商標鏡面外觀檢驗光學系統的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種商標鏡面外觀檢驗光學系統，包括旋轉分度盤，所述旋轉分度盤上設有第一上下料工位，所述旋轉分度盤的外側依次間隔設有第二檢驗工位、第三檢驗工位、第四檢驗工位，所述第二檢驗工位包括第一照相組件、第一光源，所述第三檢驗工位包括第二照相組件、第二光源，所述第四檢驗工位包括第三照相組件、第三光源，所述第二光源和第三光源中至少一個的照射角度能夠調節。本實用新型結構簡單、使用方便，通過旋轉分度盤將被檢驗商標帶到不同的工位，光源將被檢驗商標照亮，通過各工位的照相組件對商標進行取像，得到不同缺陷的特征，檢驗效率高，檢驗精準，確保了商標品質。
【專利說明】商標鏡面外觀檢驗光學系統
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種商標鏡面外觀檢驗光學系統。
【背景技術】
[0002]商標在生產過程中，會出現刮傷、臟污或其它外觀上的缺陷。為確保商標品質，需要對加工后的商標進行檢驗。商標檢驗需要經過多道工序，每個工序所使用的設備分散在不同的地方，當進行下一道工序檢驗時，需要將商標移動到下道工序處，工作效率低，無法滿足批量的檢驗；另外，商標在檢驗時需要不同的照射角度下得到的檢驗值來確定外觀是否存在缺陷，現有并沒有存在這種裝置，無法實現商標外觀的準確檢驗。
實用新型內容
[0003]本實用新型克服了現有技術的不足，提供一種結構簡單、工作效率高的商標鏡面外觀檢驗光學系統。
[0004]為達到上述目的，本實用新型采用的技術方案為:一種商標鏡面外觀檢驗光學系統，包括旋轉分度盤，所述旋轉分度盤上設有第一上下料工位，所述旋轉分度盤的外側依次間隔設有第二檢驗工位、第三檢驗工位、第四檢驗工位，所述第二檢驗工位包括第一照相組件、第一光源，所述第三檢驗工位包括第二照相組件、第二光源，所述第四檢驗工位包括第三照相組件、第三光源，所述第二光源和第三光源中至少一個的照射角度能夠調節。
[0005]本實用新型一個較佳實施例中，商標鏡面外觀檢驗光學系統進一步包括所述第二檢驗工位還包括第一立柱，所述第一照相組件和第一光源均固定在所述第一立柱上，所述第一照相組件包括第一 CXD傳感器、位于所述第一 CXD傳感器下端的第一鏡頭，所述第一光源位于所述第一鏡頭的下方。
[0006]本實用新型一個較佳實施例中，商標鏡面外觀檢驗光學系統進一步包括所述第三檢驗工位還包括第二立柱、安裝在所述第二立柱上的圓周擺動機構，所述第二照相組件包括第二 CCD傳感器、位于所述第二 CCD傳感器下端的第二鏡頭，所述第二 CCD傳感器安裝在所述圓周擺動機構上，所述第二光源位于所述第二鏡頭的下端。
[0007]本實用新型一個較佳實施例中，商標鏡面外觀檢驗光學系統進一步包括所述第二立柱上安裝有沿豎直方向的第一滑動機構，所述圓周擺動機構安裝在所述第一滑動機構的下端。
[0008]本實用新型一個較佳實施例中，商標鏡面外觀檢驗光學系統進一步包括所述第一滑動機構包括第一立板、安裝在所述第一立板上的第一導軌、第一滑塊、第一螺桿，所述第一螺桿沿豎直方向設置，所述第一螺桿的一端與所述第一滑塊固定，另一端與所述第一立板螺紋連接。
[0009]本實用新型一個較佳實施例中，商標鏡面外觀檢驗光學系統進一步包括所述第三光源連接有旋轉機構，所述第三照相組件包括線掃描相機、安裝在所述線掃描相機下端的遠心鏡頭，所述第三光源位于所述遠心鏡頭的下方。[0010]本實用新型一個較佳實施例中，商標鏡面外觀檢驗光學系統進一步包括所述第四檢驗工位還包括支板組件、安裝在所述支板組件下端的驅動機構，所述第三照相組件和旋轉機構均安裝在所述支板組件上。
[0011]本實用新型一個較佳實施例中，商標鏡面外觀檢驗光學系統進一步包括所述支板組件的上端安裝有第二滑動機構，所述第二滑動機構上安裝有前后擺動機構，所述第三照相組件安裝在所述前后擺動機構上。
[0012]本實用新型一個較佳實施例中，商標鏡面外觀檢驗光學系統進一步包括所述支板組件包括基板、安裝在所述基板上的垂直板，所述第二滑動機構包括第二立板、安裝在所述第二立板上的第二導軌、第二滑塊、第二螺桿，所述第二立板固定在所述垂直板上，所述第二螺桿沿豎直方向設置，所述第二螺桿的一端與所述第二滑塊固定，另一端與所述第二立板螺紋連接。
[0013]本實用新型一個較佳實施例中，商標鏡面外觀檢驗光學系統進一步包括所述驅動機構包括電機、與所述電機連接的絲桿組件，所述絲桿組件與所述基板連接。
[0014]本實用新型解決了【背景技術】中存在的缺陷，本實用新型結構簡單、使用方便，通過旋轉分度盤將被檢驗商標帶到不同的工位，光源將被檢驗商標照亮，通過各工位的照相組件對商標進行取像，得到不同缺陷的特征，檢驗效率高，檢驗精準，確保了商標品質。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0015]下面結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。
[0016]圖1是本實用新型的優選實施例的結構示意圖；
[0017]圖2是本實用新型的優選實施例的旋轉分度盤與第二檢驗工位的排列結構示意圖；
[0018]圖3是本實用新型的優選實施例的旋轉分度盤與第三檢驗工位的排列結構示意圖；
[0019]圖4是本實用新型的優選實施例的旋轉分度盤與第四檢驗工位的排列結構示意圖；
[0020]圖5是本實用新型的優選實施例的圓周擺動機構帶動第二照相組件、第二光源向左擺動一定角度的結構示意圖；
[0021]圖6是本實用新型的優選實施例的圓周擺動機構帶動第二照相組件、第二光源向后擺動一定角度的示意圖；
[0022]圖7是本實用新型的優選實施例的圓周擺動機構帶動第二照相組件、第二光源擺動的調節軌跡；
[0023]圖8是本實用新型的優選實施例的第三照相組件、第三光源擺動的調節軌跡；
[0024]圖中:2、盤體，4、驅動組件，6、第一上下料工位，8、第二檢驗工位，10、第三檢驗工位，12、第四檢驗工位，14、第一立柱,16、第一光源，18、第一 (XD傳感器,20、第一鏡頭,22、第二立柱，24、圓周擺動機構,26、第二光源,28、第一立板,30、第一導軌,32、第一滑塊,34、第一螺桿，36、第一 T形件，38、第二 CXD傳感器，40、第二鏡頭，42、支板組件，43、前后擺動機構，44、第三光源,46、旋轉機構,48、基板,50、垂直板,52、電機,54、絲桿組件,56、第二立板，58、第二導軌,60、第二滑塊,62、第二螺桿,64、第二 T形件,66、線掃描相機,68、遠心鏡頭。【具體實施方式】
[0025]現在結合附圖和實施例對本實用新型作進一步詳細的說明，這些附圖均為簡化的示意圖，僅以示意方式說明本實用新型的基本結構，因此其僅顯示與本實用新型有關的構成。
[0026]如圖1、圖2所示，一種商標鏡面外觀檢驗光學系統，包括旋轉分度盤，旋轉分度盤包括盤體2、設于盤體下端的驅動組件4，盤體2上設有第一上下料工位6，該第一上下料工位6可以為容置槽，用于取放商標，盤體2的外側依次間隔設有第二檢驗工位8、第三檢驗工位10、第四檢驗工位12，通過驅動組件4驅動盤體2旋轉，帶動第一上下料工位6的待檢驗商標旋轉至第二檢驗工位8、第三檢驗工位10、第四檢驗工位12，結構緊湊，檢測效率高。
[0027]如圖2所示，第二檢驗工位8包括第一立柱14、固定在第一立柱14上的第一照相組件、第一光源16，優選第一照相組件包括第一 CXD傳感器18、位于第一 CXD傳感器18下端的第一鏡頭20,第一光源16位于第一鏡頭20的下方。
[0028]如圖3、圖5-圖7所示，第三檢驗工位10包括第二立柱22、第一滑動機構、圓周擺動機構24、第二照相組件、第二光源26,第一滑動機構沿豎直方向設置,包括第一立板28、安裝在第一立板28上的第一導軌30、第一滑塊32、第一螺桿34,第一立板28固定在第二立柱22上,第一滑塊32沿第一導軌30上下移動,第一立板28上固定有第一 T形件36,第一T形件36水平設置，第一 T形件36的頭部固定在第一立板28上，第一螺桿34沿豎直方向設置，第一螺桿34的一端與第一滑塊32固定，另一端與第一 T形件36的尾部螺紋連接，第二照相組件包括第二 CXD傳感器38、位于第二 CXD傳感器38下端的第二鏡頭40，第二光源26位于第二鏡頭40的下端，第二光源26的照射角度能夠調節，第二 CXD傳感器38、第二鏡頭40、第二光源26連接成一體，第二 CXD傳感器38固定在圓周擺動機構24上，如圖5、圖6所示，圓周擺動機構24采用本領域通用的二維圓弧擺臺，帶動第二 CCD傳感器、第二鏡頭40和第二光源26左右擺動和前后擺動，調節至所要求的擺動角度后固定住，第三檢驗工位1可實現圓周方向的擺動。
[0029]如圖4、圖8所示，第四檢驗工位12包括支板組件42、驅動機構、第二滑動機構、前后擺動機構43、第三照相組件、第三光源44、旋轉機構46，支板組件42包括基板48、安裝在基板48上的垂直板50，驅動機構包括電機52、與電機52連接的絲桿組件54，絲桿組件54與基板48的下端連接，第二滑動機構包括第二立板56、安裝在第二立板56上的第二導軌58、第二滑塊60、第二螺桿62,第二立板56固定在垂直板50上,第二滑塊60沿第二導軌58上下移動，第二立板56上固定有第二 T形件64，第二 T形件64水平設置，第二 T形件64的頭部固定在第二立板56上，第二螺桿62沿豎直方向設置，第二螺桿62的一端與第二滑塊60固定，另一端與第二 T形件64的尾部螺紋連接，第三照相組件包括線掃描相機66、安裝在線掃描相機66下端的遠心鏡頭68,線掃描相機66固定在第二滑塊60上,第三光源44為線掃描光源，第三光源44的照射角度能夠調節，第三光源44位于遠心鏡頭68的下方，前后擺動機構43采用本領域通用的一維圓弧擺臺，帶動線掃描相機66和遠心鏡頭68前后擺動，調節至所要求的擺動角度后固定住，第三光源44與旋轉機構46連接，旋轉機構46是本領域通用的旋轉結構，驅動第三光源44實現0-90 °的擺動，旋轉機構46安裝在基板48上。
[0030]第二檢驗工位8的第一立柱14上也安裝有滑動機構(圖中未示出)，該滑動機構的結構與第三檢驗工位10的滑動機構的結構相同，第一光源16、第一 CCD傳感器18、第一鏡頭20可沿豎直方向上下移動。
[0031]本實用新型在使用時，首先將待檢驗商標放在第一上下料工位6，驅動組件4啟動，帶動盤體2上的待檢驗商標旋轉至第二檢驗工位8，第一光源16照亮商標，通過第一CCD傳感器18、第一鏡頭20對商標取相，用于檢驗是否存在變形缺陷；第二檢驗工位8檢驗完畢后，商標被帶動旋轉至第三檢驗工位10，第二 CXD傳感器38、第二鏡頭40、第二光源26在圓周擺動機構24的帶動下左右擺動和前后擺動，實現不同照射角度下的檢驗結果，實現檢驗商標表面是否存在麻點、桔皮、塌邊、劃傷、研磨痕、臟污缺陷；第三檢驗工位10檢驗完畢后，商標被帶動旋轉至第四檢驗工位12，線掃描相機66、遠心鏡頭68和第三光源44整體在電機52和絲桿組件54的驅動下前后移動，同時在前后擺動機構43的驅動下前后擺動，對待檢驗商標進行掃描，同時第三光源44在旋轉機構46的驅動下進行0-90°的擺動，實現檢驗商標表層12微米以下是否存在料線、發霧缺陷。
[0032]以上依據本實用新型的理想實施例為啟示，通過上述的說明內容，相關人員完全可以在不偏離本項實用新型技術思想的范圍內，進行多樣的變更以及修改。本項實用新型的技術性范圍并不局限于說明書上的內容，必須要根據權利要求范圍來確定技術性范圍。
【權利要求】
1.一種商標鏡面外觀檢驗光學系統，其特征在于:包括旋轉分度盤，所述旋轉分度盤上設有第一上下料工位，所述旋轉分度盤的外側依次間隔設有第二檢驗工位、第三檢驗工位、第四檢驗工位，所述第二檢驗工位包括第一照相組件、第一光源，所述第三檢驗工位包括第二照相組件、第二光源，所述第四檢驗工位包括第三照相組件、第三光源，所述第二光源和第三光源中至少一個的照射角度能夠調節。
2.根據權利要求1所述的商標鏡面外觀檢驗光學系統，其特征在于:所述第二檢驗工位還包括第一立柱，所述第一照相組件和第一光源均固定在所述第一立柱上，所述第一照相組件包括第一 CCD傳感器、位于所述第一 CCD傳感器下端的第一鏡頭,所述第一光源位于所述第一鏡頭的下方。
3.根據權利要求1所述的商標鏡面外觀檢驗光學系統，其特征在于:所述第三檢驗工位還包括第二立柱、安裝在所述第二立柱上的圓周擺動機構，所述第二照相組件包括第二CXD傳感器、位于所述第二 CXD傳感器下端的第二鏡頭，所述第二 CXD傳感器安裝在所述圓周擺動機構上，所述第二光源位于所述第二鏡頭的下端。
4.根據權利要求3所述的商標鏡面外觀檢驗光學系統，其特征在于:所述第二立柱上安裝有沿豎直方向的第一滑動機構，所述圓周擺動機構安裝在所述第一滑動機構的下端。
5.根據權利要求4所述的商標鏡面外觀檢驗光學系統，其特征在于:所述第一滑動機構包括第一立板、安裝在所述第一立板上的第一導軌、第一滑塊、第一螺桿，所述第一螺桿沿豎直方向設置，所述第一螺桿的一端與所述第一滑塊固定，另一端與所述第一立板螺紋連接。
6.根據權利要求1所述的商標鏡面外觀檢驗光學系統，其特征在于:所述第三光源連接有旋轉機構，所述第三照相組件包括線掃描相機、安裝在所述線掃描相機下端的遠心鏡頭，所述第三光源位于所述遠心鏡頭的下方。
7.根據權利要求6所述的商標鏡面外觀檢驗光學系統，其特征在于:所述第四檢驗工位還包括支板組件、安裝在所述支板組件下端的驅動機構，所述第三照相組件和旋轉機構均安裝在所述支板組件上。
8.根據權利要求7所述的商標鏡面外觀檢驗光學系統，其特征在于:所述支板組件的上端安裝有第二滑動機構，所述第二滑動機構上安裝有前后擺動機構，所述第三照相組件安裝在所述前后擺動機構上。
9.根據權利要求8所述的商標鏡面外觀檢驗光學系統，其特征在于:所述支板組件包括基板、安裝在所述基板上的垂直板，所述第二滑動機構包括第二立板、安裝在所述第二立板上的第二導軌、第二滑塊、第二螺桿，所述第二立板固定在所述垂直板上，所述第二螺桿沿豎直方向設置，所述第二螺桿的一端與所述第二滑塊固定，另一端與所述第二立板螺紋連接。
10.根據權利要求9所述的商標鏡面外觀檢驗光學系統，其特征在于:所述驅動機構包括電機、與所述電機連接的絲桿組件，所述絲桿組件與所述基板連接。
【文檔編號】G01N21/95GK203824934SQ201420239715
【公開日】2014年9月10日 申請日期:2014年5月12日 優先權日:2014年5月12日
【發明者】任鋒 申請人:蘇州佳祺仕信息科技有限公司