電磁線的測試方法
【技術領域】
[0001]本發明公開了一種電磁線的測試方法，可在電磁線生產行業對在線生產的電磁線進行檢測。
【背景技術】
[0002]電磁線的電氣絕緣性能是衡量電磁線質量優劣的關鍵指標，判斷電磁線電氣絕緣性能優劣需要通過對電磁線進行耐電壓測試實現。公知的電磁線的測試方法是:電磁線取樣一入檢測箱一通電作耐壓測試一檢測結果。這種電磁線傳統的檢測方法在實際應用中存在有以下缺陷:在電磁線生產中的過漆、烘焙生產工藝段，因烘焙不充分或過度烘焙，在電磁線的絕緣層內存在有殘余的有機小分子溶劑，這些殘余的有機小分子溶劑短期內不易暴露出來，需經過存放、自然老化15天-180天(狀況不同時間不同)后才會顯露出其缺陷，有機小分子溶劑的存在會降低電磁線的絕緣度，直至不能使用。但是電磁線絕緣層存在的這種有機小分子溶劑在電磁線烘焙后能承受較高電壓的沖擊，造成對其測試耐壓時不易被檢測出來，不能發現電磁線存在的隱形缺陷；隨著電磁線的存放、自然老化，這些殘余的有機小分子溶劑由絕緣層向外擴散，這樣就弱化了絕緣層的耐電壓強度，這時候電磁線的耐電性能會大大下降，有的甚至不能使用。
【發明內容】
[0003]本發明的目的旨在提供一種電磁線的測試方法，利用這種測試方法可對在線生產的電磁線即時進行取樣測試，達到及時發現電磁線是否存在有機小分子溶劑的隱形缺陷，當班取樣、當班得出檢測結果，大幅度提高電磁線檢測效率，保證電磁線檢測質量。
[0004]為實現本發明的目的采取了如下技術方案:
[0005]—種電磁線的測試方法，所述的檢測方法為:電磁線取樣一水煮一烘干一入檢測箱一通電作耐壓測試一檢測結果。
[0006]所述的水煮溫度為95°C?100°C。
[0007]所述的水煮時間為25分鐘?35分鐘。
[0008]所述的烘干溫度為60°C?80 °C。
[0009]所述的烘干時間為:10分鐘?15分鐘。
[0010]本發明烘干后入檢測箱、通電作耐壓測試、成品檢測工藝與傳統的檢測工藝相同，在此不再贅述。
[0011]具體實施方法如下:
[0012]取電磁線樣品，入水溫為95 °C?100 °C水中進行水煮，水煮時間為25分鐘?35分鐘，然后取出放入溫度為60°C?80°C的烘干室內進行烘干，烘干時間為10分鐘?15分鐘，接著進入檢測箱通電作耐壓測試，測試后得出檢測結果。
[0013]本發明的特點是測試方法簡單、便于操作、容易實現；其顯著優點是可對在線生產的電磁線進行即時取樣測試，即取樣即檢測不必等到自然老化15-180天后再檢測，加快電磁線老化時間，及時發現電磁線是否存在有機小分子溶劑的隱形缺陷，大幅提高電磁線的檢測效率，保證電磁線的檢測質量。
【具體實施方式】
[0014]下面結合實施例進一步詳細說明本發明的技術特征:
[0015]實施例1
[0016]取直徑為0.1mm電磁線樣品，入水溫為95°C的水中進行水煮，水煮時間為25分鐘，然后取出放入溫度為60°C的烘干室內進行烘干，烘干時間為10分鐘，接著進入檢測箱通電作耐壓測試，測試后取出即可。
[0017]實施例2
[0018]取直徑為0.15mm電磁線樣品，入水溫為100°C的水中進行水煮，水煮時間為30分鐘，然后取出放入溫度為70°C的烘干室內進行烘干，烘干時間為13分鐘，接著進入檢測箱通電作耐壓測試，測試后取出即可。
[0019]實施例3
[0020]取直徑為0.25mm電磁線樣品，入水溫為100°C的水中進行水煮，水煮時間為35分鐘，然后取出放入溫度為80 °C的烘干室內進行烘干，烘干時間為15分鐘，接著進入檢測箱通電作耐壓測試，測試后取出即可。
[0021]由于本發明對在線生產的電磁線于入檢測箱測試前先進行取樣水煮、烘干，加快了電磁線的老化、縮短了電磁線的老化時間，使電磁線有機小分子溶劑的隱形缺陷提前暴露出來，采用本方法測試電磁線的準確率達百分之百，實用可靠，便于操作。
【主權項】
1.一種電磁線的測試方法，其特征在于:所述的檢測方法為:電磁線取樣一水煮一烘干一入檢測箱一通電作耐壓測試一檢測結果。2.按權利要求1所述的電磁線的測試方法，其特征在于:所述的水煮溫度為95°C?10cC03.按權利要求1所述的電磁線的測試方法，其特征在于:所述的水煮時間為25分鐘?35分鐘。4.按權利要求1所述的電磁線的測試方法，其特征在于:所述的烘干溫度為60°C?80。。。5.按權利要求1所述的電磁線的測試方法，其特征在于:所述的烘干時間為:10分鐘?15分鐘。
【專利摘要】本發明公開了一種電磁線的測試方法，所述的測試方法為：電磁線取樣→水煮→烘干→入檢測箱→通電作耐壓測試→測試結果。利用這種測試方法可對在線生產的電磁線即時進行測試，達到及時發現電磁線是否存在隱形缺陷，提高電磁線檢測效率，保證電磁線檢測質量。本發明的特點是測試方法簡單、便于操作、容易實現；其顯著優點是可對在線生產的電磁線進行即時取樣測試，加快電磁線老化時間，大幅提高電磁線的檢測效率，提高電磁線的檢測質量。
【IPC分類】G01R31/08
【公開號】CN105158645
【申請號】CN201510621349
【發明人】馬法周, 孟祥富, 高景超, 付信開, 李永軍, 馬寧
【申請人】許昌華元電工器材有限公司
【公開日】2015年12月16日
【申請日】2015年9月22日