帶存儲單元的集成芯片的復測方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及集成電路芯片測試領域，特別是涉及一種帶存儲單元的集成芯片的復測方法。
【背景技術】
[0002]在現在的應用中，因測試環境影響及存儲單元數據保存功能的不可重復測試性，對測試流程的可復測性提出了更高的要求。環境影響包括:針卡問題、測試板問題、甚至設備問題。環境影響可導致測試中斷、數據誤判；同時測試中斷、數據誤判在復測時可能導致芯片所帶存儲單元內的數據改變，影響對芯片數據保存功能判斷。
【發明內容】
[0003]本發明要解決的技術問題是提供一種帶存儲單元的集成芯片的復測方法，能夠保證測試結果的準確性并節省復測時間。
[0004]為解決上述技術問題，本發明的帶存儲單元的集成芯片的復測方法是采用如下技術方案實現的:
[0005]將第一次針測記為CPl,第二次針測記為CP2 ；
[0006]設置一 CPl通過標記，用于判斷芯片是否完全通過CPl測試；設置一 CP2通過標記，用于判斷芯片是否完全通過CP2測試；設置一 CP2第一數據保存標記，用于判斷是否進行數據保存功能測試；設置一 CP2第二數據保存標記，用于判斷芯片是否通過數據保存功能測試；包括如下步驟:
[0007]步驟一，通過讀取CPl通過標記，判斷芯片是否做過并完全通過上次CPl測試；若通過則測試繼續進行，若失效則測試結束，返回失效結果；
[0008]步驟二，通過讀取CP2通過標記，判斷芯片是否做過并完全通過上次CP2測試；若通過則測試結束，返回通過結果；若失效則測試繼續進行；
[0009]步驟三，通過讀CP2第一數據保存標記，判斷是否需要進行數據保存功能測試；若需要則測試繼續進行，若不需要則測試結束，返回失效結果；
[0010]步驟四，通過寫及讀CP2第二數據保存標記，驗證CP2第二數據保存標記，以便復測時判斷數據保存功能是否失效。
[0011]CP2第二數據保存標記與CP2第一數據保存標記寫入相同地址的存儲單元中；若CP2第一數據保存功能失效則寫入CP2第二數據保存標記，且覆蓋CP2第一數據保存標記。
[0012]采用本發明的方法，可以在任一測試項中斷、數據誤判時進行復測，得到與初測相同的測試結果并最大限度節省復測試時間。
[0013]本發明可用于多個測試流程間的反復復測，保證不影響測試結果。
【附圖說明】
[0014]下面結合附圖與【具體實施方式】對本發明作進一步詳細的說明:
[0015]圖1是CPl測試流程圖；
[0016]圖2是CP2測試流程圖。
【具體實施方式】
[0017]參見圖1，所述帶存儲單元的集成芯片的復測方法中CPl測試流程，包括如下步驟:
[0018]步驟A、集成芯片上電后讀取存儲單元中的CPl通過標記，判斷芯片是否做過并完全通過上次CPl測試；若通過則測試結束，返回通過結果；若失效則測試繼續進行。
[0019]步驟B、進行功能測試；若通過則測試繼續進行，若失效則測試結束，返回失效結果O
[0020]步驟C、寫及讀CPl通過標記，通過寫及讀CPl通過標記，驗證通過該次CPl測試的CPl通過標記，以便后續復測使用。若通過則測試繼續進行，若失效則測試結束，返回失效結果。
[0021]步驟D、寫及讀CP2第一數據保存標記(即CP2數據保存標記I )，通過寫及讀CP2第一數據保存標記，驗證CP2第一數據保存標記，以便后續復測使用。若通過證明芯片為良品，若失效則測試結束，返回失效結果。
[0022]參見圖2，所述帶存儲單元的集成芯片的可復測方法中CP2測試流程，包括如下步驟:
[0023]步驟a、集成芯片上電后、讀取存儲單元中的CP2通過標記，通過讀取CP2通過標記判，斷芯片是否做過并完全通過上次CP2測試；若通過則測試結束，返回通過結果；若失效則測試繼續進行。
[0024]步驟b、讀取存儲單元中的CP2第一數據保存標記(即CP2數據保存標記1)，判斷是否需要進行數據保存功能測試，若需要則測試繼續進行，若不需要則測試結束，返回失效結果。
[0025]步驟C、進行數據保存功能測試，若通過則測試繼續進行，若失效則寫及讀CP2第二數據保存標記(即CP2數據保存標記2)，通過寫及讀CP2第二數據保存標記，驗證CP2第二數據保存標記，以便復測時判斷數據保存功能是否失效；然后測試結束，返回失效結果。
[0026]步驟d、寫及讀CP2通過標記，通過寫及讀CP2通過標記，驗證通過該次CP2測試的CP2通過標記，以便后續復測使用。若通過證明芯片為良品，若失效則測試結束，返回失效結果。
[0027]步驟e、進行功能測試，若通過則測試繼續進行，若失效則測試結束，返回失效結果O
[0028]在上述步驟中“返回失效結果”即證明芯片為不良品，然后下電。
[0029]以上通過【具體實施方式】對本發明進行了詳細的說明，但這些并非構成對本發明的限制。在不脫離本發明原理的情況下，本領域的技術人員還可做出許多變形和改進，這些也應視為本發明的保護范圍。
【主權項】
1.一種帶存儲單元的集成芯片的復測方法，其特征在于，將第一次針測記為CP1，第二次針測記為CP2 ;設置一 CPl通過標記，用于判斷芯片是否完全通過CPl測試；設置一 CP2通過標記，用于判斷芯片是否完全通過CP2測試；設置一 CP2第一數據保存標記，用于判斷是否進行數據保存功能測試；設置一 CP2第二數據保存標記，用于判斷芯片是否通過數據保存功能測試；包括如下步驟: 步驟一，通過讀取CPl通過標記，判斷芯片是否做過并完全通過上次CPl測試；若通過則測試繼續進行，若失效則測試結束，返回失效結果； 步驟二，通過讀取CP2通過標記，判斷芯片是否做過并完全通過上次CP2測試；若通過則測試結束，返回通過結果；若失效則測試繼續進行； 步驟三，通過讀CP2第一數據保存標記，判斷是否需要進行數據保存功能測試；若需要則測試繼續進行，若不需要則測試結束，返回失效結果； 步驟四，通過寫及讀CP2第二數據保存標記，驗證CP2第二數據保存標記，以便復測時判斷數據保存功能是否失效。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于:CP2第二數據保存標記與CP2第一數據保存標記寫入相同地址的存儲單元中；若CP2第一數據保存功能失效則寫入CP2第二數據保存標記，且覆蓋CP2第一數據保存標記。
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述CPl測試包括如下步驟: 步驟A、集成芯片上電后讀取存儲單元中的CPl通過標記，判斷芯片是否做過并完全通過上次CPl測試；若通過則測試結束，返回通過結果；若失效則測試繼續進行； 步驟B、進行功能測試；若通過則測試繼續進行，若失效則測試結束，返回失效結果；步驟C、寫及讀CPl通過標記，通過寫及讀CPl通過標記，驗證通過該次CPl測試的CPl通過標記，以便后續復測使用；若通過則測試繼續進行，若失效則測試結束，返回失效結果; 步驟D、寫及讀CP2第一數據保存標記，通過寫及讀CP2第一數據保存標記，驗證CP2第一數據保存標記，以便后續復測使用；若通過證明芯片為良品，若失效則測試結束，返回失效結果。
4.如權利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述CP2測試包括如下步驟: 步驟a、集成芯片上電后、讀取存儲單元中的CP2通過標記，通過讀取CP2通過標記判，斷芯片是否做過并完全通過上次CP2測試；若通過則測試結束，返回通過結果；若失效則測試繼續進行； 步驟b、讀取存儲單元中的CP2第一數據保存標記，判斷是否需要進行數據保存功能測試，若需要則測試繼續進行，若不需要則測試結束，返回失效結果； 步驟C、進行數據保存功能測試，若通過則測試繼續進行，若失效則寫及讀CP2第二數據保存標記，通過寫及讀CP2第二數據保存標記，驗證CP2第二數據保存標記，以便復測時判斷數據保存功能是否失效；然后測試結束，返回失效結果； 步驟d、寫及讀CP2通過標記，通過寫及讀CP2通過標記，驗證通過該次CP2測試的CP2通過標記，以便后續復測使用；若通過證明芯片為良品，若失效則測試結束，返回失效結果; 步驟e、進行功能測試，若通過則測試繼續進行，若失效則測試結束，返回失效結果。
【專利摘要】本發明公開了一種帶存儲單元的集成芯片的復測方法，包括如下步驟：步驟一，通過讀取CP1通過標記，判斷芯片是否做過并完全通過上次CP1測試；若通過則測試繼續進行，若失效則測試結束，返回失效結果；步驟二，通過讀取CP2通過標記，判斷芯片是否做過并完全通過上次CP2測試；若通過則測試結束，返回通過結果；若失效則測試繼續進行；步驟三，通過讀CP2第一數據保存標記，判斷是否需要進行數據保存功能測試；若需要則測試繼續進行，若不需要則測試結束，返回失效結果；步驟四，通過寫及讀CP2第二數據保存標記，驗證CP2第二數據保存標記，以便復測時判斷數據保存功能是否失效。本發明能夠保證測試結果的準確性并節省復測時間。
【IPC分類】G01R31-28
【公開號】CN104635138
【申請號】CN201310561690
【發明人】鄧俊萍
【申請人】上海華虹集成電路有限責任公司
【公開日】2015年5月20日
【申請日】2013年11月12日