電路板感光元件測試裝置制造方法
【專利摘要】本發明公開了一種電路板感光元件測試裝置，該電路板感光元件測試裝置包括帶特定發光裝置的盒式底座、漏光板、定位支桿、單動筆形汽缸和上遮光板，所述帶特定發光裝置的盒式底座上安裝有四個單動筆形汽缸，四個單動筆形汽缸連接著漏光板，漏光板上設有四個定位支桿，四個定位支桿的上端連接著上遮光板。通過上述方式，本發明利用特定的漏光板對電路板上的所有感光元件進行統一測試，一次光照完成所有元件的性能測試，大大提高測試效率。
【專利說明】電路板感光元件測試裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及電子元件測試裝置領域，特別是涉及一種電路板感光元件測試裝置。
【背景技術】
[0002]在電子產品的生產過程中，其電路板的生產是一個比較關鍵的工藝，需要對每一塊電路板進行不同的測試，不同的電路板根據其大小和安裝的電子元件不同，其測試也是不一樣的，其中的感光元件的測試就比較特殊，需要特定的光照測試，現有的方法都是對感光元件逐一進行測試，單個照射，單個測試通段性能，效率極低。
【發明內容】
[0003]本發明主要解決的技術問題是提供一種電路板感光元件測試裝置，其利用特定的漏光板對電路板上的所有感光元件進行統一測試，一次光照完成所有元件的性能測試，大大提高測試效率。
[0004]為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是:提供一種電路板感光元件測試裝置，該電路板感光元件測試裝置包括帶特定發光裝置的盒式底座、漏光板、定位支桿、單動筆形汽缸和上遮光板，所述帶特定發光裝置的盒式底座上安裝有四個單動筆形汽缸，四個單動筆形汽缸連接著漏光板，漏光板上設有四個定位支桿，四個定位支桿的上端連接著上遮光板；
優選的是，所述漏光板的漏光位置與測試電路板對應；
優選的是，所述漏光板四周的下邊沿設有軟遮光條；
優選的是，所述盒式底座的背板上設有電路板連接用插針排和快插式進氣接頭。
[0005]本發明的有益效果是:本發明一種電路板感光元件測試裝置，其利用特定的漏光板對電路板上的所有感光元件進行統一測試，一次光照完成所有元件的性能測試，大大提高測試效率。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0006]圖1是本發明電路板感光元件測試裝置的結構放大示意圖；
圖2是本發明電路板感光元件測試裝置的后視放大圖。
【具體實施方式】
[0007]下面結合附圖對本發明較佳實施例進行詳細闡述，以使發明的優點和特征能更易于被本領域技術人員理解，從而對本發明的保護范圍做出更為清楚明確的界定。
[0008]請參閱圖1和圖2，本發明實施例包括:
一種電路板感光元件測試裝置，該電路板感光元件測試裝置包括帶特定發光裝置的盒式底座1、漏光板2、定位支桿3、單動筆形汽缸4和上遮光板5，所述帶特定發光裝置的盒式底座I上安裝有四個單動筆形汽缸4，四個單動筆形汽缸4連接著漏光板2，漏光板2上設有四個定位支桿3,四個定位支桿3的上端連接著上遮光板5 ；
所述漏光板2的漏光位置與測試電路板對應；所述漏光板2四周的下邊沿設有軟遮光條6 ;所述盒式底座I的背板上設有電路板連接用插針排7和快插式進氣接頭8 ;所述特定發光裝置可以發出不同波段的測試用光。
[0009]本發明電路板感光元件測試裝置，其利用特定的漏光板對電路板上的所有感光元件進行統一測試，一次光照完成所有元件的性能測試，大大提高測試效率。
[0010]以上所述僅為本發明的實施例，并非因此限制本發明的專利范圍，凡是利用本發明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的【技術領域】，均同理包括在本發明的專利保護范圍內。
【權利要求】
1.一種電路板感光元件測試裝置，其特征在于:該電路板感光元件測試裝置包括帶特定發光裝置的盒式底座、漏光板、定位支桿、單動筆形汽缸和上遮光板，所述帶特定發光裝置的盒式底座上安裝有四個單動筆形汽缸，四個單動筆形汽缸連接著漏光板，漏光板上設有四個定位支桿，四個定位支桿的上端連接著上遮光板。
2.根據權利要求1所述的電路板感光元件測試裝置，其特征在于:所述漏光板的漏光位置與測試電路板對應。
3.根據權利要求1所述的電路板感光元件測試裝置，其特征在于:所述漏光板四周的下邊沿設有軟遮光條。
4.根據權利要求1所述的電路板感光元件測試裝置，其特征在于:所述盒式底座的背板上設有電路板連接用插針排和快插式進氣接頭。
【文檔編號】G01M11/00GK104166064SQ201410438963
【公開日】2014年11月26日 申請日期:2014年9月1日 優先權日:2014年9月1日
【發明者】黃掌飛 申請人:蘇州市吳中區胥口廣博模具加工廠