組裝品表面異物的測量裝置及其測量方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及產品檢測技術領域，特別是涉及一種組裝品表面異物的測量裝置及其測量方法。
【背景技術】
[0002]目前，隨著制造技術的日臻完善，各國電子工業的產業結構有了巨大的變化和發展。為了滿足市場需求，攝像頭的更新速度不斷加快，像素越來越高，制品向著精密化方向發展。因此，對無塵室(Clean Room)要求也越來越高，異物控制要求也越來越嚴格，攝像頭制品的組裝原資材都要求有嚴格的異物控制，其中，攝像頭組裝品表面攜帶異物越多，在工程搭載過程中造成再污染，就會使完成工程成品的色點異物不良提高，嚴重影響品質。因此使用干凈的攝像頭組裝品原資材，可以有效改善色點異物不良。但是，目前一直沒有很好的方法來評價攝像頭組裝品表面異物數量。
【發明內容】
[0003]本發明的目的是針對現有技術中存在的技術缺陷，而提供一種組裝品表面異物的測量裝置及其測量方法。
[0004]為實現本發明的目的所采用的技術方案是:
[0005]一種組裝品表面異物的測量裝置，包括異物收集盒、可旋轉地設置中在異物收集盒內的支撐架，設置在所述的異物收集盒外部并可驅動所述的支撐架旋轉的驅動機構，以及粒子計數器，所述的異物收集盒頂部形成有進氣孔，底部形成有測定孔，所述的粒子計數器與所述的測定孔經管路連通。
[0006]所述的異物收集盒底部呈錐形，所述的測定孔設置在錐形的底部頂角處。
[0007]所述的異物收集盒的頂板與所述的異物收集盒的盒體鉸接，同時在所述的頂蓋上或盒體上設置有密封條。
[0008]所述的驅動機構為搖桿。
[0009]一種采用如權利要求1所述的測量裝置測量異物的方法，包括以下步驟，
[0010]I)將測量裝置放置在ClasslO以下潔凈的空間，將粒子計數器與異物收集盒連接，然后對異物收集盒進行清掃，直至測試異物收集盒空轉時潔凈度時測試結果全部為零，
[0011]2)將待檢測組裝品的零部件分別固定在洗凈的夾具板中，并記錄組裝品個數N;
[0012]3)將裝有待測產品的夾具板固定放置于異物收集盒內部的支撐架上，
[0013]4)用潔凈氣體對著異物收集盒上方氣孔進行吹風，
[0014]5)啟動粒子計數器的同時，以每分鐘20-40轉的轉速轉動側面搖桿，使產品各表面充分接觸氣流以使異物掉落，
[0015]6)測定異物收集盒所排氣體的潔凈度，標記為A ；
[0016]7)計算得到單個組裝品表面異物數量(at0.5 μ m) = A/N。
[0017]與現有技術相比，本發明的有益效果是:
[0018]本發明的測量裝置結構簡單架設便利，能為測量提供有效測量基準，本發明的測試方法，將組裝品表面異物的測試分為對其組裝零部件的測量，更能有效得到真實結果，其可以方便、快速、準確地測定并評價攝像頭組裝品表面異物數量，保證所使用的攝像頭組立品表面潔凈度滿足實際生產需要，進而保證所生產的制品的品質。
【附圖說明】
[0019]圖1是本發明的測量裝置結構示意圖。
【具體實施方式】
[0020]以下結合附圖和具體實施例對本發明作進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。
[0021]如圖1所示，本發明的組裝品表面異物的測量裝置包括異物收集盒1、可旋轉地設置中在異物收集盒內的支撐架2，設置在所述的異物收集盒外部并可驅動所述的支撐架旋轉的驅動機構，如手動搖桿3或者電機等，以及粒子計數器4，所述的異物收集盒頂部形成有進氣孔5，底部形成有測定孔6，所述的粒子計數器與所述的測定孔經管路7連通。其中，為便于待檢測品的取放，所述的異物收集盒的頂部形成有開口，所述的頂板與所述的異物收集盒的盒體的開口處鉸接，同時在所述的頂蓋上或盒體上設置有密封條，即，所述的頂蓋可將所述的開口密封。所述的粒子計數器為市購部件，在此不再展開描述。
[0022]優選地，為提高異物的收集效果，所述的異物收集盒底部呈錐形，所述的測定孔設置在錐形的底部頂角處。
[0023]在具體測量時，包括以下步驟:
[0024]I)將測量裝置放置在ClasslO (at0.5 μ m)以下潔凈的空間，將粒子計數器與異物收集盒連接，然后對異物收集盒進行清掃，直至測試異物收集盒空轉時潔凈度時測試結果全部為零，其中，清掃過程為無紡布蘸酒精擦拭，先期的清掃過程能有效避免環境污染測試結果，
[0025]2)將待檢測組裝品的零部件分別固定在洗凈的夾具板中，并記錄組裝品個數N ；所述的夾具板主要是將各零部件分別固定，其可采用多種形式，針對每種不同的零部件具有不同的夾具，只要實現其固定不脫落即可，
[0026]3)將裝有待測產品的夾具板固定放置于異物收集盒內部的支撐架上，其中，所述的夾具板與支撐架的固定形式可采用多種現有方案，如卡扣式或者壓桿式等，只要實現其固定不脫落即可，
[0027]4)用潔凈氣體對著異物收集盒上方氣孔進行吹風，所述的潔凈氣體可為過濾后的潔凈氮氣，離子風槍等任意形式，其風壓、風量等以滿足粒子計數器測量為宜；
[0028]5)啟動粒子計數器的同時，以每分鐘20-40轉的轉速轉動側面搖桿，使產品各表面充分接觸氣流以使異物掉落，一般，每次測量周期為I分鐘以配合粒子計數器的測量周期；
[0029]6)測定異物收集盒所排氣體的潔凈度，標記為A ；
[0030]7)計算得到單個組裝品表面異物數量(at0.5 μ m) = A/N。
[0031]本發明的測試方法，將組裝品表面異物的測試分為對其組裝零部件的測量，化整為零更能有效得到真實結果，其可以方便、快速、準確地測定并評價攝像頭組裝品表面異物數量，保證所使用的攝像頭組立品表面潔凈度滿足實際生產需要，進而保證所生產的制品的品質。
[0032]以上所述僅是本發明的優選實施方式，應當指出的是，對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發明的保護范圍。
【主權項】
1.一種組裝品表面異物的測量裝置，其特征在于，包括異物收集盒、可旋轉地設置中在異物收集盒內的支撐架，設置在所述的異物收集盒外部并可驅動所述的支撐架旋轉的驅動機構，以及粒子計數器，所述的異物收集盒頂部形成有進氣孔，底部形成有測定孔，所述的粒子計數器與所述的測定孔經管路連通。2.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，所述的異物收集盒底部呈錐形，所述的測定孔設置在錐形的底部頂角處。3.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，所述的異物收集盒的頂板與所述的異物收集盒的盒體鉸接，同時在所述的頂蓋上或盒體上設置有密封條。4.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，所述的驅動機構為搖桿。5.一種采用如權利要求1所述的測量裝置測量異物的方法，其特征在于，包括以下步驟， 1)將測量裝置放置在ClasslO以下潔凈的空間，將粒子計數器與異物收集 盒連接，然后對異物收集盒進行清掃，直至測試異物收集盒空轉時潔凈度時 測試結果全部為零， 2)將待檢測組裝品的零部件分別固定在洗凈的夾具板中，并記錄組裝品個數N; 3)將裝有待測產品的夾具板固定放置于異物收集盒內部的支撐架上， 4)用潔凈氣體對著異物收集盒上方氣孔進行吹風， 5)啟動粒子計數器的同時，以每分鐘20-40轉的轉速轉動側面搖桿，使產品各表面充分接觸氣流以使異物掉落， 6)測定異物收集盒所排氣體的潔凈度，標記為A； 7)計算得到單個組裝品表面異物數量(at0.5ym)= A/N。
【專利摘要】本發明公開了一種組裝品表面異物的測量裝置，包括異物收集盒、可旋轉地設置中在異物收集盒內的支撐架，設置在所述的異物收集盒外部并可驅動所述的支撐架旋轉的驅動機構，以及粒子計數器，所述的異物收集盒頂部形成有進氣孔，底部形成有測定孔，所述的粒子計數器與所述的測定孔經管路連通。同時還公開了具體測試方法，本發明的測量裝置結構簡單架設便利，能為測量提供有效測量基準，本發明的測試方法，將組裝品表面異物的測試分為對其組裝零部件的測量，更能有效得到真實結果，其可以方便、快速、準確地測定并評價攝像頭組裝品表面異物數量，保證所使用的攝像頭組立品表面潔凈度滿足實際生產需要，進而保證所生產的制品的品質。
【IPC分類】G01M11/00
【公開號】CN105021374
【申請號】CN201410171401
【發明人】賈玉華
【申請人】三星高新電機（天津）有限公司
【公開日】2015年11月4日
【申請日】2014年4月25日