一種led燈壽命的測試方法
【技術領域】
[0001]本發明屬于一種LED燈的壽命的測試方法。
【背景技術】
[0002]LED燈是使用LED進行照明的燈具，由于其諸多的優點，目前得到廣泛的使用。
[0003]LED燈出廠時，需要進行檢測，以確定該批次產品的壽命是否達到標準。
【發明內容】
[0004]本發明提供一種LED燈壽命的測試方法，其目的是提供一種可以測定一個批次的LED燈的壽命的數據的測試方法。
[0005]本發明解決其技術問題所采用的技術方案是:
[0006]一種LED燈壽命的測試方法，其特征在于:
[0007]包括如下步驟:
[0008]A:對正常生產批次的LED產品，按標準進行周期檢驗計數抽樣；
[0009]B:把產品放入高溫測試箱中，進行如下測試:在一定的壓力、溫度、電壓環境下通電測試一定的測試時間；然后升高壓力和電壓，進一步通電測試一定的測試時間；重復以上步驟測試數次，其中溫度高于環境溫度；
[0010]C:通過上述步驟B中若干次的測試后，對所測產品進行合格判定，能夠正常啟動，正常點亮判為合格；
[0011]D:把步驟C的經高溫測試箱測試判為合格的產品，放入高低溫交變濕熱測試箱中，進行一定時間的測試，其中溫度低于環境溫度，完成后恢復常溫后，通電進行合格判定，能正常啟動，判定合格。
[0012]進一步地，步驟B為:把產品放入高溫測試箱中，進行:如下三步驟的測試
[0013]I)低壓環境，溫度70_100°C，電壓176V ；
[0014]2)常壓環境，溫度70_100°C，電壓220V到230V ；
[0015]3)高壓環境，溫度70_100°C，電壓264V。
[0016]進一步地，低壓環境下測試時間為為300小時，常壓環境下測試時間為400小時，高壓環境下測試時間為300小時。
[0017]進一步地，步驟D中的在高低溫交變濕熱測試箱中的測試溫度為-15°C，測試時間為48小時，完成后恢復常溫后，進行合格判定，176V電壓下能正常啟動，判定合格。
[0018]本發明的有益之處在于:
[0019]本發明由于采用了依次進行高溫環境下三階段的壓力測試，低溫環境下的測試，可以使被測LED燈在極端環境下得到完整的測試，從而得到批次產品的合格率，從中可以推出批次產品的壽命。
【具體實施方式】
[0020]一種LED燈壽命的測試方法，其特征在于:
[0021]包括如下步驟
[0022]A:對正常生產批次的LED產品，按標準進行周期檢驗計數抽樣；
[0023]B:把產品放入高溫測試箱中，進行:如下三步驟的測試
[0024]I)低壓環境，溫度85°C，電壓176V，測試時間300小時；
[0025]2)常壓環境，溫度85°C，電壓220V到230V，測試時間400小時；
[0026]3)高壓環境，溫度85°C，電壓264V，測試時間300小時；
[0027]C:通過上述步驟B中1000小時高溫環境下三段電壓的測試工作后，對所測產品進行合格判定，能夠正常啟動，正常點亮判為合格；
[0028]D:把步驟C的經高溫測試箱測試判為合格的產品，放入高低溫交變濕熱測試箱中，進行溫度_15°C，測試時間為48小時的低溫測試，完成后恢復常溫后，進行合格判定，176V電壓下能正常啟動，判定合格。
[0029]通過本方法測試后，可判斷出所測批次LED產品的正常壽命大于35000小時。
【主權項】
1.一種LED燈壽命的測試方法,其特征在于: 包括如下步驟: A:對正常生產批次的LED產品，按標準進行周期檢驗計數抽樣； B:把產品放入高溫測試箱中，進行如下測試:在一定的壓力、溫度、電壓環境下通電測試一定的測試時間；然后升高壓力和電壓，進一步通電測試一定的測試時間；重復以上步驟測試數次，其中溫度高于環境溫度； C:通過上述步驟B中若干次的測試后，對所測產品進行合格判定，能夠正常啟動，正常點亮判為合格； D:把步驟C的經高溫測試箱測試判為合格的產品，放入高低溫交變濕熱測試箱中，進行一定時間的測試，其中溫度低于環境溫度，完成后恢復常溫后，通電進行合格判定，能正常啟動，判定合格。
2.如權利要求1所述的一種LED燈壽命的測試方法:其特征在于: 步驟B為:把產品放入高溫測試箱中，進行:如下三步驟的測試 1)低壓環境，溫度70-100°C，電壓176V； 2)常壓環境，溫度70-100°C，電壓220V到230V； 3)高壓環境，溫度70-100°C，電壓264V。
3.如權利要求2所述的一種LED燈壽命的測試方法，其特征在于:低壓環境下測試時間為為300小時，常壓環境下測試時間為400小時，高壓環境下測試時間為300小時。
4.如權利要求1所述的一種LED燈壽命的測試方法，其特征在于:步驟D中的在高低溫交變濕熱測試箱中的測試溫度為_15°C，測試時間為48小時，完成后恢復常溫后，進行合格判定，176V電壓下能正常啟動，判定合格。
【專利摘要】本發明提供一種LED燈壽命的測試方法，A：對正常生產批次的LED產品，按標準進行周期檢驗計數抽樣；B：把產品放入高溫測試箱中，進行如下測試：在一定的壓力、溫度、電壓環境下通電測試一定的測試時間；然后升高壓力和電壓，進一步通電測試一定的測試時間；重復以上步驟測試數次，其中溫度高于環境溫度；C：通過上述步驟B中若干次的測試后，對所測產品進行合格判定；D：把步驟C的經高溫測試箱測試判為合格的產品，放入高低溫交變濕熱測試箱中，進行一定時間的測試，其中溫度低于環境溫度，完成后恢復常溫后，通電進行合格判定，能正常啟動，判定合格。本發明提供可以測定一個批次的LED燈的壽命的數據的測試方法。
【IPC分類】G01R31-44
【公開號】CN104849677
【申請號】CN201410053190
【發明人】周金龍
【申請人】浙江云時代光電科技有限公司
【公開日】2015年8月19日
【申請日】2014年2月17日