一種提高熒光分析生料對比合格率的工藝的制作方法
【技術領域】
[0001] 本發明涉及水泥加工技術領域，具體地，涉及一種提高熒光分析生料對比合格率 的工藝。
【背景技術】
[0002] X射線熒光分析是一種快速測定各種材料化學組分的方法，此法因具有快速準確 的特點已被廣泛應用于水泥行業。目前我公司石灰石、砂頁巖、生料、熟料、水泥等樣品分析 均采用此方法，因此，熒光檢驗的準確性，間接得影響到出廠水泥的質量，因此，熒光分析在 整個水泥生產控制過程中顯得尤其重要。
[0003] 2012年，我們發現出磨生料的波動大，合格率低，針對這些情況，為了能更好得做 好配料工作配合生產，需要提高生料對比合格率。熒光分析生料對比合格率為85. 5%。
[0004] 原因分析：針對影響生料對比合格率低的原因用關聯圖進行原因分析：
[0005] 生料對比合格率低：光譜不穩，光譜漂移，光譜儀運轉率低，室溫不穩；生料吸水， 水分過多；生料曲線線性差；助磨劑三乙醇胺對生料影響大；磨機，壓片機故障多；樣品稱 樣誤差大；光譜儀運轉率低。室溫不穩，見下表：
【主權項】
1. 一種提高熒光分析生料對比合格率的工藝，其特征在于，包括： a、 調整磨機； b、 調整光譜儀； c、 定期篩查滴定管，調整助磨劑的配方，調整后助磨劑中各組分按以下重量份數配 比： 三乙醇胺：〇. 12份； 愛特威 AD-E8223 :0. 05 份； 紅海 HGA620 :0. 05 份。
2. 根據權利要求1所述的提高熒光分析生料對比合格率的工藝，其特征在于，所述步 驟a，具體包括： 定期調整電機功率； 對跑灰漏灰嚴重的磨機，在磨盤底部墊上橡膠或者更壞磨盤密封圈，將盤磨座底部焊 死； 對于壓片機，更換新磨具或按預設目標調整壓片機壓樣的噸數。
3. 根據權利要求1或2所述的提高熒光分析生料對比合格率的工藝，其特征在于，所述 步驟b，具體包括： 定期清理完樣片浮灰后再測樣； 定期清理吸塵器，在吸塵器正常的情況下，定期檢查生料樣片鋼圈周圍以及樣片表面 是否有粉末，保證吸塵器的吸力。
【專利摘要】本發明公開了一種提高熒光分析生料對比合格率的工藝，包括：a、調整磨機；b、調整光譜儀；c、定期篩查滴定管，調整助磨劑的配方，調整后助磨劑中各組分按以下重量份數配比：三乙醇胺：0.12份；愛特威AD-E8223：0.05份；紅海HGA620：0.05份。本發明所述提高熒光分析生料對比合格率的工藝，可以克服現有技術中故障率高、穩定性差和配比不合理等缺陷，以實現故障率低、穩定性好和配比合理的優點。
【IPC分類】G01N23-223
【公開號】CN104634801
【申請號】CN201410712900
【發明人】鐘靖華, 葉明波, 劉嘉康, 張彥君, 譚永凡, 韋昭井, 班富, 李金福, 蘭琴, 唐定才, 黎柳, 張芳
【申請人】廣西魚峰水泥股份有限公司
【公開日】2015年5月20日
【申請日】2014年11月28日