一種用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種測試機構，特別是涉及一種用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭，屬于鍵盤自動化檢測設備用零部件技術領域。
【背景技術】
[0002]作為主要的輸入結構，按鍵被廣泛地應用于計算機鍵盤、手機以及計算器等電子產品中；對于計算機鍵盤、手機以及計算器等電子產品而言，工作時必須敲打按鍵以使得按鍵觸點導通斷開，從而將字母、數字、標點符號等輸入到相應的計算機、手機或者計算器中。
[0003]因此，鍵盤的質量及其功能是否正常操作，將直接影響到電子設備操作的穩定性。同時，在鍵盤中直接的操作單元是按鍵，所以按鍵的品質測試對于鍵盤而言，是至關重要的環節。在鍵盤生產過程中，出產前必須對鍵盤成品進行質量檢測，需要對每一個按鍵進行擊打，以測試其回彈和觸點的通斷等測試項目。
[0004]然而，目前業界對于鍵盤按鍵的測試，一般采用人工或機器來測試。人工測試方式是以雇用大量勞工逐一按壓鍵盤中每一個按鍵，采用人工測試方式存在諸多缺點:需要操作人員與測試軟體交互配合，在測試軟體發出命令之后，等待操作人員按壓按鍵；測試時間較長且效率低；操作人員按壓按鍵時可能出錯，需要多次反復測試；以及操作人員容易操作疲勞而出現怠工現象等。
[0005]現有技術中采用機器測試鍵盤的方式已經得到越來越廣泛的應用，但是現有鍵盤自動化測試設備仍存在機械結構復雜、不易維修、通用性差、定位精度低等缺陷。
[0006]電性能是電子元器件的質量核心，隨著自動化設備的大力推廣，高速、準確和簡便的元器件電性能測試方式尤顯重要。目前，對鍵盤按鍵進行電性能或過靈敏等測試所使用的測試頭結構較為復雜，在生產線實際的使用過程中由于測試頭易磨損，而導致測試頭必須定期更換，使得維修和維護頻次非常高；以及測試頭機構在安裝之后基本固定不動，僅僅適用于固定的測試設備，不僅調節范圍小，而且通用性差。
【發明內容】
[0007]本發明的主要目的在于，克服現有技術中的不足，提供一種新型結構的用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭，特別適用于計算機鍵盤的電性能測試機使用。
[0008]本發明所要解決的技術問題是提供結構緊湊、拆裝方便、制作容易、安全可靠、實用性強的用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭，用于在減少人工參與的前提下，實現鍵盤的自動測試電性功能，不僅自動化程度高，測試準確高效；而且可克服傳統的元器件測試結構復雜不便于維護的缺點，簡便耐損，大幅節省測試設備的更換成本；同時，具有靈活可調性，通用性更強，對不同產品的鍵盤按鍵布局適應性更佳，極具有產業上的利用價值。
[0009]為了達到上述目的，本發明所采用的技術方案是:
一種用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭，包括垂直方向分布的固定架，依次設置在固定架上的第一伸縮節和第二伸縮節，分別安裝在第一伸縮節和第二伸縮節上的固定環和限位環，以及安裝在固定環上的測試頭組件。
[0010]其中，所述第一伸縮節和第二伸縮節自上而下呈直線分布于固定架的側端，所述測試頭組件自上而下包括搭接式相連的電磁鐵和砝碼；所述電磁鐵固定于固定環，電磁鐵的頂端為自由端、用于與測試導線相連，電磁鐵的底端套穿入砝碼的頂端并鎖緊有墊片；所述砝碼套裝入限位環，砝碼的頂端套接于電磁鐵底端、并懸掛搭接于墊片，砝碼的底端為自由端、作用于待測試鍵盤中的按鍵；所述砝碼在作用于按鍵而向上受力后可沿電磁鐵的底端上移。
[0011]本發明進一步設置為:所述固定架的側端設置有直線導軌，所述第一伸縮節和第二伸縮節分別通過第一滑塊和第二滑塊安裝并鎖緊在直線導軌上。
[0012]本發明進一步設置為:所述限位環為C型環，包括與第二伸縮節相連并垂直分布的縱向連接塊，分別連接于縱向連接塊兩端并同向水平分布的第一限位環和第二限位環；所述砝碼依次套裝入第一限位環和第二限位環，砝碼的底端延伸出第二限位環。
[0013]本發明進一步設置為:所述固定架的頂端設置有懸掛連接用的固定孔。
[0014]本發明進一步設置為:所述固定架設置有減輕孔。
[0015]本發明進一步設置為:所述電磁鐵通過螺母鎖緊于固定環，所述螺母鎖緊于固定環的頂面。
[0016]與現有技術相比，本發明具有的有益效果是:
1、通過固定兼可調式安裝結構和測試頭組件的設置，其中測試頭組件自上而下包括搭接式相連的電磁鐵和砝碼，采用砝碼自由落體敲擊按鍵的方式可實現過靈敏性能的測試，采用電磁導通擊打按鍵的方式可實現電性功能的測試，測試頭組件集成度高、自動化程度高，模組共用，大幅節省成本，并且測試準確高效；可克服傳統的元器件測試結構復雜不便于維護的缺點，簡便耐損，從而大幅節省測試設備的更換成本。
[0017]2、通過固定架、第一伸縮節和第二伸縮節、以及固定環和限位環的設置，為測試頭組件相距固定架的距離提供靈活、精確、平穩的調節，減少拆卸或調節固定架的操作，實現快速整機調節，從而增加電測測試頭的通用性，使其更適應于不同產品的鍵盤按鍵布局。
[0018]上述內容僅是本發明技術方案的概述，為了更清楚的了解本發明的技術手段，下面結合附圖對本發明作進一步的描述。
【附圖說明】
[0019]圖1為本發明一種用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0020]下面結合說明書附圖，對本發明作進一步的說明。
[0021]如圖1所示的一種用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭，包括垂直方向分布的固定架1，依次設置在固定架1上的第一伸縮節11和第二伸縮節12，分別安裝在第一伸縮節11和第二伸縮節12上的固定環2和限位環3，以及安裝在固定環2上的測試頭組件；所述第一伸縮節11和第二伸縮節12自上而下呈直線分布于固定架1的側端，所述測試頭組件自上而下包括搭接式相連的電磁鐵4和砝碼5。
[0022]所述電磁鐵4固定于固定環2，電磁鐵4的頂端為自由端、用于與測試導線相連，電磁鐵4的底端套穿入砝碼5的頂端并鎖緊有墊片6 ;所述砝碼5套裝入限位環3，砝碼5的頂端套接于電磁鐵4底端、并懸掛搭接于墊片6，砝碼5的底端為自由端、作用于待測試鍵盤中的按鍵；所述砝碼5在作用于按鍵而向上受力后可沿電磁鐵4的底端上移。
[0023]所述電磁鐵4通過螺母40鎖緊于固定環2，所述螺母40鎖緊于固定環2的頂面。
[0024]所述固定架1的側端設置有直線導軌7，所述第一伸縮節11和第二伸縮節12分別通過第一滑塊71和第二滑塊72安裝并鎖緊在直線導軌7上。
[0025]所述固定架1的頂端設置有懸掛連接用的固定孔13，所述固定架1設置有減輕孔14ο
[0026]所述限位環3為C型環，包括與第二伸縮節12相連并垂直分布的縱向連接塊31，分別連接于縱向連接塊31兩端并同向水平分布的第一限位環32和第二限位環33 ;所述砝碼5依次套裝入第一限位環32和第二限位環33，砝碼5的底端延伸出第二限位環33。
[0027]本發明的創新點在于，測試頭組件集成度高、自動化程度高，并提供靈活、精確、平穩的調節測試頭組件相距固定架的距離，實現快速整機調節，增強電測測試頭的通用性。
[0028]以上所述，僅是本發明的較佳實施例而已，并非對本發明作任何形式上的限制，雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發明，任何熟悉本專業的技術人員，在不脫離本發明技術方案范圍內，當可利用上述揭示的技術內容做出些許更動或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本發明技術方案的內容，依據本發明的技術實質對以上實施例所作的任何的簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發明技術方案的范圍內。
【主權項】
1.一種用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭，其特征在于:包括垂直方向分布的固定架，依次設置在固定架上的第一伸縮節和第二伸縮節，分別安裝在第一伸縮節和第二伸縮節上的固定環和限位環，以及安裝在固定環上的測試頭組件； 所述第一伸縮節和第二伸縮節自上而下呈直線分布于固定架的側端，所述測試頭組件自上而下包括搭接式相連的電磁鐵和砝碼； 所述電磁鐵固定于固定環，電磁鐵的頂端為自由端、用于與測試導線相連，電磁鐵的底端套穿入砝碼的頂端并鎖緊有墊片； 所述砝碼套裝入限位環，砝碼的頂端套接于電磁鐵底端、并懸掛搭接于墊片，砝碼的底端為自由端、作用于待測試鍵盤中的按鍵；所述砝碼在作用于按鍵而向上受力后可沿電磁鐵的底端上移。2.根據權利要求1所述的一種用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭，其特征在于:所述固定架的側端設置有直線導軌，所述第一伸縮節和第二伸縮節分別通過第一滑塊和第二滑塊安裝并鎖緊在直線導軌上。3.根據權利要求1所述的一種用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭，其特征在于:所述限位環為C型環，包括與第二伸縮節相連并垂直分布的縱向連接塊，分別連接于縱向連接塊兩端并同向水平分布的第一限位環和第二限位環；所述砝碼依次套裝入第一限位環和第二限位環，砝碼的底端延伸出第二限位環。4.根據權利要求1所述的一種用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭，其特征在于:所述固定架的頂端設置有懸掛連接用的固定孔。5.根據權利要求1所述的一種用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭，其特征在于:所述固定架設置有減輕孔。6.根據權利要求1所述的一種用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭，其特征在于:所述電磁鐵通過螺母鎖緊于固定環，所述螺母鎖緊于固定環的頂面。
【專利摘要】本發明公開了一種用于鍵盤按鍵測試的電測測試頭，包括垂直方向分布的固定架，依次設置在固定架上的第一伸縮節和第二伸縮節，分別安裝在第一伸縮節和第二伸縮節上的固定環和限位環，以及安裝在固定環上的測試頭組件；測試頭組件自上而下包括搭接式相連的電磁鐵和砝碼；電磁鐵固定于固定環，頂端為自由端、用于與測試導線相連，底端套穿入砝碼的頂端并鎖緊有墊片；砝碼套裝入限位環，頂端套接于電磁鐵底端、并懸掛搭接于墊片，底端為自由端、作用于待測試鍵盤中的按鍵；砝碼在作用于按鍵而向上受力后可沿電磁鐵的底端上移。結構緊湊、實用性強，自動化程度高，測試準確高效，且提供靈活平穩的精確調節，通用性強，適應于不同產品的鍵盤按鍵布局。
【IPC分類】G01R31/327
【公開號】CN105277878
【申請號】CN201510701002
【發明人】譚志輝
【申請人】昆山鴻志犀自動化機電設備有限公司
【公開日】2016年1月27日
【申請日】2015年10月26日