一種鉆石批量檢測的方法及裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及鉆石檢測領域，具體涉及一種鉆石批量檢測的方法及裝置。
【背景技術】
[0002]現有的人造鉆石通常是是一種由直徑10到30納米的鉆石結晶聚合而成的多結晶鉆石。人造鉆石的的分子結構并不是天然鉆石的完全八面體結構而是一種復雜結構。
[0003]早期的人造鉆石由于空氣中的氮原子進入鉆石晶體而呈淡淡的糖稀顏色，經過科學家的改良制作方法，現在生產的人造鉆石在外觀上和天然鉆石沒有任何差異，由于生成環境的不同，人造鉆石的分子結構并不是天然鉆石的完全八面體結構而是一種復雜結構，從而會產生磷光現象。
[0004]而現在因為公平交易的法則要求，人造鉆石商在銷售時如實說明其質量實況，并用一般接受的詞匯來描述，如“人工合成”、“人造”或“實驗室制造”。幾乎所有的人造鉆石都屬于Ib型，而此類型在天然鉆石中只占不足百分之二。
[0005]現有的檢測手段可以通過吸收譜線檢測合成鉆石，合成鉆石缺失天然鉆石中無色一淺黃色系列具有415nm最為特征譜線。另外絕大部分天然鉆石為I a型，而合成鉆石主要為I b型，少數情況下有雙原子集合體氮存在。
[0006]現有的檢測通常針對大顆粒的寶石級的鉆石在加工鑲嵌前進行逐一檢測出具證書，而對微小的碎鉆通常是加工鑲嵌后才進行檢測；而且目前厘石大小的碎鉆加工鑲嵌后，由于體積非常小、背景干擾大，一般的檢測設備無法進行準確檢測。于是就有不法商販將人造鉆石或者假鉆石摻雜在初加工的碎鉆中謀取暴利，等到加工鑲嵌完成后才發現被摻雜人造鉆石或者假鉆石，使得批發商和加工商都蒙受金錢和信譽上的巨大損失。
【發明內容】
[0007]針對上述問題，本發明旨在提供一種針對碎鉆和小顆粒鉆石進行快速檢測甄別的鉆石批量檢測的方法及裝置。
[0008]為實現該技術目的，本發明的方案是:一種鉆石批量檢測裝置，包括光源、光譜儀、Y型光纖、工作臺，所述工作臺上放置有待檢鉆石，所述Y型光纖包括進光口、出光口和采光口，所述Y型光纖的進光口與光源連接，所述Y型光纖的出光口與光譜儀連接，所述Y型光纖的采光口與正在檢測的待檢鉆石位置對應，所述采光口和工作臺之間設置有驅動裝置，所述驅動裝置可以驅動采光口和工作臺進行相對移動，通過相對移動采光口對工作臺上的待檢鉆石進行批量掃描檢測。
[0009]作為優選，所述工作臺上設置有低反射的消光層。
[0010]作為優選，所述光源為UV-VIS-NIR的復合光源。
[0011]作為優選，所述工作臺上設置有用于分隔細微的待檢鉆石凸起的格柵。
[0012]作為優選，所述工作臺上方還設置有攝像頭模塊。
[0013]一種鉆石批量檢測方法，應用于鉆石批量檢測裝置，具體操作如下:
[0014]第一步，啟動光譜儀和光源進行預熱，待預熱穩定后，開始檢測過程；
[0015]第二步，將待檢鉆石均勻的平鋪在工作臺，啟動驅動裝置，通過相對移動采光口對工作臺上的待檢鉆石進行逐一掃描檢測，獲取每顆待檢鉆石的全光譜；
[0016]第三步，計算機將獲得的全光譜進行逐一分析，通過異常峰分辨假鉆石和人造鉆石，并將假鉆石和人造鉆石在獲取的工作臺照片上逐一標注，通過人工或者自動化設備對標注部分進行剔除即可。
[0017]本發明的有益效果，通過驅動裝置驅動采光口與工作臺進行相對位移，無需人工進行位移，適合碎鉆的批量檢測，大幅提高檢測速度和穩定性；采用消光層作為工作臺表層，能降低檢測過程中分背景反射，提高檢測精度；采用全光譜分析，能夠提高甄別的精度，有效區分人造鉆石和天然鉆石；通過照片顯示假鉆石或人造鉆石的分布情況，方便使用者將其逐一剔除。
【附圖說明】
[0018]圖1為本發明的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0019]下面結合附圖和具體實施例對本發明做進一步詳細說明。
[0020]如圖1所示，本發明所述的具體實施例為一種鉆石批量檢測裝置，包括光源1、光譜儀2、Y型光纖3、工作臺4，所述工作臺4上放置有待檢鉆石6，所述Y型光纖3包括進光口 31、出光口 32和采光口 33，所述Y型光纖3的進光口 31與光源I連接，所述Y型光纖3的出光口 32與光譜儀2連接，所述Y型光纖3的采光口 33與正在檢測的待檢鉆石6位置對應，所述采光口 33和工作臺4之間設置有驅動裝置8，所述驅動裝置8可以驅動采光口 33和工作臺4進行相對移動，通過相對移動采光口 33對工作臺4上的待檢鉆石6進行批量掃描檢測。所述驅動模塊可以驅動采光口二維移動，也可以選驅動模塊驅動工作臺做二維移動。
[0021]為了降低背景影響提高測定精度，所述工作臺4上設置有低反射的消光層5。由于是測定鉆石的反射光譜，消光層能有效降低背景反射，提高測定精度。
[0022]為了獲取全光譜反射圖譜，所述光源I為UV-VIS-NIR的復合光源。通過復合光譜獲取的全光譜能夠更好的進行真假鉆石的甄別，能夠同時通過多個波峰進行分析，提高整體的識別率。
[0023]為了方便將碎鉆逐一分開，方便測定，所述工作臺4上設置有用于分隔細微的待檢鉆石微微凸起的格柵9。由于碎鉆顆粒較小，相鄰的的碎鉆若緊貼在一起，雖然通過逐行掃描可以分辨，但是會影響檢測的精度，也不利于后期的剔除操作。通過格柵分隔開來后，每顆碎鉆都在一個格柵內，方便檢測，也方便剔除。
[0024]為了進行拍照，方便后期進行人工鉆石或者假鉆石的剔除，所述工作臺4上方還設置有攝像頭模塊7。通過攝像頭進行拍照，可以獲取待測鉆石的分布圖，通過檢測結果對分布圖進行標注，方便使用者快速剔除人造鉆石和假鉆石。
[0025]一種鉆石批量檢測方法，應用于鉆石批量檢測裝置，具體操作如下:
[0026]第一步，啟動光譜儀2和光源I進行預熱，待預熱穩定后，開始檢測過程；
[0027]第二步，將待檢鉆石6均勻的平鋪在工作臺4，啟動驅動裝置，通過相對移動采光口 33對工作臺4上的待檢鉆石6進行逐一掃描檢測，獲取每顆待檢鉆石6的全光譜；
[0028]第三步，計算機將獲得的全光譜進行逐一分析，通過異常峰分辨假鉆石和人造鉆石，并將假鉆石和人造鉆石在獲取的工作臺照片上逐一標注，通過人工或者自動化設備對標注部分進行剔除即可。
[0029]本申請的方法和設備適合快速檢測0.001-0.2Ct的鉆石，能夠準確甄別區分人造鉆石和其他寶石。通過230nm的吸收峰可以判定是I Ia型鉆石；通過270nm的吸收峰可以判定是經過HPHP處理的(CVD鉆石后期加工也需要進行HPHT處理)；通過300nm附近和415nm、478nm的吸收峰可以判定是否天然Ia型鉆石。本申請的設備測量和判定時間單點小于500ms，整體時間根據掃描面積和掃描間隔來決定，識別率可以達到98%以上。全部掃描識別完成后能夠立即出檢測結果，能夠大幅工作效率。
[0030]以上所述，僅為本發明的較佳實施例，并不用以限制本發明，凡是依據本發明的技術實質對以上實施例所作的任何細微修改、等同替換和改進，均應包含在本發明技術方案的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種鉆石批量檢測裝置，其特征在于:包括光源、光譜儀、Y型光纖、工作臺，所述工作臺上放置有待檢鉆石，所述Y型光纖包括進光口、出光口和采光口，所述Y型光纖的進光口與光源連接，所述Y型光纖的出光口與光譜儀連接，所述Y型光纖的采光口與正在檢測的待檢鉆石位置對應，所述采光口和工作臺之間設置有驅動裝置，所述驅動裝置可以驅動采光口和工作臺進行相對移動，通過相對移動采光口對工作臺上的待檢鉆石進行批量掃描檢測。2.根據權利要求1所述的鉆石批量檢測的裝置，其特征在于:所述工作臺上設置有低反射的消光層。3.根據權利要求1所述的鉆石批量檢測的裝置，其特征在于:所述光源為UV-VIS-NIR的復合光源。4.根據權利要求1所述的鉆石批量檢測的裝置，其特征在于:所述工作臺上設置有用于分隔細微的待檢鉆石凸起的格柵。5.根據權利要求1所述的鉆石批量檢測的裝置，其特征在于:所述工作臺上方還設置有攝像頭t吳塊。6.一種鉆石批量檢測方法，應用于權利要求1-5所述任一的鉆石批量檢測裝置，其特征在于:具體操作如下: 第一步，啟動光譜儀和光源進行預熱，待預熱穩定后，開始檢測過程； 第二步，將待檢鉆石均勻的平鋪在工作臺，啟動驅動裝置，通過相對移動采光口對工作臺上的待檢鉆石進行逐一掃描檢測，獲取每顆待檢鉆石的全光譜； 第三步，計算機將獲得的全光譜進行逐一分析，通過異常峰分辨假鉆石和人造鉆石，并將假鉆石和人造鉆石在獲取的工作臺照片上逐一標注，通過人工或者自動化設備對標注部分進行剔除即可。
【專利摘要】本發明公開了一種鉆石批量檢測裝置和方法，所述工作臺上放置有待檢鉆石，所述Y型光纖包括進光口、出光口和采光口，所述Y型光纖的進光口與光源連接，所述Y型光纖的出光口與光譜儀連接，所述Y型光纖的采光口與正在檢測的待檢鉆石位置對應，所述采光口和工作臺之間設置有驅動裝置，所述驅動裝置可以驅動采光口和工作臺進行相對移動，通過相對移動采光口對工作臺上的待檢鉆石進行逐一掃描檢測。本發明通過驅動裝置驅動采光口與工作臺進行相對位移，無需人工進行位移，提高檢測速度和穩定性；采用消光層作為工作臺表層，能降低檢測過程中分背景反射，提高檢測精度；采用全光譜分析，能夠提高甄別的精度，有效區分人造鉆石和天然鉆石。
【IPC分類】G01N21/87, G01N21/31
【公開號】CN105136705
【申請號】CN201510646074
【發明人】宋光均
【申請人】廣州標旗電子科技有限公司
【公開日】2015年12月9日
【申請日】2015年9月30日