一種電容屏節點電容測試儀及其測試方法
【專利摘要】本發明提供一種電容屏節點電容測試儀及其測試方法，其結構是由微處理器MCU、電容數字傳感器芯片MS3110、探針A、探針B、補償電容Cref和被檢測電容Ctest組成，其中微處理器MCU的AD腳接電容數字傳感器芯片MS3110的Vout腳，電容數字傳感器芯片MS3110的CSCOM腳和CS21N腳分別串接探針A和探針B接被檢測電容Ctest的兩腳，補償電容的兩腳與電容數字傳感器芯片MS3110的CSCOM腳和CS1N腳并接。
【專利說明】一種電容屏節點電容測試儀及其測試方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及測量【技術領域】，具體地說是一種電容屏節點電容測試儀及其測試方法。
【背景技術】
[0002]目前市場上常用的測試電容的數字萬用表測量范圍在!級別，而電容屏節點電容在2迚左右，普通萬用表無法達到測量精度，測試迚級別的電容主要使用1X1？測試儀，IX尺測試儀成本要上萬元。
【發明內容】
[0003]本發明的目的是提供一種電容屏節點電容測試儀及其測試方法。
[0004]本發明的目的是按以下方式實現的，其結構是由微處理器1⑶、電容數字傳感器芯片133110、探針八、探針8、補償電容06？和被檢測電容以60組成，其中微處理器1⑶的八0腳接電容數字傳感器芯片133110的70機腳，電容數字傳感器芯片133110的腳和(:32謂腳分別串接探針八和探針8接被檢測電容以60的兩腳，補償電容的兩腳與電容數字傳感器芯片133110的(:3(1)1腳和腳并接，具體測試步驟如下:
1)當以60空載時，通過調節補償電容06？和133110芯片內部的步進電容使輸出乂01^為0.這時輸出電容為零，此步驟為電容校準；
2)用探針八接到電容屏1101的一根引腳上，用探針8接到電容屏1102的一根引腳上，此時通過輸出電壓計算得到的電容為電容屏兩層110之間的節點電容。
[0005]本發明的有益效果是:提供了一種低成本、高精度微小電容測試儀及其測試方法，測量精度可達到作級別。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0006]圖1是測試儀電路原理圖。
【具體實施方式】
[0007]參照說明書附圖對本發明的測試儀及其測試方法作以下詳細地說明。
[0008]一種電容屏節點電容測試方法，對本測試方法說明如下:
1.0^68^為待測試節點電容，01-6？為抵消探針、芯片管腳之間的分布電容而增加的補償電容；
2.當以60空載時，通過調節06？和133110芯片內部的步進電容使輸出^0此為0.這時輸出電容為零，此步驟為電容校準；
3.用探針4接到1101的一根引腳上，用探針8接到1102的一根引腳上，此時通過輸出電壓計算得到的電容為兩層110之間的節點電容。
[0009]在本發明方法實現的測試系統中，采用了 110^0-3冊301^公司設計的133110電容數字傳感器芯片。它的電容測量精度可以達到4aF/rtHZ，單通道電容測量范圍可達1pF,可配置為單通道測量或者差分電容輸入測量。
[0010]本測量方法使用差分電容輸入測量，這是本方法實現的關鍵。
[0011]除說明書所述的技術特征外，均為本專業技術人員的已知技術。
【權利要求】
1.一種電容屏節點電容測試儀及其測試方法，其特征在于，其結構是由微處理器MCU、電容數字傳感器芯片MS3110、探針A、探針B、補償電容Cref和被檢測電容Ctest組成，其中微處理器MCU的AD腳接電容數字傳感器芯片MS3110的Vout腳，電容數字傳感器芯片MS3110的CSCOM腳和CS2IN腳分別串接探針A和探針B接被檢測電容Ctest的兩腳，補償電容的兩腳與電容數字傳感器芯片MS3110的CSCOM腳和CSlN腳并接，具體測試步驟如下: 1)當Ctest空載時，通過調節補償電容Cref和MS3110芯片內部的步進電容使輸出Vout為0.5V，這時輸出電容為零，此步驟為電容校準； 2)用探針A接到電容屏ITOl的一根引腳上，用探針B接到電容屏IT02的一根引腳上，此時通過輸出電壓計算得到的電容為電容屏兩層ITO之間的節點電容。
【文檔編號】G01R27/26GK104459336SQ201410733720
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年12月5日 優先權日:2014年12月5日
【發明者】姚舜, 李偉, 于治樓 申請人:浪潮集團有限公司