測量半導體光放大器偏振靈敏度的裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明屬于光電子技術領域，特別涉及一種測量半導體光放大器偏振靈敏度的裝置。
【背景技術】
[0002]半導體光放大器(SOA)由于體積小、成本低、易與其他光電器件集成，在全光通信系統中將發揮至關重要的作用，利用SOA可以構成光開關列陣及光交換系統，光放大器波長轉換在以波分復用技術為核心的全光網絡中更是具有許多獨到的應用。在光纖通信系統中，半導體光放大器的主要性能指標包括:小信號增益、噪聲指數、增益帶寬、偏振靈敏度。傳統的測試半導體光放大器偏振靈敏度的方法，需要將TE模和TM模區分開來，即首先用TE偏振的半導體激光器的輸出光耦合入偏振控制器，調整偏振控制器至功率最大，來確定TE模所對應的角度，偏振控制器旋轉90度即為TM模所對應的角度，再將半導體光放大器與偏振控制器相連，分別測出TE模和TM模的增益，即可計算出半導體光放大器的偏振靈敏度。該方法過于復雜，且精度不高。
【發明內容】
[0003]本發明的目的在于，提供一種測量半導體光放大器偏振靈敏度的裝置，具有結構簡單、成本低，測試方法精度高的優點。
[0004]本發明提供一種測量半導體光放大器偏振靈敏度的裝置，包括:
[0005]—光源；
[0006]—偏振控制器，其輸入端與光源的輸出端相連；
[0007]—光隔離器，其輸入端與偏振控制器的輸出端相連；
[0008]—半導體光發大器，其輸入端與光隔離器的輸出端相連；
[0009]—光功率測試儀，其輸入端與半導體光發大器的輸出端相連。
[0010]從上述技術方案可以看出，本發明具有以下有益效果:
[0011]本發明提供的一種測量半導體光放大器偏振靈敏度的裝置，具有結構簡單、成本低，測試方法精度高的優點。
【附圖說明】
[0012]為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚明白，以下結合具體實施例，并參照附圖，對本發明作進一步的詳細說明，其中:
[0013]圖1是本發明的結構示意圖；
[0014]圖2是本發明測量半導體光放大器偏振靈敏度的理論示意圖。
【具體實施方式】
[0015]請參閱圖1所示，本發明提出的一種測量半導體光放大器偏振靈敏度的裝置，該系統包括:
[0016]一光源10，所述光源10可以是半導體窄線寬激光器，也可以是可調諧激光器；
[0017]一偏振控制器11，其輸入端與光源10的輸出端相連；
[0018]一光隔離器12，其輸入端與偏振控制器11的輸出端相連；
[0019]—半導體光發大器13，其輸入端與光隔離器12的輸出端相連；
[0020]其中，所述偏振控制器11的帶寬要大于所述半導體光放大器13的帶寬；所述光源10的波長要包含在所述半導體光放大器13的超輻射譜之內；
[0021]—光功率測試儀14，其輸入端與半導體光發大器13的輸出端相連；所述光功率測試儀14可以是光功率計，也可以是光譜分析儀。
[0022]測量半導體光放大器14的偏振靈敏度時，連續調節偏振控制器11，輸入到半導體光放大器13的激光歷經各個偏振態，并記錄下光功率測試儀14的最大讀數Pmax和Pmin，則該半導體光放大器13的偏振靈敏度為Pmax-Pmin(dB)。
[0023]請參閱圖2，圖2為所述半導體光放大器偏振靈敏度的裝置的理論示意圖，當光源10產生的激光經過偏振控制器11和光隔離器12以α角耦合到半導體光放大器13中，將分別在TE和TM兩個偏振態上得到增益，并在輸出后合成為一個偏振態。理想情況下，半導體光放大器13在兩個偏振態上的增益相同，即無論如何調節偏振控制器，輸出功率都不變。但實際上，半導體光放大器13在兩個偏振態上的增益不可能完全相同，連續調節偏振控制器11時，輸出光的功率會發生變化，當輸入光完全與TE模或TM模重合時，即α =O。或α =90。時光功率達到最大或最小，此時，光功率可以表征半導體光放大器13在單獨偏振態上的輸出功率。假設輸入光的功率為P，則半導體光放大器13在兩個偏振態上的增益分別為Gmax= P max-P，Gmin= P min-P，根據半導體光放大器13偏振靈敏度的定義，AG =
GTE-GTMl，則可以得出半導體光放大器13的偏振靈敏度為AG = Gmax-Gmin= P max_Pmin。
[0024]以上所述的具體實施例，對本發明的目的、技術方案和有益效果進行了進一步詳細說明，應理解的是，以上所述僅為本發明的具體實施例而已，并不用于限制本發明，凡在本發明的精神和原則之內，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種測量半導體光放大器偏振靈敏度的裝置，包括: 一光源; 一偏振控制器，其輸入端與光源的輸出端相連； 一光隔離器，其輸入端與偏振控制器的輸出端相連； 一半導體光發大器，其輸入端與光隔離器的輸出端相連； 一光功率測試儀，其輸入端與半導體光發大器的輸出端相連。
2.根據權利要求1所述的測量半導體光放大器偏振靈敏度的裝置，其中該光源是半導體窄線寬激光器或可調諧激光器。
3.根據權利要求1所述的測量半導體光放大器偏振靈敏度的裝置，其中所述偏振控制器的帶寬大于半導體光放大器的帶寬。
4.根據權利要求1所述的測量半導體光放大器偏振靈敏度的裝置，其中所述光源的波長包含在半導體光放大器的超輻射譜之內。
5.根據權利要求1所述的測量半導體光放大器偏振靈敏度的裝置，其中該光功率測試儀是光功率計或光譜分析儀。
【專利摘要】一種測量半導體光放大器偏振靈敏度的裝置，包括：一光源；一偏振控制器，其輸入端與光源的輸出端相連；一光隔離器，其輸入端與偏振控制器的輸出端相連；一半導體光發大器，其輸入端與光隔離器的輸出端相連；一光功率測試儀，其輸入端與半導體光發大器的輸出端相連。本發明具有結構簡單、成本低，測試方法精度高的優點。
【IPC分類】G01M11-00
【公開號】CN104568381
【申請號】CN201410784900
【發明人】王瑋鈺, 于麗娟, 孫文惠, 劉建國, 祝寧華
【申請人】中國科學院半導體研究所
【公開日】2015年4月29日
【申請日】2014年12月17日