一種測量聚丙烯微孔膜制程縮幅率的方法
【技術領域】
[0001] 本發明涉及測試方法的技術領域，尤其是一種測量聚丙烯微孔膜制程縮幅率的方 法。
【背景技術】
[0002] 聚丙烯微孔膜在鋰離子電池、膜分離等領域有著廣泛的應用，是一種附加值較高 的產品。聚丙烯微孔膜可通過濕法和干法制備。干法拉伸可分為雙向和單向拉伸。干法是 將聚烯烴樹脂熔融擠出，經結晶化熱處理后，在低溫下拉伸產生銀紋，繼而在高溫下拉伸成 聚丙烯微孔膜。基膜由放卷機入引縱向拉伸機，經縱向拉抻，再進入卷取機收成卷。在高溫 下單向拉伸，縱向方向會產生變窄的行為，即縮幅，不同點位存在不同比例的縮幅，使得邊 部與中間部位產生厚度偏差。
[0003] 由于縱向拉伸機輥筒間距不同，每根拉伸輥筒設置拉伸速度比例以及拉伸輥筒溫 度設定不同，縱向產生的縮幅也不同。生產運行中，膜面始終保持運動狀態，給縮幅的測量 帶來困難。聚丙烯微孔膜生產廠家，大多對此也不能有效測試，進而不能評價工藝參數的優 劣及產品均勻性。為了確保質量，聚丙烯微孔膜廠家只能將邊緣切除，成為產品得率降低的 重要原因。如果單向拉伸橫向縮幅的不均勻，嚴重不利于聚丙烯微孔膜的生產質量與成本， 同時所產生的縮幅也沒有相應的測量方法。
【發明內容】
[0004] 本發明要解決的技術問題是：為了解決上述【背景技術】中提出的問題，本發明提供 一種測量聚丙烯微孔膜制程縮幅率的方法，可以直接測量出不同位置縮幅比例，還可以比 較橫向縮幅分布狀態。
[0005] 本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種測量聚丙烯微孔膜制程縮幅率 的方法，具體操作步驟如下：
[0006]I、準備好測試工具：彈線墨斗、直尺、直角尺、計算器以及待拉伸的基膜卷；
[0007]II、將步驟I中的基膜卷展開一段拉伸前膜面，使用彈線墨斗及直尺在拉伸前膜 面表面進行標識，標識出兩條垂直于縱向的直線，它們分別為第一直線和第二直線，兩條直 線貫穿拉伸前膜面的橫向方向，再將標識有兩條直線的拉伸前膜面卷入到基膜卷中；
[0008]III、將步驟II中的基膜卷置于縱向拉伸機進行高溫拉伸，基膜卷中標識有兩條直 線的拉伸前膜面在縱向拉伸的作用下形成拉伸后膜面，由于拉伸過程產生不等比例縮幅， 標識的兩條直線變成兩條弧線，它們分別為第一弧線和第二弧線；
[0009]IV、將步驟III中的拉伸后膜面割下，再縱向測量兩條弧線不同點位的距離，根據不 同點位間距的變化，計算出基膜膜面的縮幅率。
[0010] 本發明的有益效果是：本發明的一種測量聚丙烯微孔膜制程縮幅率的方法，有效 測量了橫向縮幅的大小及分布狀態，通過對測量結果的分析，指導工藝人員可以改變相應 的工藝參數，使得縮幅率得到有效控制，進而有利于產品質量的提升和成本的降低。
【附圖說明】
[0011] 下面結合附圖和實施例對本發明進一步說明。
[0012] 圖1為基膜拉伸前的結構示意圖；
[0013] 圖2為基膜拉伸后產生縮幅的結構示意圖。
[0014] 附圖中的標號為：1、拉伸前膜面，2、彈線墨斗，3、第一直線，4、第二直線，5、拉伸后 膜面，6、第一弧線，7、第二弧線，a、兩條直線之間的距離，b、兩條弧線之間第一點位之間的 距離，c、兩條弧線之間第二點位之間的距離，d、兩條弧線之間第三點位之間的距離。
【具體實施方式】
[0015] 現在結合附圖對本發明作進一步詳細的說明。這些附圖均為簡化的示意圖，僅以 示意方式說明本發明的基本結構，因此其僅顯示與本發明有關的構成。
[0016] 如圖1和圖2所示的本發明一種測量聚丙烯微孔膜制程縮幅率的方法，具體操作 步驟如下：
[0017] I、準備好測試工具：彈線墨斗2、直尺、直角尺、計算器以及待拉伸的基膜卷；其 中彈線墨斗2出來的墨線直徑小于0〇. 2mm，并選用耐高溫快干型油墨，色料組分為無機色 料，如鎘紅等；直尺分辨率為0. 5_ ;
[0018] II、將步驟I中的基膜卷展開一段拉伸前膜面1，使用彈線墨斗2及直尺在拉伸前 膜面1表面進行標識，標識出兩條垂直于縱向的直線，它們分別為第一直線3和第二直線4， 兩條直線貫穿拉伸前膜面1的橫向方向，兩條直線之間的距離a的數值為500mm，再將標識 有兩條直線的拉伸前膜面1卷入到基膜卷中，其中拉伸前膜面1的縱向方向即為拉伸前膜 面1的待拉伸方向；
[0019] III、將步驟II中的基膜卷置于縱向拉伸機進行高溫拉伸，基膜卷中標識有兩條直 線的拉伸前膜面1在縱向拉伸的作用下形成拉伸后膜面5,由于拉伸過程產生不等比例縮 幅，標識的兩條直線變成兩條弧線，它們分別為第一弧線6和第二弧線7,即第一直線3變成 第一弧線6,第二直線4變成第二弧線7 ;
[0020] IV、將步驟III中的拉伸后膜面5割下，再縱向測量兩條弧線不同點位的距離，根據 不同點位間距的變化，計算出基膜膜面的縮幅率。
[0021] 計算出兩條弧線之間第一點位縮幅率Y1，公式（Al)如下：
[0027] 以上述依據本發明的理想實施例為啟示，通過上述的說明內容，相關工作人員完 全可以在不偏離本項發明技術思想的范圍內，進行多樣的變更以及修改。本項發明的技術 性范圍并不局限于說明書上的內容，必須要根據權利要求范圍來確定其技術性范圍。
【主權項】
1. 一種測量聚丙烯微孔膜制程縮幅率的方法，其特征在于：具體操作步驟如下： I、 準備好測試工具：彈線墨斗⑵、直尺、直角尺、計算器以及待拉伸的基膜卷； II、 將步驟I中的基膜卷展開一段拉伸前膜面（1)，使用彈線墨斗（2)及直尺在拉伸前 膜面（1)表面進行標識，標識出兩條垂直于縱向的直線，它們分別為第一直線（3)和第二直 線（4)，兩條直線貫穿拉伸前膜面（1)的橫向方向，再將標識有兩條直線的拉伸前膜面（1) 卷入到基膜卷中； III、 將步驟II中的基膜卷置于縱向拉伸機進行高溫拉伸，基膜卷中標識有兩條直線的 拉伸前膜面（1)在縱向拉伸的作用下形成拉伸后膜面（5)，由于拉伸過程產生不等比例縮 幅，標識的兩條直線變成兩條弧線，它們分別為第一弧線（6)和第二弧線（7); IV、 將步驟III中的拉伸后膜面（5)割下，再縱向測量兩條弧線不同點位的距離，根據不 同點位間距的變化，計算出基膜膜面的縮幅率。
【專利摘要】本發明涉及一種測量聚丙烯微孔膜制程縮幅率的方法，步驟：Ⅰ、準備測試工具：彈線墨斗、直尺、直角尺、計算器以及待拉伸的基膜卷；Ⅱ、基膜卷展開一段拉伸前膜面，使用彈線墨斗及直尺在拉伸前膜面表面進行標識，標識出兩條垂直于縱向的直線，兩條直線貫穿拉伸前膜面的橫向方向，再將標識有兩條直線的拉伸前膜面卷入到基膜卷中；Ⅲ、將基膜卷置于縱向拉伸機進行高溫拉伸，由于拉伸過程產生不等比例縮幅，標識的兩條直線變成兩條弧線；Ⅳ、將拉伸后膜面割下，再縱向測量兩條弧線不同點位的距離，根據不同點位間距的變化，計算出基膜膜面的縮幅率。該方法可以直接測量出不同位置縮幅比例，還可以比較橫向縮幅分布狀態。
【IPC分類】G01B5/00
【公開號】CN105066813
【申請號】CN201510477585
【發明人】史新昆, 姜衛明, 金苗, 張東暉
【申請人】江蘇安瑞達新材料有限公司
【公開日】2015年11月18日
【申請日】2015年8月6日