一種珠體寬度缺陷檢測方法及裝置與流程

本發明涉及視覺圖像檢測技術領域，尤其涉及一種寬度缺陷檢測方法及裝置。

背景技術：

珠體具有一致的寬度和不規則的延展路徑，例如電線或纜繩等均屬于珠體。珠體各個位置處的寬度一致，但是延展路徑不規則；其中，珠體的延展路徑可能為基本趨勢為直線的路徑，例如曲線；當珠體的延展路徑的彎曲度較大時，其基本趨勢可以是折線等；而且，珠體的延展路徑還可以為基本趨勢為圓形的路徑，例如閉合曲線或者圓弧等。

珠體寬度是衡量珠體質量的重要技術特征，而珠體寬度缺陷檢測主要是檢測珠體寬度的一致性，即檢測珠體寬度是否滿足一定范圍，是否存在寬度過小或過大的情況。如果珠體存在寬度缺陷，該寬度缺陷容易造成使用安全隱患，例如電線存在寬度過窄的缺陷，流通的工作電流很容易在缺陷位置處熔斷電線，造成工作事故；而且在正常工作一段時間后，珠體也會產生寬度缺陷，如不及時更換會產生工作異常。因此，寬度缺陷檢測是保證珠體正常工作的關鍵。

然而，由于珠體延展路徑不規則，很難對珠體寬度缺陷進行精確檢測，由此如何對珠體寬度缺陷進行精確檢測是本領域技術人員亟需解決的技術問題。

技術實現要素：

本發明實施例中提供了一種珠體寬度缺陷檢測方法及裝置，以解決現有技術中的珠

體寬度缺陷檢測精度低的問題。

為了解決上述技術問題，本發明實施例發明了如下技術方案：

本發明實施例提供一種珠體寬度缺陷檢測方法，該方法包括：

將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域；

在每個第一采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的路徑邊緣對；

連接相鄰路徑邊緣對的中點，形成路徑折線；

沿所述路徑折線，將所述待檢測珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域；

在每個第二采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的寬度邊緣對；

當寬度邊緣對中邊緣點之間的距離超出寬度閾值范圍時，記錄珠體寬度缺陷。

可選地，所述將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域，包括：

根據珠體延展路徑的基本趨勢，將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域。

可選地，將所述珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域之前，還包括：

沿當前路徑折線，將待檢測珠體圖像劃分為多個優化采樣投影區域；

在每個優化采樣投影區域中，篩選出相應邊緣點組成的優化路徑邊緣對；

連接相鄰優化路徑邊緣對的中點，形成新的路徑折線。

可選地，所述將珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域，包括：

根據第一采樣投影區域間距，將珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域；

所述將珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域，包括：

根據第二采樣投影區域間距，將珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域，其中，所述第二采樣投影區域間距小于所述第一采樣投影區域間距。

可選地，所述將珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域，包括：

根據待檢測珠體的彎曲度，設置多個第一采樣投影區域間距；

根據第一采樣投影區域間距，將珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域；

所述將珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域，包括：

根據待檢測珠體的彎曲度，設置多個第二采樣投影區域間距；

根據第二采樣投影區域寬度，將珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域，其中，所述第二采樣投影區域間距小于所述第一采樣投影區域間距。

可選地，沿所述路徑折線，將所述珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域，包括：

沿所述路徑折線中的每條折線段，將所述珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域，所述第二采樣投影區域的中軸線垂直于相應的折線段。

本發明實施例還提供一種珠體寬度缺陷檢測裝置，該裝置包括：

第一采樣投影區域劃分模塊，用于將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域；

路徑邊緣對確定模塊，用于在每個第一采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的路徑邊緣對；

路徑折線生成模塊，用于連接相鄰路徑邊緣對的中點，形成路徑折線；

第二采樣投影區域劃分模塊，用于沿所述路徑折線，將所述待檢測珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域；

寬度邊緣對確定模塊，用于在每個第二采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的寬度邊緣對；

寬度缺陷記錄模塊，用于當寬度邊緣對中邊緣點之間的距離超出寬度閾值范圍時，記錄珠體寬度缺陷。

可選地，所述第一采樣投影區域劃分模塊，用于根據待檢測珠體延展路徑的基本趨勢，將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域。

可選地，該裝置還包括：

優化采樣投影區域劃分模塊，用于沿當前路徑折線，將待檢測珠體圖像劃分為多個優化采樣投影區域；

優化路徑邊緣對確定模塊，用于在每個優化采樣投影區域中，篩選出相應邊緣點組成的優化路徑邊緣對；

路徑折線更新模塊，用于連接相鄰優化路徑邊緣對的中點，形成新的路徑折線。

可選地，所述第一采樣投影區域劃分模塊，還用于根據第一采樣投影區域間距，將珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域；

所述第二采樣投影區域劃分模塊，還用于根據第二采樣投影區域間距，將珠體圖像劃分為多個第二采樣投影取區域，其中，所述第二采樣投影區域間距小于所述第一采樣投影區域間距。

可選地，所述第一采樣投影區域劃分模塊，還用于根據待檢測珠體的彎曲度，設置多個的第一采樣投影區域間距；根據第一采樣投影區域間距，將珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域；

所述第二采樣投影區域劃分模塊，還用于根據珠體圖像的彎曲度，設置多個第二采樣投影區域間距；根據第二采樣投影區域寬度，將珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域，其中，所述第二采樣投影區域間距小于所述第一采樣投影區域間距。

可選地，第二采樣投影區域劃分模塊，還用于沿所述路徑折線中的每條折線段，將所述珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域，所述第二采樣投影區域的中軸線垂直于相應的折線段。

本發明的實施例提供的技術方案可以包括以下有益效果：本發明的實施例提供的一種珠體寬度缺陷檢測方法及裝置，通過將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域；在每個第一采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的路徑邊緣對；連接相鄰路徑邊緣對的中點，形成路徑折線；沿所述路徑折線，將所述待檢測珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域；在每個第二采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的寬度邊緣對；當寬度邊緣對中邊緣點之間的距離超出寬度閾值范圍時，記錄珠體寬度缺陷。在所述珠體寬度缺陷檢測過程中，通過采樣投影技術精確定位珠體路徑邊緣位置，用路徑折線粗略估計珠體的延展路徑；在所述路徑折線基礎上，進行精細定位，獲得珠體寬度邊緣對，所述珠體寬度邊緣對能夠精確吻合待檢測珠體的寬度方向，從而保證獲得準確的珠體寬度，具有很高精度。

應當理解的是，以上的一般描述和后文的細節描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本發明。

附圖說明

此處的附圖被并入說明書中并構成本說明書的一部分，示出了符合本發明的實施例，并與說明書一起用于解釋本發明的原理。

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有

技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，對于本領域普通技術人

員而言，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明實施例提供的珠體示意圖；

圖2為本發明實施例提供的一種珠體寬度缺陷檢測方法的流程示意圖；

圖3為本發明實施例提供的一種直線珠體采樣投影區域劃分示意圖；

圖4為本發明實施例提供的一種折線珠體采樣投影區域劃分示意圖；

圖5為本發明實例提供的一種圓形珠體采樣投影區域劃分示意圖；

圖6為本發明實施例提供的一種圓形珠體的路徑折線示意圖；

圖7為本發明實施例提供的一種圓形珠體第二采樣投影區域劃分的示意圖；

圖8為本發明實施例提供的另一種珠體寬度缺陷檢測方法的流程示意圖；

圖9為本發明實施例提供的珠體寬度缺陷檢測裝置的結構示意圖；

圖10為本發明實例提供的另一種珠體寬度缺陷檢測裝置的結構示意圖。

具體實施方式

為了使本技術領域的人員更好地理解本發明中的技術方案，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都應當屬于本發明保護的范圍。

參見圖1，為本發明實施例提供的珠體示意圖，如圖1所示，珠體通常具有固定的寬度，但是珠體的延展路徑通常是不規則的；珠體的形狀可以理解為珠子在平面上滾動后留下的路徑形狀。例如電線或線纜均屬于珠體，電線或線纜的寬度一致，但在使用過程中延展路徑可能是彎曲、不規則的。由于珠體的形狀的不規則，因此對珠體的寬度缺陷檢測難度很高。

雖然珠體具有不規則的形狀，但具有一定的基本趨勢，即珠體的延展路徑具有基本趨勢。在圖1中，珠體110的延展路徑彎曲度比較低，與直線的形狀近似，珠體110的基本趨勢為直線；珠體111的延展路徑彎曲度與圓形形狀近似，珠體111的基本趨勢為圓形；珠體112的延展路徑彎曲度變化比較大，與折線形狀近似，珠體112的基本趨勢為折線。

為了檢測珠體寬度的一致性，以判斷珠體是否出現寬度缺陷，參見圖2，為本發明實施例提供的一種珠體寬度缺陷檢測方法的流程示意圖，該方法包括：

步驟S101：將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域。

在珠體寬度缺陷檢測的過程中，攝像設備獲取待檢測珠體的圖像，通過采樣投影技術，將待檢測珠體寬度圖像劃分為多個第一采樣投影區域。其中，所述第一采樣投影區域可以為仿射矩形或仿射圓弧環等。

為了更準確的表征珠體的延展路徑，根據珠體延展路徑的基本趨勢，將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域。

參見圖3，為本發明實施例提供的一種直線珠體采樣投影區域劃分示意圖。如圖3所示，在待檢測珠體圖像中，待檢測珠體110的基本趨勢為直線；將待檢測珠體110劃分為多個第一采樣投影區域210，所述采樣投影區域210沿待檢測珠體110延展路徑的基本趨勢設置。在具體實施時，可以用參考直線表征待檢測珠體110延展路徑的基本趨勢，例如所述參考直線可以為待檢測珠體110的頭端和尾端所連接成的直線；所述第一采樣投影區域210沿所述參考直線分布，且可選地，所述第一采樣投影區域210的中軸線垂直于所述參考直線。

需要說明的是，上述表征所述待檢測珠體110延展路徑的基本趨勢的方式僅是一示例性實施例，還可以使用擬合的方式確定描述所述基本趨勢的參考直線；而且，所述第一采樣投影區域210的中軸線可以與所述參考直線成任意角度。

參見圖4，為本發明實施例提供的一種折線珠體采樣投影區域劃分示意圖。如圖4所示，在待檢測珠體圖像中，待檢測珠體111的基本趨勢為折線；將待檢測珠體111劃分為多個第一采樣投影區域211，所述第一采樣投影區域211沿待檢測珠體111延展路徑的基本趨勢設置。在具體實施時，可以在待檢測珠體111彎曲度最大的位置，將待檢測珠體圖像劃分為多個延展路徑段，在每個延展路徑段上，待檢測珠體111的延展路徑的基本趨勢為直線。在圖4中，待檢測珠體111被劃分為2個延展路徑段；對每個延展路徑段，確定相應的參考直線，并按照上述直線珠體采樣投影區域的劃分方式，將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域，具體的劃分過程可參見上述直線珠體實施例，在此不再贅述。

參見圖5，為本發明實例提供的一種圓形珠體采樣投影區域劃分示意圖。如圖5所示，在待檢測珠體圖像中，待檢測珠體112的基本趨勢為圓形；將待檢測珠體112劃分為多個第一采樣投影區域212，所述第一采樣投影區域212沿待檢測珠體112延展路徑的基本趨勢設置。在具體實施時，可以在待檢測珠體112所圍成區域的內部確定參考中心，例如在待檢測珠體112的上隨機選擇三個點，所述三個點能夠唯一確定一個圓心，將所述圓心作為參考中心，所述參考中心確定的任意圓形可以用于表征待檢測珠體112的基本趨勢；以所述參考中心為圓心，沿向外發散的徑向方向設置所述第一采樣投影區域212，所述第一采樣投影區域212的中軸線方向平行于所述徑向方向，所有第一采樣投影區域212的中軸線匯聚于所述參考中心。

而且，在具體實施時，所述第一采樣投影區域可以均勻分布或不均勻分布。在第一種實施情況下，根據第一采樣投影區域間距，將珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域。對于直線待檢測珠體，預設第一采樣投影區域間距，所述第一采樣投影區域間距可以理解為沿所述參考直線，相鄰第一采樣投影區域之間的距離。以所述第一采樣投影間距，均勻設置所述第一采樣投影區域。對于折線待檢測珠體，同樣預設第一采樣投影區域間距，在每個延展路徑段內，沿相應的參考直線，以所述第一采樣投影區域間距，均勻設置所述第一采樣投影區域。對于圓形待檢測珠體，所述第一采樣投影間距可以理解為相鄰第一采樣投影區域之間的角度或弧長，以所述參考中心為圓心，按照所述角度或弧長，均勻設置所述第一采樣投影區域。

在第二種實施情況下，根據待檢測珠體圖像的彎曲度，設置多個第一采樣投影區域間距。在具體實施時，待檢測珠體圖像中，各個區域的彎曲度不同；例如待檢測珠體圖像的第一區域具有第一彎曲度，則設置相應的第一采樣投影區域間距D1；待檢測珠體圖像的第二區域具有第二彎曲度，則設置相應的第一采樣投影區域間距D2；待檢測珠體圖像的第三區域具有第三彎曲度，則設置相應的第一采樣投影區域間距D3。而且，如果待檢測珠體圖像區域的彎曲度越高，則設置相應的第一采樣投影區域間距越小；具體地，在第一彎曲度>第二彎曲度>第三彎曲度的情況下，第一采樣投影區域間距D1<第一采樣投影區域間距D2<第一采樣投影區域間距D3。

在待檢測珠體圖像的不同區域內，按照相應的第一采樣投影間距，設置所述第一采樣投影區域。具體地，在待檢測珠體圖像的第一區域內，以第一采樣投影間距D1，設置所述第一采樣投影區域；在待檢測珠體圖像的第二區域內，以第一采樣投影間距D2，設置所述第一采樣投影區域；在待檢測珠體圖像的第三區域，以第一采樣投影間距D3，設置所述第一采樣投影區域。

在本發明實施例中，以不同的第一采樣投影間距設置所述第一采樣投影區域，在彎曲度較高區域，以較小的第一采樣投影間距設置第一采樣投影區域，提高采樣密度，能夠有效提高待檢測珠體的描述精度；在彎曲度較低的區域，以較大的第一采樣投影間距設置第一采樣投影區域，減小采樣密度，能夠節省計算資源，進而提高珠體寬度缺陷檢測效率。

步驟S102：在每個第一采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的路徑邊緣對。

根據步驟S101確定的第一采樣投影區域，在每個第一采樣投影區域中，確定相應的邊緣點；具體地，將灰度變化最大的位置確定為所述邊緣點，由于在第一采樣投影區域內，外界環境的干擾可能導致出現假邊緣點，因此在第一采樣投影區域內，確定的邊緣點數目可能大于2，即在一個第一采樣投影區域內，確定的邊緣點包括待檢測珠體的實際邊緣點和假邊緣點。

在每個第一采樣投影區域內，將所述邊緣點兩兩組合為參考邊緣對。根據評價準則，對各個參考邊緣對進行評分。其中，所述評價準則包括“第一邊緣準則”、“最強邊緣準則”和“對尺寸準則”中的一種或多種的組合。

所述“第一邊緣準則”為：在每個第一采樣投影區域內，邊緣點的評分按照邊緣點位置從外到內的順序降低；將每個參考邊緣對中兩個邊緣點的評分的平均值，作為所述參考邊緣對的評分。

所述“最強邊緣準則”為：在每個第一采樣投影區域內，邊緣點的評分按照邊緣點的對比度從高到低的順序降低；將每個參考邊緣對中兩個邊緣點的評分的平均值，作為所述參考邊緣對的評分。

所述“對尺寸準則”為：計算每個參考邊緣對中兩個邊緣點之間的距離，并計算所述距離與預設尺寸閾值的差值，所述參考邊緣對的評分隨著所述差值絕對值的從小到大的順序降低。

在具體實施時，可以使用上述評價準則中的一種對參考邊緣對進行評分；當使用多種評價準則對參考邊緣對進行評分時，可以將不同評價準則得到的評分取算術平均或加權平均，作為參考邊緣對的評分。在每個第一采樣投影區域內，選擇評分最高的參考邊緣對作為路徑邊緣對。

步驟S103：連接相鄰路徑邊緣對的中點，形成路徑折線。

參見圖6，為本發明實施例提供的一種圓形珠體的路徑折線示意圖，如圖6所示，在待檢測珠體圖像中，待檢測珠體112的圖像被劃分為多個第一采樣投影區域213；在每個采樣投影區域213中，確定了路徑邊緣對，每個路徑邊緣對均有2個邊緣點214組成；路徑邊緣對中點311，為每個路徑邊緣對中相應2個邊緣點的連線的中點，對每個路徑邊緣對均確定相應的路徑邊緣對中點311；連接相鄰的路徑邊緣對中點311，從而形成路徑折線310，所述路徑折線310更接近待檢測珠體112延展路徑的基本趨勢，從而對待檢測珠體112的延展路徑的基本趨勢進行準確描述。

步驟S104：沿所述路徑折線，將所述珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域。

沿路徑折線，將所述待檢測珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域。參見圖7，為本發明實施例提供的一種圓形珠體第二采樣投影區域劃分的示意圖；在圖7中，沿步驟S103中確定的路徑折線310，將待檢測珠體112的圖像劃分為多個第二采樣投影區域410。

在具體實施時，所述第二采樣投影區域可以均勻或者不均勻設置。在第一種實施情況下，預設第二采樣投影區域間距；以第二采樣投影區域間距，在路徑折線310上設置多個第二采樣投影區域；由于路徑折線310包括多條折線段，可選地，在每條折線段上，以第二采樣投影區域間距，均勻設置所述第二采樣投影區域，其中，所述第二采樣投影區域的中軸線垂直于相應的折線段。而且，為了保證第二采樣投影區域的中軸線沿待檢測珠體的寬度方向，所述第二采樣投影區域間距小于第一采樣投影區域間距。

在第二種實施情況下，根據待檢測珠體圖像的彎曲度，設置多個第二采樣投影區域間距。在步驟S101中，根據待檢測珠體圖像中各個區域彎曲度的不同，在具有第一彎曲度的第一區域，以第一采樣投影區域間距D1設置第一采樣投影區域；在具有第二彎曲度的第二區域，以第一采樣投影區域間距D2設置第一采樣投影區域；在具有第三彎曲度的第三區域，以第一采樣投影區域間距D3設置第一采樣投影區域。在所述第一區域，根據第一彎曲度設置第二采樣投影區域間距W1；在所述第二區域，根據第二彎曲度設置第二采樣投影區域間距W2；在所述第三區域，根據第三彎曲度設置第二采樣投影區域間距W3。如果待檢測珠體圖像區域的彎曲度越高，則設置相應的第二采樣投影區域間距越小；具體地，在第一彎曲度>第二彎曲度>第三彎曲度的情況下，第二采樣投影區域間距W1<第二采樣投影區域間距W2<第二采樣投影區域間距W3。

在待檢測珠體圖像的不同區域內，按照相應的第二采樣投影間距，設置所述第二采樣投影區域。具體地，在待檢測珠體圖像的第一區域內，以第二采樣投影間距W1，設置所述第二采樣投影區域，所述第二采樣投影區域的中軸線垂直于第一區域內相應的折線段；在待檢測珠體圖像的第二區域內，以第二采樣投影間距W2，設置所述第二采樣投影區域，所述第二采樣投影區域的中軸線垂直于第二區域內相應的折線段；在待檢測珠體圖像的第三區域，以第二采樣投影間距W3，設置所述第二采樣投影區域，所述第二采樣投影區域的中軸線垂直于第三區域內相應的折線段。而且，為了保證第二采樣投影區域的中軸線沿待檢測珠體的寬度方向，所述第二采樣投影區域間距小于第一采樣投影區域間距；具體地，在第一區域內，第二采樣投影間距W1小于第一采樣投影區域間距D1；在第二區域內，第二采樣投影間距W2小于第一采樣投影區域間距D2；在第三區域內，第二采樣投影間距W3小于第一采樣投影區域間距D3。

步驟S105：在每個第二采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的寬度邊緣對。

在每個第二采樣投影區域中，確定相應的邊緣點；具體地，將灰度變化最大的位置確定為所述邊緣點，將所述邊緣點兩兩組合為候選邊緣對。根據評價準則，對各個候選邊緣對進行評分。其中，所述評價準則包括“第一邊緣準則”、“最強邊緣準則”和“對尺寸準則”。在具體實施時，可以使用所述評價準則中的一種或多種的組合，對候選邊緣對進行評分；當使用多種評價準則對候選邊緣對進行評分時，可以將不同評價準則得到的評分取算術平均或加權平均，作為候選邊緣對的評分。在每個第二采樣投影區域內，選擇評分最高的候選邊緣對作為寬度邊緣對。具體的評分過程，可參見步驟S102的描述，在此不再贅述。

步驟S106：當寬度邊緣對中邊緣點之間的距離超出寬度閾值范圍時，記錄珠體寬度缺陷。

在每個寬度邊緣對中，計算相應的兩個邊緣點之間的距離；如果所述距離超出寬度閾值范圍，則確定所述寬度邊緣對為缺陷邊緣對。具體地，可以設定靠近標準寬度的寬度范圍，作為所述寬度閾值范圍，例如所述寬度閾值范圍可以為(標準寬度-X，標準寬度+X)，其中X可以取任意小于標準寬度的數值。當寬度邊緣對計算出的距離小于所述寬度閾值范圍的下限，即標準寬度-X時，則所述寬度邊緣對為缺陷邊緣對，且該缺陷邊緣對所對應的缺陷類型為窄缺陷；當寬度邊緣對計算出的距離大于所述寬度閾值范圍的上限，即標準寬度+X時，則所述寬度邊緣對為缺陷邊緣對，且該缺陷邊緣對所對應的缺陷類型為寬缺陷。

遍歷所有的寬度邊緣對，判斷所述寬度邊緣對是否為缺陷邊緣對，并記錄所述缺陷邊緣對；對所述缺陷邊緣對，進行缺陷分析，將相鄰的缺陷類型相同缺陷邊緣對進行合并計算，可以計算得出窄缺陷或寬缺陷所對應的面積、尺寸等物理指標，統計邊緣寬度缺陷出現的位置等，得到邊緣寬度缺陷檢測結果。

由上述實施例可見，本發明實施例提供的一種珠體寬度缺陷檢測方法，通過將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域；在每個第一采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的路徑邊緣對；連接相鄰路徑邊緣對的中點，形成路徑折線；沿所述路徑折線，將所述待檢測珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域；在每個第二采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的寬度邊緣對；當寬度邊緣對中邊緣點之間的距離超出寬度閾值范圍時，記錄珠體寬度缺陷。在所述珠體寬度缺陷檢測過程中，通過采樣投影技術精確定位珠體路徑邊緣位置，用路徑折線粗略估計珠體的延展路徑；在所述路徑折線基礎上，進行精細定位，獲得珠體寬度邊緣對，所述珠體寬度邊緣對能夠精確吻合待檢測珠體的寬度方向，從而保證獲得準確的珠體寬度，具有很高精度。

參見圖8，為本發明實施例提供的另一種珠體寬度缺陷檢測方法的流程示意圖，在圖1所示的珠體寬度缺陷檢測方法的基礎上，將所述珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域之前，本發明實施例示出了路徑折線的優化方法，該方法包括：

步驟S201：沿當前路徑折線，將珠體圖像劃分為多個優化采樣投影區域。

在步驟S103確定的路徑折線，由于第一采樣投影區域的間距較大，由此獲得的路徑折線是對待檢測珠體延展路徑基本趨勢的粗略表示，為了進一步提高對所述基本趨勢描述的準確性，在本發明實施例中，沿當前路徑折線，將待檢測珠體圖像劃分為多個優化采樣投影區域。

所述當前路徑折線由多條折線段組成，在每個折線段內，沿所述折線段的延伸方向設置所述優化采樣投影區域，所述優化采樣投影區域的中軸線與相應的折線段垂直。而且，所述優化采樣投影區域可以均勻劃分或不均勻劃分，通過設置相同的采樣投影區域間距的方式，均勻劃分所述優化采樣投影區域；通過設置不同區域的采樣投影區域間距的方式，不均勻劃分所述優化采樣投影區域。上述優化采樣投影區域的劃分方式與步驟S104中的過程類似，在此不再贅述。

步驟S202：在每個優化采樣投影區域中，篩選出相應邊緣點組成的優化路徑邊緣對。

在每個優化采樣投影區域中，通過灰度差值，能夠確定多個邊緣點；將所述邊緣點兩兩組合形成參考邊緣對；通過“第一條邊緣”、“最強邊緣”和“對尺寸”評價準則中的一種或多種組合的評價方式，對參考邊緣對進行評分；將評分高的參考邊緣對作為相應優化采樣投影區域的優化路徑邊緣對。對優化路徑邊緣對的篩選與步驟S102的過程類似，詳細的過程描述可參見步驟S102，在此不再贅述。

步驟S203：連接相鄰優化路徑邊緣對的中點，形成新的路徑折線。

將優化路徑邊緣對中2個邊緣點連線的中點，作為優化路徑邊緣對的中點；連接相鄰優化路徑邊緣對的中點，從而得到新的路徑折線；用新的路徑折線替換掉當前路徑折線，從而完成路徑折線的優化更新。

另外，需要說明的是，根據實際珠體寬度缺陷檢測精度的需要，可以進行一次或多次步驟S201至步驟S203的迭代，從而實現對路徑折線的優化，以大量優化的路徑折線段逼近待檢測珠體延展路徑。

由上述實施例可見，本發明實施例提供的另一種珠體寬度缺陷檢測方法，對獲得的路徑折線進行優化，在每個路徑折線段上，進一步劃分細化的優化采樣投影區域，在每個優化采樣投影區域內，確定優化路徑邊緣對，從而得到優化的路徑折線。所述優化的路徑折線包含了更多折線段，更準確地描述了待檢測珠體延展路徑的細節，從而進一步提高珠體寬度缺陷檢測的精度。

通過以上的方法實施例的描述，所屬領域的技術人員可以清楚地了解到本發明可借助軟件加必需的通用硬件平臺的方式來實現，當然也可以通過硬件，但很多情況下前者是更佳的實施方式。基于這樣的理解，本發明的技術方案本質上或者說對現有技術做出貢獻的部分可以以軟件產品的形式體現出來，該計算機軟件產品存儲在一個存儲介質中，包括若干指令用以使得一臺計算機設備(可以是個人計算機，服務器，或者網絡設備等)執行本發明各個實施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質包括：只讀存儲器(ROM)、隨機存取存儲器(RAM)、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質。

與本發明提供的一種珠體寬度缺陷檢測方法實施例相對應，本發明還提供了一種珠體寬度缺陷檢測裝置，參見圖9，為本發明實施例提供的珠體寬度缺陷檢測裝置的結構示意圖，該裝置包括：

第一采樣投影區域劃分模塊11，用于將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域；

路徑邊緣對確定模塊12，用于在每個第一采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的路徑邊緣對；

路徑折線生成模塊13，用于連接相鄰路徑邊緣對的中點，形成路徑折線；

第二采樣投影區域劃分模塊14，用于沿所述路徑折線，將所述待檢測珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域；可選地，第二采樣投影區域劃分模塊14，還用于沿所述路徑折線中的每條折線段，將所述珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域，所述第二采樣投影區域的中軸線垂直于相應的折線段；

寬度邊緣對確定模塊，用于在每個第二采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的寬度邊緣對；

寬度缺陷記錄模塊，用于當寬度邊緣對中邊緣點之間的距離超出寬度閾值范圍時，記錄珠體寬度缺陷。

可選地，所述第一采樣投影區域劃分模塊11，用于根據待檢測珠體延展路徑的基本趨勢，將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域。

在具體實施時，在第一種實施情況下，可以均勻劃分所述第一采樣投影區域和所述第二采樣投影區域，因此，可選地，所述第一采樣投影區域劃分模塊11，還用于根據第一采樣投影區域間距，將珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域；所述第二采樣投影區域劃分模塊14，還用于根據第二采樣投影區域間距，將珠體圖像劃分為多個第二采樣投影取區域，其中，所述第二采樣投影區域間距小于所述第一采樣投影區域間距。

在第二種實施情況下，根據待檢測珠體的彎曲度，不均勻劃分第一采樣投影區域和第二采樣投影區域，因此，可選地，所述第一采樣投影區域劃分模塊11，還用于根據待檢測珠體的彎曲度，設置多個的第一采樣投影區域間距；根據第一采樣投影區域間距，將珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域。所述第二采樣投影區域劃分模塊14，還用于根據待檢測珠體的彎曲度，設置多個第二采樣投影區域間距；根據第二采樣投影區域寬度，將珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域，其中，所述第二采樣投影區域間距小于所述第一采樣投影區域間距。

由上述實施例可見，本發明實施例提供的一種珠體寬度缺陷檢測裝置，通過將待檢測珠體圖像劃分為多個第一采樣投影區域；在每個第一采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的路徑邊緣對；連接相鄰路徑邊緣對的中點，形成路徑折線；沿所述路徑折線，將所述待檢測珠體圖像劃分為多個第二采樣投影區域；在每個第二采樣投影區域中，篩選出由相應的邊緣點組成的寬度邊緣對；當寬度邊緣對中邊緣點之間的距離超出寬度閾值范圍時，記錄珠體寬度缺陷。在所述珠體寬度缺陷檢測過程中，通過采樣投影技術精確定位珠體路徑邊緣位置，用路徑折線粗略估計珠體的延展路徑；在所述路徑折線基礎上，進行精細定位，獲得珠體寬度邊緣對，所述珠體寬度邊緣對能夠精確吻合待檢測珠體的寬度方向，從而保證獲得準確的珠體寬度，具有很高精度。

參見圖10，為本發明實例提供的另一種珠體寬度缺陷檢測裝置的結構示意圖，在圖9所示的珠體寬度缺陷檢測裝置的基礎上，該裝置還包括：

優化采樣投影區域劃分模塊21，用于沿當前路徑折線，將待檢測珠體圖像劃分為多個優化采樣投影區域；

優化路徑邊緣對確定模塊22，用于在每個優化采樣投影區域中，篩選出相應邊緣點組成的優化路徑邊緣對；

路徑折線更新模塊23，用于連接相鄰優化路徑邊緣對的中點，形成新的路徑折線。

由上述實施例可見，本發明實例提供的另一種珠體寬度缺陷檢測裝置，對獲得的路徑折線進行優化，在每個路徑折線段上，進一步劃分細化的優化采樣投影區域，在每個優化采樣投影區域內，確定優化路徑邊緣對，從而得到優化的路徑折線。所述優化的路徑折線包含了更多折線段，更準確地描述了待檢測珠體延展路徑的細節，從而進一步提高珠體寬度缺陷檢測的精度。

為了描述的方便，描述以上裝置時以功能分為各種單元分別描述。當然，在實施本發明時可以把各單元的功能在同一個或多個軟件和/或硬件中實現。

本說明書中的各個實施例均采用遞進的方式描述，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處。尤其，對于裝置或系統實施例而言，由于其基本相似于方法實施例，所以描述得比較簡單，相關之處參見方法實施例的部分說明即可。以上所描述的裝置及系統實施例僅僅是示意性的，其中所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個網絡單元上。可以根據實際的需要選擇其中的部分或者全部模塊來實現本實施例方案的目的。本領域普通技術人員在不付出創造性勞動的情況下，即可以理解并實施。

需要說明的是，在本文中，諸如“第一”和“第二”等之類的關系術語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關系或者順序。而且，術語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設備中還存在另外的相同要素。

以上所述僅是本發明的具體實施方式，使本領域技術人員能夠理解或實現本發明。對這些實施例的多種修改對本領域的技術人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發明的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現。因此，本發明將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所發明的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。