一種檢測單齒大徑的通規的制作方法
【專利摘要】本發明公開一種檢測單齒大徑的通規，其特征在于：該通規的本體(1)為四段式階梯結構，從左往右依次為防碰傷圓柱段(1a)、外花鍵段(1b)、手握圓柱段(1c)和定位基準圓柱段(1d)構成，其中：所述防碰傷圓柱段(1a)的長度為8mm，其直徑為所述外花鍵段(1b)的長度為30mm，其大徑為其中徑為且所述手握圓柱段(1c)的長度為115mm；所述定位基準圓柱段(1d)的長度為10mm，其直徑為本發明的定位基準圓柱段用于定位，以便外花鍵段精確地檢測單齒大徑的尺寸，進而有效判斷單齒大徑的尺寸是否超過規定的下偏差，且本通規的結構簡單，易于制造，檢測方便，具有很好的實用性。
【專利說明】一種檢測單齒大徑的通規
【技術領域】
[0001] 本發明屬于大徑檢測領域，具體地說，尤其涉及一種檢測單齒大徑的通規。
【背景技術】
[0002] 單齒花鍵孔完成加工后，需要檢測其大徑尺寸是否超差。現有的檢測方式是先利 用光學顯微鏡獲取產品圖像，再通過人工方式來看花鍵孔的大徑。由于光學顯微鏡獲取產 品圖像的分辨率低，人工獲取花鍵孔大徑的過程中就存在較大的誤差，且不同的檢測人員 得出的檢測結果可能有很大差異，甚至于完全不同，為此急需解決上述技術問題。
【發明內容】
[0003] 本發明所要解決的技術問題在于提供一種檢測單齒大徑的通規，欲提高檢測精 度。
[0004] 本發明的技術方案如下：一種檢測單齒大徑的通規，其特征在于：該通規的本體 (1)為四段式階梯結構，從左往右依次為防碰傷圓柱段（la)、外花鍵段（lb)、手握圓柱段 (Ic)和定位基準圓柱段（Id)構成，其中：所述防碰傷圓柱段（Ia)的長度為8mm，其直徑 為所述外花鍵段（lb)的長度為30_，其大徑為，其中徑為 24 ，且所述手握圓柱段（lc)的長度為115_;所述定位基準圓柱段（ld)的 長度為10mm，其直徑為24.2967°__。
[0005] 在以上技術方案中，所述定位基準圓柱段（Id)用于定位，以便外花鍵段（Ib)精確 地檢測單齒大徑的尺寸，進而有效判斷單齒大徑的尺寸是否超過規定的下偏差，且本通規 的結構簡單，易于制造，檢測方便，具有很好的實用性。
[0006] 所述防碰傷圓柱段（Ia)與外花鍵段（Ib)的連接處加工有退刀槽，且所述手握圓 柱段（Ic)的外圓面滾有網紋。
[0007] 在上述結構中，所述退刀槽能夠方便加工，而網紋便于檢測人員手握。
[0008] 有益效果：本發明的定位基準圓柱段用于定位，以便外花鍵段精確地檢測單齒大 徑的尺寸，進而有效判斷單齒大徑的尺寸是否超過規定的下偏差，且本通規的結構簡單，易 于制造，檢測方便，具有很好的實用性。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0009] 圖1為本發明的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0010] 下面結合附圖和實施例對本發明作進一步說明：
[0011] 如圖1所示，一種檢測單齒大徑的通規，該通規的本體1為四段式階梯結構，從 左往右依次為防碰傷圓柱段la、外花鍵段lb、手握圓柱段Ic和定位基準圓柱段Id構成。 其中：防碰傷圓柱段Ia的長度為8_，其直徑為，所述外花鍵段Ib的長度為 3〇臟，其大徑為2429Γ1 _，其中徑為，且所述手握圓柱段lc的長 度為115臟；所述定位基準圓柱段Id的長度為IOmm,其直徑為24,296乂__。所述防 碰傷圓柱段Ia與外花鍵段Ib的連接處加工有退刀槽，該退刀槽的長度為2mm，其外徑為 18mm，且手握圓柱段Ic的外圓面滾有網紋。
[0012] 以上所述僅為本發明的較佳實施例而已，并不以本發明為限制，凡在本發明的精 神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。
【權利要求】
1. 一種檢測單齒大徑的通規，其特征在于：該通規的本體（1)為四段式階梯結構，從 左往右依次為防碰傷圓柱段（la)、外花鍵段（lb)、手握圓柱段（Ic)和定位基準圓柱段 (Id)構成，其中：所述防碰傷圓柱段（Ia)的長度為8謹，其直徑為22JGl1mm，所述外 花鍵段（Ib)的長度為3〇臟，其大徑為24.29Γ1?，其中徑為24.296/-讓4腿，且所 述手握圓柱段（Ic)的長度為115mm;所述定位基準圓柱段（Id)的長度為10mm，其直徑為 24.2967°__。
2. 根據權利要求1所述的檢測單齒大徑的通規，其特征在于：所述防碰傷圓柱段（Ia) 與外花鍵段（Ib)的連接處加工有退刀槽，且所述手握圓柱段（Ic)的外圓面滾有網紋。
【文檔編號】G01B5/08GK104457503SQ201410591880
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年10月28日 優先權日:2014年10月28日
【發明者】段含輝 申請人:重慶永達精密機械有限公司