Pcb板內單端阻抗測試頭的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及PCB板阻抗測試領域，尤其是涉及一種PCB板內單端阻抗測試頭。
【背景技術】
[0002]PCB (Printed Circuit Board)板又叫印制電路板，是重要的電子元器件的支撐體。高速PCB板作為高科技附加值的電子元器件的載體得到廣泛的應用，現如今，隨著3G/4G網絡的普及，許多電子產品對印制線路板中阻抗精度控制的要求越來越高，對于這種高精度的阻抗控制通常采用直接監測板內傳輸線的阻抗值的方式。目前，對于印刷電路板內的單端阻抗測試，市面已有的單端阻抗測試頭其探針一般為固定間距，僅適用于與探針間距等寬的孔間距阻抗測量，而在印制電路板設計中，信號線過孔與回路地孔位置沒有統一的規范，因而，一般的單端阻抗測試頭無法滿足測試要求。
【發明內容】
[0003]基于此，本發明在于克服現有技術的缺陷，提供一種PCB板內單端阻抗測試頭，其可以調節探針間距，適用于不同孔間距的PCB板內單端阻抗測試，有利于管控PCB板內阻抗品質O
[0004]其技術方案如下:
[0005]—種PCB板內單端阻抗測試頭，包括接頭、連接板、載板、第一探針和第二探針，所述連接板包括第一傳輸線和第一屏蔽層，所述載板包括與所述第一傳輸線連通的第二傳輸線和與所述第一屏蔽層連通的第二屏蔽層，所述載板上設有與所述第二屏蔽層連通的限位槽，所述第一探針活動置于所述限位槽內并與所述限位槽連通，所述第二探針位于所述載板上、并與所述第二傳輸線遠離所述第一傳輸線的一端連通，所述第一傳輸線和所述第一屏蔽層遠離所述載板的一端均與所述接頭連通。
[0006]在其中一個實施例中，還包括連通所述第一屏蔽層和所述第二屏蔽層的連接部，所述限位槽位于以所述連接部為圓心的同一個圓周上，所述第一屏蔽層位于所述接頭到所述第二屏蔽層之間的長度和所述第一傳輸線的長度相等，所述圓周的半徑與所述第二傳輸線長度相等。
[0007]在其中一個實施例中，所述第一屏蔽層靠近所述載板一端設有第一金手指，所述載板上設有與所述第一金手指相配合的第一插槽，所述第一插槽與所述第二屏蔽層連通，所述第一金手指與所述第一插槽配合形成所述連接部。
[0008]在其中一個實施例中，所述第一傳輸線靠近載板一端設有第二金手指，所述載板上設有與所述第二金手指配合的第二插槽，所述第二插槽與所述第二傳輸線連通。
[0009]在其中一個實施例中，所述連接板上設有手指插卡，所述載板上設有與所述手指插卡相配合的固定槽。
[0010]在其中一個實施例中，還包括固定于所述載板上的外殼，所述連接板位于所述外殼內，所述接頭設于所述外殼上。
[0011]在其中一個實施例中，所述接頭設有與所述第一屏蔽層連通的金屬外壁，所述金屬外壁內側設有與所述第一傳輸線連通的導電桿。
[0012]在其中一個實施例中，所述接頭還包括圍繞所述導電桿設置的絕緣材料。
[0013]在其中一個實施例中，所述第一金手指、所述第二金手指、所述第一插槽、所述第二插槽、所述限位槽的表面均為電鍍硬金。
[0014]在其中一個實施例中，所述連接板還包括第三屏蔽層，所述第一傳輸線位于所述第一屏蔽層和所述第三屏蔽層之間，所述載板還包括第四屏蔽層，所述第二傳輸線位于所述第二屏蔽層和所述第四屏蔽層之間。本發明的有益效果在于:
[0015]提供一種PCB板內單端阻抗測試頭，其包括接頭、連接板、載板和第一探針、第二探針，接頭一端與阻抗測量儀器相連通，另一端與連接板連通，連接板的第一傳輸線、第一屏蔽層分別與載板的第二傳輸線、第二屏蔽層連通，載板上設有與第二屏蔽層連通的限位槽，第一探針活動置于限位槽內、并與限位槽連通，第二探針與第二傳輸線連通。綜上，第二探針、第二傳輸線和第一傳輸線連通形成測試信號的傳輸路徑，第一探針、限位槽、第二屏蔽層和第一屏蔽層連通形成測試信號的返回路徑。本發明第一探針可以在限位槽內移動，通過移動第一探針的位置來改變第一探針與第二探針之間的間距，用于測量不同間距的過孔、地孔之間的單端傳輸線阻抗值，其測試點連續，測試范圍大，尤其適用于較大孔間距的單端傳輸線的阻抗測量，只要設計相應長度的限位槽即可。本發明結構簡單，操作容易，節約生產設計成本，可靠性高、靈活性強，提高了測試效率。
[0016]本發明還包括連通所述第一屏蔽層和所述第二屏蔽層的連接部，限位槽位于以所述連接部為圓心的同一個圓周上，第一探針活動置于限位槽內，因而第一探針到連接部的長度為圓周半徑大小，即第一探針到第一屏蔽層的長度等于圓周半徑，同時又由于圓周半徑與第二傳輸線的長度相等，且第一傳輸線的長度與信號在第一屏蔽層內的傳輸距離相等，因而保證了信號測試的傳輸路徑與返回路徑長度相等，即信號在傳輸路徑和返回路徑的傳輸時間相同，保證信號在測試頭內傳輸的相位差為O，避免信號傳輸相位差對測量阻抗造成影響，減小了測試波動，提高測試精度。
[0017]第一屏蔽層通過第一金手指與第一插槽的配合與第二屏蔽層連接，第一傳輸線通過第二金手指與第二插槽的配合與第二傳輸線連接，提高了接觸點的抗氧化能力，減少阻抗突變，使信號傳輸路徑通道一致，降低了損耗。
[0018]連接板上還設有手指插卡，載板上設有與所述手指插卡相配合的固定槽，手指插卡插入固定槽內，用于加強固定連接板。
[0019]本發明還包括包覆所述連接板的外殼，便于手持操作以及容置連接板。
[0020]所述第一金手指、所述第二金手指、所述第一插槽、所述第二插槽、所述限位槽的表面均為電鍍硬金。電鍍硬金使得鍍層均勻度更高，具有較好的耐磨性，保證了多次插拔和摩擦后信號傳輸質量不受影響。
[0021]所述連接板還包括第三屏蔽層，所述第一傳輸線位于所述第一屏蔽層和所述第三屏蔽層之間，所述載板還包括第四屏蔽層，所述第二傳輸線位于所述第二屏蔽層和所述第四屏蔽層之間，有效地減少了電路中的噪聲、串擾等，具有較好的抗干擾性能，同時，進一步滿足了連接板和載板的強度需求。
【附圖說明】
[0022]圖1是本發明實施例所述的PCB板內單端阻抗測試頭的結構示意圖；
[0023]圖2是本發明實施例所述的載板的結構示意圖。
[0024]附圖標記說明:
[0025]100、接頭，110、金屬外壁，120、導電桿，130、第一連接線纜，140、第二連接線纜，200、連接板，210、第一傳輸線，211、第一金手指，220、第一屏蔽層，221、第二金手指，230、手指插卡，300、載板，310、第二傳輸線，320、第二屏蔽層，330、限位槽，340、第一探針，350、第二探針，360、第一插槽，370、第二插槽，380、固定槽。
【具體實施方式】
[0026]下面對本發明的實施例進行詳細說明:
[0027]如圖1所示，一種PCB板內單端阻抗測試頭，包括接頭100、連接板200、載板300、第一探針340和第二探針350，連接板200和載板300構成測試頭的阻抗電路板，第一探針340為地端探針，第二探針350為信號端探針。連接板200包括第一傳輸線210和第一屏蔽層220，載板300包括與第一傳輸線210連通的第二傳輸線310和與第一屏蔽層220連通的第二屏蔽層320。載板300上設有與第二屏蔽層320連通的限位槽330，第一探針340活動置于限位槽330內并與限位槽330連通，第二探針350位于載板300上、并與第二傳輸線310遠離第一傳輸線210的一端連通，第一傳輸線210和第一屏蔽層220遠離載板300的一端均與接頭100連通。接頭100遠離連接板200的一端與阻抗測量儀器(附圖未標識)連通。由上可知，第二探針350、第二傳輸線310和第一傳輸線210連通形成測試信號的傳輸路徑，第一探針340、限位槽330、第二屏蔽層320和第一屏蔽層220連通形成測試信號的返回路徑，PCB板的過孔、上述傳輸路徑、接頭100、阻抗測量儀器、接頭100、上述返回路徑、PCB板的地孔等構成整個阻抗測試回路。本發明第一探針340可以在限位槽330內移動，通過移動第一探針340的位置來改變第一探針340與第二探針350之間的間距，用于測量不同間距的過孔、地孔的阻抗值。其測試點連續，測試范圍大，可根據不同孔間距做出適應性調整，其尤其適用于較大孔間距的單端傳輸線的阻抗