一種軸承平面度測量裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種軸承平面度測量裝置。
【背景技術】
[0002]軸承端面磨加工工序間，對于軸承套圈來講，套圈的平面作為后道工序的基準面，其平面度非常重要，如果軸承套圈的平面度不面整，后道工序磨溝、磨孔、超精的精度將無法保證。磨好軸承套圈平面度的前提條件就是設備上的砂輪的平面度和底盤的平面度要好。目前砂輪平面和底盤平面是靠修整器修出來的，如果修整器的運動軌跡與底盤軸或砂輪軸的旋轉中心不垂直時，修出來的平面就不平。生產現場經常使用的測量平面度的量具是刀口尺，將刀口尺與平面接觸，檢查刀口尺與被測零件的漏光率。如果能看到明顯的漏光部位就是平面凹下去的部位。這樣檢查平面度的方法只能定性說明平面度合格與否，不能定量說明平面度是多少。
【發明內容】
[0003]針對現有技術中存在的問題，本發明的目的在于提供一種軸承平面度測量裝置的技術方案。
[0004]所述的一種軸承平面度測量裝置，包括過梁，其特征在于所述過梁中部開設有通孔，通孔中滑動設置有測量表，測量表的下端具有與被測平面相接觸的測腳；過梁上對應于所述通孔兩側分別開設有螺絲孔，其中在過梁的小端開設有一個螺絲孔，大端開設有兩個螺絲孔，且大端的兩個螺絲孔的連線平行于過梁大端邊線，每個所述螺絲孔中均設置有調節螺絲，調節螺絲上對應于過梁的下端面處設置有調節螺母，所述調節螺絲下端部設置有陶瓷球。
[0005]所述的一種軸承平面度測量裝置，其特征在于所述的過梁呈T型狀。
[0006]所述的一種軸承平面度測量裝置，其特征在于所述的調節螺絲上對應于陶瓷球的上方還設置有一個螺母。
[0007]本發明結構簡單、合理、巧妙，生產制造成本低廉；同時本發明在測量面板的平面度時操作簡單，只需先用標準面板將本發明進行調零操作，然后再將本發明放置于待測平面上，即可快速方便地讀出該待測平面的平面度。
【附圖說明】
[0008]圖1為本發明的使用狀態示意圖；
圖2為本發明的俯視結構示意圖。
【具體實施方式】
[0009]下面結合說明書附圖對本發明做進一步說明:
本發明包括被測平面1、陶瓷球2、測腳3、調節螺絲4、調節螺母5、過梁6、測量表7等。如圖1所示，本發明包括過梁6，所述過梁6中部開設有通孔，通孔中滑動設置有測量表7，測量表7的下端具有與被測平面I相接觸的測腳3 ;過梁6上對應于所述通孔兩側分別開設有螺絲孔，其中在過梁6的小端開設有一個螺絲孔，大端開設有兩個螺絲孔，且大端的兩個螺絲孔的連線平行于過梁6大端邊線，每個所述螺絲孔中均設置有調節螺絲4，調節螺絲4上對應于過梁6的下端面處設置有調節螺母5，所述調節螺絲4下端部設置有陶瓷球2。
[0010]所述過梁6呈T型狀，調節螺絲4上對應于陶瓷球2的上方還設置有一個螺母。
[0011]本發明的工作過程如下:首先將本發明放置于一個標準平面板上，調整好各個調節螺母5的位置，測量表7下端測腳3置于標準平面板上，然后將測量表7進行調零操作，在完成上述測量前的準備工作后，即可將本發明用于測量操作，具體是將本實用型置于被測平面I上端，調節螺絲4下端的陶瓷球2支撐于被測平面I上，測量表7下端的測腳3置于被測平面I上，通過測量表7上部的表盤即可讀出被測平面I的平面度。
【主權項】
1.一種軸承平面度測量裝置，包括過梁，其特征在于所述過梁中部開設有通孔，通孔中滑動設置有測量表，測量表的下端具有與被測平面相接觸的測腳；過梁上對應于所述通孔兩側分別開設有螺絲孔，其中在過梁的小端開設有一個螺絲孔，大端開設有兩個螺絲孔，且大端的兩個螺絲孔的連線平行于過梁大端邊線，每個所述螺絲孔中均設置有調節螺絲，調節螺絲上對應于過梁的下端面處設置有調節螺母，所述調節螺絲下端部設置有陶瓷球。2.根據權利要求1所述的一種軸承平面度測量裝置，其特征在于所述的過梁呈T型狀。3.根據權利要求1所述的一種軸承平面度測量裝置，其特征在于所述的調節螺絲上對應于陶瓷球的上方還設置有一個螺母。
【專利摘要】本發明涉及一種軸承平面度測量裝置。其特征在于所述過梁中部開設有通孔，通孔中滑動設置有測量表，測量表的下端具有與被測平面相接觸的測腳；過梁上對應于所述通孔兩側分別開設有螺絲孔，其中在過梁的小端開設有一個螺絲孔，大端開設有兩個螺絲孔，且大端的兩個螺絲孔的連線平行于過梁大端邊線，每個所述螺絲孔中均設置有調節螺絲，調節螺絲上對應于過梁的下端面處設置有調節螺母，所述調節螺絲下端部設置有陶瓷球。本發明結構簡單、合理、巧妙，生產制造成本低廉；同時本發明在測量面板的平面度時操作簡單，只需先用標準面板將本發明進行調零操作，然后再將本發明放置于待測平面上，即可快速方便地讀出該待測平面的平面度。
【IPC分類】G01B5/28
【公開號】CN104930959
【申請號】CN201510311427
【發明人】王占元, 陳元棟
【申請人】新昌縣億源精密機械有限公司
【公開日】2015年9月23日
【申請日】2015年6月9日