專利名稱：電流密度計的制作方法
技術領域：
一種電流密度計屬于電鍍工藝質量控制用的電流密度檢測儀器。
本實用新型電流密度計作出以前，與本技術較為接近的電流密度計主要由儀器盒及探頭所組成。其結構測量電流密度的方法是采用電磁感應方法，這種方法需將電流產生的磁感應強度再轉換成電訊號，因此測量工藝復雜，探頭內部結構也復雜，價格昂貴，耗電嚴重。
本實用新型的目的在于克服上述缺點，提供一種結構簡單、便攜、制造成本低、耗能小、并能精確顯示電流密度的電流密度計。
本實用新型的電流密度計主要解決方案是在探頭塑殼內裝有雙層磁蔽罩及聚磁環、聚磁環上開有氣隙、氣隙中裝有霍爾器件。
圖1是本實用新型電流密度計軸側圖圖2是本實用新型電流密度計探頭主視圖圖3是本實用新型電流密度計探頭AOB剖視圖圖4是本實用新型電流密度計線路結構圖下面本實用新型電流密度計將結合附圖中的實施例作進一步描述本實用新型主要由儀器盒1、探頭2二大部分所組成。儀器盒包括塑殼6、接頭7、線路板4、液晶顯示屏2。在塑殼6下端裝有接頭7，內部裝有線路板4，正面裝有液晶顯示屏2、調零旋鈕3和電源開關5。探頭10包括環形塑殼11、環形塑蓋16、塑料連接管9、雙層磁屏蔽罩13、聚磁環14、霍爾器件12。環形塑殼11上接有塑料連接管9，管內有連接電纜8，塑殼11內裝有雙層屏蔽罩13及聚磁環14，聚磁環14上開有氣隙15，氣隙15中裝有霍爾器件12，其四根導線接在電纜8上，環形塑蓋16裝在塑殼11上。如圖4所示霍爾器件HR輸入端電阻與電阻R1、R2、R3組成測溫電橋，運算放大器IC1為霍爾電勢VH主放大器，IC2為測溫電橋輸出電勢VK放大器，電位器W為補償程度調節，IC3為補償放大器，IC4為雙積分A／D轉換電路，由液晶顯示屏顯示電流密度平均值。由于本實用新型采用電磁轉換原理用霍爾器件間接測量電鍍槽中電流密度的方法，其工藝簡單，但可達到以下技術指標量程0.1－199.9A／dm2，精度±0.1A／dm2，分辨度0.1A／dm2，耗電量14MA電源內接9V電池組，工作溫度0°－40℃，探頭可在80℃水溫內操作。
本實用新型電流密度計與現有技術相比具有以下優點1、結構簡單，體積小；2、能有效地進行電鍍質量控制，從而提高了產品質量；3、節省了原材料，降低了成本，達到了節能的目的。
權利要求一種電流密度計由儀器盒、探頭所組成，其特征在于探頭塑殼內裝有磁屏蔽罩及聚磁環，聚磁環上開有氣隙、氣隙中裝有霍爾器件。
專利摘要一種電流密度計屬于電鍍工藝質量控制用的電流密度檢測儀器，它由儀器盒、探頭所組成，其特征在于探頭塑殼內裝有雙層磁屏罩及聚磁環、聚磁環上開有氣隙、氣隙中裝有霍爾器件。本實用新型結構簡單、體積小、成本低、能有效地進行電鍍質量控制，從而提高了產品質量，并達到了節能的目的。
文檔編號G01R19/08GK2064511SQ9020480
公開日1990年10月24日 申請日期1990年4月14日 優先權日1990年4月14日
發明者徐叔炎, 李國良, 季祥龍, 王建新 申請人:無錫市通訊器材廠