一種適用于管狀試樣的老化箱的制作方法
【專利摘要】本發明提供了一種適用于管狀試樣的老化箱，包括用于固定管狀試樣(2)的試樣夾具(1)和多個長條形的老化光源(6)，試樣夾具(1)能夠驅動該老化箱所處理的管狀試樣(2)以管狀試樣(2)的軸線為軸轉動，多個長條形的老化光源(6)分布在試樣夾具(1)的周圍，每個長條形的老化光源(6)的長度方向均與該老化箱所能處理的管狀試樣(2)的軸線平行，每個長條形的老化光源(6)到該老化箱所能處理的管狀試樣(2)的軸線的距離均相同。該適用于管狀試樣的老化箱能夠針對高分子材料制的壓力管道/氣瓶進行外表面實驗室光源加速老化試驗，并能為進一步的試驗提供合格的外表面老化程度均勻的管狀高分子試樣。
【專利說明】一種適用于管狀試樣的老化箱
【技術領域】
[0001] 本發明涉及高分子材料測試【技術領域】，具體的是一種適用于管狀試樣的老化箱。
【背景技術】
[0002] 近年來，隨著高分子材料行業的快速發展與技術的成熟，非金屬承壓設備采用全 高分子、高分子復合材料或者高分子涂層材料以在表面改性、力學承載、工程防腐等方面部 分甚至全部取代金屬材料情況越來越多，并在我國的民生建設、經濟發展等重要領域起到 重要作用。但由于承壓設備服役環境的特殊性，其許多部件往往都受到自然環境與工業環 境等多重老化因素誘導。對特種設備而言，高分子材料老化主要的危害是造成其性能損失， 導致材料的不合于使用問題。相關行業中高分子材料許多情況下都是最主要防腐措施或者 最薄弱的部位，是容易誘發設備失效的重點環節。與之相對應的是，由于研究工作的開展不 足，導致我國的檢測單位對其老化與失效的認知缺乏，相關的檢測標準的嚴重滯后，給相關 設備的安全運行帶來難以預知的風險。
[0003] -般來說，造成高分子材料老化原因主要是由于結構或組分內部具有易引起老化 的低能鍵如具有不飽和雙鍵、支鏈、羰基、末端上的羥基，等等。對于特種設備所用的高分子 材料來說，引起老化環境因素多種多樣，主要原因多為陽光（紫外）、氧氣（或其他氣態氧化 質，如臭氧、氯氣等）、熱、水、應力、以及自然環境如海水、鹽霧等。其中，以高能射線為主導 因素的光氧老化是最重要的老化形式。
[0004] 對于高分子老化研究工作而言，如何建立高分子材料的加速老化方法和對老化后 的高分子材料的性能評價指標是非常重要的。在實際工況下由于高分子材料的老化是一個 緩慢的過程，因此需要對其老化進程進行加速以減少試驗時間。目前一般的方法是采用紫 外燈、氙燈等高能光源進行輻照對光氧老化進行加速、通過鹽霧、濕熱和周浸等方法等對熱 氧老化和涂層失效與基體腐蝕進行加速、進而通過力學性能指標、色差、涂層附著力等判定 材料的耐老化能力。
[0005] 然而對于特種設備而言，單一研究材料的性能而不結合設備構形往往不能對設備 失效進行有效表征。特別是承壓設備，由于其工作特性，其表征往往需要進行水壓爆破等性 能試驗，因此需要對整件設備進行均勻的加速老化來模擬致其老化的實際工況，因此對加 速老化的設備要求極為嚴格。然而，目前市場上（包括國際市場）常用的加速老化箱均只 能針對平板構形的片狀試樣進行處理，對于復雜構形的高分子/高分子復合材料的特種設 備無法適用，難以滿足相關工程試驗的需要，給后續試驗以及標準制定帶來很大的桎梏。
【發明內容】
[0006] 為了解決普通的高分子老化箱不適合制作管狀高分子試樣的問題。本發明提供了 一種適用于管狀試樣的老化箱，該適用于管狀試樣的老化箱能夠針對高分子材料制的壓力 管道/氣瓶進行外表面實驗室光源加速老化試驗，并能為進一步的試驗提供合格的外表面 老化程度均勻的管狀高分子試樣。
[0007] 本發明為解決其技術問題采用的技術方案是：一種適用于管狀試樣的老化箱，包 括用于固定管狀試樣的試樣夾具和多個長條形的老化光源，試樣夾具能夠驅動該老化箱所 處理的管狀試樣以管狀試樣的軸線為軸轉動，多個長條形的老化光源分布在試樣夾具的周 圍，每個長條形的老化光源的長度方向均與該老化箱所能處理的管狀試樣的軸線平行，每 個長條形的老化光源到該老化箱所能處理的管狀試樣的軸線的距離均相同。
[0008] 所述適用于管狀試樣的老化箱還包括光強探頭，光強探頭位于該老化箱所能處理 的管狀試樣的上方，同時光強探頭還位于與該老化箱所能處理的管狀試樣的外邊緣平齊的 位置。
[0009] 光強探頭通過探頭夾具與探頭滑軌連接，光強探頭和探頭夾具能夠沿著探頭滑軌 往復移動，該探頭滑軌沿該老化箱所能處理的管狀試樣的徑向設置。
[0010] 光強探頭和多個長條形的老化光源均與光強控制系統連接，該光強控制系統能夠 根據光強探頭接收到的實際輻照強度自動調整老化光源的供電電流實現管狀試樣接收到 的輻照度恒定。
[0011] 老化光源以標準方式設置，該標準方式設置為多個長條形的老化光源均勻分布在 試樣夾具的周圍，老化光源的數量為標準值，該標準值為A ;A的計算公式為：
[0012] A = x^D, xx = 2 π rXx〇 ；
[0013] A的數值為四舍五入保留整數，A的單位為個；Xi為老化光源的密度，Xi的數值為 四舍五入保留整數，Xi單位為個/mm ;D為該老化箱所能處理的管狀試樣的直徑,D的單位為 mm ;r為該老化箱所能處理的管狀試樣的半徑，r的單位為mm ;X(I為用常規平板試樣老化設 備處理管狀試樣時該常規平板試樣老化設備中的老化光源密度，X(l的數值為四舍五入保留 整數，X(I單位為個/mrn。
[0014] 老化光源以精簡方式設置，該精簡方式設置為僅保留沿順時針或逆時針方向連續 的一半數量的以該標準方式設置的老化光源，該精簡方式設置的老化光源的數量為四舍五 入保留整數。
[0015] 老化光源的數量為4個，相鄰的兩個老化光源與該老化箱所能處理的管狀試樣軸 線的連線之間的夾角為45°。
[0016] 在該老化箱所能處理的管狀試樣的軸線方向上，光強探頭位于保留的老化光源對 應的該老化箱所能處理的管狀試樣的弧形表面的中心。
[0017] 老化光源通過光源夾具與光源滑軌連接，老化光源和光源夾具能夠沿著光源滑軌 往復移動，光源滑軌沿該老化箱所能處理的管狀試樣的徑向設置。
[0018] 試樣夾具包括用于固定管狀試樣的轉盤，該轉盤的軸線與管狀試樣的軸線重合， 試樣夾具還包括能夠驅動該轉盤以該轉盤的軸線為軸轉動的電機。
[0019] 本發明的有益效果是：該適用于管狀試樣的老化箱能夠針對高分子材料制的壓力 管道/氣瓶進行外表面實驗室光源加速老化試驗，并能為進一步的試驗提供合格的外表面 老化程度均勻的管狀高分子試樣。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0020] 下面結合附圖對本發明所述的一種適用于管狀試樣的老化箱作進一步詳細的描 述。
[0021] 圖1是第一種實施方式中該適用于管狀試樣的老化箱的俯視圖。
[0022] 圖2是圖1中沿A-A方向的剖視圖。
[0023] 圖3是第二種實施方式中老化光源的設置示意圖。
[0024] 圖4是第三種實施方式中老化光源的設置示意圖。
[0025] 其中1.試樣夾具，2.管狀試樣，3.探頭滑軌，4.探頭夾具，5.光強探頭，6.老化光 源，7.光源夾具，8.光源滑軌。
【具體實施方式】
[0026] 下面結合附圖對本發明所述的適用于管狀試樣的老化箱作進一步詳細的說明。一 種適用于管狀試樣的老化箱，所述適用于管狀試樣的老化箱內包括用于固定管狀試樣2的 試樣夾具1和多個長條形的老化光源6,試樣夾具1能夠驅動該老化箱所處理的管狀試樣2 以管狀試樣2的軸線為軸轉動，多個長條形的老化光源6分布在試樣夾具1的周圍，每個長 條形的老化光源6的長度方向均與該老化箱所能處理的管狀試樣2的軸線平行，每個長條 形的老化光源6到該老化箱所能處理的管狀試樣2的軸線的距離均相同，如圖1和圖2所 /_J、1 〇
[0027] 該適用于管狀試樣的老化箱的主要設計思路是多個老化光源6按圓周狀放置在 試樣夾具1的周圍，即在堅直方向上多個老化光源6分布在一個圓上，并保證老化光源6 組成的圓與受輻照的管狀試樣2為同心圓。該適用于管狀試樣的老化箱能夠用于處理塑 料管道與塑料氣瓶試樣，該適用于管狀試樣的老化箱能夠在實驗室中通過紫外、氙燈、碳弧 燈等標準的高能量加速老化射線光源對非金屬管狀試樣進行符合GB/T14522-2008和GB/ T16422. 1-2006標準的加速老化試驗，即老化光源6為紫外、或氙燈、或碳弧燈，該適用于管 狀試樣的老化箱通過對管狀試樣2的照射，為進一步的性能測試提供表面均勻的加速老化 后試樣。
[0028] 所述適用于管狀試樣的老化箱內還包括光強探頭5,光強探頭5位于該老化箱所 能處理的管狀試樣2的上方，同時光強探頭5還位于與該老化箱所能處理的管狀試樣2的 外邊緣平齊的位置。光強探頭5用于探測管狀試樣2外表面受到的輻照強度。
[0029] 光強探頭5通過探頭夾具4與探頭滑軌3連接，光強探頭5和探頭夾具4能夠沿 著探頭滑軌3往復移動，該探頭滑軌3沿該老化箱所能處理的管狀試樣2的徑向設置。管 狀試樣2的半徑變化時，光強探頭5可以沿管狀試樣2徑向的移動，移動的距離可以通過滑 動探頭夾具4來實現。具體的，光強探頭5與探頭夾具4固定連接，探頭夾具4能夠沿著探 頭滑軌3往復移動，探頭夾具4和探頭滑軌3均為現有的裝置或結構，不再具體介紹。
[0030] 如圖1和圖2所示，所述適用于管狀試樣的老化箱還包括光強控制系統，光強探頭 5和多個長條形的老化光源6均與光強控制系統連接，該光強控制系統能夠根據光強探頭5 接收到的實際輻照強度自動調整老化光源6的供電電流實現管狀試樣2接收到的輻照度恒 定。光強控制系統的作用是當管狀試樣2直徑變化而要保持光源距試樣表面的距離不變， 需要沿滑軌移動光源，這時會造成光源的密度變化。此時以光強探頭5接收到實際輻照強 度為依據，系統自動調小或調大供電電流以實現輻照度的恒定。例如光強探頭5接收到的 實際輻照強度大于預設值，則光強控制系統將減小老化光源6的電流，以降低管狀試樣2接 收到的輻照度；如果光強探頭5接收到的實際輻照強度小于預設值，則光強控制系統將增 大老化光源6的電流，以提高管狀試樣2接收到的輻照度，從而實現管狀試樣2接收到的輻 照度恒定。
[0031] 老化光源6以標準方式設置時，老化光源6的數量需滿足GB/T16422. 1-2006的要 求，即任意位置光強不得小于最強點的90%。其安置數量可參照ATLAS、Q-LAB等公司的成 熟常規平板試樣老化試驗設備計算，按照可能進行試驗的最大直徑的管狀試樣要求的數量 進行均勻排布。如多個長條形的老化光源6以圓形均勻分布在試樣夾具1的周圍。
[0032] 具體是，該標準方式設置為多個長條形的老化光源6均勻分布在試樣夾具1的周 圍，老化光源6的數量為標準值，該標準值為A ;A的計算公式為：
[0033] A = x^D, xx = 2 π rXx〇 ；
[0034] A的數值為四舍五入保留整數，A的單位為個；Xi為老化光源6的密度，Xi的數值 為四舍五入保留整數，Xl單位為個/mm ;參照目前的成熟產品，在老化光源直徑為37mm的情 況下，&的值可取為〇. 0143 ;D為該老化箱所能處理的管狀試樣2的直徑，D的單位為mm ; r為該老化箱所能處理的管狀試樣2的半徑（按可能進行試驗的最大的管狀試樣2的半徑 值計算），r的單位為mm ;X(I為用常規平板試樣老化設備處理管狀試樣2時該常規平板試樣 老化設備中的老化光源密度，的數值為四舍五入保留整數，X。單位為個/_。
[0035] 為了便于進出管狀試樣2,可將老化光源6數量在老化光源6以標準方式設置的基 礎上適當減少。即老化光源6以精簡方式設置，該精簡方式設置為僅保留沿順時針或逆時 針方向連續的二分之一至三分之一數量的以該標準方式設置的老化光源6,該精簡方式設 置的老化光源6的數量為四舍五入保留整數。如多個長條形的老化光源6以弧形均勻分布 光源安裝區，該光源安裝區為扇形柱，該扇形柱的軸線（相當于扇形的圓心）為管狀試樣2 的軸線，該扇形柱的圓心角為120°?180°。為了便于清楚的說明該老化光源6以精簡方 式設置，下面舉例說明：
[0036] 1、老化光源6以標準方式設置時，老化光源6的數量為8個，8個老化光源6在試 樣夾具1均勻分布，相鄰的兩個老化光源6與該老化箱所能處理的管狀試樣2軸線的連線 之間的夾角為45° (360 + 8)。老化光源6以精簡方式設置時，老化光源6的數量為4個 (8 + 2)或3個（8 + 3后四舍五入保留整數），當為4個時，該4個老化光源6為僅保留沿順 時針或逆時針方向連續的4個以該標準方式設置的老化光源6,相鄰的兩個老化光源6與該 老化箱所能處理的管狀試樣2軸線的連線之間的夾角為45°。即老化光源6以精簡方式設 置時，老化光源6的數量為4個，相鄰的兩個老化光源6與該老化箱所能處理的管狀試樣2 軸線的連線之間的夾角為45°。
[0037] 2、老化光源6以標準方式設置時，老化光源6的數量為9個，9個老化光源6在試 樣夾具1均勻分布，相鄰的兩個老化光源6與該老化箱所能處理的管狀試樣2軸線的連線 之間的夾角為40° (360 + 9)。老化光源6以精簡方式設置時，老化光源6的數量為5個 (9 + 2后四舍五入保留整數）至3個（9 + 3)，如3個、4個或5個，當為5個時，該5個老化 光源6為僅保留沿順時針或逆時針方向連續的5個以該標準方式設置的老化光源6,相鄰的 兩個老化光源6與該老化箱所能處理的管狀試樣2軸線的連線之間的夾角為40°。即老化 光源6以精簡方式設置時，老化光源6的數量為5個，相鄰的兩個老化光源6與該老化箱所 能處理的管狀試樣2軸線的連線之間的夾角為40°。
[0038] 3、老化光源6以標準方式設置時，老化光源6的數量為10個，10個老化光源6在 試樣夾具1均勻分布，相鄰的兩個老化光源6與該老化箱所能處理的管狀試樣2軸線的連 線之間的夾角為36° (360 + 10)，如圖3所示。老化光源6以精簡方式設置時，老化光源6 的數量為5個（10 + 2)至3個（10 + 3后四舍五入保留整數），如3個、4個或5個，當為5 個時，該5個老化光源6為僅保留沿順時針或逆時針方向連續的5個以該標準方式設置的 老化光源6,相鄰的兩個老化光源6與該老化箱所能處理的管狀試樣2軸線的連線之間的夾 角為36°。即老化光源6以精簡方式設置時，老化光源6的數量為5個，相鄰的兩個老化光 源6與該老化箱所能處理的管狀試樣2軸線的連線之間的夾角為36°。
[0039] 一般情況下，在標準模式下，即老化光源6以標準方式設置，老化光源6的數量可 以為14個至20個。
[0040] 但老化光源6以精簡方式設置時，管狀試樣2的整體實際輻照量按比例下降，須在 計算中體現。例如圖1中所示，老化光源6的數量減少至標準數量的1/2至1/3,如果老化 光源6的數量減少至標準數量的1/2,若此時測光探頭5探測出輻照強度為1. 6W/m2,輻照 總時間為8h，此時的輻照總量為Ey E。的計算結果如下：
[0041] E〇 = (1. 6ff/m2 X 8h X 3600s/h) /2 = 2. 304 X 104J/m2
[0042] 即按照光強探頭5的實測值計算后除以2(精簡方式設置時，精簡至標準數量的 1/2則實測值計算后除以2,如果精簡至標準數量的1/3則實測值計算后除以3,即精簡至標 準數量的幾分之幾則實測值計算后除以該分數的倒數）。這里面需要注意兩點：
[0043] 其一是即使是輻照總量相同，若調整過輻照強度與運行時間后（降低輻照強度增 大運行時間使之乘積相同，反之亦然）得到的試樣老化程度不一定相同，因此進行比較性 試驗最好確定某一固定的老化光源減少比例。
[0044] 其二是從原理上光源數量的減少的比例與管狀試樣所接受的輻照總量減少的比 例相同，但由于箱體中的漫反射現象，以及試驗運行時間不同帶來其他老化因素作用的影 響，其比例具有一定的差異，因此建議最好將老化光源減少至1/2,這樣也在最經濟且安裝 試樣最為便利的情況下，最接近平板狀試樣的老化設備測光探頭的工作狀態（一般采用光 柵測光探頭，無法識別入射角70°以上的光線）。
[0045] 當老化光源6以精簡方式設置時，光強探頭5應放置于光強最大處，即在該老化箱 所能處理的管狀試樣2的軸線方向上，光強探頭5位于保留的老化光源6對應的該老化箱 所能處理的管狀試樣2的弧形表面的中心。如老化光源6以精簡方式設置時，老化光源6 的數量為4個時，光強探頭5放在4個老化光源6中的第2個老化光源6 (順時針或逆時針 方向）和第3個老化光源6中間，如圖1所示。或者如老化光源6以精簡方式設置時，老化 光源6的數量為5個時，光強探頭5放在與5個老化光源6中的第3個老化光源6 (順時針 或逆時針方向）相對應處，如圖4所示。
[0046] 老化光源6通過光源夾具7與光源滑軌8連接，老化光源6和光源夾具7能夠沿 著光源滑軌8往復移動，光源滑軌8沿該老化箱所能處理的管狀試樣2的徑向設置。管狀 試樣2的半徑變化時，老化光源6可以沿管狀試樣2徑向的移動，移動的距離可以通過滑動 光源夾具7來實現。具體的，老化光源6與光源夾具7固定連接，光源夾具7能夠沿著光源 滑軌8往復移動，光源夾具7和光源滑軌8均為現有的裝置或結構，不再具體介紹。
[0047] 老化光源6與管狀試樣2之間的距離通過光源滑軌8移動老化光源6進行控制， 須使其保持為某一定值d(d需滿足：既保證不因距離太遠輻射強度過小；又不會因為光源 與試樣過度接近而影響試樣表面輻照強度的均勻性，以及因試樣表面的變化影響老化光源 的作用，具體距離數據可參考ATALAS、Q-LAB等國際成熟公司的設計）。
[0048] 試樣夾具1包括用于固定管狀試樣2的轉盤，該轉盤的軸線與管狀試樣2的軸線 重合，試樣夾具1還包括能夠驅動該轉盤以該轉盤的軸線為軸轉動的電機。試樣夾具1與 試樣控制系統連接，該試樣控制系統通過控制該電機和轉盤從而控制管狀試樣2按一定速 率轉動，以保證管狀試樣2的表面受光均勻，管狀試樣2的轉動速度需要控制在一定范圍之 內，既保證試樣表面老化過程的均勻性，又能保證不因轉速過快給管狀試樣表面帶來降溫 效應。
[0049] 所述適用于管狀試樣的老化箱包括用于實現管狀試樣2接收到的輻照度恒定的 光強控制系統，還包括用于控制管狀試樣2轉動速度的試樣控制系統。所述適用于管狀試 樣的老化箱還包括控溫、控濕等設備如黑板溫度計、加熱設備、噴淋設備、冷卻設備等均與 普通平板試樣的老化箱相同，在本專利不再詳細介紹。
[0050] 以上所述，僅為本發明的具體實施例，不能以其限定發明實施的范圍，所以其等同 組件的置換，或依本發明專利保護范圍所作的等同變化與修飾，都應仍屬于本專利涵蓋的 范疇。另外，本發明中的技術特征與技術特征之間、技術特征與技術方案之間、技術方案與 技術方案之間均可以自由組合使用。
【權利要求】
1. 一種適用于管狀試樣的老化箱，其特征在于，所述適用于管狀試樣的老化箱包括用 于固定管狀試樣（2)的試樣夾具（1)和多個長條形的老化光源￠)，試樣夾具（1)能夠驅 動該老化箱所處理的管狀試樣（2)以管狀試樣（2)的軸線為軸轉動，多個長條形的老化光 源（6)分布在試樣夾具（1)的周圍，每個長條形的老化光源￠)的長度方向均與該老化箱 所能處理的管狀試樣（2)的軸線平行，每個長條形的老化光源（6)到該老化箱所能處理的 管狀試樣（2)的軸線的距離均相同。
2. 根據權利要求1所述的適用于管狀試樣的老化箱，其特征在于：所述適用于管狀試 樣的老化箱還包括光強探頭（5)，光強探頭（5)位于該老化箱所能處理的管狀試樣（2)的上 方，同時光強探頭（5)還位于與該老化箱所能處理的管狀試樣（2)的外邊緣平齊的位置。
3. 根據權利要求2所述的適用于管狀試樣的老化箱，其特征在于：光強探頭（5)通過 探頭夾具（4)與探頭滑軌（3)連接，光強探頭（5)和探頭夾具（4)能夠沿著探頭滑軌（3) 往復移動，該探頭滑軌（3)沿該老化箱所能處理的管狀試樣（2)的徑向設置。
4. 根據權利要求2所述的適用于管狀試樣的老化箱，其特征在于：光強探頭（5)和多 個長條形的老化光源（6)均與光強控制系統連接，該光強控制系統能夠根據光強探頭（5) 接收到的實際輻照強度自動調整老化光源（6)的供電電流實現管狀試樣（2)接收到的輻照 度恒定。
5. 根據權利要求2所述的適用于管狀試樣的老化箱，其特征在于：老化光源（6)以標 準方式設置，該標準方式設置為多個長條形的老化光源（6)均勻分布在試樣夾具（1)的周 圍，老化光源￠)的數量為標準值，該標準值為A ;A的計算公式為： k = χιΧ?, = 2 π rXx〇 ； A的數值為四舍五入保留整數，A的單位為個；Xi為老化光源（6)的密度，Xi的數值為 四舍五入保留整數，七單位為個/mm ;D為該老化箱所能處理的管狀試樣（2)的直徑，D的單 位為mm ;r為該老化箱所能處理的管狀試樣（2)的半徑,r的單位為mm 為用常規平板試 樣老化設備處理管狀試樣（2)時該常規平板試樣老化設備中的老化光源密度，X(l的數值為 四舍五入保留整數，X(i單位為個/mm。
6. 根據權利要求2所述的適用于管狀試樣的老化箱，其特征在于：老化光源（6)以精 簡方式設置，該精簡方式設置為僅保留沿順時針或逆時針方向連續的二分之一至三分之一 數量的以該標準方式設置的老化光源（6)，該精簡方式設置的老化光源（6)的數量為四舍 五入保留整數； 該標準方式設置為多個長條形的老化光源（6)均勻分布在試樣夾具（1)的周圍，老化 光源￠)的數量為標準值，該標準值為A ;A的計算公式為： A = x1XD,x1 = 2JirXx〇； A的數值為四舍五入保留整數，A的單位為個；Xi為老化光源（6)的密度，Xi的數值為 四舍五入保留整數，七單位為個/mm ;D為該老化箱所能處理的管狀試樣（2)的直徑，D的單 位為mm ;r為該老化箱所能處理的管狀試樣（2)的半徑,r的單位為mm 為用常規平板試 樣老化設備處理管狀試樣（2)時該常規平板試樣老化設備中的老化光源密度，X(l的數值為 四舍五入保留整數，X(i單位為個/mm。
7. 根據權利要求6所述的適用于管狀試樣的老化箱，其特征在于：老化光源（6)的數 量為4個，相鄰的兩個老化光源（6)與該老化箱所能處理的管狀試樣（2)軸線的連線之間 的夾角為45°。
8. 根據權利要求6所述的適用于管狀試樣的老化箱，其特征在于：在該老化箱所能處 理的管狀試樣（2)的軸線方向上，光強探頭（5)位于保留的老化光源（6)對應的該老化箱 所能處理的管狀試樣（2)的弧形表面的中心。
9. 根據權利要求1所述的適用于管狀試樣的老化箱，其特征在于：老化光源（6)通過 光源夾具（7)與光源滑軌（8)連接，老化光源（6)和光源夾具（7)能夠沿著光源滑軌（8) 往復移動，光源滑軌（8)沿該老化箱所能處理的管狀試樣（2)的徑向設置。
10. 根據權利要求1所述的適用于管狀試樣的老化箱，其特征在于：試樣夾具（1)包括 用于固定管狀試樣（2)的轉盤，該轉盤的軸線與管狀試樣（2)的軸線重合，試樣夾具（1)還 包括能夠驅動該轉盤以該轉盤的軸線為軸轉動的電機。
【文檔編號】G01N17/00GK104089871SQ201410341636
【公開日】2014年10月8日 申請日期:2014年7月17日 優先權日:2014年7月17日
【發明者】趙博, 壽比南, 徐彤, 尹力軍 申請人:中國特種設備檢測研究院