絕緣子密封性檢測系統及方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種容器檢測系統，尤其是涉及一種絕緣子密封性檢測系統及方法。
【背景技術】
[0002]絕緣子是一種特殊的絕緣控件，能夠在架空輸電線路中起到重要作用。早年間絕緣子多用于電線桿，慢慢發展于高型高壓電線連接塔的一端掛了很多盤狀的絕緣體，它是為了增加爬電距離的，通常由玻璃或陶瓷制成，就叫絕緣子。絕緣子不應該由于環境和電負荷條件發生變化導致的各種機電應力而失效，否則絕緣子就不會產生重大的作用，就會損害整條線路的使用和運行壽命。
[0003]對于GIS組合電器高壓開關設備，對設備的密封性要求比較高，而漏氣是GIS開關設備常見的故障形式之一，漏氣不但增加維護成本、泄露物質污染環境，同時縮短開關運行壽命，進而影響電網穩定。開關密封性能除了開關氣室與外部的密封性能外，氣室與氣室之間的密封性能也尤為重要，絕緣子作為組合電器的關鍵部件，不僅起著絕緣、支撐作用，同時也起著氣室與氣室之間的隔離作用即密封作用。
[0004]絕緣子生產完成后需進行密封性的檢測試驗，但是缺乏專用試驗裝置，而現有的試驗設備體積龐大，結構復雜，操作繁瑣，生產成本高，而且檢測結果的可靠性還有待于進一步提尚。
【發明內容】
[0005]為了克服現有技術存在的不足，本發明提供了一種操作方便、檢測效果好的絕緣子密封性檢測系統。
[0006]一種絕緣子密封性檢測系統，包括絕緣子和紫外光源，所述絕緣子的空腔內通有帶有熒光粉微小顆粒的空氣，所述熒光粉顆粒均勻分散在空氣中，熒光粉顆粒粒徑為
0.2?2.0 μπι;所述紫外光源分布在絕緣子外圍，所述絕緣子一端封閉，另一端設有進氣
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[0007]作為優選，所述系統還包括攝像機，攝像機的數量為一臺以上，其沿絕緣子外圍均勻分布，所述攝像機連接至計算機。可以從多角度提供光源，為全方位監控提供條件。
[0008]作為優選，所述紫外光源的數量為一個以上，其沿絕緣子外圍均勻分布。
[0009]作為優選，所述攝像機的數量為三臺，紫外光源的數量為三個，所述攝像機與紫外光源間隔且均勻分布在絕緣子外圍。
[0010]作為優選，所述絕緣子一端通過密封帽封閉。
[0011]一種絕緣子密封性檢測的方法，包括下述步驟:
(1)采用氣流粉碎法將熒光粉進行粉碎，得到粒徑為0.2?2.0 μ m的熒光粉顆粒后，將熒光粉顆粒與空氣混合，使熒光粉均勻分散在空氣中；
(2)絕緣子中加入帶有復合紫外熒光粉顆粒的空氣；
(3)在絕緣子周圍采用紫外光源照射，如果絕緣子周圍顯示有彩色熒光，則判斷有空氣泄漏，否則無空氣泄漏。
[0012]優選地，用攝像機拍攝絕緣子周圍，將圖像輸入到計算機進行圖像處理，通過圖像比對判斷有無空氣氣體泄漏。
[0013]作為優選，氣流粉碎時控制氣流壓力為0.62?0.75MPa。氣流壓力控制與熒光粉顆粒粒徑大小的控制相關，控制好氣流壓力，不僅能得到理想的顆粒大小，而且可以使熒光粉保持其良好的性能。
[0014]作為優選，所述攝像機的數量為三臺，其沿絕緣子外圍均勻分布，所述攝像機分別連接至計算機。
[0015]作為優選，所述紫外光源的數量為三個，其沿絕緣子外圍均勻分布，所述攝像機與紫外光源間隔設置。
[0016]本發明將熒光粉的粒徑(平均粒徑)粉碎至0.2?2.0 μ m，在此范圍內的顆粒在重力作用下的沉降速度比較低，可保證熒光粉良好的飄散性能和高利用率。
[0017]物料的具體粉碎過程是:粉碎氣流在自身高壓作用下強行通過粉碎室噴嘴時，將產生高達數百米甚至上千米的高速氣流，物料在進料氣流作用下進入粉碎磨，并在高速氣流作用下被加速到一定的速度，由于氣流噴嘴與粉碎室相應半徑成一銳角，故高壓氣流帶著被粉碎的顆粒在粉碎室中作回轉運動，并形成強大旋轉氣流，使顆粒加速、混合并發生沖擊、碰撞等行為，粉碎合格的細小顆粒被氣流推到旋風分離室中，較粗的顆粒則繼續在粉碎室中進行粉碎，從而達到粉碎目的。
[0018]本發明的紫外熒光粉具有很好的飄逸性，能夠隨空氣均勻散布在各個角落，可以對狹小空間及隱蔽的區域進行檢漏，且紫外熒光粉的粒徑越小，可檢測的漏點尺寸越小；本發明的檢漏方法能夠對漏點進行準確定位，且直觀明顯。本發明通過熒光效應達到檢測是否存在泄漏的目的，具有操作簡單、工作量小、安全可靠、檢測效果好、成本低等優點。
【附圖說明】
[0019]圖1是本發明絕緣子密封性檢測系統的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0020]下面結合附圖和具體實施例對本發明作進一步說明，但本發明的保護范圍并不限于此。
[0021]實施例1
參照圖1，一種絕緣子密封性檢測系統，包括絕緣子1、攝像機2和紫外光源3，所述絕緣子I的空腔內通有帶有熒光粉的空氣，所述熒光粉均勻分散在空氣中，熒光粉粒徑為0.5 μ m，所述熒光粉為正磷酸鈣〔(Ca，Zn) 3 (PO4)2: Tl)熒光粉；所述攝像機2和紫外光源3分布在絕緣子I外圍，所述絕緣子I 一端通過密封帽4封閉，另一端設有進氣口 5，所述攝像機2的數量為三臺，其沿絕緣子I外圍均勻分布，所述攝像機2分別連接至計算機6，可以實現多角度全方位監控；所述紫外光源3的數量為三個，其沿絕緣子I外圍均勻分布，所述攝像機2與紫外光源3間隔設置，可以從多角度提供光源，為全方位監控提供條件。
[0022]實施例2
參照圖1，一種絕緣子密封性檢測的方法，包括下述步驟: (1)采用氣流粉碎法將熒光粉進行粉碎，得到粒徑為0.2 μπι的顆粒，與空氣混合，使熒光粉均勻分散在空氣中，所述氣流粉碎時控制氣流壓力為0.72MPa，所述熒光粉為正磷酸鈣〔(Ca, Zn)3(PO4)2:Tl〕熒光粉;
(2)從絕緣子I進氣口5通入帶有熒光粉的高壓空氣；
(3)在三個紫外光源(紫外光源)3照射下，如果絕緣子周圍顯示有彩色熒光，則判斷有空氣泄漏，否則無空氣泄漏；用三臺攝像機2拍攝絕緣子圖像；其中，所述三臺攝像機沿絕緣子外圍均勻分布，且分別連接至計算機；所述三個紫外光源沿絕緣子外圍均勻分布，且攝像機與紫外光源間隔設置；
(4)計算機6進行圖像處理，通過圖像判斷有無熒光氣體泄漏，若有，則說明絕緣子不密封，直觀性強，便于判別，檢測結果可靠。
[0023]實施例3
參照圖1，一種絕緣子密封性檢測系統，包括絕緣子1、攝像機2和紫外光源3，所述絕緣子I的空腔內通有帶有熒光粉的空氣，所述熒光粉均勻分散在空氣中，熒光粉粒徑為
1.5 μπι;所述攝像機2和紫外光源3分布在絕緣子I外圍，所述絕緣子I 一端通過密封帽4封閉，另一端設有進氣口 5，所述攝像機2的數量為三臺，其沿絕緣子I外圍均勻分布，所述攝像機2分別連接至計算機6，可以實現多角度全方位監控；所述紫外光源3的數量為三個，其沿絕緣子I外圍均勻分布，所述攝像機2與紫外光源3間隔設置，可以從多角度提供光源，為全方位監控提供條件。
[0024]采用上述系統進行絕緣子密封性檢測的方法，包括下述步驟:
(1)采用氣流粉碎法將熒光粉進行粉碎，得到粒徑為1.5 μπι的顆粒，與空氣混合，使熒光粉均勻分散在空氣中，所述氣流粉碎時控制氣流壓力為0.68MPa ;
(2)從絕緣子I進氣口5通入帶有熒光粉的高壓空氣；
(3)在三個紫外光源(紫外光源)3照射下，如果絕緣子周圍顯示有彩色熒光，則判斷有空氣泄漏，否則無空氣泄漏。用三臺攝像機2拍攝絕緣子圖像；
(4)計算機6進行圖像處理，通過圖像判斷有無熒光氣體泄漏，若有，則說明絕緣子不密封，直觀性強，便于判別，檢測結果可靠。
【主權項】
1.一種絕緣子密封性檢測系統，其特征在于包括絕緣子和紫外光源，所述絕緣子的空腔內通有帶有熒光粉微小顆粒的空氣，所述熒光粉顆粒均勻分散在空氣中，熒光粉顆粒粒徑為0.2?2.0 μπι ;所述紫外光源分布在絕緣子外圍，所述絕緣子一端封閉，另一端設有進氣口。2.根據權利要求1所述的絕緣子密封性檢測系統，其特征在于:所述系統還包括攝像機，攝像機的數量為一臺以上，其沿絕緣子外圍均勻分布，所述攝像機連接至計算機。3.根據權利要求1或2所述的絕緣子密封性檢測系統，其特征在于:所述紫外光源的數量為一個以上，其沿絕緣子外圍均勻分布。4.根據權利要求2所述的絕緣子密封性檢測系統，其特征在于:所述攝像機的數量為三臺，紫外光源的數量為三個，所述攝像機與紫外光源間隔且均勻分布在絕緣子外圍。5.根據權利要求1所述的絕緣子密封性檢測系統，其特征在于:所述絕緣子一端通過密封帽封閉。6.一種權利要求1所述系統用于絕緣子密封性檢測的方法，其特征在于包括下述步驟: (1)采用氣流粉碎法將熒光粉進行粉碎，得到粒徑為0.2?2.0 μ m的熒光粉顆粒后，將熒光粉顆粒與空氣混合，使熒光粉均勻分散在空氣中； (2)從絕緣子進氣口通入帶熒光粉顆粒的空氣； (3)在紫外光源照射下，如果絕緣子周圍顯示有彩色熒光，則判斷有液氨泄漏，否則無液氨泄漏。7.根據權利要求6所述的絕緣子密封性檢測的方法，其特征在于:用攝像機拍攝絕緣子周圍圖像，采用計算機進行圖像處理，通過圖像比對判斷有無熒光氣體泄漏。8.根據權利要求6所述的絕緣子密封性檢測的方法，其特征在于:氣流粉碎時控制氣流壓力為0.62?0.75MPa09.根據權利要求6所述的絕緣子密封性檢測的方法，其特征在于:所述攝像機的數量為三臺，其沿絕緣子外圍均勻分布，所述攝像機分別連接至計算機。10.根據權利要求9所述的絕緣子密封性檢測的方法，其特征在于:所述紫外光源的數量為三個，其沿絕緣子外圍均勻分布，所述攝像機與紫外光源間隔設置。
【專利摘要】本發明涉及一種絕緣子密封性檢測系統及方法，包括絕緣子和紫外光源，所述絕緣子的空腔內通有帶有熒光粉微小顆粒的空氣，所述熒光粉顆粒均勻分散在空氣中，熒光粉顆粒粒徑為0.2～2.0μm；所述紫外光源分布在絕緣子外圍，所述絕緣子一端封閉，另一端設有進氣口。本發明的紫外熒光粉具有很好的飄逸性，能夠隨空氣均勻散布在各個角落，可以對狹小空間及隱蔽的區域進行檢漏，且紫外熒光粉的粒徑越小，可檢測的漏點尺寸越小；本發明的檢漏方法能夠對漏點進行準確定位，且直觀明顯。本發明通過熒光效應達到檢測是否存在泄漏的目的，具有操作簡單、工作量小、安全可靠、檢測效果好、成本低等優點。
【IPC分類】G01M3/20
【公開號】CN105043683
【申請號】CN201510470208
【發明人】王秀萍, 王寶根
【申請人】浙江工商大學
【公開日】2015年11月11日
【申請日】2015年8月4日