一種顆粒度檢測裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種顆粒度檢測裝置。
【背景技術】
[0002]激光粒度儀是專指通過顆粒的衍射或散射光的空間分布來分析顆粒大小的儀器，它是根據顆粒能使激光產生散射這一物理現象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和極強的方向性，所以一束平行的激光在沒有阻礙的無限空間中將會照射到無限遠的地方，并且在傳播過程中很少有發散的現象。現有的激光粒度分析儀的構造復雜，操作難，并且對進行測試的顆粒沒有進行分散處理，導致測試到的顆粒粒度真實性差。
【發明內容】
[0003]本發明所解決的技術問題在于提供一種顆粒度檢測裝置，以解決上述【背景技術】中的缺點。
[0004]本發明所解決的技術問題采用以下技術方案來實現:
一種顆粒度檢測裝置，包括激光衍射系統、進樣系統、分散系統，所述的激光衍射系統包括激光系統、接收系統和測試區域，激光系統和接收系統分別安裝在底座的兩端，且激光系統和接收系統通過電纜相連接，測試區域為設于激光系統和接收系統之間的開放區域，激光系統內設有激光源、激光擴束器，接收系統內設有多元探測器、鏡頭盤固定裝置、鏡頭盤、鏡頭盤轉動馬達、光學鏡頭，多元探測器設于光學鏡頭的焦點處，激光衍射系統通過以太網連接電腦；所述的進樣系統包括進樣主體機、進樣漏斗和樣品槽，進樣系統設置在平臺上，且樣品槽的槽口位于進樣漏斗的漏斗口上方；所述的分散系統包括分散主體機和設置在分散系統主體機上的轉盤、圓柱漏斗、分散管、平臺，分散系統主體機設置在激光衍射系統一側，平臺設置在分散管上方，分散管的一端伸入測試區域內，分散系統通過RS485總線與激光衍射系統連接。
[0005]本發明所述的激光系統連接電源，且激光系統設有風扇冷卻系統。
[0006]本發明所述的接收系統設有開蓋、氣動支撐架、激光安全關閉感應裝置、探測器移動和對焦系統。
[0007]本發明所述的分散系統設有RS232接口和用于操控的控制面板。
[0008]本發明所述的進樣系統設有敲擊錘。
[0009]本發明還提供一種顆粒度檢測裝置的檢測方法，包括:
1)樣品從進樣漏斗進入樣品槽，在樣品槽的振動下，樣品被振動成團聚顆粒，并持續穩定地送入圓柱漏斗；
2)分散系統對樣品進行分散，將團聚顆粒分散成單個顆粒；
3)分散好的由單個顆粒組成的顆粒流在吸塵器的吸力作用下通過激光衍射系統I的測試區域，激光衍射系統I對通過測試區域的顆粒進行測量，并將檢測到的結果傳輸給電腦進行處理，得出結果。
[0010]優點及有益效果:
(1)本發明設為激光衍射系統、分散系統和進樣系統三個模塊，在測試前采用分散系統和進樣系統對樣品進行分散，使進行測試的顆粒大小具有代表性，確保得到的結果可靠準確，且采用三個模塊組合安裝而成，易于移動組裝；
(2)激光衍射系統的測試區域大小可以調節，不同的測試區域寬度滿足于不同的顆粒粒度檢測，使本發明能夠滿足不同的粒度檢測應用要求；
(3 )本發明采用干法進樣系統，顆粒通過振動的形式進入分散系統，使樣品的進樣不受量的限制，同時本發明的進樣系統內設有穩壓器，這樣保證進樣速率不受瞬間電流/電壓或其他元件溫度變化的影響；
(4)本發明的進樣系統設有控制面板和通信接口，使工作人員不僅可以直接通過控制面板對進樣參數進行控制，還可以通過電腦軟件設置通信接口來控制進樣參數；
(5)本發明采用光學原理，以最快的方式實現對顆粒的粒度分布的檢測和分析，測試速度快、測試范圍寬、重復性和真實性好、操作簡便。
【附圖說明】
[0011]圖1為本發明的一種實施例的結構示意圖。
[0012]圖2為本發明的一種實施例的結構示意圖圖3為激光衍射系統的外部結構示意圖。
[0013]圖4為激光衍射系統的接收系統的內部結構示意圖。
[0014]圖5為進樣系統的工作原理圖。
【具體實施方式】
[0015]為了使本發明實現的技術手段、創作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結合具體圖示，進一步闡述本發明。
[0016]圖1-5為本發明的一種實施例的結構示意圖，它包括激光衍射系統1、進樣系統2、分散系統3和吸塵器4。
[0017]激光衍射系統I包括激光系統11、接收系統12和測試區域13，測試區域13位于激光系統11和接收系統12之間，是一個開放區域，測試區域13的下方具有底座14，激光系統11和接收系統12分別設置在底座14的兩端，激光系統11和接收系統12相對底座14移動，使測試區域13的大小可以調節，測試區域13的下方為分散系統3的固定處；激光系統11內設有激光源、激光擴束器，激光系統11連接電源，且激光系統設有風扇冷卻系統；接收系統12包括設置在箱體15內的多元探測器16、鏡頭盤固定裝置、鏡頭盤17、鏡頭盤轉動馬達18、光學鏡頭19，多元探測器16設置在光學鏡頭19的焦點處，箱體15設有開蓋151，開蓋151連接有氣動支撐架152，鏡頭盤17由鏡頭盤固定裝置固定在箱體15內壁上。
[0018]進樣系統2包括進樣系統主機21、進樣漏斗22和樣品槽23，進樣系統主機21設置在平臺35上，且樣品槽23的槽口正好位于圓柱漏斗33的漏斗口上方，進樣漏斗23 —側還設有兩個敲擊錘。
[0019]分散系統3為轉盤式分散系統，并采用圓柱漏斗進樣，分散系統3包括分散系統主機31、轉盤32、圓柱漏斗33、分散管34、平臺35，分散系統主機31設置在激光衍射系統I的一側，且分散管34的一端朝向測試區域13的進口端，平臺35設置在分散管34上方。
[0020]吸塵器4的吸風口連通測試區域13的出口端。
[0021]激光系統11和接收系統12通過光纖連接，激光衍射系統I通過RS485總線與分散系統3連接，分散系統3由激光衍射系統I或者進樣系統2提供電源，分散系統3設有用于進行控制的RS232接口和用于操控的控制面板，激光衍射系統通過以太網與電腦連接。
[0022]進樣系統2采用干粉進樣系統，用于將粉體持續穩定地送入分散系統3。進樣系統2通過磁鐵帶動樣品槽23進行周期性振動來保證穩定的進樣速率，樣品粉末通過進樣漏斗22進入樣品槽23，樣品槽23的振動幅度決定了樣品粉末在樣品槽23中的運動速率，進樣系統2的工作原理是:(I)顆粒處于初始位置A，(2)樣品槽23在磁鐵的作用下，斜向下移動，由于慣性作用，顆粒不會隨著移動而移動，(3)在重力的作用下，顆粒直線下降至位置B，(4)當樣品槽23回到初始位置A時，顆粒隨著此運動從位置A移動到了位置C。進樣系統2內設有穩壓器，這保證進樣速率不受瞬間電流/電壓波動或其他元件溫度變化的影響。分散系統3用于在測試之前對樣品進行分散，將團聚顆粒分散成單個顆粒。激光衍射系統I是整個測試設備的核心部分，通過分散系統3分散好的顆粒在測試區域13處同單色平行光發生衍射，衍射后的光線經光學鏡頭19聚焦后到達多元探測器16，多元探測器16上光強通過以太網傳輸給電腦，電腦中的軟件對信號進行處理，然后轉化為粒度分布結果。
[0023]本發明的檢測方法:
1)樣品從進樣漏斗22進入樣品槽23，在樣品槽23的振動下，樣品被振動成團聚顆粒，并持續穩定地送入圓柱漏斗33 ;
2)分散系統3對樣品進行分散，將團聚顆粒分散成單個顆粒；
3)分散好的由單個顆粒組成的顆粒流在吸塵器4的吸力作用下通過激光衍射系統I的測試區域13，激光衍射系統I對通過測試區域13的顆粒進行測量，并將檢測到的結果傳輸給電腦進行處理，得出結果。
以上顯示和描述了本發明的基本原理和主要特征和本發明的優點。本行業的技術人員應該了解，本發明不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述的只是說明本發明的原理，在不脫離本發明精神和范圍的前提下，本發明還會有各種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的本發明范圍內。本發明要求保護范圍由所附的權利要求書及其等效物界定。
【主權項】
1.一種顆粒度檢測裝置，其特征在于:包括激光衍射系統、進樣系統、分散系統和吸塵器，所述的激光衍射系統包括激光系統、接收系統和測試區域，激光系統和接收系統分別安裝在底座的兩端，且激光系統和接收系統通過電纜相連接，測試區域為設于激光系統和接收系統之間的開放區域，激光系統內設有激光源、激光擴束器，接收系統內設有多元探測器、鏡頭盤固定裝置、鏡頭盤、鏡頭盤轉動馬達、光學鏡頭，多元探測器設于光學鏡頭的焦點處，激光衍射系統通過以太網連接電腦；所述的進樣系統包括進樣主體機、進樣漏斗和樣品槽，進樣系統設置在平臺上，且樣品槽的槽口位于進樣漏斗的漏斗口上方；所述的分散系統包括分散主體機和設置在分散系統主體機上的轉盤、圓柱漏斗、分散管、平臺，分散系統主體機設置在激光衍射系統一側，平臺設置在分散管上方，分散管的一端朝向測試區域的進口端，分散系統通過RS485總線與激光衍射系統連接；所述的吸塵器的吸氣口連通測試區域的出口端。2.根據權利要求1所述的一種顆粒度檢測裝置，其特征在于，所述的激光系統連接電源，且激光系統設有風扇冷卻系統。3.根據權利要求1所述的一種顆粒度檢測裝置，其特征在于，所述的接收系統設有開蓋、氣動支撐架、激光安全關閉感應裝置、探測器移動和對焦系統。4.根據權利要求1所述的一種顆粒度檢測裝置，其特征在于，所述的分散系統設有RS232接口和用于操控的控制面板。5.根據權利要求1所述的一種顆粒度檢測裝置，其特征在于，所述的進樣系統設有敲擊錘D
【專利摘要】本發明涉及一種顆粒度檢測裝置，包括激光衍射系統、進樣系統、分散系統，所述的激光衍射系統包括激光系統、接收系統和測試區域，激光系統和接收系統分別安裝在底座的兩端，且激光系統和接收系統通過電纜相連接，測試區域為設于激光系統和接收系統之間的開放區域，本發明采用模塊式設計，在測試前采用分散系統和進樣系統對樣品進行分散，使進行測試的顆粒大小具有代表性，確保得到的結果可靠準確，且采用三個模塊組合安裝而成，易于移動組裝；采用光學原理，以最快的方式實現了對乳液、懸浮液、氣霧劑、粉霧劑、顆粒等的粒度分布的檢測和分析，測試速度快、測試范圍寬、重復性和真實性好、操作簡便。
【IPC分類】G01N15/02
【公開號】CN105067491
【申請號】CN201510598605
【發明人】丁會, 張蘇, 陳力航
【申請人】蘇州薩伯工業設計有限公司
【公開日】2015年11月18日
【申請日】2015年9月18日