印刷電路板測試設備與方法

專利名稱:印刷電路板測試設備與方法
技術領域：
本發明涉及測試印刷電路板的設備與方法。
背景技術：
印刷電路板包括多個電路，隨著電子元件持續小化，這些電路在電路板上的密度一直增加。
已知的電路板測試裝置或設備基本上可分為兩類。屬于第一類的是具有適配器的裝置，在其中由適配器同時接觸全部電路板測試點。第二類包括所謂指形測試器，這些設備用兩支或更多支指形探針(finger probes)依序掃描各別的電路板測試點。
適配器型測試裝置例如由DE4237591A1、DE4406538A1、DE4323276A、EP215146B1及DE3838413A1揭示。
此類適配器基本上使受測電路板的許多電路板測試點的不規則構造與電氣測試裝置的給定的格柵圖形(grid pattern)相適應。在受測現代電路板的例子中，這些測試點不再被安排為規則的格柵圖形，這就是為什么產生接觸格柵圖形及電路板測試點間的連接的接觸釘被安排成傾斜的或在適配器里彎折的原因，或用所謂轉換器把規則的接觸格柵圖形轉換成電路板測試點的不規則結構。
依據所涉及的設備的型式，對各別的電路作電路中的開路測試或對其他電路的短路測試。短路測試可以涉及檢測低阻及高阻短路。
已知各種進行開路及短路的測試方法，對每一電路作短路測試或對一電路的每一分支作開路測試，從而有多個電路的現代電路板需要執行相應的大數量的各別測試程序。
已經有使各別測試最佳化并使其數量最小的種種企圖，為此目的已提議及實施了許多不同的方法。

發明內容
本發明的目的是提供構造簡單的電路板測試設備，用它可測試具有電路板測試點密度和/或電路板測試點間的間距極小的電路板。
可用測試包括多個電路板測試點的印刷電路板的測試設備達成此目的，它包括一電子分析器，該電子分析器包括多個測試連接部，每個電路板測試點藉由一電連接部而接觸該電子分析器的一測試連接部，其中，電連接部中至少兩個互相電連接，從而受測電路板的至少兩個電路板測試點連接至單個測試連接部；所述電子分析器的所述測試連接部電連接至一格柵圖形，一適配器和/或轉換器設在該格柵圖形上，將受測的電路板放在所述適配器和/或轉換器上，所述適配器和/或轉換器產生從在所述電路板上的所述電路板測試點到所述格柵圖形的觸點的電接觸，并且所述格柵圖形的至少兩個觸點彼此電連接；所述格柵圖形被做在一格柵座的表面上，所述格柵圖形的至少兩個觸點在所述格柵座中彼此電連接；所述格柵座被做成多層電路板；饋通接觸從所述觸點垂直向下延伸穿過所述格柵座的各層，所述饋通接觸和觸點被安排成規則的格柵圖形；所述饋通接觸和所述觸點被安排成數行，并且掃描通道被設在所述饋通接觸的所述數行之間，每個所述饋通接觸電連至單個掃描通道；一行觸點中每個第x個觸點與同一掃描通道電連接，其中x是整數。
依據本發明，把電子分析器的每個測試連接部連到數個電路板測試點和/或連到測試設備的一格柵圖形的數個觸點，結果，較之于作比較的測試設備，可觀地減少電子分析器的單元的數量，且顯著地簡化測試設備的總體結構。
此外，本發明的目的是提供一種測試電路板的方法，本發明的方法比可比較的已知方法更簡單且快速，此方法藉由上述的測試設備實施，所述測試設備包括一個適配器，所述方法包括藉助于至少一個相鄰性標準，判斷受測的未組裝電路板的兩個電路是否實際上不能形成短路；如果滿足至少一個相鄰性標準，則不必在此所述兩個電路間進行短路測試。
本發明的方法允許可觀地減少各別的測試程序的數量。這些方法可與本發明的設備合用而獲得的特別的優點。



圖1是基部格柵圖形簡化的俯視圖；圖2是通過兩條掃描通道間部分的格柵座的剖面圖；圖3是導體路徑圖形的俯視圖，以說明相鄰性(adjacency)標準；圖4是包括連接屏蔽(mask)的適配器的剖面圖；
圖5是通過兩級適配器的剖面圖；圖6是另一格柵圖形的簡化的俯視圖；圖7是轉換器的導體路徑的簡化的俯視圖；圖8是通過另一測試設備的部分的剖面圖。
具體實施方式
測試設備包括一電子分析器，它電連接至一格柵圖形。適配器設在格柵圖形上。將受測電路板放在適配器上，后者在電路板上的測試點與格柵圖形的觸點或接觸區(pad field)之間產生電連接。可把轉換器板插入適配器，可用轉換器板把電連接從一觸點轉換至與前者分開的電路板測試點。
本發明的設備包括格柵圖形陣列1，它具有設在格柵座3上的多個觸點2，格柵圖形陣列1的至少兩個觸點2在格柵座3內電連接。
格柵座3最好做成多層電路板。如圖2所示的實施例包括上及下界定層4及5及十三個中間層6。
垂直饋通接觸垂直向上穿過最上層4及全部中間層6。通常把饋通接觸7做成一個孔而在孔壁上有導電的金屬化的鍍層。舉例而言，把饋通接觸安排成規則的方形格柵圖形，在兩個饋通7間的間距a例如是500微米。在陶瓷格柵座3的情形中，中心間距a可降至100微米。其他型式的規則的格柵圖形是可能的，例如，長方形或六邊形格柵圖形或把相鄰行的饋通接觸元件7安排成交錯的。因此，把饋通接觸7及相應的觸點2安排成若干行(R1、R2、…)及若干列(S1、S2、…)(圖1)。在兩行饋通接觸7間，導體路徑(以下稱為掃描通道)被埋在格柵座3里。在圖1所示的實施例中，在兩行饋通接觸7之間有十二條掃描通道10，在圖2所示的實施例中有二十四條掃描通道，它們成對地被安排在兩中間層6間的中間涂層(intercoating)里。靠近一行饋通接觸7的十二對掃描通道10被派給此行，亦即把某行的每個饋通接觸7，因而每個觸點2，經分支線11電連接至指派給此行的若干掃描通道10之一。
在圖2中，用K1至K36表示三十六條掃描通道，由此在圖1中，與前三行觸點2電連接的掃描通道的號碼被標示在前三行觸點2里。在根據1所示的實施例，在一行中每隔十二個觸點2電連接至相同的掃描通道10。換言之，一行每隔十二個觸點2經掃描通道10而電連接。這樣，在每種情形中，由單個掃描通道10提供對多個觸點2的掃描，結果，顯著簡化在格柵座3里的導體路徑結構，從而可比傳統的格柵座更緊密地安排饋通接觸7，因此，可顯著增加觸點2的格柵圖形密度。
把掃描通道10在格柵座3的邊緣連到電連接部，例如可與掃描或電子分析器電路連接的連接器。盡管在格柵圖形陣列1上有許多觸點2，但電子分析器的測試連接部的數量相當低，因為對于每條掃描通道10僅需提供一個測試連接部。在已知的測試設備中，對于每一觸點2提供至電子分析器的分開的測試連接。較之于傳統的測試設備，分析器的電子電路，由觸點在掃描通道處被歸并在一起的程序及測試連接的減少而可觀地減少。
取代連接器，任何適當的可拆卸的及不可拆卸的電連接可在格柵座3及電子分析器間的界面間提供。舉例而言，可把測試連接部焊接至掃描通道10。在電子分析器與格柵座3一體化或被固定在格柵座3的底面時，此一不可拆卸的電連接，尤其適合。
此外，本發明的設備的機械結構非常簡單，因為把電連接安排在格柵座3的側面上，從而可把電子電路安排得實際上脫離格柵座3。因此，可把壓力元件9(例如壓力板)正好安排在格柵座3下，壓力元件把格柵座3及適配器和/或轉換器壓在受測電路板上。
因為觸點的電連接，把受測電路板各別的電路電連接，從而傳統的開路或短路測試對所謂并行測試器(＝測試設備及適配器)是不可能的。
為在電路間避免不要的電連接，一種可能方式是應用在指形測試基指形測試器里已知的相鄰性程序，它確定在受測電路板的哪些電路之間實際上無任何電連接發生在受測電路板里，從而滿足該相鄰性標準的兩個此類電路的電連接不會對藉由格柵圖形的觸點所進行的測試產生負面影響。
圖3簡單示意地呈現五條導體路徑42a至42e。這些導體路徑中的每一條彼此平行，且每條導體路徑在其端點處有接觸環43。在圖3中，只有安排在左邊的導體路徑段42a被連到另一導體路徑44，導體路徑44向下且平行于其余導體路徑42b至42e段的接觸環43所排成的行。導體中徑段44在它的一端包括一接觸區(contact pad)45。
用以下的相鄰性標準，可判斷兩條特定的導體路徑間有無發生電連接。
1.若還有一條導體路徑存在于兩條特定的導體路徑之間，則短路不可能直接發生在該兩條特定的導體路徑之間。導體路徑段42c在導體路徑段42b及42d之間通過，導體路徑段42d在導體路徑段42c及42e之間通過，從而若直接相鄰的導體路徑段之間不發生短路，則在導體路徑段42b及42d之間或導體段42c及42e之間不可能發生短路。因此，僅測試直接相鄰的導體路徑，即足以測試出短路。不直接相鄰的導體路徑因此滿足相鄰性標準且可彼此電連接以進行短路測試，如圖3里的虛線46所示。
2.若兩條導體路徑的間距沒有一處小于預定的相鄰性間距，則大體上可排除在兩條導體路徑間的短路。構成導體路徑段42a及44的導體路徑序列(train)離各別導體路徑有不同距離A1至A3。將這些距離A1至A3與相鄰性間距作比較，當與各別的導體路徑42b至42e的距離A1至A3大于相鄰性間距時，對應的導體路徑滿足相鄰性標準。相鄰性間距大體上依賴用以制造電路板的方法，且通常在0.5毫米至5毫米的范圍里，最好在1毫米至3毫米的范圍里。
3.若導體路徑被安排在電路板中的其他層里，則它們不能形成短路，且滿足另一相鄰性標準。
在判斷短路可否在兩條導體路徑之間發生時，可采用上述相鄰性標準之一或多項，把它們邏輯地連到一“或”門，從而滿足一條標準即足以排除在導體路徑間的短路。若在制造電路板時采用特殊方法(舉例而言，當把擋板(stopper)鋪在電路板的某些部分之間，從而無短路可發生在這些部分的導體路徑之間)，則可用這些特定標準補充上述相鄰性標準。
滿足相鄰性標準的導體路徑或電路對可經由掃描通道10而電連接。
這些“所要的”短路或電連接不僅無害于測試，甚至可加速并簡化測試，因為在每個情形中可在單個測試中同時測試兩個或多個電路。
可把連接屏蔽50插在格柵座及適配器之間而人工地產生此類所要的電連接(圖4)。圖4示意地呈現一個適配器32，它有頂、底界定層51、52，以預定圖形在它們里面鉆出孔，釘形或針形測試探針54穿過這些孔，這些探針54把格柵圖形陣列1的觸點2連接至受測電路板的測試點。
本發明不限于上述適配器3。本發明可應用到彎曲型(kink-type)測試探針適配器或一個用彎釘測試探針或導電橡膠按鈕取代釘形探針54的適配器。
連接屏蔽50被安排在格柵圖形陣列1上并包括多個孔55，適配器32的探針孔54穿過這些孔55而接觸格柵圖形1的觸點2。把導體路徑57設在連接屏蔽50的面向適配器32的一面上，每條導體路徑至少與不接觸格柵圖形陣列1的觸點2的適配器32的兩支探針54電連接。藉由這些導體路徑57及適配器32的相應的探針54，在受測電路板的各別的電路之間產生電連接，結果，一次可對相連的若干電路如同單個電路那樣進行短路測試，因此，加速了測試。圖4呈現在連接屏蔽50的表面上的導體路徑57。在本發明的范圍內，這些導體路徑57也可被做在連接屏蔽50里，它們在該表面上僅被引至小的導體路徑觸點且在必要時直接連到在底面的觸點2。與連接功能結合或無連接功能，此一屏蔽可提供極密的導體路徑觸點的格柵圖形，其中一些分布在連接屏蔽50的表面上的導體路徑觸點藉由一條導體路徑57，或藉由一支探針54、一電路及另一支探針54，連接至該格柵圖形的單個觸點2。導體路徑觸點最好做得比觸點2小很多，并且，舉例而言，為具有100微米至800微米邊長的方形。藉助于此適配器屏蔽，只要通過架設有較緊且較密的導體路徑觸點陣列的屏蔽，就能提高格柵圖形的觸點2的密度。
理想上，藉由在受測電路板的各別電路間的連接屏蔽50的電連接，電路可被電連接至總共只有兩個電路陣列，從而藉由只在兩個陣列間的單個測試，即可達成對在電路板上的短路測試。
可用此連接板50進行開路測試，藉此，受測電路板的各別電路的末端通過連接板50串聯，從而產生長導體序列，可在單個測試中對該長導體序列進行開路測試。
此連接板可與上述測試設備(其中，數個觸點藉由一條掃描通道10而彼此連接)一起使用以獲得很大的好處。在此安排中，連接板50使該電路板的數個互連的電路連接至單個觸點2。
在圖4中，連接屏蔽50是頗厚的，且與格柵圖形陣列1隔開，從而停在適配器32的上層51上的導體路徑57上的探針54比其余插入孔55的探針54伸出得更顯著。這些連接屏蔽50是50微米厚，從而連接屏蔽50所造成的探針的高度差是在一般的公差內。然而，還可用較厚且較強的連接屏蔽，于是需縮小停在導體路徑57上的探針54b的長度以補償尺寸。
圖5所示是類似的適配器32及連接板50。此適配器的基本結構與圖4所示者相同，唯一差異是探針的長度，亦即插入連接板50的孔55的探針54a的長度大于停在連接板50的導體路徑57上的探針54b的長度。
以此適配器32，在第一種測試中，僅使較長的探針54a接觸電路板測試點而可對受測電路板的電路進行短路測試，且在第二種測試中，把受測電路板更用力壓向適配器，而使較短的探針54b接觸電路板測試點。
在第一種測試中(其時僅較長的探針54a接觸電路板測試點)，進行短路測試。在此安排中，每個電路接觸一探針54b。
在第二種測試中(其時較長的探針54a及較短的探針54b都接觸電路板測試點)，進行開路測試，藉此，因為與較短的探針54b接觸，各別子電路(sub-circuit)串聯。
理想上，不應用相鄰性標準時，僅需一條掃描通道10供受測電路板的每個電路使用，因為在短路測試中，每個電路須接觸一次，而開路測試中，各別的電路或它們的部分僅需彼此連接。應用相鄰性標準時，基本上可以進一步減少所需的掃描通道的數量。
如在指形測器中已知，可用電容測試來檢測開路和/或短路。在此安排中，用單個測試可同時掃描數個電路。
計及相鄰性標準亦可進行電容測試，結果，提高測試的準確度。
可單獨使用或合用上述避免不要的電連接的可能性。
圖6呈現本發明的格柵圖形陣列的另一實施例。此格柵圖形陣列被分為20個水平行(R1-R20)及24個垂直列(S1-S24)。在實際應用中，行及列的數量要大許多。每相鄰四行(R1-R4；R5-R8；R9-R12；等等)形成一區段(SE1、SE2、SE3、等等)。在這些區段中，每一行每隔四個觸點被連至一條掃描通道。在這些區段中，各別行的觸點2被連到相同掃描通道，連接一條掃描通道的相鄰兩行觸點最好在格座上沿對角線安排。在圖5所示的實施例中，每一區段設有四條掃描通道。在第一區段中，觸點1連接至第一條掃描通道，觸點2連接至第二條掃描通道，觸點3連接至第三條掃描通道，觸點4連接至第四條掃描通道。掃描通道包括至數行觸點的電連接，連接至一條掃描通道的相鄰行或列的觸點2最好交錯安排。由于掃描通道連接至數行的觸點，因此掃描通道的數量進一步被減少。
在格柵座3里的各別層6間的掃描通道10可沿不同的方向安排(俯視之)，更特別地說，把它們安排得彼此垂直，結果，可獲得區域選擇性。
依據本發明，藉由在受測電路板的電路板測試點及電子分析器的測試連接部間的電連接或短路，以獲得高電路板測試點密度的原理，亦可由在轉換器板30里的電連接而獲得(圖7)。為此目的，把轉換器板30安排在兩個適配器之間，一個是安排在格柵圖形及轉換器板30之間的全格柵匣(full grid cartridge)或全格柵適配器(full grid adapter)，另一個是安排在轉換器板30及受測電路板之間的插腳轉換器適配器32。在轉換器板30中，插腳轉換器適配器的數支插腳藉由一條導體路徑40而彼此電連接，每條導體路徑40僅接觸全格柵適配器的單個探針或格柵圖形陣列的單個觸點2。這些導體路徑10因此使兩個或更多個上接觸區41o連接至單個下接觸區41u。此“通過轉換器板所做的電連接”使插腳轉換器的插腳的數量大于全格柵適配器的探針的數量或大于格柵圖形陣列的觸點2的數量。此實施例可用現有的測試設備以高度成本效益獲得，并提升有效電路板測試點密度。上述避免不要的電連接的方法亦可同樣應用。
以下將參考圖8描述用于測試電路板101的本發明的另一設備。此測試設備包括一個安排在受測電路板101及全格柵匣103之間的適配器32。全格柵匣103被放在測試設備的格柵座3上，格柵座3通常可包括規則排列的觸點或接觸區2。接觸區2最好以矩形的金薄片做成，每一接觸區2經由一條導體路徑106連接至電子分析器的測試連接部。也可把導體路徑106做成掃描通道。
適配器32包括例如三塊水平排列的導板107，在導板里鉆出饋通孔108。探針54幾近垂直地穿過饋通孔108。探針54用作測試接觸。可把這些測試接觸做成彈簧接觸或導電橡按鈕等。例如，EP0369112B1揭示可用作測試接觸的導電橡膠按鈕。
數片垂直側壁110設在適配器32上，它們使導板107維持預定間距，且在側則轉閉由導板107所界定的空間。
探針54是簡單的剛性探針，它們從在最上方的導板107伸出，在每種情形中，用其外端111接觸在電路板101上的一個電路板測試點。
探針54的每個下端112位于最下方的導板107的鉆孔108中。適配器32在最下方的導板107之下包括一基座113，在基座113里有垂直饋通接觸114。饋通接觸114與最下方的導板107的鉆孔108對齊，圓柱形軸套115可移動地放在每個饋通接觸114之中，并被固定在鉆孔114里以防止掉落。
全格柵匣103有數層，在每層中有孔116，把全格柵插腳117放在每個孔116中。每支全格柵插腳由上、下插腳段118及119組成，這些插腳段藉由螺旋彈簧120而彼此彈性地且電氣地連接。彈簧120的直徑大于插腳段118及119的直徑，且鉆孔116被做成階梯形，從而把全格柵插腳117保持在全格柵匣中。上插腳段118的自由段被做成尖端121，而下插腳段119的自由端包括圓頭的接觸墊122。
全格柵插腳117藉由圓頭的接觸墊122而接觸觸點2，因此迫使全格柵插腳117向上抵住軸套115，并以向上的壓力使探針54彈性地抵住電路板101的測試點。觸點2被安排成規則圖形并因此形成格柵圖形陣列。相對于該格柵圖形陣列的規則格柵圖形，探針54被彎折，所以，探針54把格柵圖形陣列的規則格柵圖形轉換成電路板測試點的不規則構造。
本發明與傳統的測試設備的一個顯著的差異是把兩支或更多支全格柵插腳117或探針54派給觸點2。通常此指派可變化，亦即一些觸點2不接觸或僅接觸一支探針54，且一些觸點接觸兩支或更多支探針54。觸點2與探針54的特別的接觸安排依賴于受測電路板的型式。
由于觸點2可被探針54多重接觸，因此，可增加有用的測試點的數量。
上述多種避免不要的電連接的方法可同時使用。
權利要求
1.一種用于測試印刷電路板的開路和短路的測試設備，該電路板包括多個電路板測試點，所述測試設備包括一電子分析器，所述電子分析器包括多個測試連接部，每個所述電路板測試點經由一電連接部接觸所述電子分析器的一測試連接部，其特征在于，至少兩個所述電連接部彼此電連接，使得所述受測電路板的至少兩個電路板測試點與單個測試連接部連接；所述電子分析器的所述測試連接部電連接至一格柵圖形，一適配器和/或轉換器設在該格柵圖形上，將受測的電路板放在所述適配器和/或轉換器上，所述適配器和/或轉換器產生從在所述電路板上的所述電路板測試點到所述格柵圖形的觸點的電接觸，并且所述格柵圖形的至少兩個觸點彼此電連接，所述格柵圖形被做在一格柵座的表面上，所述格柵圖形的至少兩個觸點在所述格柵座中彼此電連接，所述格柵座被做成多層電路板，饋通接觸從所述觸點垂直向下延伸穿過所述格柵座的各層，所述饋通接觸和觸點被安排成規則的格柵圖形，所述饋通接觸和所述觸點被安排成數行，并且掃描通道被設在所述饋通接觸的所述數行之間，每個所述饋通接觸電連至單個掃描通道，一行觸點中每隔x個觸點電連至同一掃描通道，其中x是整數。
2.如權利要求
1所述的測試設備，其特征在于，所述測試設備包括一由若干觸點所組成的格柵圖形，從至少一觸點發出兩個測試接觸，每個所述測試接觸可接觸所述電路板的一個所述電路板測試點。
3.如權利要求
2所述的測試設備，其特征在于，把一適配器安排在一全格柵匣上，把所述全格柵匣設在所述測試設備的格柵圖形上，所述測試設備包括規則排列的用作為觸點的接觸區，每個接觸區經由一條導體路徑連接至所述電子分析器。
4.如權利要求
1所述的測試設備，其特征在于，所述測試接觸是探針，更特別說是剛性探針。
5.如權利要求
1所述的測試設備，其特征在于，所述受測電路板的許多電路的多個電路板測試點只有滿足一個相鄰性標準時，它們才電連接。
6.如權利要求
5所述的測試設備，其特征在于，所述受測電路板的兩個特定的電路，在另一電路被安排在所述兩電路之間時，滿足一個相鄰性標準。
7.如權利要求
5所述的測試設備，其特征在于，所述受測電路板的兩個特定的電路，當在所述兩電路間的間距不小于一個預定的相鄰性間距時，滿足一個相鄰性標準。
8.如權利要求
6所述的測試設備，其特征在于，所述受測電路板的兩個特定的電路，當在所述兩個電路間的間距不小于一個預定的相鄰性間距時，滿足一個相鄰性標準。
9.如權利要求
5所述的測試設備，其特征在于，所述受測電路板的兩個特定的電路，在所述兩個電路被安排在受測電路板的不同層時，滿足一個相鄰性標準。
10.如權利要求
8所述的測試設備，其特征在于，所述受測電路板的兩個特定的電路，在所述兩個電路被安排在受測電路板的不同層時，滿足一個相鄰性標準。
11.如權利要求
1所述的測試設備，其特征在于，所述該觸點有100微米到1毫米的中心間距，最好是300微米到800微米。
12.如權利要求
1所述的測試設備，其特征在于，每行所述觸點每隔x個觸點連至相同的所述掃描通道，其中x是一個在3及100間的整數，且最好在10及30之間。
13.如權利要求
12所述的測試設備，其特征在于，把一電的界面安排在所述格柵座的側面以接觸所述電子分析器。
14.如權利要求
13所述的測試設備，其特征在于，把所述電的界面做成連接器。
15.如權利要求
1所述的測試設備，其特征在于，所述適配器包括探針，每支所述探針的每一端形成觸點，至少一支所述探針對一條垂直于所述格柵圖形的直線而言是斜的。
16.如權利要求
12所述的測試設備，其特征在于，所述適配器包括探針，每支所述探針的每一端形成觸點，至少一支所述探針對一條垂直于所述格柵圖的直線而言是斜的。
17.如權利要求
1所述的測試設備，其特征在于，所述轉換器板包括導體路徑，使電路板測試點電連至所述觸點，如此構造所述導體路徑，從而使所述受測電路板的電路無一多重連接至一條所述掃描通道。
18.如權利要求
12所述的測試設備，其特征在于，所述轉換器板包括導體路徑，使所述電路板測試點電連至所述觸點，如此構造所述導體路徑，從而使所述受測電路板的電路無一多重連接至一條所述掃描通道。
19.如權利要求
1所述的測試設備，其特征在于，所述轉換器板包括導體路徑，使所述電路板測試點電連至所述觸點，如此構造所述導體路徑，從而使所述掃描通道無一多重連接至所述電路板測試點。
20.如權利要求
12所述的測試設備，其特征在于，所述轉換器板包括導體路徑，使所述電路板測試點電連至所述觸點，如此構造所述導體路徑，從而使所述掃描通道無一多重連接至所述電路板測試點。
21.如權利要求
1所述的測試設備，其特征在于，在所述測試連接部及所述電路板測試點之間電連接所述電連接部，提供一連接屏蔽，把所述連接屏蔽設在所述適配器和所述格柵圖形之間，所述連接屏蔽包括導體路徑，電連至所述兩個連接元件，例如所述適配器的探針和/或使至少兩個連接元件連接至所述格柵圖形的一個觸點。
22.如權利要求
20所述的測試設備，其特征在于，在所述測試連接部及所述電路板測試點之間電連接所述電連接部，提供一連接屏蔽，把所述連接屏蔽設在所述適配器和所述格柵圖形之間，所述連接屏蔽包括導體路徑，電連至所述兩個連接元件，例如所述適配器的探針和/或使至少兩個連接元件連接至所述格柵圖形的一個觸點。
23.如權利要求
21所述的測試設備，其特征在于，所述連接屏蔽包括若干孔，所述適配器的所述探針的一部分穿過所述孔以接觸所述格柵圖的所述觸點。
24.如權利要求
22所述的測試設備，其特征在于，所述連接屏蔽包括若干孔，所述適配器的所述探針的一部分穿過所述孔以接觸所述格柵圖的所述觸點。
25.如權利要求
21所述的測試設備，其特征在于，停在所述連接屏蔽上的探針比穿過所述孔的探針短，在第一測試程序中，僅較長的所述探針接觸所述電路板測試點，而在第二測試程序中，全部所述探針接觸所述電路板測試點，因為例如更用力壓所受測電路板。
26.如權利要求
24所述的測試設備，其特征在于，停在該連接屏蔽上的探針比穿過該等孔的探針短，在第一測試程序中，僅較長的探測器接觸該等電路板測板點，且在第二測試程序中，全部探針接觸所述電路板測試點，因為更用力壓受測電路板。
27.如權利要求
1所述的測試設備，其特征在于，提供一片轉換器板，在其表面上包括許多接觸區，每個所述接觸區被派給一個電路板測試點，且在相對面上包括許多接觸區，每個所述接觸區被派給一個測試連接部，派給所述電路板檢測點的兩個所述接觸區一起連接一個派給所述測試連接部的接觸區。
28.如權利要求
26所述的測試設備，其特征在于，提供一片轉換器板，在其表面上包括許多接觸區，每個所述接觸區被派給一個電路板測試點，且在相對面上包括許多接觸區，每個所述接觸區被派給一個測試連接部，派給所述電路板檢測點的兩個所述接觸區一起連接一個派給所述測試連接部的接觸區。
29.一種電路板檢測方法，此方法藉由如權利要求
1所述的測試設備實施，所述測試設備包括一個適配器，其特征在于，所述方法包括藉助于至少一個相鄰性標準，判斷受測的未組裝電路板的兩個電路是否實際上不能形成短路；如果滿足至少一個相鄰性標準，則不必在此所述兩個電路間進行短路測試。
30.如權利要求
29所述的電路板測試方法，其特征在于，至少兩個滿足一個相鄰性標準的電路彼此電連接，且相對于互相連接的另一電路陣列的至少另一個電路一起接受短路測試。
31.如權利要求
29或30所述電路板測試方法，其特征在于，至少兩個電路彼此串聯，且一起接受開路和/或短路測試，電流僅被送到一串聯連接的端部，以判斷所述串聯的電路是否有開路。
32.如權利要求
29所述的方法，其特征在于，為電連接所述兩個電路，使用一連接屏蔽，把它安排在一個所述適配器和一個格柵圖形之間，所述連接屏蔽包括導體路徑，它們電連至至少兩個連接元件，例如所述適配器的探針。
33.如權利要求
30所述的方法，其特征在于，為電連接所述兩個電路，使用一連接屏蔽，把它安排在一個所述適配器和一個格柵圖形之間，所述連接屏蔽包括導體路徑，它們電連至至少兩個連接元件，例如所述適配器的探針。
34.如權利要求
31所述的方法，其特征在于，為電連接所述兩個電路，使用一連接屏蔽，把它安排在一個所述適配器和一個格柵圖形之間，所述連接屏蔽包括導體路徑，它們電連至至少兩個連接元件，例如所述適配器的探針。
專利摘要
本發明涉及一種電路板測試設備，它包括多個電路板測試點。該測試設備有一個電子分析器，它包括多個測試連接部，受測電路板的每個電路板測試點藉由一電連接部接觸一測試連接部。電連接部中至少兩個互相電連接，從而受測電路板的至少兩個電路板測試點連接單個測試連接部。
文檔編號G01R31/28GKCN1209632SQ97122406
公開日2005年7月6日 申請日期1997年10月28日
發明者曼弗雷德·普羅科普 申請人:Atg測試體系兩合公司導出引文BiBTeX, EndNote, RefMan