一種玉石無損檢測樣品模型的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種玉石無損檢測樣品模型，包括玉石模型板，所述玉石模型板上設有光滑平面區、斗型減薄區、凹型減薄區、凹型金膜區、凹型碳膜區、筒狀減薄區、透度變化區、光散棱鏡區、原料遺留區、切磨遺留區、色彩矢量區、特殊光效區和標示區；本實用新型制作是專門為玉石鑒定和教學研究設計的一種新產品和新技術，滿足了中國獨有的玉石學現階段研究和發展的快速無損科技鑒定教學和研究的需求，填補了國內外玉石檢測與鑒定學教學和研究領域無法在不分割樣品、不改變被檢樣品形態的前提下，快速獲得所有規定15項國家標準數據與結論的空白。
【專利說明】-種玉石無損檢測樣品模型
【技術領域】
[0001] 本實用新型屬于玉石檢測【技術領域】，具體涉及一種玉石無損檢測樣品模型。
【背景技術】
[0002] (-）目前國內沒有專門用于無損檢測的玉石樣品。
[0003] 我國是世界上為數不多的具有獨特玉石文化的國家，我國國家標準在列的天然玉 石達到了很多種，由于玉石價值昂貴，在社會需求接軌的過程中，無損科技鑒定檢測技術在 實踐中具有越來越重要的意義，但是截至目前，我國沒有能滿足現階段科技發展檢測與應 用的玉石無損檢測技術系統，并且也沒有能支持這個技術系統的玉石樣品。
[0004] (二）國際國內行業發展亟需用于專業無損鑒定物質樣品。
[0005] 1、隨著玉石收藏熱的高漲，科學研究和鑒定技術的發展，待分析樣品數量大幅度 增加。玉石快速檢測成為客觀要求，檢測環節需要樣品快速采集和基礎鑒定數據，以及適合 快速還原國家檢測標準數據的標準物質樣品。
[0006] 2、光學顯微鏡作為一種探索微觀世界強有力的工具，已被廣泛地應用于各項科學 實驗中，隨著計算機算計處理技術和數字處理技術的快速發展，各種光譜和射線檢測和分 析技術已經逐步實現聯機控制、顯微圖像的自動獲取保存和計算機輔助檢測，非損害性檢 測自動化和智能化發展的成為必然趨勢。
[0007] 3、在電腦和掌上智能設備普及化的今天，建立家庭小型實驗室、個性化掌上實驗 室的設想，從技術角度講已經走向成熟，利用高科技在民間推廣玉石鑒定技術前景廣闊。
[0008] 4、目前對于玉石的概念和分類判定不直觀，不明確，分類鑒別難以統一，檢驗機 構、經銷商和消費者對和田玉分類標準的理解和把握差異很大，致使以假充真、以次充好現 象普遍，玉石鑒定經常引起質量糾紛，也制約了玉石產業的發展。隨著中國玉石文化向外延 伸，圍繞中國消費市場的國際玉石行業正在形成，急需實物標準化物質和標準化鑒定系統， 和國際接軌。
[0009] (三）非損害檢測技術已經能夠完成玉石所有國標要求的指標檢驗。
[0010] 1、國外對寶石鑒定已經進入物化分析為主的數字化、規范化軌道。隨著科學技術 的不斷進步，材料微觀結構學的發展和電子顯微分析技術發展快速，掃描電子顯微鏡、掃描 探針顯微鏡、電子探針顯微、紅外光譜儀、紫外光譜儀、拉曼光譜儀、電子順磁核磁共振，透 射電子顯微鏡射線等等新的技術大量非損害性檢測儀器應用到珠寶玉石鑒定當中，在此基 礎上成長起來的無損鑒定技術日趨成熟，并且不斷取得新的成果。
[0011] 2、綜合采用當前的科學分析儀器，按照目前的技術水平，玉石待檢樣品可以不必 損害性采樣后制成顆粒、粉晶、粉末、溶液等有損耗樣品的性狀和形態，玉石樣品在基本保 留原來其自然固態形態不變的前提下，只要其形態加工成適合對應的各種非損害檢測儀器 需要，就可以取得國標要求的15項單項檢測數據和內容，完成玉石所有國標要求的指標檢 驗。
[0012] 3、目前，我國在使用的以上先進儀器雖然多數進口，一些核心技術形成壁壘，所以 價格高昂，國內許多實驗室難以配備，但是隨著一些技術被攻克，近年來我國檢測國產化腳 步加快，成本下降，非損害玉石珠寶檢測已經開始普及。
[0013] (四）現有相類似樣品和技術的問題。
[0014] 1、多種性狀不規范樣品：由于目前我國沒有國家層面的和田玉或其他玉石的標準 物質檢測樣品，現有鑒定檢測文字標準沒法和實物標準對應，只能依據原料、玉石產品和玉 石特質檢測檢測樣品對比分析。
[0015] (1)原石：形態不規則，無法精細化觀測和研究。
[0016] (2)玉器：沒法滿足測量硬度的刻劃，以及特殊光效等的測量，個別鑲嵌和鏤空玉 器無法測量密度等指標。
[0017] (3)粉末：改變了原本固態形態。
[0018] (4)粉晶：沒有足夠光滑平面，測量折射率、體積、密度等太小。
[0019] (5)溶液：只能供成分研究。
[0020] (6)光片：現有觀察光片多數只是礦石學領域的礦石普通玉石片。
[0021] 2010年6月1日，新疆自治區質量技術監督局發布了一個推薦性而非不帶強制性 的和田玉地方標準，包括《和田玉實物標準樣品》，結束了和田玉標準只有文字描述沒有實 物樣品參照的歷史，使得國內和田玉鑒定向前邁出了一大步，但是這種實物樣品制備方法 簡單，只是一個具有斜面的楔形立方體，用這個地方標準樣品進行檢測，必須在檢測樣塊上 再次取樣制樣或再次加工。
[0022] 2013年12月17日和2014年1月，中國國家標準管理委員會和全國標準樣品技術 委員會批準發布了國家標準GSB 16-3061-2013《和田玉實物標準樣品》，這個和田玉實物國 家標準樣品以顏色分類，將和田玉分為白玉、青白玉、青玉、碧玉、糖玉及墨玉六大類。業內 認為，這對于規范和引導我國玉石產業將起到重要作用，但是，這個規格為長3厘米、寬2厘 米、厚1厘米的長方體玉器樣品的組合體，每類和田玉實物國家標準只代表該玉石種類顏 色的最低界限，沒有其他特別的造型含義和功能。它僅僅是一般意義上屬于"國家標準的一 部分"的標準物質，按照國家標準物質的要求，和田玉實物國家標準應該和已經有的文字國 家標準形成對應，利用這個玉石標準樣品可以全息采集國家標準所羅列的所有內容，但也 必須在檢測樣塊上再次取樣制樣或再次破損性加工。
[0023] (7)薄片：目前我國沒有專門用于光學檢測目的的玉石薄片，長期以來，能用于光 學檢測目的只有建立在地質學和巖石學的礦物巖石鑒定學普遍采用巖石薄片。傳統的標準 巖石薄片是建立在礦物學基礎上的，利用巖石礦物晶體的透光性和反光性，對巖石礦物的 晶形、解理、各項光學性質進行觀察鑒定，進而達到對礦物的鑒定的目的。要在偏光顯微鏡 等儀器下觀察，首先必須夠"薄"，薄到光線可以穿透標本，一般的標準薄片厚度為30 μπι， 相當于0. 003公分。制作難度大，使用過程中又具有很大的局限性。
[0024] 2、一般說來，至少需要6道工序：
[0025] (1)切割：將野外所采集的巖石標本，先選取新鮮未風化部分，再用鉆石鋸片切成 符合玻片的適當大小。
[0026] (2)磨平：把切好的巖樣標本與要膠著的玻片，分別以#600?#1000的碳化硅粉 末研磨，使巖樣切面成為光滑之平面。檢查切面是否平整光滑，可將巖樣面向光源，觀察其 反射是否良好來判斷。
[0027] (3)上膠：將處理完成的巖樣以環氧基樹脂（Epoxy)粘著于毛玻璃上，注意上膠前 需將接觸面以酒精清潔，且在上膠時巖樣與玻璃之間不能有氣泡產生，以免影響切片時的 粘著強度。上膠后置于固定平臺（Bonding jig)上，并以5(TC低溫烘烤約6?8小時，以便 固結、硬化。
[0028] (4)切片：待膠硬化后將標本置于薄片切割機（Petro-thin)上切割并磨成100? 150 μ m的厚度，因為切割機轉速過快，所以無法切磨成太薄的標本。
[0029] (5)研磨：以測微器定出標本厚度，再把100?150 μ m厚之巖樣標本利用真空原 理固定在真空吸盤上，然后直接在薄片研磨盤（Lapping plate)上研磨至標準厚度30 μ m。
[0030] (6)拋光：標本若要做微探成分分析，則需將薄片分別用0. 3?0. 05 μ m的鋁粉拋 光液進行拋光。
[0031] 由于巖石具剛性，所以上述制作過程是將標本先固定在玻片上再切薄，此與生物 切片先切薄后，再固定于玻片上的程序剛好相反。在對玉石的研究和檢測過程中，用玉石制 作的這種薄片可以較好地用于觀察晶體結構。薄片太薄，在應用中具有局限性比如硬度，折 射率、密度等無法測量，制作除了依賴精密的儀器，還需要靠靈巧的雙手，制作難度大，成本 高，損耗大。國內數量很少，零散分布于專業實驗室，且只能在實驗室使用，難以在社會上推 廣。
[0032] 3、鑒定過程復雜：
[0033] 按照傳統的檢測方法，一般情況下，要獲得玉石的15個方面的單項檢測數據和內 容，分別要利用多種不同功能的檢測儀器，并且需按照不同儀器的不同使用需求，多次整塊 取樣或著微損采樣，然后制成以上粉末、粉晶、顆粒、薄片、光片，以及配置成溶液等多種不 同形狀和形態的樣品，才能夠滿足儀器使用。現代珠寶玉石鑒定學基于現代礦物學"任何 一種礦物的物質性能(包括力學性能、光學性能等物理學范疇的宏觀性能，以及包括化學性 能、生物學性能等多學科范疇的微觀性能等)，都決定于其內部的微觀結構"的理論基礎， 目前礦物學中廣泛采用的是以礦物成分、晶體結構為依據，一定程度上反映了自然元素結 合規律的晶體化學分類方案。對于珠寶玉石的鑒定程序，是利用不同功能的檢測儀器，按 照鑒定礦物時由宏觀特征把握向微觀特征把握逐步精細化過渡的方向進行的。中國GB/ T-16553-2010國家標準，參照國際通用標準，按照當時檢測儀器所能達到的的最高科技水 平，列出了考察和檢測不同天然玉石是否達標的15個方面。具體如表一所示：
[0034] 表一：
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[0039] 以上統計表明，利用傳統檢測方法，要從一個玉石樣品上的檢測獲得國標所描述 的所有15項數據和指標，在常規適用的20個步驟中，至少有10個步驟需要對樣品進行不 同采樣的破壞性加工，有3個步驟有時需要對樣品進行不同采樣的破壞性加工，只有7個步 驟不會破壞性樣品。需要提供原石或玉石樣品加工成粉末、粉晶、薄片、特制光片等固體，以 及溶劑等多個樣品。這將破壞玉石樣品，同時，由于同一塊玉石不同部位的成分也存在巨大 差異，這樣多次采樣，也會的導致檢測結果存在爭議和誤差的可能性增大，影響檢測結論準 確性和權威性。
[0040] 概括起來，在沒有國家層面的標準化的和田玉或其他玉石的標準物質檢測樣品的 前提下，傳統檢測技術的缺陷在于：，
[0041] ( 1 )這些樣品很多是一次性的，檢驗完成后消失或破壞，玉石樣品質量的減少和 消耗，失去樣品原本的直觀的典型價值。
[0042] ( 2)使用要求使得教研活動中所提供樣品數量多，式樣多，規格多，工藝復雜，制 作時間長。
[0043] ( 3)程序環節多，耗費時間長。
[0044] ( 4)由于玉石價格高昂，一個樣品如果多次檢測和分析，就會完全報廢，這對于 價格昂貴的玉石資源形成了巨大的浪費，鑒定成本大。
[0045] ( 5 )由于玉石是一種非均質集合體，在同一塊樣品上的不同部位，玉石成分和結 構也往往有較大差異，所以，在不同部位多次取樣，必然使用不同部位樣品，以及粉末、液態 混合物等不易保存，這些因素都會導致檢測結果存在誤差的可能性增大，影響檢測結論準 確性。
[0046] ( 6)沒法真正上升到國家標準物質層面，和國家文字標準形成對應關系.從而對 行業的發展起到引導、規范和推動作用。
[0047] 因為以上原因，現有的各類非國家標準實物樣品沒法滿足科研和社會無損鑒定的 要求。由于沒有與國家文字標準相對應的實物標準，使得玉石標準執行浮于形式，各地檢測 機構對于玉石的檢測也無法真正按照國標要求逐一實施，檢測證書只標注硬度、密度、折射 率等幾項等利用簡單儀器肉眼觀測的內容，削弱了檢測機構和檢測結論的權威性，使得現 代檢測技術在玉石鑒定方面的發展嚴重滯后。 實用新型內容
[0048] 本實用新型的目的是為了解決現有技術中的技術問題，提供一種成本低、工藝簡 單、使用方便、便于推廣的玉石無損檢測樣品模型。
[0049] 為了達到上述目的，本實用新型采用以下技術方案：一種玉石無損檢測樣品模型， 包括玉石模型板，所述玉石模型板上設有光滑平面區、斗型減薄區、凹型減薄區、凹型金膜 區、凹型碳膜區、筒狀減薄區、透度變化區、光散棱鏡區、原料遺留區、切磨遺留區、色彩矢量 區、特殊光效區和標示區。
[0050] 進一步地，所述標示區包括硬度標示區、成分標注區、晶格標示區、名稱標注區。
[0051] 進一步地，所述玉石模型板側邊上設有操作防滑區，所述操作防滑區用于防止滑 落損壞。
[0052] 進一步地，所述色彩矢量區位于與操作防滑區相對的玉石模型板側邊上。
[0053] 進一步地，所述原料遺留區和切磨遺留區位于玉石模型板側邊上。
[0054] 進一步地，所述晶格標示區位于玉石模型板側邊上。
[0055] 進一步地，所述光滑平面區和硬度標示區分別為長方形凸起，所述斗型減薄區為 棱臺形凹槽，所述凹型減薄區為橢球形凹槽，所述凹型金膜區和凹型碳膜區分別為半球形 凹槽，所述凹型碳膜區凹槽比凹型金膜區凹槽深，所述筒狀減薄區為圓柱狀凹槽，所述透度 變化區為長方形斜面，所述光散棱鏡區為棱臺形通孔，所述成分標注區、晶格標示區、名稱 標注區分別為長方形凹槽，所述色彩矢量區為圓柱狀凹槽，所述特殊光效區為半球形凸起。
[0056] 進一步地，所述玉石模型板為長方體。
[0057] 進一步地，所述玉石模型板長為45mm，寬為20mm，高為3mm。
[0058] 本實用新型相對現有技術具有以下有益效果：
[0059] 1、本實用新型制作是專門為玉石鑒定和教學研究設計的一種新產品和新技術，滿 足了中國獨有的玉石學現階段研究和發展的快速無損科技鑒定教學和研究的需求，填補了 國內外玉石檢測與鑒定學教學和研究領域無法在不分割樣品、不改變被檢樣品形態的前提 下，快速獲得所有規定15項國家標準數據與結論的空白。
[0060] 2、本實用新型對于在科研工作中幫助研究者快速系統化掌握被檢測玉石性質，在 教學過程中給學員進行快速現場教學演示，特別對于玉石的國家標準塊的模型的改進和完 善，促進玉石礦物學研究和發展等方面，具有重要的實用價值。
[0061] 3、本實用新型對快速鑒定與評估玉石價值有重要意義，為玉石市場的社會監督檢 驗和打假執法行動等提供技術依據。
[0062] 4、本實用新型由于集合各種性狀的樣品的功能，滿足現有各種高科技檢測儀器的 需求，使得玉石標準物質樣品達到了無損檢測和鑒定的要求，與國家文字標準吻合，能夠用 現有精密儀器批量生產，成本低，使我國玉石檢測步入了現代化階段和產業化進程。
[0063] 5、本實用新型由于全程使用了無損害光學檢測儀器，大大縮減了檢測流程，許多 環節合并，大大縮減了檢測時間隨著玉器收藏高潮時期對玉石鑒定需求大、規范化，具有巨 大的市場需求，對中國玉石文化和產業正走向國際化具有重要的現實意義。
[0064] 6、本實用新型可以將玉石檢測樣品上升到國家物質標準后，可以更好地保護我國 玉石的聲譽，增強其在國內外市場的競爭力，也能防止貿易壁壘，促進技術合作，從而形成 最佳秩序和獲得最佳經濟社會效益。
[0065] 7、本實用新型刺激我國檢測設備國產化和產業化進程，擺脫我國精密檢測儀器被 國外少數發達國家壟斷的局面，對我國的民族高科技工業發展具有重大的推動作用，對于 規范其商業行為會起到良好的作用，對于推廣中國獨特的玉石文化，推進中國玉文化產業 形成和規模化發展，讓中國玉石文化走向世界具有不可忽視的引擎作用。
[0066] 8、本實用新型工藝簡單，一次性制作，永不消耗，避免了多次取樣破壞性浪費，大 大降低了成本，在制作過程中自動化制作，縮短了制作流程，保證了標準化，大大縮減了樣 品制作時間，僅以原先簡單利用局限的薄片制作一個環節為例，原先工藝，基本上手工制 作，利用機器大約一天，利用本實用新型制作方法后，所有過程只需30-40分鐘。
[0067] 9、本實用新型相對于目前已有的其他類似的非專業產品，可以批量生產、保存運 輸安全、使用方便、便于推廣。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0068] 圖1為本實用新型在第一個視角下的結構示意圖；
[0069] 圖2為本實用新型在第二個視角下的結構示意圖；
[0070] 圖3為本實用新型的主視圖。
[0071] 附圖標記含義如下：1、光滑平面區；2、硬度標示區；3、斗型減薄區；4、凹型減薄 區；5、凹型金膜區；6、凹型碳膜區；7、筒狀減薄區；8、透度變化區；9、光散棱鏡區；10、成分 標注區；11、晶格標示區；12、原料遺留區；13、名稱標注區；14、切磨遺留區；15、色彩矢量 區；16、特殊光效區；17、操作防滑區；18、玉石模型板。
【具體實施方式】
[0072] 下面結合附圖對本實用新型作進一步說明：
[0073] 如圖1-3所示，一種玉石無損檢測樣品模型，包括玉石模型板18,玉石模型板18為 長方體，玉石模型板18長為45mm，寬為20mm，高為3mm，玉石模型板18上設有光滑平面區1、 斗型減薄區3、凹型減薄區4、凹型金膜區5、凹型碳膜區6、筒狀減薄區7、透度變化區8、光 散棱鏡區9、原料遺留區12、切磨遺留區14、色彩矢量區15、特殊光效區16、硬度標示區2、 成分標注區10、晶格標示區11、名稱標注區13,玉石模型板18側邊上設有操作防滑區17， 操作防滑區17用于防止滑落損壞，色彩矢量區15位于與操作防滑區17相對的玉石模型板 18側邊上，晶格標示區11、原料遺留區12和切磨遺留區14位于玉石模型板18側邊上，光 滑平面區1和硬度標示區2分別為長方形凸起，斗型減薄區3為棱臺形凹槽，凹型減薄區4 為橢球形凹槽，凹型金膜區5和凹型碳膜區6分別為半球形凹槽，凹型碳膜區6凹槽比凹型 金膜區5凹槽深，筒狀減薄區7為圓柱狀凹槽，透度變化區8為長方形斜面，光散棱鏡區9 為棱臺形通孔，成分標注區10、晶格標示區11、名稱標注區13分別為長方形凹槽，色彩矢量 區15為圓柱狀凹槽，特殊光效區16為半球形凸起。
[0074] 光滑平面區1用于折射儀測試折射率和雙折射率以及利用紅外光譜儀和拉曼光 譜儀測試成分、結構和吸收光譜；斗型減薄區3用于拉曼光譜儀在較薄區域分析成分、結構 和吸收光譜、利用珠寶顯微鏡和透射電子顯微鏡觀察晶體特性、解理以及利用二色鏡測試 多色性；凹型減薄區4用于拉曼光譜儀在更薄區域分析成分、結構和吸收光譜、利用珠寶顯 微鏡和透射電子顯微鏡觀察晶體特性、解理，與斗型減薄區3形成互補；凹型金膜區5用于 掃描電子顯微鏡測試光性特征和觀察晶體顯微結構、解理以及利用電子探針顯微分析儀測 試成分；凹型碳膜區6用于掃描電子顯微鏡測試光性特征和觀察晶體顯微結構、解理以及 利用電子探針顯微分析儀測試成分，與凹型金膜區5形成互補；筒狀減薄區7用于高倍顯微 鏡測試光性特征，觀察晶體顯微，包括結構晶體性狀、生長紋、端口、裂理以及利用二色鏡測 試多色性；透度變化區8用于放大鏡和珠寶顯微鏡放大檢查，觀察晶體結構特征以及光性 特征；光散棱鏡區9用于放大攝像儀觀察和記錄暈彩效應，色散現象，測試色散值和特殊光 性；原料遺留區12用于放大和攝像設備觀察記錄，觀察晶面條紋、雙晶紋、色帶、生長凹坑、 蝕象、溶丘、雙晶紋，研究其外部特性；切磨遺留區14用于放大和攝像設備觀察和研究樣品 的缺口、拋光紋、微缺口、空洞、燒痕、撞擊痕、須狀腰棱、額外刻面、棱線尖銳或圓滑現象，初 步分析判斷玉石的相對密度、硬度、解理、裂理外部特征；色彩矢量區15用于對樣品觀察光 澤和進行色彩矢量化標注，即利用現有行業通行的色彩矢量表，對樣品的色彩進行量化分 析和和數字化定性標注；特殊光效區16用于放大鏡或寶石顯微鏡觀察星光效應、貓眼效 應，暈光效應、金砂效應；硬度標示區2用于硬度筆在抗壓表面區域測試和標示硬度；成分 標注區10用于電子探針顯微分析儀、紅外光譜分析儀、拉曼光譜儀、X射線熒光光譜儀對樣 品成分檢測后進行標注，對于校準儀器和再次試驗過程中選擇測檢測儀器，有提示作用；晶 格標示區11用于顯微鏡、掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、核磁共振對測得晶體的晶向 晶格進行圖標指示；名稱標注區13用于按照國家標準對玉石樣品進行標準化命名。
[0075] 在具備以上所有功能的前提下，整個樣品模型就是一個適合激光體積測量儀測量 的樣品幾何體，能夠測試密度和質量。
[0076] 要從一個玉石樣品上的檢測獲得國標所描述的所有15項數據和指標，具體應用 和解決方案如表二所示：
[0077] 表二：
[0078] 序 檢測 … Z =3 適用區域檢驗佼器 檢驗原理 優勢 萬 P3# """" i^g 賽 ? H(Em 瓚t 號.一irnfij對 一一 __學遺嗖.__ 凹驅區玢枝__· #辭 凹型碳願區 認 …? 1 =光誦區-_______llliilllii______- 斗麵祖 [_受光遵：--吳分子鈐筘*1.§· HSK*E Li α±*?：^ΜΜ^ 違1? 成分標注區 紛· 驗愛丨? = '?長fc夂生垮 X-射Sid#, ?^Γ^§+·1 號. ^>4 (XEF) 一" _______ 放大鋌 透度變化區 軟MM.覺 簽iii室= Μ 凹型減薄區 軼亙負笟 二 斗腿薄區 較 iSi?zimUZli "~73" 2 鍵晶 凹型金祖 夜 一 '… 狀：態 凹型碳腿區 CSE:v!) 大錠不夠= ?#*，.I密 .. 一 ? W-i~4S3|￥-- _ ±孝汰器$蔡蓋Si …一- 凹型《薄區 ▲:-; 斗還減祖 (IEM) …w ~~?"?"' '?i￥&iF51￥W' " 霉個樣品桓 : ^ ；! 子銨irrc 既遷 T 載 ricl52i _____'g號，_換殘簽電.__ 5?寶弓 4 土r m軼寶玉學 -m U*錠或垮s.滂定玉SEj：tC 備盒 3 顏色 色彩矢量區 手電寶之 Sfs+H C百以?85：- 」' m^ZX 有37色涪萑對?5 具___ ___jfeg ~ g呈+盂 4 光澤 色彩矢量區 …:二 nm _I_|_ 丨_^_
[0079] 切磨遺留區 mm 原料遺留區 綠 ___雜 凹型金膜區 iii 5 解理 凹型碳膜區 子苧弩裘___ 凹型減薄區 3射t子~~i￥5iF5s￥ii 斗型減薄區 SSS 下系子feStilrS1?玫 _____!'倉號.轉換￠.--.__ 6 硬度標示區 5.1?5 Si~5-· 3Z?' 整個樣品模 -_ .. . 由3蜂 7 愈度__~…·___ 盤個樣品g Ξ t廣二墻，賴 ____'..4 織 ms?§Ssag：ifcsi__ 撼電子 □型金膜區 顯會錠 .被 凹型Κ膜區 ;:ΞΜ智 Λ 光性 ^ a 8 特征 狀減薄區 《 移 透度變化區 ^?-4- 光散棱鏡區 認八錢 ____ft___ 9多碰二餘 鮮 ___斗型減薄區____ 10折射率光滑平面區 過:結 _______ 不寫貧寶玉石勺七具有 效折射光滑平面區 1.. 4￡3石聲封這范3. 率 率.T _____^{fs=a±?g-t.__ 12紫外変整個祥品模 袞於二 .轉 __*__Μ____'一 光滑平涵區 ~fc-Zi-jt 13 吸牧光斗型滅薄區 咨α 不寫元泰《?分其ae- , 4" 譜 凹型減薄區 亡曼夬適寫5.?^?§會有不司· Li ^ 敢大檢整個祥品稷 _,"； ^嘗?瓦#S.大I:.,1+萬 14 .lit?, s ." 奢η *Bf" --Ι 4?τ 一 m 子2δ ~
[0080] SJzSz^ 特殊光 癖妨 _ 15學效應特殊光效區條塞_ ____^--^.___
[0081] 由表二可以得出，本實用新型的樣品模型能夠滿足玉石樣品的檢測要求，即使有 的檢測方法存在一定的局限性，另一種儀器的不同方法也能夠較好地彌補。
[0082] 本實用新型集合了傳統礦物學、巖石學研究使用的樣品常規采樣技術，綜合礦 石普通觀察薄片、礦石顯微光片、電子透鏡覆膜片、寶石特殊光效實驗球、透明散射棱鏡、 玉石斜面薄片，晶體礦石標本等多種礦物樣品的優點，按照最新天然玉石國家標準（GB/ T-16553-2010)的要求，從玉石鑒定學教學和普及的實際發展需求出發，比較系統地設計出 了在不損害、分割和消耗待檢樣塊模型，或著不改變樣塊既成物理形態和化學成分的前提 下，在一整塊樣品上，無限次重復測得和還原待檢樣品各項檢測指標的專用玉石樣品造型。 本實用新型滿足了中國獨有的玉石學現階段研究和發展的需求，以"物化分析為主，宏觀鑒 賞為輔"，填補了國內外空白，也以制作成國家玉石標準物質樣品，直觀、實用、方便對比檢 測和研究學習，與國家文字標準同步推行發布，相對于目前已有的其他類似的非專業產品， 成本低，工藝簡單，可以批量生產，保存運輸安全，使用方便，便于推廣。當前正值玉器收藏 高潮時期對玉石鑒定需求大規范化，民間鑒定技術趨于普及化，具有巨大的市場需求，中國 玉石文化和產業正走向國際化具有重要的現實意義。
【權利要求】
1. 一種玉石無損檢測樣品模型，其特征在于：包括玉石模型板（18)，所述玉石模型板 (18)上設有光滑平面區（1)、斗型減薄區（3)、凹型減薄區（4)、凹型金膜區（5)、凹型碳膜區 (6)、筒狀減薄區（7)、透度變化區（8)、光散棱鏡區（9)、原料遺留區（12)、切磨遺留區（14)、 色彩矢量區（15)、特殊光效區（16)和標示區，所述標示區包括硬度標示區（2)、成分標注區 (10)、晶格標示區（11)、名稱標注區（13)，所述光滑平面區（1)和硬度標示區（2)分別為長 方形凸起，所述斗型減薄區（3)為棱臺形凹槽，所述凹型減薄區（4)為橢球形凹槽，所述凹 型金膜區（5)和凹型碳膜區（6)分別為半球形凹槽，所述凹型碳膜區（6)凹槽比凹型金膜區 (5)凹槽深，所述筒狀減薄區（7)為圓柱狀凹槽，所述透度變化區（8)為長方形斜面，所述光 散棱鏡區（9)為棱臺形通孔，所述成分標注區（10)、晶格標示區（11)、名稱標注區（13)分別 為長方形凹槽，所述色彩矢量區（15)為圓柱狀凹槽，所述特殊光效區（16)為半球形凸起， 所述晶格標示區（11)、原料遺留區（12)、切磨遺留區（14)和色彩矢量區（15)位于玉石模型 板（18)側邊上。
2. 根據權利要求1所述的一種玉石無損檢測樣品模型，其特征在于：所述玉石模型板 (18)側邊上設有操作防滑區（17)，所述操作防滑區（17)用于防止滑落損壞。
3. 根據權利要求2所述的一種玉石無損檢測樣品模型，其特征在于：所述色彩矢量區 (15)位于與操作防滑區（17)相對的玉石模型板（18)側邊上。
4. 根據權利要求1所述的一種玉石無損檢測樣品模型，其特征在于：所述玉石模型板 (18)為長方體。
5. 根據權利要求1所述的一種玉石無損檢測樣品模型，其特征在于：所述玉石模型板 (18)長為45mm,寬為2Ctam,高為3臟。
【文檔編號】G01N21/88GK203894090SQ201420280815
【公開日】2014年10月22日 申請日期:2014年5月29日 優先權日:2014年5月29日
【發明者】溫新續 申請人:溫新續