一種用1-乙基-3-甲基咪唑四氟硼酸鹽離子液體作導電處理劑的sem-edx檢測方法
【技術領域】
[0001] 本發明屬于化學領域，具體涉及一種使用所述1-乙基-3-甲基咪唑四氟硼酸鹽離 子液體作為導電處理劑的SEM-EDX檢測方法。
【背景技術】
[0002] SEM是掃描電子顯微鏡的簡稱，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面 形態，使用逐點成像的方法獲得放大像，在實際的使用中，SEM常常和EDX聯用；EDX為能量 色散X射線光譜儀的簡稱，SEM和EDX聯用作為掃描電鏡能譜儀進行能譜分析。
[0003] 在進行SEM-EDX檢測時，需要被測樣品具有導電的性質，所以，在觀測絕緣樣品之 前，需要使用金屬或碳素等對絕緣樣品進行導電處理，形成數十納米的導電薄膜后再進行 觀測。目前常使用的使用金屬或碳素等對絕緣樣品進行導電處理的技術難度較高，在實驗 室中往往需要專門的設備和技術人員負責；另外，使用金屬或碳素等對絕緣樣品進行導電 處理的處理方式的費用昂貴，這大大限制了 SEM-EDX檢測的推廣使用。
【發明內容】
[0004] 為了解決現有技術存在的上述問題，本發明提供了一種離子液體及其在SEM-EDX 檢測方面的用途，所述離子液體可代替金屬或碳素對絕緣樣品進行導電處理。
[0005] 離子液體具有呈液態的溫度區間大、溶解范圍廣、沒有顯著的蒸汽壓、良好的穩定 性、導電率高、極性較強且酸性可調、電化學窗口大等許多優點，故離子液體的概念一經提 出，就引起了巨大的關注并取得了巨大的科研進展。
[0006] 1-乙基-3-甲基咪唑四氟硼酸鹽離子液體除了具有離子液體的共性之外，還具有 低熔點、抗水解、穩定性強的優點，基于以上的優點，本發明使用1-乙基-3-甲基咪唑四氟 硼酸鹽離子液體對絕緣樣品進行導電處理，經過導電處理后進行SEM-EDX檢測。
[0007] 在進行SEM-EDX檢測時，為了得到倍率為5000倍以上的鮮明二次電子圖像，往 往需要對粒徑大于IOym的絕緣被測樣品進行導電處理，在本發明中，使用所述1-乙 基-3-甲基咪唑四氟硼酸鹽離子液體對絕緣樣品進行導電處理。
[0008] 因為離子液體的粘度都比較大，在使用1-乙基-3-甲基咪唑四氟硼酸鹽離子液體 對絕緣樣品就行導電處理時，往往使用的是1-乙基-3-甲基咪唑四氟硼酸鹽離子液體的稀 釋液，所使用的稀釋劑一般為乙醇和/或丙酮，所述乙醇和丙酮混合時可采用任意比例。
[0009] 本發明所采用的技術方案為：一種離子液體，準確的說，是1-乙基-3-甲基咪唑四 氟硼酸鹽離子液體。CAS號：143314-16-3 ;分子式為C6H11BF4N2;分子結構式為：
[0010]
【主權項】
1. 一種用1-乙基-3-甲基咪唑四氟硼酸鹽離子液體作導電處理劑的SEM-EDX檢測方 法，其特征在于，包括以下步驟： a、 確定被測樣品的性質：確定被測樣品的粒徑和導電性，若被測樣品絕緣且粒徑大于 10um，則需要將被測樣品用作為導電處理劑的1-乙基-3-甲基咪唑四氟硼酸鹽離子液體 進行導電處理，若被測樣品導電或粒徑小于l〇ym，則不需要進行導電處理； b、SEM-EDX檢測：將經導電處理過的絕緣被測樣品或不需導電處理的被測樣品進行 SEM-EDX檢測，同時還將SSD附加到SEM-EDX分析裝置上，在進行SEM-EDX檢測的同時，進行 被測樣品的成分分析；測試結束后，得到二次電子圖像； c、 數據分析：根據步驟b中得到的二次電子圖像，進行被測樣品的元素組成的定性分 析和定量分析。
2. 根據權利要求1所述的SEM-EDX檢測方法，其特征在于，所述導電處理的過程為： 將粒徑大于10ym的絕緣被測樣品進行導電處理，將所述稀釋液點滴在所述絕緣被測樣品 上，潤濕所述絕緣被測樣品表面即可。
3. 根據權利要求2所述的SEM-EDX檢測方法，其特征在于，所述1-乙基-3-甲基咪 唑四氟硼酸鹽離子液體在使用時要配置成稀釋液使用，所述稀釋液配置方法為：常溫下， 將1-乙基-3-甲基咪唑四氟硼酸鹽離子液體和稀釋劑混合后，形成稀釋液；所述稀釋劑 為乙醇和/或丙酮，所述乙醇和丙酮混合時可采用任意比例，在所述稀釋液中，所述1-乙 基-3-甲基咪唑四氟硼酸鹽離子液體的質量分數為0. 01 %~5%。
4. 根據權利要求3所述的SEM-EDX檢測方法，其特征在于，所述1-乙基-3-甲基咪唑 四氟硼酸鹽離子液體的質量分數為〇. 1%~1%。
5. 根據權利要求1~4中任一所述的SEM-EDX檢測方法，其特征在于，所述被測樣品為 巖石。
6. 根據權利要求5所述的SEM-EDX檢測方法，其特征在于，所述被測樣品為火山灰。
【專利摘要】本發明涉及一種使用所述1-乙基-3-甲基咪唑四氟硼酸鹽離子液體作為導電處理劑的SEM-EDX檢測方法，本發明的有益效果為：使用所述1-乙基-3-甲基咪唑四氟硼酸鹽離子液體可用作在進行SEM-EDX檢測之前，對絕緣樣品進行導電處理；所進行的導電處理成本低廉、操作簡單，這大大的擴大了SEM-EDX檢測的適用范圍；并且本發明創造性的將SSD附加到SEM-EDX分析裝置上，在進行SEM-EDX檢測的同時，進行絕緣樣品的成分分析；從而增大了檢測的精度和廣度。
【IPC分類】G01N1-28, G01N23-20, G01N23-22
【公開號】CN104792591
【申請號】CN201510169819
【發明人】澤龍
【申請人】澤龍
【公開日】2015年7月22日
【申請日】2015年4月10日