開架橋式檢測系統的制作方法

專利名稱：開架橋式檢測系統的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種檢測電子電路板的測試設備，特別涉及一種同時檢測小間距離電子電路板兩面的測試設備。
用于小間距電子電路板，如多忠片組件和多層陶瓷基片的測試操作包括使一個或一個以上探頭與板上的個別電路實際接解。這一般采用帶有多個相互固定的同時嚙盒的接頭觸點的一簇探測器，或采用由圖像數據以數據驅動方式移動一個或一個以上的獨立探頭的一種串行探測器來進行。一簇探測器靈活性小，并要求投入大量資金為每種類型產品制作專用的探頭。雖然，串行探測器可把探頭放在適當位置，易于應付產品的變化，但這種設備用于高密度的電路板要求額外的時間。由于在高密度板中必須檢測大量的電路，探頭則必須在各測試點間高速移動。檢測應盡可能快地進行，以盡量減少應付生產線的生產所要求的測試人員數量。
高速檢測對檢測系統有特殊要求。因為待檢測的特征尺寸很小，所以對檢測系統的精度要求很高。如果系統結構由于為移動探測器的平臺必須施加的加速力而過分抖動的話，那么系統的精度就受到影響。還有，如果在測試過程中探頭頂端連續抖動，被測產品可能受到損傷。因為這種類型的測試儀器的工作速度和使用率都高，所以快速而有效地實施維護工作的效率對于減少測試過程的工作成本和增加測試儀器的有效利用率都是很重要的因素。必須進行的這類維護的重要實例是探頭頂端的更換。
由于復雜的電路一般沿小間隔電子電路板的兩百布置，同時快速而精確探測板的兩面的能力越來越重要。雖然逐漸可從市上買到能檢測電路板兩面的系統，但對能兩面檢測待測電路板的檢測系統有某種特殊要求，即提供串行探測器的靈活性，又易于裝卸待測電路板，同時對檢測系統提供實際接近途徑以用于維護功能。
在專利領域中可發現一些有關檢測高密度電路的測試設備的例子。例如山津的美國專利US—4,786,867，山口等人的US—4,934,064，以及大野等人的US—5,091,692描述了使探頭相對于高密度電路表面定位的方法。然而，這些方法適合在單個的面朝上的測試電路板的表面的檢測工作。為探頭僅工作在電路板的一面上時，一般只需從上面接近，采用實體結構，如設置在探頭和電路板下面的臺子。再有，所需要的是允許探頭在電路兩面工作的結構和機構，即能提供便于裝上待測電路，又便于行使為保持探測器正常運行所需的維護職能。
在與坐標測量機構相關的專利領域中可發現，為探頭的高精度、小抖動移動以及為電學探測運動中的探頭位置所提供的設備，這種設備可用于確定探頭相對于待測的工作表面的位置。例如在Helmsr的美國專利US—4,958,437中表明在坐標測量機構中使用了橋式支撐構架。裝設一個進行機械測量的探頭，可在實體臺表面上方的三個方向上運行。探頭裝配在可豎直滑動的，從承重臺向下延伸的Z導軌的端部，而它本身是滑動裝配，以沿橋式構架運行。橋式構架本射是通過使用空氣軸承裝配的，以便在延伸在實體臺側面的導軌上沿與承重臺在橋式構架上的運動垂直的方向上運行。由固定在構架一側的驅動機構使橋式構架移動。減振器最好同驅動機構所聯結的點隔開，它包括通過回彈阻力低的高量吸收體襯墊懸掛在橋式構架上的堅實物質。
這類坐標測量機構被用于制作放在或夾在一般是實心花崗石塊的臺上部件的各種機械特征的直角坐標測量。無須達到被溫暖部件的下側；也不準備這樣做。坐標測量機構的應用類似于電路探測器的應用，要求精確度高，而實際的電路探測器的工作速度必須比坐標測量機構的高得多。
根據本發明一種方案，提供在測試中使檢測裝置沿電路板兩面移動的設備，該設備包括一支撐構架、第一、第二、第三和第四導軌構件、第一和第二橋式構架、橋驅動機構以及在第一和第橋式構架上各裝配一個探頭。支撐機件有一個電路板接收槽和電路板保持機構，使電路板保持在電路板接收槽內，讓電路板第一面面朝第一方向，讓電路板第二面即第一面的對面面朝第二方向。第一導軌構件被固定在支撐構架上，從支撐構架以第一方向延伸，鋪展在電路板接收槽的第一側。第二導軌構件被固定在支撐構架上，從支撐構架以第一方向延伸，與第一導軌平行鋪展在電路板接收槽的與該槽第一側相對的另一側。第三導軌構件被固定在支撐構架上，從支撐構架以第二方向延伸，鋪展在電路板接收槽第二側。第四導軌構件被固定在支撐構架上，從支撐構架以第二方向延伸，與第三導軌構件平行鋪展。第一橋式構架可在第一和第二導軌構件間，并沿第一、第二導軌構件移動。第二橋式構架可在第三和第四導軌構件間并沿第三、第四導軌構件移動。橋驅動機構使第一和第二橋式構架運動。每個探頭向著和背著保持在電路板保持機構中的電路板運動。
下面參照附圖描述發明主題的一個優選實施方案

圖1是表示根據本發明組成的開架橋式檢測系統主要部件的立體分解圖；圖2是圖1檢測系的單個橋式結構視圖，特別表示從上方看到的下橋；圖3是圖2橋式結構一支承座的取自圖2剖面線II—II的橫截面縱剖圖；圖4是圖1檢測系統的探頭組合件及相關的記錄載體的立體等軸視圖，特別示出從上方看到的下探頭。
圖5是圖1檢測系統的正視圖，以及圖6是圖1檢測系統的平面圖。
設計本發明的開架橋式檢測系統以滿足高性能低抖動的需要，并在工作和檢護期間提供容易的接近途徑。橋式構型是這樣選擇的，使之可容納大的產品尺寸而不會因懸梁支座彎曲而降低性能。
參照圖1，一個開架橋式檢測系統10包括四個獨立的橋式構架12，各自均起XY工作臺作用。上橋構架12—1、12—2攜帶沿被測產品(未表示)的上表面使用的探頭，而下橋構架12—3、12—4攜帶沿被測產品下表面使用的探頭。框架14包括兩個上花崗石橫梁20—1、20—2以及兩個下花崗石橫梁20—3、20—4。一直線支承導軌22和一直線電動機磁體導槽24都固定在每個花崗石橫梁20上。譯碼標盡26固定在上花崗石橫梁20—1和下花崗石橫梁20—3上。每個橋橋式構架12每端包括一個直線電動機線圈28，工作在對應的直線電動機磁體導槽24內，以及一對循環滾珠軸承30，與對應的直線支承導軌22嚙合。每個橋式構架12至少一端還包括一個緊靠對應的譯碼標尺26所架設的譯碼讀頭32。
在系統10的每個上、下位置中，X軸由花崗石橫梁20延伸的方向限定，允許橋式構架12在其上運行。這就使系統上位置的X軸由橫梁20—1、20—2限定，處于箭頭32所指示的方向，而系統下位置的X軸由橫梁20—3、20—4限定，處于箭頭34所指示的方向。
參照圖2，在每個橋式構架20上，在伸到直線電動機磁體導槽42內的直線電動機線圈40的控制下，通過承重臺36沿承重臺導軌38的運動獨立地驅動探頭在Y方向上運動。磁體導槽42包括在每一側各有一行永久磁體44使極性顛倒地排列在其端部。承重臺36是鋁熱壓鑲嵌在近于方形的構形中的形狀，以低摩擦循環軸承運行在導軌38上。承重臺36在橋式構架20上的位置由固定在承重臺36上的譯碼讀頭(未示出)跟蹤，緊靠固定在橋式構架20上的譯碼標尺45運動。
每個橋式構架20的中央部位43，例如可以由Anorad LW-10平臺(Anorad Corporation of Hauppage，New York有售)組成，當對平臺的各端施行改型時，可提供各種與整個橋構架20有關的機構，諸如直線電動機線圈28、循環滾珠軸承30及譯碼讀頭32。這樣設置的直線電動機線圈40和磁體導槽42、電纜極限以及止動器作為平臺的總體部件形成中央部分43。
再參照圖1，四個花崗石橫梁20一起形成框架14，作為盒式構架的四個邊。U形金屬支撐板46夾在上對花崗石磺梁20—1、20—2和下對花崗石橫梁20—3、20—4之間，為待測產品提供支撐。花崗石橫梁20和支撐板46在各角由貫通各角的壓緊螺栓組合件48固定，提供最大的剛度，在中間位置，用另外的壓緊螺栓組合件49使花崗石橫梁固定到支撐板46上。這種結構為一種開式構形提供了各方向的機械支撐，所有關鍵部件均容易折裝，而且在測試位置的產品是可看得到的。
當橋式構架驅動機構的單個部件，如直線電動機線圈28與對應的承重臺驅動部件，如直線電動機線圈40可以是同一型號時，由于橋式構架12的質量和長度，又因不希望有部件由橋式構架沿其運動方向向中心延伸，則在花崗石構架12的各端部給分開的電動機線圈28供電。然而，每個橋式構架12只需要一個譯碼讀頭32。而且上橋式構架12—1、12—2的兩個譯碼讀頭32使用在上花崗石橫梁20—1上的同一個譯碼標尺26，而下橋式構架12—3、12—4的兩個譯碼讀頭32使用下花崗石橫梁20—3上的同一譯碼標尺26。
圖3提供一個支承30連同相關的導軌22的橫截面縱剖圖。支承30包括四個凹槽47，當支承在導軌上運動時，允許凹槽內的滾珠旋轉。導軌22包括四個沿長度延伸的凹槽50，滾珠在槽內滾動。此類直線移動支撐系統已有市售(THK CoLtd of Tokyo，Japan產)如LM系統。
圖4提供由四個承重臺36(圖1和圖2示出)各承載一個探頭組合件56及相關的探頭載體58的立體分解視圖。該圖詳細地示出一個實例，由下向上看到的固定到橋式構架12—1、12—2的上承重臺的結構取向。探頭組合件56沿箭頭59的方向運動，使探頭頂端60與測試電路上的一點接觸。在一個獨立的點被檢測后，探頭組合件56朝著箭頭59所指的相反方向運動，使探頭頂端60與測試電路脫離接觸。因探頭組合件56的藍寶石軸62在探頭載體58的空氣軸承64中滑動而產生這種運動。當給線圈66施加電流時，產生探頭組合件56的運動，它延伸到作為中心支柱而形成的永久磁體68。由位移傳感器，如LVDT互感器70，以滑動鐵心71的動作，來探測探頭組合件56在載體58中的位置。通過柔軟的電纜72實施與探頭頂端60和線圈66的電連接。
參照圖5的正剖視圖，下花崗石橫梁20—3、20—4建立在基座構件74臺板73上，四個角的腿76向下延伸，使檢測系統10與底部表面(未示出)保持合適的高度。臺板73最好包括與在花崗石橫梁20的盒式構架所設置的孔對準的中心孔(未示出)。
測試電路載體98是滑動裝配的，以能在支撐板46的敞口槽80內運動。導桿82沿槽80的一側延伸，提供一個為手動載體78所導的軌跡。載體78的對應端包括一對與導桿82嚙合的軸對準軸承84。載體78的另一端包括可旋軸裝配在軸88上的滾輪86。當載體78向內或向外滑動時，軸承84在桿82上滑動，而滾輪86在支撐板46的鄰近表面上滾動。測試電路支撐載體88與為其運動提供的導向構件一起裝配在U型支撐板46的厚度內的空間中。這種結構允許在支撐板46之上和之下直接布置花崗石橫梁20，并允許橋式構架12和探頭不受阻礙的運動。
參照圖6的平面圖，測試電路支撐載體78還包括一個中心孔90，電路板放于其內，以進行測試過程。沿著載體78的下表面，有許多凹邊94伸入中心孔90。還可設置壓板96以便在測試過程中夾緊測試電路板92牢固地在孔90內入位。
在參照圖5，設置宏觀Z驅動功能，以使上橋構架12—1、12—2的探頭載體58在豎直Z方向運動。以此功能來補償在系統10中待測的電路板92間的差異。因為所有的電路板92都是將其下表面放在凸邊94上安放在孔90內，那么對下橋構架12—3、12—4的探頭載體、58就不需要這種補償。在每個上橋構架12—1、12—2上，使探頭載體58固定在宏觀Z平臺100上，平臺在四根從承重臺36向下延伸的支柱102上滑動。Z驅動電動機104被固定在承重臺36上，使凸輪106轉動，與相鄰的宏觀Z平臺100的下表面嚙合，以確定平臺100的豎直位置。
參照圖5和圖6，在承重臺36還放置一個電視攝像組合件110，提供一個觀察裝置，例如，電路板92的特征及電路支撐載體78的特征。可以使用位于測試電路支撐載體78基準表面112上的參考標記，以兩個工作在載體78同一側的探頭頂端作為攝像組合件110來確定每個這種探頭頂端相對于其它特征的位置。最好，為該定標過程設置兩個這類攝像組合件，以觀察載體78的上、下兩側。
當操作員向外拉出載體78，將待測的電路板92放入孔90內時，開始電路測試過程。載體78可拉出的距離受支承84在導桿82上可滑動的距離限制。當以此方法使載體完全向外延伸時，移出中心孔，以清洗探頭系統10的其它構件。當使測試電路板載體78向里返回時，再夾住使表面不動，防止在電路測試過程中表面再移動。然后進行各步操作，將電流施加給相應的直線電動機線圈20，使四個橋式構架12運動，并將電流施加給各自的承重臺的直線電動機和線圈40，使四個探頭載體58運動。在運動過程中，借助于緊靠對應的譯碼標尺26運動的譯碼讀頭輸出的信號跟蹤橋式構架12的位置，并借助于緊靠對應譯碼標尺44運動的安裝在承重臺36上的譯碼讀頭(未示出)輸出的信號跟蹤承重臺36的位置。第一步操作可以是相對于電路板92的上、下表面校準系統10。然后在四個探頭60與電路板92上的特定位置建立起實際接觸時，采用各種電路與探頭60電連接，確定該板92上圖形或電路的各種電學特性。
由各線圈66產生的運動被用來建立或取消各探頭60和電路板92間的實際接觸。當完成這些過程后，操作員向外拉出電路載體78取出電路板92。
花崗石橫20的盒式結構提供一個便于觀察和維護檢測系統10各種部件的開放的中心部位。橋式構架12可在該中心部位移動，便于修護它的各部件。尤為重要的是能達到裝配在上橋式構架12—1或12—2上的探頭組合件56下面的區域或裝配在下橋式構架12—3或12—4上的探頭組合件上面的區域。當這些探頭60被磨損或其它損傷時，必須取下這些組合件，以便更換或修理。再有，電路板92在其測試位置是完全可看得到的。
因而由花崗石橫梁20、支撐板46和壓緊螺栓組合件48、49形成的框架14是一個開放式構架，為支撐或驅動橋式構架12的各邊提供特殊的剛度。選擇橋式承重臺在電路板92的相對兩側作垂直方向運動提供構形上的優點，允許各花崗石橫梁20即起橋式支撐的導軌作用，又起框架14的構件作用。
雖然介紹了在電路板92的每一側使用兩個橋式構架12的構形，但應理解，也能以此方用單個橋式構架或三個或更多的橋式構架替代。雖然選擇橋式構架作垂直方向運動，但應理解借助于根據本發明建立的檢測系統，再附加兩條花崗石橫為電路板92的一側提供導軌作用也能提供在電路板92的每一側的平行方向運動。這樣，雖然以優選形式或帶有某種程序特殊性的實施例介紹了本發明，但應理解，此說明僅以舉例方式做出的，但在不脫離本發明的精神和范疇前提下，仍可能做出包括部件結合與排列的結構、制造及使用上的細節的種種變化。
權利要求
1.一種使檢測裝置沿在測的電路板兩面運動的設備，該設備包括一帶有電路板接收槽的支撐構架；使所說的電路板保持在所說的電路板接收槽內的電路板保持裝置，使所說的電路板的第一面面朝第一方向，使所說的電路板的第二面面朝與所說的第一方向相反的第二方向；一沿所說的電路板接收槽的第一側鋪展的第一導軌構件，被固定在所說的支撐構架上，并由此在所說的第一方向內延伸；一沿所說的電路板接收槽的與所說的第一側相對的一側鋪展的第二導軌構件，所說的第二導軌構件與所說的第一導軌構件平行延伸，被固定到所說的支撐構架上，并由此在所說的第一方向內延伸；一沿所說的電路板接收槽的第二側鋪展的第三導軌構件，被固定在所說的支撐構架上，并由此在所說的第二方向內延伸；一與所說的第三導軌構件平行鋪展的第四導軌構件，被固定在所說的支撐構件上，并由此在所說的第二方向內延伸；一可在所說的第一和第二導軌構件間并沿第一、第二導軌構件運動的第一橋式構架；一可在所說的第三和第四導軌構件間并沿第三、第四導軌構件運動的第二橋式構架；使所說的第一和第二橋式構架運動的橋驅動裝置；以及在每個所說的第一和第二橋式構架上各裝配的一個探頭，能向著和背著保持在所說的電路板保持裝置內的電路板移動。
2.權利要求1的設備，其特征在于，所說的設備還包括；一可沿各所說的橋式構架移動的承重臺及使所說的承重臺沿所說的橋式構架運動的承重臺驅動裝置；以及每個探頭是可移動地裝配在所說的承重臺上。
3.權利要求1的設備，其特征在于，所說的第三導軌構件在與所說的第一導軌構件垂直的方向上延伸；以及使所說的導軌構構固定在一起，形成環繞中心孔的矩形框架。
4.權利要求3的設備，其特征在于，每個所說的導軌構件包括一花崗石結構部分和一鋼導軌部分；以及每個所說的橋式構架包括在每端與相鄰的所說的導軌部分嚙合的支承。
5.權利要求4的設備，其特征在于所說的橋驅動裝置包括一沿每個所說的導軌構件平行于所說的鋼導軌部件延伸的直線電動機磁體凹槽；一從所說的第一橋式構架各端延伸、在相鄰的沿所說的第一和第二導軌構件延伸的直線電動和磁體導槽內運動的直線電動機線圈；一從所說的第二橋式構架各端延伸、在相鄰的沿所說的第二和第三導軌構件延伸的直線電動機磁體導槽內運動的直線電動機線圈；一沿所說的第一導軌構件平行于所說的鋼導軌部分延伸的第一譯碼標尺；一沿所說的第三導軌構件平行于所說的鋼導軌部分延伸的第二譯碼標尺；一裝配在所說的第一橋式部件靠近所說的第一譯碼標尺運動的第一譯碼讀頭；以及一裝配在所說的第二橋式部件靠近所說的第二譯碼標尺運動的第二譯碼讀頭。
6.權利要求5的設備，其特征在于還包括一在所說的第一和第二導軌構件間并沿著所說的第一、第二導軌構件可運動的第三橋式構架；一在所說的第三和第四導軌構件間并沿著所說的第三、第四導軌構件可運動的第四橋式構架；在每個所說的第三和第四橋式構架上各裝配的一個探頭，能向著和背著保持在所說的電路板保持裝置內的電路板移動；一從所說的第三橋式構架各端延伸，在相鄰的沿所說的第一和第二導軌構件延伸的直線電動機磁體導槽內運動的直線電動機線圈；一從所說的第四橋式構架各端延伸，在相鄰的沿所說的第二和第三導軌構件延伸的直線電動機磁體導槽內運動的直線電動機線圈；一裝配在所說的第三橋式部件靠近所說的第一譯碼標尺運動的第三譯碼讀頭；以及一裝配在所說的第四橋式部件靠近所說的第二譯碼標尺運動的第四譯碼讀頭。
7.權利要求6的設備，其特征在于，所說的設備還包括一可沿各所說的橋式構架移動的承重臺及使所說的承重臺沿所說的橋式構架運動的承重臺驅動裝置；以及每個探頭是可移動地裝配在所說的承重臺上。
8.權利要求3的設備，其特征在于，所說的電路板保持裝置是一裝配在所說的電路板接收槽內、在所說的矩形框架外側可將所說的電路板裝載在所說的電路板載體內的第一位置和使所說的電路板保持在所說的中部開口的第二位置間滑動的電路板載體。
9.一種使檢測裝置沿在測的電路板兩面運動的設備，該設備包括一電路板保持器，使所說的電路板的第一面面朝第一方向，第二面面朝第二方向而保持在測試位置；一環繞所說的在測試位置的電路板延伸的開放框架，所說的開放框架包括在所說的第一方向延伸超出所說的在測試位置的電路板的第一和第二導軌構件，所說的開放框架還包括在所說的第二方向延伸超出所說的在測試位置的電路板的第三和第四導軌構件，所說的第二導軌構件與所說的第一導軌構件平行鋪展，所說的第四導軌構件與所說的第三導軌構件平行鋪展；一可在第一和第二導軌構件間并沿第一、第二導軌構件移動的第一橋式構架；一可在第三和第四導軌構件間并沿第三、第四導軌構件移動的第二橋式構架；使所說的第一橋式構架沿所說的保持在電路板保持器內的電路板第一面移動的第一橋驅動裝置；使所說的第二橋式構架沿所說的保持在電路板保持器內的電路板第二面移動的第二橋驅動裝置；以及在每個所說的第一和第二橋式構架上各配配的一個探頭，能向著和背著保持在所說的電路板保持器內的電路板移動。
10.權利要求9的設備，其特征在于，所說的第三導軌構件垂直于所說的第一導軌構件鋪展。
11.權利要求10的設備，其特征在于，所說的各導軌構件包括一個花崗石結構部件和一個導軌部件；所說的第一和第二橋式構架每端各包括一個在相鄰的所說的導軌部件上支承；以及所說的在第一和第二導軌構件內的花崗石結構部件在各角上與所說的在第三和第四導軌構件內的花崗石結構部件固定。
12.權利要求11的設備，其特征在于，所說的在第一和第二導軌構件內的花崗石結構部件是借助于壓緊螺栓組合件與所說的在第三和第四導軌構件內的花崗石結構部件固定。
13.權利要求10的設備，其特征在于，所說的第一橋驅動裝置包括沿所說的第一和第二導軌構件延伸的第一直線電動機磁體導槽及從所說的第一橋式構架延伸并在所說的第一直線電動機磁體導槽內移動的第一直線電動機磁體線圈；以及所說的第二橋驅動裝置包括沿所說的第三和第四導軌構件延伸的第二直線電動機磁體導槽及從所說的第二橋式構架延伸并在所說的第二直線電動機磁體凹槽內移動的第二直線電動機磁體線圈。
14.權利要求13的設備，其特征在于，還包括一可在所說的第一和第二導軌構件間并沿第一、第二導軌構件運動的第三橋式構架；一可在所說的第三和第四導軌構件間并沿第三、第四導軌構件運動的第四橋式構架；使所說的第三橋式構架沿所說的保持在所說的電路板保持器內的電路板的第一面移動的第三橋驅動裝置，所說的第三橋驅動裝置包括從所說的第三橋式構架延伸并在所說的第一直線電動機磁體導槽內移動的第三直線電動機磁體線圈；使所說的第四橋式構架沿所說的保持在電路板保持器內的電路板的第二面移動的第四橋驅動裝置，所說的第四橋驅動裝置包括從所說的第四橋式構架延伸并在所說的第二直線電動機磁體導槽內移動的第四直線電動機磁體線圈；以及在每個所說的第三和第四橋式構架上各裝配的一個探頭，能向著和背著保持在所說的電路板保持裝置內的電路板移動。
15.權利要求14的設備，其特征在于，每個所說的橋式構架包括一個裝配于其上并在其上運行的承重臺；以及所說的探頭被裝配在一相鄰的所說的承重臺上。
16.權利要求10的設備，其特征在于所說的電路板保持器包括一個包括載體槽的支撐板，所說的支撐板延伸在所說的支撐板第一面上的第一和第二導軌構件和所說的支撐板第二面上的第三和第四導軌構件之間；一個包括電路板孔的電路板載體，所說的電路板載體裝配在所說的載體槽內，以便在可將所說的電路板裝入或取自在所說的開放框架之外的電路板孔內的第一位置和將所說的電路板保持在所說的開放框架內的第二位置之間滑動。
17.一種探測裝置沿在測的電路板兩面運動的設備，該設備包括使所說的電路板保持在測試位置的電路板保持裝置；一環繞在所說的測試位置的電路板的框架，所說的框架包括一與所說的電路板的第一面相鄰的第一孔和一與所說的電路板的第二面相鄰的第二孔，所說的框架還包括在所說的第一孔外側延伸的第一導軌和在所說的第二孔外側延伸的第二導軌；一延伸在所說的第一導軌之間、與所說的第一導軌嚙合并沿所說的第一導軌驅動的第一橋式構架；一延伸在所說的第二導軌之間，與所說的第二導軌嚙合并沿所說的第二導軌驅動的第二橋式構架；一沿所說的第一橋式構架在與所說的第一橋式構架的驅動方向垂直的方向驅動的第一承重臺；一沿所說的第二橋式構架在與所說的第二橋式構架的驅動方向垂直的方向驅動的第二承重臺；一裝配在所說的第一承重臺的第一測試探頭；以及一裝配在所說的第二承重臺的第二測試探頭。
18.權利要求17的設備，其特征在于，所說的第二導軌垂直于所說的第一導軌延伸。
19.權利要求18的設備，其特征在于還包括一在所說的第一導軌間延伸，與所說的第一導軌嚙合并沿所說的第一導軌驅動的第三橋式構架；一在所說的第二導軌間延伸，與所說的第二導軌嚙合并沿所說的第二導軌驅動的第四橋式構架；一沿所說的第三橋式構架在與所說的第一橋式構架驅動方向相垂直的方向驅動的第三承重臺；一沿所說的第四橋式構架在與所說的第二橋式構架驅動方向相垂直的方向驅動的第四承重臺；一裝配在所說的第三承重臺的第三測試探頭；以及一裝配在所說的第四承重臺的第四測試探頭。
20.權利要求19的設備，其特征在于還包括驅動每個所說的測試探頭進入與保持在所說的電路板保持裝置內的電路板的相鄰表面嚙合的探頭嚙合裝置；用于保持所說的電路板的第二面對著所說的電路板保持裝置內的凸邊的裝置；以及用于調整在所說的電路板第一面的第一和第三測試探頭間的偏移距離的宏觀驅動裝置。
全文摘要
一種兩面檢測高密度印刷電路板的系統包括一個環繞由電路板載體保持在測試位置的電路板延伸的開放框架。該框架包括兩個在測試位置的電路之上并在其兩端延伸的平行導軌構件。該框架還包括另外兩個在電路板之下并在其兩端延伸的延伸的平行導軌構件。下、下導軌構件相互垂直地延伸，并在框架的角上借助于壓緊螺栓組合件固定在一起。兩個橋式構架運動在上導軌構件間的第一方向內，而另兩個橋式構架運動在下導軌構件之間與第一方向垂直的方向內。
文檔編號G01R31/28GK1125323SQ9411353
公開日1996年6月26日 申請日期1994年12月30日 優先權日1994年1月3日
發明者小詹姆斯·愛德華·博耶特, 杰安·常·洛, 邁爾·瑟·維戴奧 申請人:國際商業機器公司