一種平面平整度智能測量系統的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種平面平整度智能測量系統，包括可調節參數光源，多光譜攝像機、圖像采集卡和處理系統對比數據庫；可調節參數光源向待測平面發射特定光束；多光譜攝像機接收待測平面反射光；圖像采集卡接收多光譜攝像機的信號傳輸；圖像采集卡將信號傳輸到處理系統對比數據庫。本實用新型采用機器視覺、圖像處理與人工智能等技術的結合，快速、無損、準確地評定平整度。
【專利說明】一種平面平整度智能測量系統
【技術領域】
[0001]本實用新型屬于智能測量領域，尤其涉及一種平面平整度智能測量系統。
【背景技術】
[0002]平面平整度的檢測是十分重要，加工或者生產某些東西時，表面并不會絕對平整，所不平與絕對水平之間，所差數據，就是平整度。(數值越小越好)，現有技術中檢測一個平面平整度，十分的麻煩，工作效率底，而且誤差很大，沒有達到一種傻瓜操作的效果，尤其是在機械加工的領域平面平整度的要求很高，麻煩的檢測系統讓生產效率降低，提高了時間成本，還沒達到預期的檢測效果。
實用新型內容
[0003]本實用新型的目的在于提供一種平面平整度智能測量系統，快速、無損、準確地評定平面的平整度。
[0004]為解決上述目的本實用新型的技術方案是:提供一種平面平整度智能測量系統，包括可調節參數光源，多光譜攝像機、圖像采集卡和處理系統對比數據庫；可調節參數光源向待測平面發射特定光束；多光譜攝像機接收待測平面反射光；圖像采集卡接收多光譜攝像機的信號傳輸；圖像采集卡將信號傳輸到處理系統對比數據庫。
[0005]進一步的，所述的多光譜攝像機為3CXD多光譜攝像機。
[0006]進一步的，還包括待測平面放置平臺，可調節參數光源發射特定光束照射于待測平面放置平臺上。
[0007]本實用新型的有益效果:快速、無損、準確地評定平面的平整度。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0008]圖1為本實用新型的系統圖；
[0009]圖2為計算機內部處理流程圖。
【具體實施方式】
[0010]下面結合附圖和具體的實施例對本實用新型作進一步的闡述。
[0011]一種平面平整度智能測量系統，包括可調節參數光源，多光譜攝像機、圖像采集卡和處理系統對比數據庫；可調節參數光源向待測平面發射特定光束；多光譜攝像機接收待測平面反射光；圖像采集卡接收多光譜攝像機的信號傳輸；圖像采集卡將信號傳輸到處理系統對比數據庫。
[0012]所述的多光譜攝像機為3CXD多光譜攝像機。
[0013]還包括待測平面放置平臺，可調節參數光源發射特定光束照射于待測平面放置平臺上。
[0014]原理在于:通過固定光源的照射，3CXD多光譜攝像機接受待測平面反射信息；反射信息通過圖像采集卡傳輸到處理系統對比數據庫，得到原始的圖像；通過降噪，降低圖像噪音，得到單獨的待測平面圖像信息；制定好特征向量；事先通過檢測，確定平面平整度的幾個樣本，以這些不同的平整度作為輸出，建立不同的平面的數據模型；拍攝待測平面的多光譜圖像；以各像素集的平整度判斷結果所占的比例綜合判斷，并輸出結果。
[0015]本領域的普通技術人員將會意識到，這里所述的實施例是為了幫助讀者理解本實用新型的原理，應被理解為本實用新型的保護范圍并不局限于這樣的特別陳述和實施例。本領域的普通技術人員可以根據本實用新型公開的這些技術啟示做出各種不脫離本實用新型實質的其它各種具體變形和組合，這些變形和組合仍然在本實用新型的保護范圍內。
【權利要求】
1.一種平面平整度智能測量系統，其特征在于:包括可調節參數光源，多光譜攝像機、圖像采集卡和處理系統對比數據庫；可調節參數光源向待測平面發射特定光束；多光譜攝像機接收待測平面反射光；圖像采集卡接收多光譜攝像機的信號傳輸；圖像采集卡將信號傳輸到處理系統對比數據庫。
2.根據權利要求1所述的平面平整度智能測量系統，其特征在于:所述的多光譜攝像機為3CCD多光譜攝像機。
3.根據權利要求1所述的平面平整度智能測量系統，其特征在于:還包括待測平面放置平臺，可調節參數光源發射特定光束照射于待測平面放置平臺上。
【文檔編號】G01B11/30GK204154293SQ201420618144
【公開日】2015年2月11日 申請日期:2014年10月23日 優先權日:2014年10月23日
【發明者】不公告發明人 申請人:成都金采科技有限公司