為IEEE488總線。
[0007]本申請提供的第二優選的用于校準分析儀器的校準設備，所述基波頻率為45Hz?65Hz0
[0008]本申請提供的第三優選的用于校準分析儀器的校準設備，諧波階次高達100次。
[0009]本申請提供的第四優選的用于校準分析儀器的校準設備，所述校準設備輸出間諧波和次諧波信號。
[0010]本申請提供的第五優選的用于校準分析儀器的校準設備，所述校準分析儀器為電能質量分析儀或諧波分析儀。
[0011]基波頻率可以為45Hz?65Hz，諧波階次高達100次，能輸出間諧波和次諧波信號，可用于校準電能質量分析儀、諧波分析儀等設備，校準結果可以溯源到國家標準。
[0012]與現有技術相比，本申請提供的一種用于校準分析儀器的校準設備具有以下有益效果:
1、裝置溯源方法簡單，將復雜的非正弦信號溯源轉換為寬頻正弦波高精度數字電壓表的溯源；
2、可疊加的諧波次數高，諧波含量大；
3、可輸出間諧波和次諧波標準信號；
4、避免采用放大器，使得整個裝置的構造較為簡單，且成本低。
【附圖說明】
[0013]圖1是本申請提供的一種用于校準分析儀器的校準設備的原理結構圖；
圖2是本申請提供的一種用于校準分析儀器的校準設備的控制計算機的控制原理流程圖。
【具體實施方式】
[0014]實施例1
本實施例的用于校準分析儀器的校準設備，包括以下步驟:
1)將標準功率源2和標準功率源3、萬用表4、萬用表5、諧波分析儀器6和控制計算機1通過IEEE488總線連接起來；
2)使用標準功率源2輸出正弦波信號作為基波分量，該信號由萬用表4進行測量，測量值作為基波分量標準值；
3)使用標準功率源3輸出正弦波信號作為諧波分量，該信號由對應的萬用表5進行測量，測量值作為諧波分量標準值；
4)基波源信號與諧波源信號通過鎖相控制，串聯矢量合成為標準的諧波信號輸入到諧波分析儀器中，用以校準。
[0015]基波頻率為45Hz，諧波階次高達100次，校準設備輸出間諧波和次諧波信號。
[0016]即如圖1所示，使用標準功率源2輸出正弦波信號作為基波分量，該信號由萬用表4進行測量，測量值作為基波分量標準值。標準功率源3輸出正弦波信號作為諧波分量，該信號由萬用表5進行測量，測量值作為諧波分量標準值。基波源信號與諧波源信號通過鎖相控制，串聯矢量合成為標準的諧波信號輸入到諧波分析儀器6中，用以校準儀器。標準功率源2、3和萬用表4、5分別由控制計算機1通過IEEE488總線進行控制輸出和數據讀取;其中，控制計算機1通過IEEE488總線進行控制輸出和數據讀取見圖2。
[0017]實施例2
本實施例同實施例1，唯有不同之處在于可以使標準功率源3輸出正弦波信號作為基波分量，該信號由萬用表5進行測量，測量值作為基波分量標準值；
使用標準功率源2輸出正弦波信號作為諧波分量，該信號由對應的萬用表4進行測量，測量值作為諧波分量標準值;基波源信號與諧波源信號通過鎖相控制，串聯矢量合成為標準的諧波信號輸入到電能質量分析儀中，用以校準儀器;基波頻率為65Hz。
【主權項】
1.一種用于校準分析儀器的校準設備，其特征在于包括2臺標準功率源、2臺萬用表、校準分析儀器和控制計算機，所述標準功率源、校準分析儀器和萬用表分別通過總線與控制計算機連接起來。2.根據權利要求1所述的校準設備，其特征在于所述總線為IEEE488總線。3.根據權利要求1所述的校準設備，其特征在于所述校準分析儀器為電能質量分析儀或諧波分析儀。
【專利摘要】本申請涉及一種用于校準分析儀器的校準設備，其特征在于包括2臺標準功率源、2臺萬用表、校準分析儀器和控制計算機，所述標準功率源、校準分析儀器和萬用表分別通過總線與控制計算機連接起來，該校準設備校準量值可以溯源到國家基準，解決了諧波分析儀器的校準及溯源問題。
【IPC分類】G01R35/00
【公開號】CN105425187
【申請號】CN201510871768
【發明人】楊立新
【申請人】南京華欣分析儀器制造有限公司
【公開日】2016年3月23日
【申請日】2015年12月2日