一種電路板光學檢測的制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種電路板光學檢測機。電路板光學檢測機包括：機身，設置于所述機身內的用于傳輸電路板的傳輸機構，所述傳輸機構的下側設置有下橫梁，所述下橫梁設置于所述機身內，所述下橫梁設置有用于對所述傳輸機構所傳輸的電路板的下表面進行圖像采集的至少一個下光學成像裝置；并且，所述電路板光學檢測機還包括防塵盒，所述防塵盒罩設所述下光學成像裝置、并進一步與所述下橫梁連接進而將所述下光學成像裝置密封于所述防塵盒與所述下橫梁之間形成的空間內，其中，至少所述防塵盒的頂部透明。通過上述實施方式，其結構簡單、清理方便，能夠提高電路板表面的成像質量，進而提高對電路板檢測的準確性，能夠提高產品良率。
【專利說明】—種電路板光學檢測機
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種電路板光學檢測機。
【背景技術】
[0002]現有的電路板光學檢測機，其內設置有用于對電路板進行圖像采集的光學成像裝置。在長時間使用之后，空氣中的灰塵、水滴等雜質無可避免的會進入到該電路板光學檢測機的機身內部，這些雜質在自身重力或靜電吸附作用下容易附著到光學成像裝置上，清理較為不便，并且會對成像質量產生較嚴重影響，導致檢測結果不準確。
實用新型內容
[0003]本實用新型提供一種電路板光學檢測機，其結構簡單、清理方便，能夠提高電路板表面的成像質量，進而提聞對電路板檢測的準確性，能夠提聞廣品良率。
[0004]為解決上述技術問題，本實用新型提供一種電路板光學檢測機，包括:機身，設置于所述機身內的用于傳輸電路板的傳輸機構，所述傳輸機構的下側設置有下橫梁，所述下橫梁設置于所述機身內，所述下橫梁設置有用于對所述傳輸機構所傳輸的電路板的下表面進行圖像采集的至少一個下光學成像裝置；并且，所述電路板光學檢測機還包括防塵盒，所述防塵盒罩設所述下光學成像裝置、并進一步與所述下橫梁連接進而將所述下光學成像裝置密封于所述防塵盒與所述下橫梁之間形成的空間內，其中，至少所述防塵盒的頂部透明。
[0005]其中，所述防塵盒呈頂部密閉、底部開口的筒狀，所述防塵盒的頂部設置為光學玻璃片以使得所述下光學裝置能夠穿過所述防塵盒并對所述傳輸機構所傳輸的電路板進行圖像采集。
[0006]其中，所述防塵盒與所述下橫梁之間可拆卸連接。
[0007]其中，所述防塵盒與所述下橫梁的連接處設置有過濾棉。
[0008]其中，所述傳輸機構的上側設置有上橫梁，所述上橫梁設置于所述機身內；其中，所述上橫梁設置有用于對所述傳輸機構所傳輸的電路板的上表面進行圖像采集的至少一個上光學成像裝置。
[0009]其中，所述上光學成像裝置數量為多個，所述下光學成像裝置數量為多個；其中，多個所述上光學成像裝置在所述上橫梁上均沿所述傳輸機構的寬度方向排列，多個所述下光學成像裝置在所述下橫梁上均沿所述傳輸機構的寬度方向排列。
[0010]其中，所述上橫梁與所述傳輸機構之間設置有第一照明光源組件，所述下橫梁與所述傳輸機構之間設置有第二照明光源組件。
[0011]其中，所述第一照明光源組件包括上光源、上遮光板以及上光路盒；所述第二照明光源組件包括下光源、下遮光板以及下光路盒；所述上光路盒、所述下光路盒分別設置于所述傳輸機構的上下兩側，其中，所述上光路盒與所述下光路盒之間錯開設置，所述上光源與所述上光學成像裝置分別設置于所述上光路盒兩側，所述下光源與所述下光學成像裝置分別設置于所述下光路盒兩側，所述上遮光板設置于所述上光路盒與所述傳輸機構上側之間，所述下遮光板設置于所述下光路盒與所述傳輸機構下側之間。
[0012]其中，所述上光路盒與所述下光路盒均為反射透射元件；其中，所述上光學成像裝置設置于所述上光路盒的透射面一側，所述上光源設置于所述上光路盒的反射面一側；所述下光學成像裝置設置于所述下光路盒的透射面一側，所述下光源設置于所述下光路盒的反射面一側。
[0013]其中，所述機身內設置有高度調節機構，所述上橫梁、所述下橫梁兩端均設置于所述高度調節機構上以使得設置于所述上橫梁的所述上光學成像裝置、設置于所述下橫梁的所述下光學成像裝置能在豎直方向上進行高度調節。
[0014]本實用新型的電路板光學檢測機:通過在下光學成像裝置上罩設頂部透明的防塵盒，其結構簡單，尤其是當灰塵、水滴等雜質附著在該防塵盒上時，用戶能夠很方便的對這些雜質進行清理，無需擔心清理過程對該下光學成像裝置造成損壞，并且，通過增設該防塵盒，能夠提聞電路板表面的成像質量，進而提聞對電路板檢測的準確性。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0015]圖1是本實用新型電路板光學檢測機實施方式的主視圖。
[0016]圖2是本實用新型電路板光學檢測機另一實施方式的側視圖。
[0017]圖3是本實用新型電路板光學檢測機另一實施方式的結構示意圖。
[0018]圖4是圖3所示電路板光學檢測機中第二照明光源的結構示意圖。
[0019]圖5是本實用新型電路板光學檢測機另一實施方式的結構示意圖。
[0020]圖6是本實用新型電路板在線檢測系統的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0021]下面結合附圖和實施方式對本實用新型進行詳細說明。
[0022]參閱圖1，本實用新型實施方式的電路板光學檢測機，包括:機身10，設置于機身10內的用于傳輸電路板100 (如圖6)的傳輸機構11，該傳輸機構11可以是棍輪、滾輪或皮帶。
[0023]其中，傳輸機構11的上側設置有上橫梁12,傳輸機構11的下側設置有下橫梁13,上橫梁12和下橫梁13均設置于機身10內。進一步地，上橫梁12設置有至少一個上光學成像裝置121，下橫梁13設置有至少一個下光學成像裝置131，上光學成像裝置121、下光學成像裝置131分別用于對傳輸機構11所傳輸的電路板100的上、下兩表面進行圖像采集。其中，該上光學成像裝置121、該下光學成像裝置131均可以是照相機或攝像頭，各光學成像裝置的類型和分辨率視具體需求(包括成像質量、成本等方面)進行選擇，此處不作限制。另外，該電路板光學檢測機通常還提供一輸出接口(圖未示)，該輸出接口連接電腦或服務器用以將上光學成像裝置121、下光學成像裝置131采集到的圖像傳輸至電腦或服務器進行處理，此處不做具體描述。
[0024]本實用新型的電路板光學檢測機:通過在傳輸機構11上下兩側相應設置上光學成像裝置121、下光學成像裝置131，不需要如現有技術那樣的先檢測電路板100—側、再由操作員翻轉電路板100繼續對電路板100的另一側進行檢測，該電路板光學檢測機能夠同時對傳輸于該傳輸機構11上方的電路板100的正、反兩面同時進行圖像采集，其檢測效率較高，能夠顯著提高產能，進而節約生產成本。
[0025]繼續參閱圖1，上光學成像裝置121數量為多個，下光學成像裝置131數量為多個；多個上光學成像裝置121在上橫梁12上均沿傳輸機構11的寬度方向排列，多個下光學成像裝置131在下橫梁13上均沿傳輸機構11的寬度方向排列。其中，傳輸機構11的長度方向為電路板100的前進方向，不言而喻，傳輸機構11的寬度方向即為垂直于該長度方向的方向，具體應用時，電路板100的寬度方向對應為傳輸機構11的寬度方向，而在設計上光學成像裝置121、下光學成像裝置131的具體數量時，該上光學成像裝置121、該下光學成像裝置131依據電路板100的寬度和每個光學成像裝置可以采集的區域直徑進行確定。舉例而言，如果電路板100寬度較小時，且設置一個上光學成像裝置121和一個下光學成像裝置131即可完成對整塊電路板100的正、反兩面進行圖像采集，可以僅設置一個上光學成像裝置121和一個下光學成像裝置131 ;而如果電路板100寬度較大時，且需要設置兩個或兩個以上的上光學成像裝置121和對應多個下光學成像裝置131才能夠完成對整塊電路板100的正、反兩面進行圖像采集，即需要設置兩個或兩個以上的上光學成像裝置121和對應多個下光學成像裝置131，具體視需要而定。通過設置至少一個上光學成像裝置121和至少一個下光學成像裝置131覆蓋電路板100寬度方向的區域，不需要像現有技術中那樣左右來回移動成像裝置以對電路板100寬度方向的區域進行圖像采集，故不需要設計復雜的運動控制系統，其結構更簡單，且有利于降低故障率。
[0026]在一具體應用實施方式中，參閱圖2，為增加亮度以提高上光學成像裝置121和下光學成像裝置131的圖像采集效果，在電路板100的傳輸路徑上，具體即在上橫梁12與傳輸機構11之間設置有第一照明光源組件，在下橫梁13與傳輸機構11之間設置有第二照明光源組件。
[0027]其中，第一照明光源組件包括上光源141、上遮光板142以及上光路盒143 ;第二照明光源組件包括下光源151、下遮光板152以及下光路盒153 ;上光路盒143、下光路盒153分別設置于傳輸機構11的上下兩側，上光路盒143與下光路盒153之間錯開設置，該上光源141與上光學成像裝置121分別設置于上光路盒143兩側，下光源151與下光學成像裝置131分別設置于下光路盒153兩側,上遮光板142設置于上光路盒143與傳輸機構11上側之間，下遮光板152設置于下光路盒153與傳輸機構11下側之間。具體而言，上光路盒143與下光路盒153通常均為反射透射元件；第一光成像裝置設置于上光路盒143的透射面一側，上光源141設置于上光路盒143的射面一側；下光學成像裝置131設置于下光路盒153的透射面一側，下光源151設置于下光路盒153的反射面一側。通過將上光路盒143與下光路盒153之間錯開設置，能夠防止上光源141、下光源151產生的光線在光路上相互影響，能夠提高成像質量。另外，通過設置上遮光板142、下遮光板152，使得上光源141的成像點在下遮光板152上，下光源151的成像點在上遮光板142上，也能夠防止上光源141、下光源151廣生的光線在光路上相互影響,進而有利于提聞成像質量。其中，各光源141、151可以是LED燈條、白熾燈等。
[0028]在一具體應用實施方式中，參閱圖2，傳輸機構11設置于上光學成像裝置121、下光學成像裝置131之間的部分設置為壓輥輪結構以防止電路板100在輸送過程中打滑影響成像質量。具體的，壓輥輪結構包括第一輥輪組111、第二輥輪組112，第一滾輪組111和第二輥輪組112分別包括上輥輪、下輥輪。優選地，可以在第一輥輪組111與第二輥輪組112之間設置輸送托板塊113用于支承電路板100能夠平穩地通過上光學成像裝置121、下光學成像裝置131組成的掃描區域。進一步地，輸送托板塊113與第一輥輪組111之間間隔一定距離設置，或者，輸送托板塊113至少部分區域為透明結構，以使得下光學成像裝置131能對經過輸送托板塊113的電路板100的下表面進行圖像采集。
[0029]在一具體應用實施方式中，結合圖3和圖4，該電路板光學檢測機可以包括防塵盒16，防塵盒16罩設下光學成像裝置131、并進一步與下橫梁13連接進而將下光學成像裝置131密封于防塵盒16與下橫梁13之間形成的空間內，其中，至少防塵盒16的頂部透明。
[0030]具體而言，防塵盒16呈頂部密閉、底部開口的筒狀，防塵盒16的頂部可以設置為光學玻璃片17以使得下光學裝置141能夠穿過防塵盒16并對傳輸機構11所傳輸的電路板100的下表面進行圖像采集，當然，光學玻璃片17也可以用透明塑料薄膜替換。進一步地，防塵盒16與下橫梁13之間可拆卸連接，舉例而言，可采用如扣位連接、螺紋連接等方式將防塵盒16與下橫梁13進行連接。
[0031]進一步地，防塵盒16與下橫梁13的連接處可以通過鑲嵌、套接等方式設置過濾棉18，能夠阻擋灰塵、水滴等雜質從防塵盒16與下橫梁13之間的連接位置進入防塵盒內部影響該下光學成像裝置131。
[0032]本具體應用實施方式中，通過在下光學成像裝置131上罩設頂部透明的防塵盒16，在能夠實現良好的成像效果的基礎上，能夠防止灰塵、水滴等雜質附著在下光學成像裝置131表面，有利于延長該下光學成像裝置131的使用壽命，灰塵、水滴等雜質在自身重力或靜電作用下附著于該防塵盒16上，清理方便，用戶不需要擔心清理雜質對該下光學成像裝置131造成如刮傷、擦花等損壞問題，并且，通過增設該防塵盒16，能夠提高電路板100表面的成像質量，進而提聞對電路板100檢測的準確性，從而有利于廣品良率的提聞。
[0033]因為上光學成像裝置121上不容易沉積灰塵、水滴等雜物，通常不用在上光學成像裝置121上另行罩設防塵盒，但在個別情況下，如機身10內部灰塵、水滴可能較多時，也可以同時在該上光學成像裝置121上設置防塵盒。
[0034]在一具體應用實施方式中，繼續結合圖3和圖4參閱，機身10內還可以設置有與高壓空氣泵(圖未示)連通的噴氣管19，噴氣管19設置于防塵盒16上方，噴氣管19開設有多個噴氣孔190，使用時，高壓空氣泵產生的壓縮空氣經噴氣管19上的噴氣孔190排出進而吹走沉積在光學玻璃片17上的灰塵、雜物或水滴，其中，該高壓空氣泵可以是外接的，也可以是該電路板光學監測機的機身10內部自帶的，此處不做限定。優選地，該高壓空氣泵為機身10內部自帶，進一步地，高壓空氣泵的入口與空氣過濾器(圖未示)連接，通過增設空氣過濾器，該高壓空氣泵產生的壓縮氣體不含或含較少灰塵、雜物和水滴，不易對機身10內各部件產生損害。
[0035]為不影響因為噴氣管19的設置位置遮擋下光學成像裝置131進而影響成像質量，優選地，可以將噴氣管19設置于防塵盒16頂部上方的側方位；或者，可以在機身10側壁設置沿水平方向延伸的滑軌(圖未示)，噴氣管19設置于滑軌上并可沿滑軌移動，需要清理防塵盒16頂部的灰塵、水滴等雜質時，將噴氣管19移動到合適位置，然后使得噴氣管19工作，需要下光學成像裝置131進行圖像采集時，移開該噴氣管16至合適位置即可。
[0036]在一具體應用實施方式中，結合圖1和圖5，機身10采用密閉結構，其中，可以在機身10內設置有大流量風扇20、管道21以及空氣過濾器(圖未示)。該大流量風扇20、管道21以及空氣過濾器依次連通，該空氣過濾器可以濾除具有腐蝕性的物質，該大流量風扇20工作進而將經過空氣過濾器過濾后的無腐蝕性的空氣抽進機身10內。此時，由于機身10密封性良好，使得機身10內的空氣壓力高于機身10之外的空氣壓力，這樣就可以防止灰塵和有腐蝕性的氣體進入機身10內部；同時，由于機身10內部的空氣壓力高，空氣向外排出時，能夠帶走機身10內部的熱量,進而能夠起到冷卻作用。
[0037]在一具體應用實施方式中，繼續參閱圖1，機身10內設置有高度調節機構22，上橫梁12、下橫梁13兩端均設置于高度調節機構22上以使得設置于上橫梁12的上光學成像裝置121、設置于下橫梁13的下光學成像裝置131能在豎直方向上進行高度調節。通過設置該聞度調節機構22,有利于提聞成像質量。
[0038]參閱圖6，本實用新型還提供一種電路板在線檢測系統，該實施方式的電路板在線檢測系統包括生產線30 (具體指前一道工序的生產線)和如上述任一項實施方式的電路板光學檢測機，其中，電路板光學檢測機的傳輸機構11的輸入端直接連接至生產線30的輸出端。
[0039]本實用新型的電路板在線檢測系統:該電路板在線檢測系統直接與生產線30相連接，具體即生產線30上的電路板100直接輸送到電路板光學檢測機中的傳輸機構11以對電路板100進行外觀檢測，其省略了傳統工藝中電路板100需要中轉工序才能從生產線上輸送至電路板光學檢測機上的步驟，能夠提高生產效率，并且，避免了傳統工藝中中轉工序對電路板100造成的碰花擦花等損害，進而提聞了生廣可罪性，避免浪費成本。
[0040]以上僅為本實用新型的實施方式，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利用本實用新型說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的【技術領域】，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內。
【權利要求】
1.一種電路板光學檢測機,其特征在于,包括: 機身，設置于所述機身內的用于傳輸電路板的傳輸機構，所述傳輸機構的下側設置有下橫梁，所述下橫梁設置于所述機身內，所述下橫梁設置有用于對所述傳輸機構所傳輸的電路板的下表面進行圖像采集的至少一個下光學成像裝置； 并且，所述電路板光學檢測機還包括防塵盒，所述防塵盒罩設所述下光學成像裝置、并進一步與所述下橫梁連接進而將所述下光學成像裝置密封于所述防塵盒與所述下橫梁之間形成的空間內，其中，至少所述防塵盒的頂部透明。
2.根據權利要求1所述的電路板光學檢測機，其特征在于: 所述防塵盒呈頂部密閉、底部開口的筒狀，所述防塵盒的頂部設置為光學玻璃片以使得所述下光學裝置能夠穿過所述防塵盒并對所述傳輸機構所傳輸的電路板進行圖像采集。
3.根據權利要求1所述的電路板光學檢測機，其特征在于: 所述防塵盒與所述下橫梁之間可拆卸連接。
4.根據權利要求3所述的電路板光學檢測機，其特征在于: 所述防塵盒與所述下橫梁的連接處設置有過濾棉。
5.根據權利要求3所述的電路板光學檢測機，其特征在于: 所述傳輸機構的上側設置有上橫梁，所述上橫梁設置于所述機身內；其中，所述上橫梁設置有用于對所述傳輸機構所傳輸的電路板的上表面進行圖像采集的至少一個上光學成像裝置。
6.根據權利要求5所述的電路板光學檢測機，其特征在于: 所述上光學成像裝置數量為多個，所述下光學成像裝置數量為多個； 其中，多個所述上光學成像裝置在所述上橫梁上均沿所述傳輸機構的寬度方向排列，多個所述下光學成像裝置在所述下橫梁上均沿所述傳輸機構的寬度方向排列。
7.根據權利要求5所述的電路板光學檢測機，其特征在于: 所述上橫梁與所述傳輸機構之間設置有第一照明光源組件，所述下橫梁與所述傳輸機構之間設置有第二照明光源組件。
8.根據權利要求7所述的電路板光學檢測機，其特征在于: 所述第一照明光源組件包括上光源、上遮光板以及上光路盒；所述第二照明光源組件包括下光源、下遮光板以及下光路盒； 所述上光路盒、所述下光路盒分別設置于所述傳輸機構的上下兩側，其中，所述上光路盒與所述下光路盒之間錯開設置，所述上光源與所述上光學成像裝置分別設置于所述上光路盒兩側，所述下光源與所述下光學成像裝置分別設置于所述下光路盒兩側，所述上遮光板設置于所述上光路盒與所述傳輸機構上側之間，所述下遮光板設置于所述下光路盒與所述傳輸機構下側之間。
9.根據權利要求8所述的電路板光學檢測機，其特征在于: 所述上光路盒與所述下光路盒均為反射透射元件； 其中，所述上光學成像裝置設置于所述上光路盒的透射面一側，所述上光源設置于所述上光路盒的反射面一側；所述下光學成像裝置設置于所述下光路盒的透射面一側，所述下光源設置于所述下光路盒的反射面一側。
10.根據權利要求5所述的電路板光學檢測機，其特征在于:所述機身內設置有高度調節機構，所述上橫梁、所述下橫梁兩端均設置于所述高度調節機構上以使得設置于所述上橫梁的所述上光學成像裝置、設置于所述下橫梁的所述下光 學成像裝置能在豎直方向上進行高度調節。
【文檔編號】G01N21/15GK203786021SQ201420037161
【公開日】2014年8月20日 申請日期:2014年1月21日 優先權日:2014年1月21日
【發明者】紀其樂 申請人:奧蒂瑪光學科技（深圳）有限公司