對檢查對象進行高分辨率微分相襯成像的x射線拍攝系統的制作方法
【專利摘要】本發明涉及一種用于對檢查對象進行微分相襯成像的X射線拍攝系統，具有：至少一個產生準相干X射線的X射線發射器；帶有對輻射敏感的、對X射線成像有效的輸入面的和布置成陣列的像素的X射線成像探測器；布置在檢查對象與射線成像探測器之間的衍射或相位光柵；為衍射或相位光柵對應配設的檢偏器光柵；和用于控制X射線成像探測器與接收以及處理X射線成像探測器的圖像信號的圖像系統。相位光柵和檢偏器光柵的尺寸為，使得它們遮蓋X射線成像探測器的輸入面的僅一部分，圖像系統構造為使讀出并處理X射線成像探測器的輸入面的由光柵遮蓋的部分作為用于相襯成像的部分區域，并且讀出并且處理X射線成像探測器的其余區域以便基于X射線的吸收成像。
【專利說明】對檢查對象進行高分辨率微分相襯成像的X射線拍攝系統
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種用于對檢查對象進行微分相襯成像的X射線拍攝系統，其具有:至少一個用于產生準相干的X射線的X射線發射器；帶有輻射敏感的、對射線成像有效的輸入面的和布置成陣列的像素的X射線成像探測器；布置在檢查對象與X射線成像探測器之間的衍射或相位光柵；為該衍射或相位光柵對應配設的檢偏器光柵；和用于控制X射線成像探測器與接收以及處理X射線成像探測器的圖像信號的圖像系統。
【背景技術】
[0002]對于微分相襯成像(PCI)，通常將三個光柵引入X射線源的光路。在作者為M.Bech 等人發表在 Phys.Med.B1l.54 (2009)，第 2747 至 2753 頁中的文章 “Soft-tissuephase-contrast tomography with an X-ray tube”中，記載這一種下文還將進一步闡述的用于PCI的實施例。
[0003]粒子，如X射線量子的波動性允許借助復折射率來描述現象，如折射和反射。
[0004]η = 1- δ +i β
[0005]在此虛部β表示吸收，該吸收基于當前的臨床X射線成像，例如計算機斷層成像、血管造影、放射性透視、熒光透視或乳房X光檢查，而實部δ表示在微分相位成像中觀察到的相位移動。
[0006]從DE102010018715A1中已知一種X射線拍攝系統，其中，為定性高質量X射線圖像使用對檢查對象進行相襯成像的X射線拍攝系統，該X射線拍攝系統具有至少一個帶有多個用于發送相干X射線的場發射X射線源的X射線發射器、X射線成像探測器、布置在檢查對象與X射線成像探測器之間的衍射光柵G1和布置在衍射光柵G1與X射線成像探測器之間的另一個光柵G2。
[0007]可以執行開頭所述類型的微分相襯成像的X射線拍攝系統從例如US7，500，784Β2中已知，結合圖1對其進行了闡述。
[0008]圖1示出用于帶有由六軸的工業或多關節機器人形式的機座I固定的C弓臂2的介入性套件的X射線拍攝系統的典型的主要特征，在C弓臂2的端部上安設有X射線源(例如帶有X射線管和準直器的X射線發射器3)以及安設有作為圖像拍攝單元的X射線成像探測器4。
[0009]借助例如從US7，500，784Β2中已知的具有優選六根旋轉軸線并因此具有六個自由度的多關節機器人，C弓臂2可以任意在空間上調節，例如方式是它圍繞旋轉中心在X射線發射器3與X射線成像探測器4之間旋轉。按本發明的血管造影的X射線系統I至4尤其是能圍繞旋轉中心和旋轉軸線在X射線成像探測器4的C弓臂平面中旋轉，優選能圍繞X射線成像探測器4的中點和圍繞與X射線成像探測器4的中點相交的旋轉軸線旋轉。
[0010]已知的多關節機器人具有固定地安裝在地板上的基本框架。在其上圍繞第一旋轉軸線以可旋轉的方式固定有旋轉臺。在該旋轉臺上圍繞第二旋轉軸線可轉動地安設有機器人翼，在該機器人翼上，圍繞第三旋轉軸線可旋轉地固定有機器人臂。在機器人臂的端部上，圍繞第四旋轉軸線以可旋轉的方式安設機器人手。機器人手具有用于C弓臂2的固定元件，該固定元件可圍繞第五旋轉軸線轉動并且可圍繞與之垂直延伸的第六旋轉軸線旋轉。
[0011]X射線診斷裝置的實現不依賴于工業機器人。也可以使用普通的C弓臂裝置。
[0012]X射線成像探測器4可以是矩形或方形、扁平的半導體探測器，它優選由非晶硅(a-Si)制成。也可以采用集成的且必要時計數的CMOS探測器。
[0013]在X射線發射器3的光路中，在患者臥榻的臺板5上具有作為檢查對象的待檢查患者6。在X射線診斷裝置上，連接有帶有圖像系統8的系統控制單元7，該圖像系統接收并且處理(操作元件例如未示出)X射線成像探測器4的圖像信號并且處理。然后，在監控信號燈9的顯示器上可以觀察到X射線照片。監控信號燈9可以借助天花板安裝的可縱向移動的、可樞轉、旋轉且高度可調節的支架系統10以懸臂和可下降的支承臂固定。
[0014]代替圖1中例如所示的、帶有六軸的工業或多關節機器人形式的基座的X射線系統，血管造影的X射線系統也可以具有垂直的天花板或地板安裝的用于C弓臂2的緊固裝置。
[0015]代替例如所示的C弓臂2，血管造影的X射線系統也可以具有分開的天花板和/或地板安裝的用于X射線發射器3和X射線成像探測器4的緊固裝置，它們例如直接電氣耦入口 ο
[0016]相襯成像原理根據圖2進一步闡述。由不相干的X射線發射器3發出的X射線穿透吸收光柵O(Gtl)以便產生相干的X射線12，吸收光柵引起X射線源的位置相關性以及穿透檢查對象14，例如患者6。通過檢查對象14，相干的X射線12的波前通過相位移動這樣地偏轉，如這表示無相位移動，亦即，無對象的波前的法線15，并且表示具有相位移動的波前的法線16。然后相位移動的波前通過衍射或相位光柵17 (G1)，該光柵具有與X射線譜的典型能量適配的光柵常數以便產生干涉線，并且又通過正在吸收的檢偏器光柵IS(G2)以便讀出所產生的干涉圖案。檢偏器光柵18的光柵常數與相位光柵17的光柵常數和該布置的其余幾何形狀和尺寸匹配。檢偏器光柵18例如以第一或第η個泰伯(Talbot)距離布置。檢偏器光柵18在此將干涉圖案轉換成可由探測器測得的強度圖案。
[0017]也就是說吸收光柵13(?)布置得靠近X射線發射器3的管焦點11，兩個另外的光柵，即相位光柵17 (G1)和檢偏器光柵18 (G2)布置在X射線成像探測器4之前附近并且在X射線12的光路中在待檢查對象14的后方。因為使用在醫學成像中的X射線成像探測器4的面積為20cmX 20cm至43cmX 43cm，所以光柵Gl和G2必須具有幾乎相同的尺寸。
[0018]所使用的光柵GyG1和G2必須具有幾微米范圍內的網格尺寸以便適合于具有根據應用為25kV至140kV的管電壓的診斷X射線光譜。光柵Gtl, G1和G2的高度取決于所使用的材料和設計能量并因此應當為至少20 μ m至200 μ m。因此，在此出現的高寬比可以達到100或更多。
[0019]制造這種光柵Gtl, G1和G2，根據現有技術僅借助LIGA方法可實現并因此是耗費的且昂貴。
[0020]若X射線源的管焦點11足夠小并且所產生的輻射功率仍然足夠大，則必要時省掉第一光柵Gtl,即吸收光柵13，如在設置例如多個場發射X射線源作為X射線發射器3時所給定那樣，如這從下列描述的DE102010018715A1中已知。
[0021]現在對于X射線成像探測器4的每個像素，微分相位移動確定的方式是，通過由箭頭表示的所謂“相位-步進”19，檢偏器光柵IS(G2)在多個步驟&=1，1(，例如1( = 4至8，)中垂直于相干的X射線12的福射方向和橫向于光柵結構的布置移動一個光柵常數相應的分數并且按照X射線成像探測器4的像素測得在拍攝時為該結構產生的信號Sk并因此掃描產生的干涉圖案。然后，對于各像素，描述該調制的函數(例如正弦函數)的參數通過合適的擬合方法，匹配或補償方法確定這樣測得的信號Sk。能見度，亦即，由最大和最小信號構成的歸一化差(或更準確地說:幅值相對平均信號歸一化)，是表征泰伯-勞(Talbot-Lau)干涉儀的質量的量度。它定義為掃描的調制的襯度。τ — ~.a
V— 二 ^一:，二二...........................................................—.........................................................................m.I—I—.1
SI 3,擊- ν~-,
[0023]此外，在該等式中表示了幅值A和平均強度?。能見度可以在零和I之間取值，因為所有量是正的并且Imax > Imin。在實際的干涉儀中，還滿足Imin >0，因此V的值域合理地窮盡。最小強度大于零，干涉儀的所有不理想的特性和缺點導致能見度的減小。作為可以通過能見度定義且通過該測量方式產生的第三信息表示為暗場。暗場指定由帶有對象和不帶對象的測量的能見度構成的比。
V ?.- v,■ I ref
[0024]13 —..................................—....................................................?.......................ψ.工
Sm ?&?τSm^
[0025]然后，從由用于各像素的擬合函數導出的帶對象和不帶對象(或患者)的特定尺寸的比較中可以產生三個不同的圖像:
[0026]⑴吸收圖像，
[0027](ii)微分相襯圖像(DPC)JP
[0028](iii)暗場圖像(dark-field image).
[0029]上述的光柵，即吸收光柵13 (G0)、衍射或相位光柵17 (G1)和可通過相位步進19移動的檢偏器光柵18 (G2)在硅中通過蝕刻產生，其中，光柵Gtl和G2中各個單獨的薄片之間的間隙以強烈吸收的材料(通常是金)來電鍍地填充，如這例如記載在Franz Pfeiffer等人發表于 Nature Physics2 (2006),第 258 至 261 頁的文章 “Phase retrieval anddifferential phase-contrast imaging with low-brillance χ-ray sources，，中。
[0030]圖3示意性示出具有薄片20和間隙21的序列的相位光柵17 (G1)的橫截面，其中，網格尺寸22此處為4 μ m。薄片的高度23為22 μ m，以便為設計能量(此處例如約14keV)的X射線引起適合的相位移動。
[0031]在圖4中，示出具有多個薄片20的檢偏器光柵IS(G2)，其中，間隙21以電鍍引入的金24填充。網格尺寸22此處為2 μ m。薄片的高度23為12 μ m，以便足夠強烈地吸收X射線。
[0032]這種制造的光柵Gtl, G1和G2具有約2cm至5cm的橫向尺寸。然后，按X射線成像探測器4的規格定向的各光柵Gtl至G2的總面積由一些單個的小塊光柵拼鋪而成。該方法是耗費的。尤其是整個布置所需的均質性對制造具有較高的要求。
【發明內容】
[0033]本發明所要解決的技術問題是，設計按開頭所述類型的X射線拍攝系統，使得可以實現具有高分辨率的實時相襯成像，同時整個布置具有良好的均質性以及低的用于光柵G0, G1和G2的成本。
[0034]該技術問題按本發明通過一種X射線拍攝系統解決，相位光柵和檢偏器光柵的尺寸為，使得它們遮蓋X射線成像探測器的輸入面的僅一部分，并且圖像系統構造為，使得它讀出和處理由光柵遮蓋的、X射線成像探測器的輸入面的部分作為用于相襯成像的部分區域，并且讀出和處理X射線成像探測器的其余區域以便基于X射線的吸收進行成像。
[0035]由此，只需要小型光柵來相襯成像，從而顯著地減小耗費的成本。也只需要X射線成像探測器的部分區域具有必要時需要的高分辨率。
[0036]已證實有利的是，相位光柵和檢偏器光柵可移動地布置成，使得它們可引入光路和/或通過X射線成像探測器的成像的輸入面定位在不同的部分區域上。
[0037]按本發明，相位光柵和檢偏器光柵可以作為一個單元共同地剛好在X射線成像探測器之前引入或定位。
[0038]以有利的方式，X射線成像探測器的部分區域可以具有比其余區域更高的分辨率。
[0039]在PCI探測器作為用于相襯成像的X射線成像探測器在用于常規的吸收成像的X射線成像探測器之前引入光路并且PCI探測器具有與光柵相似的尺寸時，獲得特別靈活的布置。
[0040]按本發明，PCI探測器和光柵的尺寸可以為5cm X 5cm。
[0041]已證實有利的是，相位光柵，檢偏器光柵和PCI探測器可手動地和/或電機驅動地共同地引入光路或定位，其中，適宜的是，PCI探測器與相位光柵和檢偏器光柵在結構上連接。
[0042]PCI探測器可以按本發明通過電纜和/或通過無線的接口與圖像系統連接。
[0043]以有利的方式，PC1-探測器可以具有比更大的X射線成像探測器按面積更小的像素，以便能夠實現更高的位置分辨率。
[0044]在PCI探測器設計成量子計數探測器時，可以確定探測到的X射線量子的能量。
[0045]為了根據所使用的光柵較大的高寬比能夠實現光柵布置朝X射線源的焦點的精確定向，可以給相位光柵、檢偏器光柵和/或PCI探測器配備設備。
[0046]為此，按本發明可以在PCI探測器上安設致動器，該致動器使PCI探測器能夠在兩個空間方向上傾斜，其中，致動器可以布置在PCI探測器的角上。
[0047]為了使所述傾斜達到期望自由度，可以提供至少三個致動器。
[0048]已證實有利的是，設置測量系統，該測量系統檢測是否達到正確的斜度或定向。
[0049]因為相襯布置的失調導致拍攝到的X射線照片較強的光暈，所以測量系統可以檢測在拍攝到的X射線照片中的光暈，該測量系統這樣操作致動器以便正確定向，使得觀察到的光暈最小。
[0050]備選地，PCI探測器和/或光柵的正確定向也借助光學方法實現。
[0051]在PCI探測器和/或光柵的正確定向根據借助激光或光學導航系統進行的測量實現時可以計算PCI探測器必須被致動器移動多少來達到需要的斜度。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0052]下列根據附圖中所示的實施例進一步闡述本發明。附圖中:
[0053]圖1是已知的介入性套件的C弓臂血管造影系統，具有作為支撐設備的工業機器人，
[0054]圖2是已知的用于微分相襯成像的泰伯-勞干涉儀示意性的結構，具有延長的管焦點，三個光柵G。，G1和G2和像素探測器，
[0055]圖3是相位光柵結構的示意圖，
[0056]圖4是檢偏器光柵G2的結構的示意圖，具有其間隙填充以金的薄片，
[0057]圖5是按本發明的實施例，具有正常大小的X射線成像探測器和小型PCI探測器，
[0058]圖6是備選的實施例，具有剛好安設在X射線成像探測器之前的更小的光柵單元，
[0059]圖7是布置在X射線成像探測器上的PCI探測器，具有用于使PCI探測器傾斜的致動器以及
[0060]圖8是拍攝到的X射線照片朝圖像邊緣通過光暈的示例陰影。
【具體實施方式】
[0061]在圖5中現在示出按本發明的實施例，其中，除了正常大小的X射線成像探測器4外還使用小型PCI探測器25，該PCI探測器25的尺寸例如可以為5cmX5cm。在該PCI探測器25上并且與PCI探測器25結構上連接地設有尺寸相似的(此圖中未示出的)光柵G1和G2。該小型PCI探測器25在需要的情況下引入相干的X射線12的光路中并且在此布置在用于常規吸收成像的更大的X射線成像探測器4之前。小型PCI探測器25可以手動地或電機驅動地借助未示出的設備移入大型X射線成像探測器4之前的X射線12的光路中并且通過大型X射線成像探測器4的輸入面在雙箭頭26的方向上移動。通過電纜27或通過無線的接口可以將小型PCI探測器25連接在X射線系統上。
[0062]為了小型PCI探測器25能夠實現更高的位置分辨率，它具有比按面積更大的X射線成像探測器4更小的像素。
[0063]在另一種按本發明的實施形式中，小型PCI探測器25可以設計成量子計數探測器，以便以這種方式實現確定探測到的X射線量子的能量。
[0064]在圖6中所示的備選實施形式中，光柵G1和G2的僅一個單元28引入相干的X射線12的光路中并且直接布置在更大的X射線成像探測器4的前方。在此，更大的X射線成像探測器4通過其面積用作吸收探測器；僅在由光柵G1和G2遮蓋的區域內，X射線成像探測器4用作相襯探測器。
[0065]對于PCI探測器25或光柵G1和G2的單元28按圖5或圖6的布置存在的問題是，所使用光柵H(G1)和IS(G2)的較大的高寬比需要光柵布置朝X射線源的管焦點11精確定向。這至少在手動放置小型PC1-探測器25時幾乎不可能。因此，按本發明提供一種設備，該設備使小型PCI探測器25或光柵H(G1)和18(G2)能夠朝管焦點11定向。圖7示出布置在大型吸收襯度X射線成像探測器4上的小型相襯探測器25。在PCI探測器25上安設致動器29，該致動器29能夠實現PCI探測器25在兩個空間方向(相對PCI探測器25的縱向和橫向)上的斜度30。致動器29在此有利地布置在PCI探測器25的角上。
[0066]為了實現傾斜30期望的自由度，需要至少三個致動器29。在圖7中所示的布置中提供四個致動器29。
[0067]為了將PCI探測器25按本發明朝X射線源的管焦點11定向，操作測量系統，借助該操作系統可以確定何時達到正確的斜度30。因為相襯布置以已知的方式的失調導致拍攝到的X射線照片強的光暈31，如在圖8中所示，所以朝圖像邊緣示出陰影。該光暈31現在應當用于實現正確定向。致動器29應當這樣操作，使得觀察到的或測得的光暈31最小。
[0068]另一種確定PCI探測器25的正確定向的可能性是光學的方法。借助激光或通過光學導航系統(例如 Northern Digital Inc.(www.ndigital.com)公司的 Polaris)測量PCI探測器25和X射線發射器3的精確的位置和定向。由此算出PCI探測器25必須被致動器29移動多少才能達到需要的斜度30。
[0069]小型PCI探測器25或光柵H(G1)和18 (G2)可以布置在固定的位置上。但它們也可以固定在移動設備(未示出)上，以便它可以手動地和/或電機驅動地例如從相干X射線12的光路外部的停止位置移動到X射線成像探測器4之前的任意位置中。該位置由患者的解剖結構，感興趣區域(ROI)的特別關注的細節確定。
[0070]按本發明的布置基于的思想是，省掉用光柵G1和G2對整個輻射敏感的、X射線成像探測器4的輸入面的遮蓋。而按泰伯-勞方法的相襯成像僅應用在更小的面積上。該更小的面積應當這樣地布置在患者后方以便相襯成像，使得可以由患者的解剖結構的關注的細節制作相襯圖像和暗場圖像。
[0071]尤其是，使用在該更小面積上的探測器可以具有比整個探測器輸入面更高的位置分辨率，因為已知，在按泰伯-勞方法的相襯成像中，襯度/噪音比隨著位置分辨率的提高而顯著改善。
[0072]附加地，可以為該更小的探測器使用量子計數探測器，該量子計數探測器的優點是，在X射線劑量少時不產生噪音并且附加地實現對探測到的X射線的能譜的確定。
[0073]按本發明的步驟在于，將相襯成像的區域限定為與射線成像相關的區域的一部分。傳統的基于X射線吸收的成像在更大的面積上實現，而按本發明的相襯成像限制在具有較高分辨率的特別關注的區域上。
[0074]雖然例如從DE19524858A1中已知這些布置，所述布置例如能夠在探測面的一部分上實現更高的位置分辨率。上述的X射線圖像產生系統限定為，在X射線成像探測器的分區上通過不同的子探測器實現更高的位置分辨率，而按本發明在傳統的X射線成像探測器4的分區上實現完全新式的成像方式，S卩，相襯成像。
[0075]因為光柵Gtl, G1和G2是對于按泰伯-勞方法的相襯成像重要的成本因素，所以具有按本發明的布置的用于相襯成像系統的制造成本明顯更低廉。
[0076]此外，通過量子計數的高分辨率的PCI探測器25可以實現更好的襯度/噪音比，而不必在具有這樣高的分辨率的大面積上實現耗費的X射線成像探測器4。
【權利要求】
1.一種用于對檢查對象(6)進行微分相襯成像的X射線拍攝系統，該X射線拍攝系統具有:至少一個用于產生準相干的X射線(12)的X射線發射器(3);帶有輻射敏感的、對射線成像有效的輸入面的和布置成陣列的像素的X射線成像探測器(4);布置在所述檢查對象(6)與所述X射線成像探測器(4)之間的衍射或相位光柵(17)、為所述衍射或相位光柵(17)對應配設的檢偏器光柵(18)和用于控制X射線成像探測器(4)且接收以及處理所述X射線成像探測器(4)的圖像信號的圖像系統(8)，其特征在于，所述相位光柵(17)和所述檢偏器光柵(18)的尺寸為，使得它們遮蓋X射線成像探測器(4)的輸入面的僅一部分，所述圖像系統(8)構造為，使得讀出并處理所述X射線成像探測器(4)的輸入面的、由所述光柵(17)和(18)遮蓋的部分作為用于相襯成像的部分區域并且讀出并且處理所述X射線成像探測器(4)的其余區域以便基于吸收X射線的成像。
2.按權利要求1所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述相位光柵(17)和所述檢偏器光柵(18)可移動地布置成，使得它們能引入所述光路(12)中和/或通過所述X射線成像探測器(4)的成像的輸入面能定位在不同的部分區域上。
3.按權利要求1或2所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述相位光柵(17)和所述檢偏器光柵(18)能作為一個單元共同地在所述X射線成像探測器(4)之前直接引入或定位。
4.按權利要求1至3之一所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述X射線成像探測器(4)的部分區域具有比其余區域更高的分辨率。
5.按權利要求1至4之一所述的X射線拍攝系統，其特征在于，PCI探測器(25)作為用于相襯成像的X射線成像探測器能在用于常規的吸收成像的X射線成像探測器(4)之前引入所述光路，所述PCI探測器(25)具有與所述光柵(17)和(18)相似的尺寸。
6.按權利要求5所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述PC1-探測器(25)和所述光柵(17)和(18)的尺寸為5cmX5cm。
7.按權利要求5或6所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述相位光柵(17)、檢偏器光柵(18)和所述PCI探測器(25)能手動地和/或電機驅動地共同地引入所述光路(12)或定位.
8.按權利要求5至7之一所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述PCI探測器(25)與所述相位光柵(17)和所述檢偏器光柵(18)在結構上連接。
9.按權利要求5至8之一所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述PCI探測器(25)通過電纜(27)和/或通過無線的接口與所述圖像系統⑶連接。
10.按權利要求5至9之一所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述PCI探測器(25)按面積具有比更大的X射線成像探測器(4)更小的像素，以便能實現更高的位置分辨率。
11.按權利要求5至10之一所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述PCI探測器(25)設計成量子計數探測器。
12.按權利要求1至11之一所述的X射線拍攝系統，其特征在于，為所述相位光柵(17)、所述檢偏器光柵(18)和/或所述PCI探測器(25)配設有允許所述光柵(17)和(18)和/或所述PCI探測器(25)朝所述X射線發射器(3)的管焦點(11)定向的設備。
13.按權利要求5至12之一所述的X射線拍攝系統，其特征在于，在所述PCI探測器(25)上安設致動器(29)，其能夠實現所述PCI探測器(25)在兩個空間方向上傾斜(30)。
14.按權利要求13所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述致動器(29)布置在所述PCI探測器(25)的角上。
15.按權利要求13或14所述的X射線拍攝系統，其特征在于，設置至少三個致動器(29)。
16.按權利要求13至15之一所述的X射線拍攝系統，其特征在于，設置測量系統，該測量系統檢測是否達到正確的斜度(30)或定向。
17.按權利要求16所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述測量系統檢測拍攝到的X射線照片中的光暈，該測量系統為正確定向這樣地操作所述致動器(29)，使得觀察到的光暈(31)最小。
18.按權利要求1至17之一所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述PCI探測器(25)和/或所述光柵(17)和(18)的正確定向借助光學方法實現。
19.按權利要求1至18之一所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述PCI探測器(25)和/或所述光柵(17)和(18)的正確定向根據借助激光或光學導航系統的測量實現。
【文檔編號】G01N23/04GK104274198SQ201410320900
【公開日】2015年1月14日 申請日期:2014年7月4日 優先權日:2013年7月5日
【發明者】M.霍黑塞爾, K.克林根貝克 申請人:西門子公司