一種精密玻璃定柵測試機的制作方法
【專利說明】一種精密玻璃定柵測試機
[0001]
技術領域
[0002]本發明涉及機械技術領域，具體地，涉及一種精密玻璃定柵測試機。
【背景技術】
[0003]精密玻璃定柵是我公司為客戶專門開發的量具上的數顯讀數硼硅玻璃材質的標準尺，它具有精度高，讀數穩定，熱穩定性好，不受氣候影響，國際領先水平。
[0004]精密玻璃定柵有數百到數千個傳感電極單元，電極厚度小(約300納米)，電極間距小(幾微米一幾十微米)，連線細(幾微米一幾十微米)，容易出現電極間粘連、微短路，會造成量具讀數精度下降不穩定。
[0005]原有方法:1、用顯微鏡分別檢查每個傳感電極單元，2、分別測相鄰電極間、電極連線電阻值。兩種方法效率極低，對微連接(相鄰電極間導電膜刻不完全的)容易出現誤判，客戶使用產品上線合格率低，生產成本高。
[0006]在實現本發明的過程中，發明人發現現有技術中至少存在穩定性差、精度低和成本尚等缺陷。
【發明內容】
[0007]本發明的目的在于，針對上述問題，提出一種精密玻璃定柵測試機，以實現穩定性好、精度高和成本低的優點。
[0008]為實現上述目的，本發明采用的技術方案是:一種精密玻璃定柵測試機，包括能夠在多個檢測區域內對多個待測玻璃同時進行檢測的電極檢測機構，與所述電極檢測機構中每個檢測區域的輸出端匹配連接的多個比較放大器，以及與所述多個比較放大器連接的單片機。
[0009]進一步地，所述電極檢測機構，包括能夠吸附待測玻璃板的平臺，在所述平臺上并行設置有用于吸附多個待測玻璃板的多個檢測區域，在所述多個檢測區域的相同端部設有用于壓蓋在多個待測玻璃相同端部的絕緣板，以及在所述絕緣板上固定設置有與每個待測玻璃板所處位置相匹配的多個探針。
[0010]進一步地，在所述絕緣板與待測玻璃板之間，還設有靠近待測玻璃板的產品切割線設置的膜板，以及設在所述膜板上的電極層；
同一檢測區內數條探針，分別與帶相應電壓的比較放大器的輸入端連接；每個待測玻璃板被吸牢在平臺上，每個探針分別對準待檢測玻璃板在相應檢測區域的起點位置、并下壓至可靠接觸玻璃表面；平臺開始滑動直到相應檢測區域末端，該檢測區域所有相鄰電極間當相應探針測試到預設次數時相應電極間出現電極間粘連和/或微短路現象時，比較放大器輸入端出現電壓變化，比較放大器輸出端有輸出，單片機記錄比較放大器輸入端出現電壓變化時相應檢測區域中的相應位置，篩選出相應待測玻璃板。
[0011]進一步地，所述電極層包括與多個檢測區域匹配設置的多個SEG層，以及設在每個SEG層中的AB層；所述多個探針在絕緣板上的位置靠近AB層設置。
[0012]進一步地，所述平臺，具體為能夠直線滑動的真空平臺。
[0013]本發明各實施例的精密玻璃定柵測試機，由于包括能夠在多個檢測區域內對多個待測玻璃同時進行檢測的電極檢測機構，與電極檢測機構中每個檢測區域的輸出端匹配連接的多個比較放大器，以及與多個比較放大器連接的單片機；從而可以克服現有技術中穩定性差、精度低和成本高的缺陷，以實現穩定性好、精度高和成本低的優點。
[0014]本發明的其它特征和優點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本發明而了解。
[0015]下面通過附圖和實施例，對本發明的技術方案做進一步的詳細描述。
【附圖說明】
[0016]附圖用來提供對本發明的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本發明的實施例一起用于解釋本發明，并不構成對本發明的限制。在附圖中:
圖1為本發明中玻璃定柵局部電極及走線圖；在圖1中，箭頭表示測試時玻璃移動方向；
圖2為圖1中A部的局部放大示意圖；
圖3為圖2中C部的局部放大示意圖；
圖4為本發明中平臺、玻璃、絕緣板及探針示意圖；在圖2中，箭頭表示測試時玻璃移動方向；
圖5為圖4中B部的局部放大示意圖。
[0017]結合附圖，本發明實施例中附圖標記如下:
1-膜板；2_電極層中的AB層(勻強電場層)；3_探針；4_電極層中的SEG層(信號電極層)；5_產品切割線；6_平臺；7_玻璃板；8_絕緣板。
【具體實施方式】
[0018]以下結合附圖對本發明的優選實施例進行說明，應當理解，此處所描述的優選實施例僅用于說明和解釋本發明，并不用于限定本發明。
[0019]根據本發明實施例，如圖1-圖5所示，提供了一種精密玻璃定柵測試機。
[0020]本實施例的精密玻璃定柵測試機，包括能夠在多個檢測區域內對多個待測玻璃同時進行檢測的電極檢測機構，與電極檢測機構中每個檢測區域的輸出端匹配連接的多個比較放大器，以及與多個比較放大器連接的單片機。
[0021]其中，電極檢測機構，包括能夠吸附待測玻璃板的平臺(如平臺6)，在平臺上并行設置有用于吸附多個待測玻璃板(如玻璃板7)的多個檢測區域，在多個檢測區域的相同端部設有用于壓蓋在多個待測玻璃相同端部的絕緣板(如絕緣板8)，以及在絕緣板上固定設置有與每個待測玻璃板所處位置相匹配的多個探針(如探針3)。該平臺，具體為能夠直線滑動的真空平臺。
[0022]在絕緣板與待測玻璃板之間，還設有靠近待測玻璃板的產品切割線(如產品切割線5)設置的膜板(如膜板1)，以及設在膜板上的電極層；電極層包括與多個檢測區域匹配設置的多個SEG層(如SEG層4)，以及設在每個SEG層中的AB層(如AB層2);多個探針在絕緣板上的位置靠近AB層設置。同一檢測區內數條探針，分別與帶相應電壓的比較放大器的輸入端連接；每個待測玻璃板被吸牢在平臺上，每個探針分別對準待檢測玻璃板在相應檢測區域的起點位置、并下壓至可靠接觸玻璃表面；平臺開始滑動直到相應檢測區域末端，該檢測區域所有相鄰電極間當相應探針測試到預設次數時相應電極間出現電極間粘連和/或微短路現象時，比較放大器輸入端出現電壓變化，比較放大器輸出端有輸出，單片機記錄比較放大器輸入端出現電壓變化時相應檢測區域中的相應位置，篩選出相應待測玻璃板。
[0023]在本發明的技術方案中，多條探針按產品規格，取匹配位置固定在絕緣板上，在產品檢測中，是多產品同時測試，每個產品有一個對應的檢測區，同一檢測區內數條探針分別與帶相應電壓(高內阻幾百千歐姆到一兆歐姆)比較放大器輸入端連接，待測產品被吸牢在可直線滑動真空平臺上，探針分別對準需要測試的區域起點(對位)，并下壓可靠接觸玻璃表面，平臺開始滑動直到產品測試區域末端，檢測區所有相鄰電極間(間距小于0.5MM的)都有探針測試到兩次，一旦出現電極間粘連、微短路，比較放大器輸入端出現電壓變化，放大器有輸出，單片機記錄下不良位置，并做標記；由于是多個產品整版同時測試，在整版產品分切成單片產品后，將含有不良位置標記的產品選出，剩余的即為合格品。
[0024]在本發明的技術方案中，精密玻璃定柵測試機，采用多點信息連續動態采集、多產品同時測試，測試信息自動分析，不良點記憶，壞品自動讀出；效率提高100倍以上(檢測量大于30000件/日)，產品上線合格率提高10倍(不良率小于0.1%)，單位產品生產成本低。
[0025]本發明技術方案的特點:
A、精密玻璃定柵是專為客戶開發生產，它的結構、材質、數據和參數需要為客戶保密；
B、精密玻璃定柵測試機:多條探針、多點信息連續動態采集、多產品同時測試；探針位置參數，同一檢測區內各條探針分別由電壓不等的高內阻電源饋送。
[0026]最后應說明的是:以上所述僅為本發明的優選實施例而已，并不用于限制本發明，盡管參照前述實施例對本發明進行了詳細的說明，對于本領域的技術人員來說，其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種精密玻璃定柵測試機，其特征在于，包括能夠在多個檢測區域內對多個待測玻璃同時進行檢測的電極檢測機構，與所述電極檢測機構中每個檢測區域的輸出端匹配連接的多個比較放大器，以及與所述多個比較放大器連接的單片機。2.根據權利要求1所述的精密玻璃定柵測試機，其特征在于，所述電極檢測機構，包括能夠吸附待測玻璃板的平臺，在所述平臺上并行設置有用于吸附多個待測玻璃板的多個檢測區域，在所述多個檢測區域的相同端部設有用于壓蓋在多個待測玻璃相同端部的絕緣板，以及在所述絕緣板上固定設置有與每個待測玻璃板所處位置相匹配的多個探針。3.根據權利要求2所述的精密玻璃定柵測試機，其特征在于，在所述絕緣板與待測玻璃板之間，還設有靠近待測玻璃板的產品切割線設置的膜板，以及設在所述膜板上的電極層； 同一檢測區內數條探針，分別與帶相應電壓的比較放大器的輸入端連接；每個待測玻璃板被吸牢在平臺上，每個探針分別對準待檢測玻璃板在相應檢測區域的起點位置、并下壓至可靠接觸玻璃表面；平臺開始滑動直到相應檢測區域末端，該檢測區域所有相鄰電極間當相應探針測試到預設次數時相應電極間出現電極間粘連和/或微短路現象時，比較放大器輸入端出現電壓變化，比較放大器輸出端有輸出，單片機記錄比較放大器輸入端出現電壓變化時相應檢測區域中的相應位置，篩選出相應待測玻璃板。4.根據權利要求3所述的精密玻璃定柵測試機，其特征在于，所述電極層包括與多個檢測區域匹配設置的多個SEG層，以及設在每個SEG層中的AB層；所述多個探針在絕緣板上的位置靠近AB層設置。5.根據權利要求2-4中任一項所述的精密玻璃定柵測試機，其特征在于，所述平臺，具體為能夠直線滑動的真空平臺。
【專利摘要】本發明公開了一種精密玻璃定柵測試機，包括能夠在多個檢測區域內對多個待測玻璃同時進行檢測的電極檢測機構，與所述電極檢測機構中每個檢測區域的輸出端匹配連接的多個比較放大器，以及與所述多個比較放大器連接的單片機。本發明所述精密玻璃定柵測試機，可以克服現有技術中穩定性差、精度低和成本高等缺陷，以實現穩定性好、精度高和成本低的優點。
【IPC分類】G01R19/00, G01R31/02
【公開號】CN104991103
【申請號】CN201510385201
【發明人】唐國宏
【申請人】柳州利元光電技術有限公司
【公開日】2015年10月21日
【申請日】2015年7月3日