一種建筑物外立面測量方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及建筑物外立面的測量領域，尤其涉及一種新的低成本、高效率的建筑物外立面測量方法。
【背景技術】
[0002]測量建筑物外立面傳統的測量手段主要是丈量，使用工具為皮尺、鋼尺、手持測距儀等，對于有阻隔、無法直接測量的建筑物而言，該方法便難以實施。目前，先進的立面測量手段有近景攝影測量、三維激光掃描儀等高新技術，但儀器成本過高，內業處理復雜，甚至某些情況下與傳統手段相比，優勢并不突出。因此解決上述問題就顯得十分必要了。
【發明內容】
[0003]為解決上述問題，本發明提供一種利用全站儀無棱鏡技術測量建筑物外立面的方法，該方法只需2人作業即可高效完成測量且精度可靠，解決了【背景技術】中出現的問題。
[0004]本發明的目的是提供一種建筑物外立面測量方法，包括有外業測量和內業數據處理，所述外業測量包括有以下步驟:
步驟一:在需要觀測的立面前選擇能盡量看到立面全景的位置設站，采用假定坐標系和自由設站，角度定向為北方向置零；
步驟二:設站完成后，使用全站儀無棱鏡進行碎步測量:首先采集立面上各細部點數據，包括門窗、柱、檐等細部水平位置特征點，細部點對應點號，重合點對編號，草圖勾繪時詳細記錄，并拍照以便內業參照；
步驟三:窗戶間的垂直間距，門窗高、建筑物高等數據采用全站儀無棱鏡高差測量方式獲取，現場經過加減計算直接求解得出外業高差；
所述內業數據處理包括有以下步驟:
步驟四:將步驟二得到的立面上各細部點數據在CASS軟件展點后改正到正立面(由于采用自由設站，立面細部點數據在CASS軟件展點后是非正立面):選擇兩個在同一條投影線上的點作為立面圖的軸線yl，這兩點盡量距離最大(樓體兩端點)，以其中一點作為旋轉基點，使用正交功能對所有點進行測站改正，改正后軸線yl與坐標軸1軸重合；
步驟五:參照立面照片，依據外業草圖點號，對應步驟四得出的正立面上點號連點繪制立面圖，垂直方向數據依據外業高差計算成果，便得出建筑物外立面圖。
[0005]進一步改進在于:所述步驟二測量中不通視的碎部點，無需支站，只需在下次設站處，采集兩處重合點，后續測量數據進行銜接上。
[0006]進一步改進在于:所述步驟四不同測站所測的點需分開改正，測站間有重合點測量的，測站改正后再進行數據銜接。
[0007]本發明的有益效果:本發明通過外業測量和內業數據處理進行測量計算，首先進行設站測量立面各細部點數據以及外業高差，之后將得到的各細部數據改正到正立面，最后進行繪制立面圖；本發明完全采用全站儀無棱鏡技術來測量建筑物的外立面，該方法只需2人作業即可高效完成測量且精度可靠，適用于建筑物外立面的測量中。
【附圖說明】
[0008]圖1是本實施例的步驟二測得的各細部點的水平位置特征點數據圖。
[0009]圖2是本實施例步驟二測得的立面細部點數據在CASS軟件展點后非正立面圖。
[0010]圖3是本實施例步驟四改正到正立面圖。
[0011 ] 圖4是本實施例步驟五繪制的立面圖。
【具體實施方式】
[0012]為了加深對本發明的理解，下面將結合實施例對本發明作進一步詳述，該實施例僅用于解釋本發明，并不構成對本發明保護范圍的限定。
[0013]如圖1-4所示，本實施例提供一種建筑物外立面測量方法，包括有外業測量和內業數據處理，所述外業測量包括有以下步驟:
步驟一:在需要觀測的立面前選擇能盡量看到立面全景的位置設站，采用假定坐標系和自由設站，角度定向為北方向置零；
步驟二:設站完成后，使用全站儀無棱鏡進行碎步測量:首先采集立面上各細部點數據，包括門窗、柱、檐等細部水平位置特征點，細部點對應點號，重合點對編號，草圖勾繪時詳細記錄，并拍照以便內業參照；
步驟三:窗戶間的垂直間距，門窗高、建筑物高等數據采用全站儀無棱鏡高差測量方式獲取，現場經過加減計算直接求解得出外業高差；
所述內業數據處理包括有以下步驟:
步驟四:將步驟二得到的立面上各細部點數據在CASS軟件展點后改正到正立面(由于采用自由設站，立面細部點數據在CASS軟件展點后是非正立面):選擇兩個在同一條投影線上的點作為立面圖的軸線yl，這兩點盡量距離最大(樓體兩端點)，以其中一點作為旋轉基點，使用正交功能對所有點進行測站改正，改正后軸線yl與坐標軸1軸重合；
步驟五:參照立面照片，依據外業草圖點號，對應步驟四得出的正立面上點號連點繪制立面圖，垂直方向數據依據外業高差計算成果，便得出建筑物外立面圖。
[0014]所述步驟二測量中不通視的碎部點，無需支站，只需在下次設站處，采集兩處重合點，后續測量數據進行銜接上。所述步驟四不同測站所測的點需分開改正，測站間有重合點測量的，測站改正后再進行數據銜接。
[0015]通過外業測量和內業數據處理進行測量計算，首先進行設站測量立面各細部點數據以及外業高差，之后將得到的各細部數據改正到正立面，最后進行繪制立面圖；本發明完全采用全站儀無棱鏡技術來測量建筑物的外立面，該方法只需2人作業即可高效完成測量且精度可靠，適用于建筑物外立面的測量中。
【主權項】
1.一種建筑物外立面測量方法，包括有外業測量和內業數據處理，其特征在于:所述外業測量包括有以下步驟: 步驟一:在需要觀測的立面前選擇能盡量看到立面全景的位置設站，采用假定坐標系和自由設站，角度定向為北方向置零； 步驟二:設站完成后，使用全站儀無棱鏡進行碎步測量:首先采集立面上各細部點數據，包括門窗、柱、檐等細部水平位置特征點，細部點對應點號，重合點對編號，草圖勾繪時詳細記錄，并拍照以便內業參照； 步驟三:窗戶間的垂直間距，門窗高、建筑物高等數據采用全站儀無棱鏡高差測量方式獲取，現場經過加減計算直接求解得出外業高差； 所述內業數據處理包括有以下步驟: 步驟四:將步驟二得到的立面上各細部點數據在CASS軟件展點后改正到正立面(由于采用自由設站，立面細部點數據在CASS軟件展點后是非正立面):選擇兩個在同一條投影線上的點作為立面圖的軸線，這兩點盡量距離最大(樓體兩端點)，以其中一點作為旋轉基點，使用正交功能對所有點進行測站改正，改正后軸線與坐標軸I軸重合； 步驟五:參照立面照片，依據外業草圖點號，對應步驟四得出的正立面上點號連點繪制立面圖，垂直方向數據依據外業高差計算成果，便得出建筑物外立面圖。2.如權利要求1所述一種建筑物外立面測量方法，其特征在于:所述步驟二測量中不通視的碎部點，無需支站，只需在下次設站處，采集兩處重合點，后續測量數據進行銜接上。3.如權利要求1所述一種建筑物外立面測量方法，其特征在于:所述步驟四不同測站所測的點需分開改正，測站間有重合點測量的，測站改正后再進行數據銜接。
【專利摘要】本發明的目的是提供一種建筑物外立面測量方法，通過外業測量和內業數據處理進行測量計算，首先進行設站測量立面各細部點數據以及外業高差，之后將得到的各細部數據改正到正立面，最后進行繪制立面圖；本發明完全采用全站儀無棱鏡技術來測量建筑物的外立面，該方法只需2人作業即可高效完成測量且精度可靠，適用于建筑物外立面的測量中。
【IPC分類】G01C15/00
【公開號】CN105241432
【申請號】CN201510622200
【發明人】尹志華, 張清, 許家偉, 張超然, 楊培培, 劉木川, 潘金寶, 孫瑞
【申請人】中鐵城市規劃設計研究院有限公司
【公開日】2016年1月13日
【申請日】2015年9月28日