印刷電路板質量檢測裝置及方法
【技術領域】
[0001] 本發明涉及一種檢測裝置及方法，特別是指一種印刷電路板質量檢測裝置及方 法。
【背景技術】
[0002] 目前，在電子設計過程中，通常都是直接利用廠家提供的印刷電路板上金屬走線 的電阻率來計算電阻等各種參數。然而，很多制作樣本電路板的廠家為了降低成本，會在金 屬走線中參雜劣質的金屬，而設計者并不知道。這樣，該金屬走線的電阻率就會發生改變， 由此測得的各種參數就不準確，對電子設計就會產生影響。因此，設計者在電子設計過程中 測量印刷電路板上金屬走線的電阻率，以判斷該印刷電路板的質量是非常重要的。
【發明內容】
[0003] 鑒于以上內容，有必要提供一種能夠檢測金屬走線的電阻率的印刷電路板質量檢 測裝置及方法。
[0004] 一種印刷電路板質量檢測裝置，用以測量一印刷電路板上的金屬走線的電阻率 P，所述印刷電路板質量檢測裝置包括有剪切模塊、放大模塊、長度測量模塊及電阻測量模 塊，所述剪切模塊用以在所述金屬走線的位置制作切片，以露出所述金屬走線的橫截面，所 述放大模塊用以將所述橫截面放大，以測量所述橫截面的高度和寬度，從而計算出所述橫 截面的橫截面積S，所述長度測量模塊用以測量所述金屬走線的長度L，所述電阻測量模塊 用以測量所述金屬走線的電阻值R，將所述橫截面積S、長度L及電阻值R帶入公式P =R*S/ L計算出所述金屬走線的電阻率P。
[0005] -種印刷電路板質量檢測方法，用以測量一印刷電路板上的金屬走線的電阻率 P，包括以下步驟： 一剪切模塊在所述金屬走線的不同位置制作切片，以露出所述金屬走線的橫截面， 一放大模塊放大所述橫截面，以測量所述橫截面的高度和寬度，從而計算出所述橫截 面的橫截面積S， 一長度測量模塊測量所述金屬走線的長度L， 一電阻測量模塊測量所述金屬走線的電阻值R， 將所述橫截面積S、長度L及電阻值R帶入公式P =R*S/L計算出所述金屬走線的電阻 率p。
[0006] 與現有技術相比，在上述印刷電路板質量檢測裝置及方法中，計算出金屬走線的 橫截面積S、長度L及電阻值R，再將各個值帶入公式P =R*S/L，即可得出所述金屬走線的電 阻率P。通過得到的電阻率P與制作印刷電路板的金屬走線的合格電阻率相比就可以判 斷所述印刷電路板是否是合格的。
【附圖說明】
[0007] 圖1是本發明印刷電路板質量檢測裝置的一較佳實施例的連接框圖。
[0008] 圖2是本發明印刷電路板質量檢測方法的一較佳實施例的一流程圖。
[0009] 圖3是本發明印刷電路板質量檢測方法的一測量金屬走線的電阻值R的一流程 圖。
[0010] 主要元件符號說明
【主權項】
1. 一種印刷電路板質量檢測裝置，用以測量一印刷電路板上的金屬走線的電阻率p， 其特征在于：所述印刷電路板質量檢測裝置包括有剪切模塊、放大模塊、長度測量模塊及電 阻測量模塊，所述剪切模塊用以在所述金屬走線的位置制作切片，以露出所述金屬走線的 橫截面，所述放大模塊用以將所述橫截面放大，以測量所述橫截面的高度和寬度，從而計算 出所述橫截面的橫截面積S，所述長度測量模塊用以測量所述金屬走線的長度L，所述電阻 測量模塊用以測量所述金屬走線的電阻值R，將所述橫截面積S、長度L及電阻值R帶入公 式P=R*S/L計算出所述金屬走線的電阻率P。
2. 如權利要求1所述的印刷電路板質量檢測裝置，其特征在于：所述長度測量模塊通 過測量所述印刷電路板的底片（gerber file)上對應的金屬走線的長度來獲得L值的大 小。
3. 如權利要求1所述的印刷電路板質量檢測裝置，其特征在于：所述電阻測量模塊包 括一電流計，所述電流計的兩個探針分別連接所述金屬走線的兩端，且用以向所述金屬走 線輸入一電流I。
4. 如權利要求3所述的印刷電路板質量檢測裝置，其特征在于：所述電阻測量模塊還 包括一電壓計，所述電壓計的兩個探針分別連接所述金屬走線的兩端，且用以測量所述金 屬走線兩端的電壓U，每個探針具有一內阻R d，所述電阻值R通過公式R=U/I-2 Rd求得。
5. 如權利要求1所述的印刷電路板質量檢測裝置，其特征在于：所述放大模塊為一顯 微鏡。
6. -種印刷電路板質量檢測方法，用以測量一印刷電路板上的金屬走線的電阻率P， 包括以下步驟： 一剪切模塊在所述金屬走線的位置制作切片，以露出所述金屬走線的橫截面， 一放大模塊放大所述橫截面，以測量所述橫截面的高度和寬度，從而計算出所述橫截 面的橫截面積S， 一長度測量模塊測量所述金屬走線的長度L， 一電阻測量模塊測量所述金屬走線的電阻值R， 將所述橫截面積S、長度L及電阻值R帶入公式P =R*S/L計算出所述金屬走線的電阻 率P。
7. 如權利要求6所述的印刷電路板質量檢測方法，其特征在于：所述電阻測量模塊測 量所述金屬走線的電阻值R包括以下步驟： 連接一電流計的兩個探針至所述金屬走線的兩端，且向所述金屬走線輸入一電流I， 連接一電壓計的兩個探針至所述金屬走線的兩端，且測量出所述金屬走線兩端的電壓 U, 通過公式R=U/I-2Rd求得所述電阻值R，所述Rd為每個探針的內阻。
8. 如權利要求7所述的印刷電路板質量檢測方法，其特征在于：所述電流計為精密電 流計，所述電壓計為精密電壓計。
9. 如權利要求6所述的印刷電路板質量檢測方法，其特征在于：所述長度測量模塊通過 測量所述印刷電路板的底片（gerber file)上對應的金屬走線的長度來獲得L值的大小。
10. 如權利要求6所述的印刷電路板質量檢測方法，其特征在于：所述放大模塊為一顯 微鏡。
【專利摘要】一種印刷電路板質量檢測裝置，用以測量一印刷電路板上的金屬走線的電阻率ρ，所述印刷電路板質量檢測裝置包括有剪切模塊、放大模塊、長度測量模塊及電阻測量模塊，所述剪切模塊用以在所述金屬走線的位置制作切片，以露出所述金屬走線的橫截面，所述放大模塊用以將所述橫截面放大，以測量所述橫截面的高度和寬度，從而計算出所述橫截面的橫截面積S，所述長度測量模塊用以測量所述金屬走線的長度L，所述電阻測量模塊用以測量所述金屬走線的電阻值R，將所述橫截面積S、長度L及電阻值R帶入公式ρ=R*S/L計算出所述金屬走線的電阻率ρ。本發明還揭示了一種印刷電路板質量檢測方法。
【IPC分類】G01R27-08
【公開號】CN104678178
【申請號】CN201310609896
【發明人】歐光峰
【申請人】鴻富錦精密工業（深圳）有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司
【公開日】2015年6月3日
【申請日】2013年11月27日