一種測定柔性導電薄膜方阻的裝置和系統的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供一種測定柔性導電薄膜方阻的裝置和系統。該測定柔性導電薄膜方阻的裝置包括：支架；設置在所述支架上的三個輥軸，其為相互平行并且沿柔性導電薄膜的運行方向依次設置的第一輥軸、第二輥軸和第三輥軸；驅動裝置，其能夠驅動所述三個輥軸轉動；設置在所述支架上的一對碳刷，其分別與所述第一輥軸和第三輥軸滑動接觸，并且在所述一對碳刷之間設有能夠檢測所述柔性導電薄膜方阻的電路。本實用新型的裝置和系統能夠方便且高效地對柔性導電薄膜的方阻進行動態測量，并且不會對柔性導電薄膜的導電表面造成損傷。
【專利說明】一種測定柔性導電薄膜方阻的裝置和系統
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種測定方阻的裝置，特別是涉及一種測定柔性導電薄膜方阻的裝置和系統。
【背景技術】
[0002]柔性導電薄膜(例如ITO薄膜)的電學性能可以通過方阻值進行表征，其為單位方塊平面導電體的電阻，通過測定方阻即可推算出導電薄膜的厚度。目前，通常采用方阻儀進行方阻的測定，其一般具有四個電極(即探針)，其中兩端的電極以恒流電源的形式提供能量，而中間的兩個電極用于測量電壓，經內部轉換后，最終以數字的形式顯示出方阻值。
[0003]此外，為了降低柔性導電薄膜的方阻以及提高薄膜的透過率，可以對薄膜進行結晶化處理(例如烘烤)，由于結晶化的薄膜的方阻值會降低，因此可以通過對結晶化處理前后的薄膜的方阻進行測定，從而判斷其是否結晶。目前，在對流水線上的薄膜進行方阻測定的方法一般是在定期停止運行后，采用方阻儀靜態定點測量薄膜的方阻值，然后通過手動記錄方阻值來判定導電薄膜是否結晶。該方式不僅工作效率較低，此外由于方阻儀的電極直接與導電薄膜接觸，因此極易造成導電薄膜刮花等外觀不良，從而降低產品的合格率。
實用新型內容
[0004]本實用新型提供一種測定柔性導電薄膜方阻的裝置和系統，用于解決現有技術的方阻測定方法工作效率低、易造成導電薄膜外觀不良而降低產品合格率等技術缺陷。
[0005]本實用新型提供一種測定柔性導電薄膜方阻的裝置，包括:
[0006]支架；
[0007]設置在所述支架上的三個輥軸，其為相互平行并且沿柔性導電薄膜的運行方向依次設置的第一輥軸、第二輥軸和第三輥軸；
[0008]驅動裝置，其能夠驅動所述三個輥軸轉動；
[0009]設置在所述支架上的一對碳刷，其分別與所述第一輥軸和第三輥軸滑動接觸，并且在所述一對碳刷之間設有能夠檢測所述柔性導電薄膜方阻的電路。
[0010]進一步地，所述第一輥軸和第三輥軸設置在同一平面上，所述第一輥軸和第二輥軸設置在不同平面上。
[0011]進一步地，所述第一輥軸和第三輥軸均為表面光滑的不銹鋼輥軸。
[0012]進一步地，所述第二輥軸為不銹鋼輥軸，并且其表面光滑度低于所述第一輥軸和第三棍軸的表面光滑度。
[0013]進一步地，所述電路中設置有恒定電源和檢測裝置。
[0014]進一步地，所述恒定電源為恒流電源，所述檢測裝置為電壓檢測裝置，所述恒流電源和所述電壓檢測裝置并聯設置；或者，所述恒定電源為恒壓電源，所述檢測裝置為電流檢測裝置，所述恒壓電源和所述電流檢測裝置串聯設置。
[0015]本實用新型提供的測定柔性導電薄膜方阻的裝置，進一步地還包括計算機，所述計算機包括主機和顯示器，所述檢測裝置與所述計算機的主機連接。
[0016]進一步地，所述一對碳刷分別設置在所述第一輥軸和所述第三輥軸的同一側端部。
[0017]本實用新型還提供一種測定柔性導電薄膜方阻的系統，包括依次設置的放卷裝置、上述任一所述的測定柔性導電薄膜方阻的裝置和收卷裝置。
[0018]本實用新型還提供一種測定柔性導電薄膜方阻的系統，包括依次設置的放卷裝置、第一方阻測定裝置、烘烤裝置、第二方阻測定裝置和收卷裝置，其中，所述第一方阻測定裝置和所述第二方阻測定裝置中的一個或兩個為上述任一所述的測定柔性導電薄膜方阻的裝置。
[0019]本實用新型提供的測定柔性導電薄膜方阻的裝置和系統，通過輥軸與柔性導電薄膜接觸，并且在接觸時通過驅動裝置使輥軸隨柔性導電薄膜一起運行，因此可以有效地避免對柔性導電薄膜的導電表面造成損傷；此外，通過設置在輥軸上的一對碳刷以及設置在一對碳刷之間的電路，可以方便且高效地對柔性導電薄膜的方阻進行動態測量，從而提高工作效率。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0020]圖1為本實用新型實施例1提供的測定柔性導電薄膜方阻的裝置的結構示意圖；
[0021]圖2為本實用新型實施例3提供的測定柔性導電薄膜方阻的系統的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0022]為使本實用新型的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本實用新型的附圖和實施例，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0023]實施例1
[0024]如圖1所示，本實用新型的測定柔性導電薄膜方阻的裝置包括支架(未圖示)；設置在支架上的三個輥軸，其為相互平行并且沿柔性導電薄膜4的運行方向依次設置的第一輥軸11、第二輥軸12和第三輥軸13 ;驅動裝置(未圖示)，其能夠驅動三個輥軸11、12、13轉動；設置在支架上的一對碳刷21、22，其分別與第一輥軸11和第三輥軸13滑動接觸，并且在一對碳刷21、22之間設有能夠檢測柔性導電薄膜4方阻的電路。
[0025]在本實用新型中，第一輥軸11、第二輥軸12和第三輥軸13支撐及傳送柔性導電薄膜4，第二輥軸12的設置用于使柔性導電薄膜4的導電表面分別與第一輥軸11和第三輥軸13接觸；并且，通過設置與第一輥軸11和第三輥軸13滑動接觸的一對碳刷21、22以及碳刷21、22之間的電路，可以容易且高效地對柔性導電薄膜4的方阻進行測量。
[0026]本實用新型的裝置在運行時，通過第一輥軸11和第三輥軸13與柔性導電薄膜4進行接觸，并且在接觸時通過驅動裝置使輥軸11、13隨柔性導電薄膜4 一起運行，因此可以有效避免因與柔性導電薄膜4的接觸而使其導電表面造成損傷，同時還能實現對柔性導電薄膜4方阻的動態測量。
[0027]本實用新型對三個輥軸11、12、13的位置關系不作嚴格限制。在一實施方式中，第一輥軸11和第三輥軸13可以設置在同一平面上，第一輥軸11和第二輥軸12可以設置在不同平面上，例如第二輥軸12可以設置在第一輥軸11的上方或下方。在運行時，可以使柔性導電薄膜4依次穿過第一輥軸11、第二輥軸12和第三輥軸13，并使柔性導電薄膜4的導電表面分別與第一棍軸11和第三棍軸13的下表面接觸，而另一表面與第二棍軸12的上表面接觸。
[0028]進一步地，第一輥軸11和第三輥軸13均可以為表面光滑的不銹鋼輥軸，光滑的表面有利于避免對柔性導電薄膜4的導電表面造成刮痕。并且，第二輥軸12也可以為不銹鋼棍軸，其表面光滑度可以低于第一棍軸11和第三棍軸13的表面光滑度，較低的表面光滑度可以使其與柔性導電薄膜4的另一表面形成摩擦，以利于對柔性導電薄膜4的支撐和傳送。
[0029]借助碳刷21和碳刷22，電路被設置在第一輥軸11和第三輥軸13之間，通過任何公知手段可以獲得第一輥軸11和第三輥軸13之間的方阻，例如，只要知道電壓和電流。
[0030]進一步地，電路中設置有恒定電源31和檢測裝置32。在一實施方式中，恒定電源31可以為恒壓電源，檢測裝置32可以為電流檢測裝置，恒壓電源和電流檢測裝置串聯設置，通過恒壓電源給第一輥軸11和第三輥軸13之間的柔性導電薄膜4施加恒定電壓后，通過電流檢測裝置測定流經柔性導電薄膜4的電流，從而得到該柔性導電薄膜4的方阻。
[0031]在另一實施方式中，恒定電源31可以為恒流電源，檢測裝置32可以為電壓檢測裝置，恒流電源和電壓檢測裝置并聯設置，通過恒流電源給第一輥軸11和第三輥軸13之間的柔性導電薄膜4施加恒定電流后，通過電壓檢測裝置測定柔性導電薄膜4的電壓，從而得到該柔性導電薄膜4的方阻。
[0032]只要不影響柔性導電薄膜4的運行，本實用新型對碳刷21、22的設置位置不作嚴格限制，例如碳刷21、22可以分別設置在第一輥軸11和第三輥軸13的同一側端部。由于柔性導電薄膜4的導電表面分別與第一輥軸11和第三輥軸13的下表面接觸，因此碳刷21、22不會對柔性導電薄膜4的運行造成不便或阻礙。
[0033]進一步地，上述裝置還可以包括計算機(未圖示)，該計算機包括主機和顯示器，檢測裝置32與計算機的主機連接。計算機的主機接收檢測裝置32檢測的電壓或電流數據，并進行方阻計算(即U/I計算)和存貯，計算機的顯示器對方阻的計算結果進行直觀的顯示，其無需人工進行記錄，因此有利于節約人力資源，并且提高工作效率。
[0034]實施例2
[0035]本實用新型一實施方式的測定柔性導電薄膜方阻的系統，可以包括依次設置的放卷裝置、實施例1的測定柔性導電薄膜方阻的裝置和收卷裝置。在該系統中，放卷裝置用于釋放柔性導電薄膜，收卷裝置用于收取柔性導電薄膜，測定柔性導電薄膜方阻的裝置用于對放卷裝置釋放的柔性導電薄膜的方阻進行測量，通過設置放卷裝置和收卷裝置可以實現柔性導電薄膜方阻的連續動態測量。
[0036]實施例3
[0037]結合圖1和圖2所示，本實用新型另一實施方式的測定柔性導電薄膜方阻的系統，包括依次設置的放卷裝置5、第一方阻測定裝置6、烘烤裝置7、第二方阻測定裝置8和收卷裝置9，其中，第一方阻測定裝置6和第二方阻測定裝置8中的一個或兩個可以為實施例1的測定柔性導電薄膜方阻的裝置。
[0038]在該系統中，放卷裝置5用于釋放柔性導電薄膜4，第一方阻測定裝置6用于對放卷裝置釋放的柔性導電薄膜4的方阻進行測量，烘烤裝置7用于對柔性導電薄膜4進行烘烤從而使其結晶，第二方阻測定裝置8用于對烘烤后的柔性導電薄膜4的方阻進行測量，收卷裝置9用于收取烘烤后的柔性導電薄膜4。該系統可以通過對第一方阻測定裝置6和第二方阻測定裝置8所測定的方阻值來判定經烘烤裝置7烘烤的柔性導電薄膜4是否結晶。
[0039]進一步地，第一方阻測定裝置6和第二方阻測定裝置8均為實施例1的測定柔性導電薄膜方阻的裝置，并且第一方阻測定裝置6的檢測裝置32和第二方阻測定裝置8的檢測裝置32還可以分別與計算機10的主機連接，從而對烘烤之前和烘烤之后的柔性導電薄膜4的方阻進行計算并顯示。該系統可以實現機器在線測量，其無需人工測量，因此可以節約人力成本；并且，該系統可以實現連續化的動態測量，其無需停機檢測，因此可以節省時間并提聞效率。
[0040]最后應說明的是:以上各實施例僅用以說明本實用新型的技術方案，而非對其限制；盡管參照前述各實施例對本實用新型進行了詳細的說明，本領域的普通技術人員應當理解:其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分或者全部技術特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術方案的本質脫離本實用新型各實施例技術方案的范圍。
【權利要求】
1.一種測定柔性導電薄膜方阻的裝置，其特征在于，包括: 支架； 設置在所述支架上的三個輥軸，其為相互平行并且沿柔性導電薄膜的運行方向依次設置的第一輥軸、第二輥軸和第三輥軸； 驅動裝置，其能夠驅動所述三個輥軸轉動； 設置在所述支架上的一對碳刷，其分別與所述第一輥軸和第三輥軸滑動接觸，并且在所述一對碳刷之間設有能夠檢測所述柔性導電薄膜方阻的電路。
2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述第一輥軸和第三輥軸設置在同一平面上，所述第一輥軸和第二輥軸設置在不同平面上。
3.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述第一輥軸和第三輥軸均為表面光滑的不銹鋼輥軸。
4.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述第二輥軸為不銹鋼輥軸，并且其表面光滑度低于所述第一輥軸和第三輥軸的表面光滑度。
5.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述電路中設置有恒定電源和檢測裝置。
6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述恒定電源為恒流電源，所述檢測裝置為電壓檢測裝置，所述恒流電源和所述電壓檢測裝置并聯設置；或者，所述恒定電源為恒壓電源，所述檢測裝置為電流檢測裝置，所述恒壓電源和所述電流檢測裝置串聯設置。
7.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，還包括計算機，所述計算機包括主機和顯示器，所述檢測裝置與所述計算機的主機連接。
8.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述一對碳刷分別設置在所述第一輥軸和所述第三輥軸的同一側端部。
9.一種測定柔性導電薄膜方阻的系統，其特征在于，包括依次設置的放卷裝置、權利要求I至8任一所述的測定柔性導電薄膜方阻的裝置和收卷裝置。
10.一種測定柔性導電薄膜方阻的系統，其特征在于，包括依次設置的放卷裝置、第一方阻測定裝置、烘烤裝置、第二方阻測定裝置和收卷裝置，其中，所述第一方阻測定裝置和所述第二方阻測定裝置中的一個或兩個為權利要求1至8任一所述的測定柔性導電薄膜方阻的裝置。
【文檔編號】G01R1/04GK204008861SQ201420435884
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2014年8月4日 優先權日:2014年8月4日
【發明者】李晨光 申請人:南昌歐菲光科技有限公司, 深圳歐菲光科技股份有限公司, 蘇州歐菲光科技有限公司