Id編碼誤差判讀尺及判讀方法
【專利摘要】本發明提供了一種ID編碼誤差判讀尺及判讀方法。其中，誤差判讀尺包括：對照本體、設于對照本體上極限邊界、以及位于極限邊界之內的二維檢驗矩陣圖。極限邊界具有用于判讀ID編碼單元邊界的界定尺寸，二維檢驗矩陣圖具有用于判讀ID編碼單元中各個ID編碼單體的單體限定尺寸。判讀方法包括以下簡要步驟：1)監視器拍攝成像；2)制作同比例ID編碼誤差判讀尺；3)將對照本體與拍攝圖像進行對比；4)依據判定準則排除具有不合格ID編碼的產品。本發明通過一具有單體限定尺寸及界定尺寸的測量工具作為檢測標準，以有效避免判讀ID編碼有誤所產生的不良后果。本發明優點在于：直觀簡便、效果明顯。
【專利說明】ID編碼誤差判讀尺及判讀方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種誤差量測工具及使用方法，具體涉及一種用于檢測面板ID編碼誤差的判讀尺及判讀方法。
【背景技術】
[0002]在光電領域的面板生產過程中，無論是玻璃基板還是其他面板，為了能隨時對面板追蹤監控，都需在面板上進行ID編碼刻號。目前ID編碼刻號采用二位編碼，在刻號過程中常常會出現定位精度偏差和面板形變等問題，造成ID編碼刻號超出制程規范，并使得面板在后續的工序中無法讀取ID編碼刻號。因此，需要對所刻上的ID編碼號進行工藝監控。
[0003]而現行的檢測監控的機制主要有以下兩種:1)當ID編碼數量較少時，可直接通過架設代碼讀取器進行判讀；2)當ID編碼數量較多時，則通過拍照設備將ID編碼圖片存取，之后人工對比進行判讀。
[0004]顯而易見的，上述兩種機制存在以下缺陷:代碼讀取器通常是在生產大尺寸面板并且ID編碼較少的情形下才會應用進行判讀，此種方式的局限性比較大。當采用人工比對判讀時，因人而異并無精準的判定標準，并且，通過人肉眼判斷其誤差范圍就不能保證，甚至可能會出現將有異常的產品誤判為正常產品的情況。無論是那種情況，若ID編碼無法正確判讀，則會在后續制設備讀取ID編碼時發生異常而使得產線停線；或者，在客戶發現產品異常時，客戶無法向廠家反饋正確的生產批號，廠家就無法追查產生異常產品的正確批次。這樣的后果影響甚為巨大。
[0005]因此，我們需要一種能適用于各種生產狀況并能在第一時間快速正確地判定ID編碼是否有問題的裝置或者設備，以避免判讀ID編碼有誤所產生的不良后果。
【發明內容】
[0006]為克服現有技術所存在的缺陷，現提供一種ID編碼誤差判讀尺，包括:
[0007]具有極限邊界的對照本體，極限邊界具有用于判讀ID編碼單元邊界的界定尺寸；以及
[0008]設于對照本體上、且位于極限邊界界定尺寸之內的二維檢驗矩陣圖，所述二維檢驗矩陣圖具有用于判讀所述ID編碼單元中各個ID編碼單體的單體限定尺寸。
[0009]本發明的有益效果在于:通過一具有單體限定尺寸及界定尺寸的測量工具作為檢測的標準，以有效避免判讀ID編碼有誤所產生的不良后果。
[0010]本發明ID編碼誤差判讀尺，其進一步改進在于:
[0011]ID編碼單體為未判讀的單個ID編碼標記；
[0012]ID編碼單元由ID編碼單體矩陣排布構成。
[0013]本發明ID編碼誤差判讀尺，其進一步改進在于:
[0014]對照本體為透明的投影片。
[0015]本發明ID編碼誤差判讀尺，其進一步改進在于:[0016]二維檢驗矩陣圖的單體限定尺寸包括:與ID編碼單元邊界一致的矩陣邊界、與ID編碼單體對應并矩陣排布的單體最小范圍以及與ID編碼單體對應并矩陣排布的單體最大范圍。
[0017]本發明ID編碼誤差判讀尺，其進一步改進在于:
[0018]單體最小范圍的具體數值為標準ID編碼單體大小的80% ;單體最大范圍的具體數值為標準ID編碼單體大小的100%。
[0019]本發明ID編碼誤差判讀尺，其進一步改進在于:
[0020]極限邊界的界定尺寸包括:距離二維檢驗矩陣圖的外圍四周相當于兩個標準ID編碼單體大小的凈空邊界，凈空邊界與二維檢驗矩陣圖外圍四周的距離小于或等于IOOum ；以及基于凈空邊界制定的變形偏移邊界。
[0021]本發明ID編碼誤差判讀尺，其進一步改進在于:
[0022]變形偏移邊界為一端偏離凈空邊界正三度以及負三度而形成的邊界范圍。
[0023]本發明還提供一種利用ID誤差判讀尺的判讀方法，該判讀方法包括以下步驟:
[0024]I)現場監視器拍攝下實際所要判讀的ID編碼單元并形成圖像；
[0025]2)根據實際所要判讀的ID編碼單元，制作與實際ID編碼單元同比例且如權利要求7的ID編碼誤差判讀尺；
[0026]3)將ID編碼誤差判讀尺中的對照本體與拍攝圖像進行對比，并依據一判定準則對ID編碼單元進行檢驗判讀。
[0027]4)從制程上排除被判讀為不合格ID編碼所對應的產品。
[0028]本發明利用ID誤差判讀尺的判讀方法，其進一步改進在于:
[0029]判定準則包括:
[0030]a.被判讀的所有ID編碼單體是否均形成矩陣排布，每個ID編碼單體是否處于對應的單體最大范圍內；若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格。
[0031]b.被判讀的ID編碼單體是否大于單體最小范圍并且是否小于或等于單體最大范圍；若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格。
[0032]c.被判讀ID編碼單元的邊緣是否與所述凈空邊界有兩個標準ID編碼單體以上的距離，并且判讀該距離是否小于或等于IOOum;若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格。
[0033]d.被判讀ID編碼單元的變形偏移是否在變形偏移邊界范圍內；若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格。
[0034]當通過上述所有準則后，才能判定被判讀的ID編碼為合格；若有其中一項不合格則判定被判讀的ID編碼為不合格，再執行步驟4)。
[0035]本發明的優點在于:直觀簡便、效果明顯。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0036]圖1為本發明ID編碼誤差判讀尺的整體結構示意圖；
[0037]圖2為本發明ID編碼誤差判讀尺的局部結構放大示意圖；
[0038]圖3為本發明需被判讀的ID編碼矩陣不意圖。【具體實施方式】
[0039]為利于對本發明的結構的了解，以下結合附圖及實施例進行說明。
[0040]參照圖1所示，本發明公開了一種誤差判讀尺，包括:用于判讀ID編碼單體并具有單體限定尺寸的二維檢驗矩陣圖1以及用于判讀ID編碼單元并具有界定尺寸的極限邊界
2。矩陣圖1以及極限邊界2均制作于同一對照本體3上，此對照本體為透明的投影片。以此形成具有界定尺寸的測量工具，并作為檢測標準，有效避免判讀ID編碼有誤所產生的不良后果。
[0041]結合圖3所示，ID編碼單體41為未判讀的單個ID編碼標記，ID編碼單體41矩陣排布而構成ID編碼單元4。
[0042]以下為本發明一種誤差判讀尺較為優選的結構設置:
[0043]結合圖1和圖2所示，制作于透明投影片3上的二維檢驗矩陣圖1中包括?與ID編碼單元4邊界一致的矩陣邊界11、與ID編碼單體41對應并矩陣排布的單體最小范圍12以及與單個對照單位41對應并矩陣排布的單體最大范圍13。單體最小范圍12的具體數值為標準ID編碼單體大小的80%，單體最大范圍13的具體數值為標準ID編碼單體大小的100%。
[0044]其中，標準ID編碼單元的實際大小由本領域技術人員按實際要求界定。
[0045]而極限邊界2中包括:距離二維檢驗矩陣圖1的外圍四周相當于兩個標準ID編碼單體大小的凈空邊界21，以及基于凈空邊界21制定的變形偏移邊界22。凈空邊界21距二維檢驗矩陣圖1的外圍四周不能大于IOOum ;變形偏移邊界22為一端偏離凈空邊界21正三度以及負三度而形成的邊界范圍，可在縱橫兩方向各設置一變形偏移邊界22范圍。
[0046]設定以上結構的有益效果具體在于:
[0047]I)通過矩陣邊界11判讀ID編碼單元4是否整體偏斜；
[0048]2)通過單體最大范圍12及單體最小范圍13判讀ID編碼單體41是否個別偏離以及其大小是否符合正常標準；
[0049]3)通過凈空邊界21判讀ID編碼單元4的外圍四周是否符合2個標準ID編碼單體距離的預留空間，并且此預留空間是否小于或等于IOOum ；
[0050]4)通過變形偏移邊界22判讀ID編碼單元4其整體是否在正三度或負三度的變形偏移邊界22范圍內。
[0051]完成上述結構設定后，可按以下方式實施:
[0052]結合圖1至圖3，本發明公開了一種基于上述誤差判讀尺的判讀方法，具體包括以下實施步驟:
[0053]I)現場監視器拍攝下實際所要判讀的ID編碼單元并形成圖像，如圖3 ；
[0054]2)根據實際所要判讀的ID編碼單元，制作與實際ID編碼單元同比例的ID編碼誤差判讀尺，如圖1;
[0055]3)結合圖2和圖3，將對照本體3與拍攝圖像進行對比，并依據一判定準則對所要判讀的ID編碼單元進行檢驗判讀。
[0056]4)從制程上排除被判讀為不合格ID編碼所對應的產品。
[0057]上述的判定準則具體為:
[0058]a.被判讀的所有ID編碼單體41是否均矩陣排布，每個ID編碼單體是否處于對應的單體最大范圍內；若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格。
[0059]b.被判讀的ID編碼單體41是否大于單體最小范圍12并且是否小于或等于單體最大范圍13 ;若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格。
[0060]c.被判讀ID編碼單元4的邊緣是否與凈空邊界21有兩個標準ID編碼單體以上的距離，并且判讀該距離是否小于或等于IOOum ;若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格。
[0061]d.被判讀ID編碼單元4的變形偏移是否在變形偏移邊界22范圍內；若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格。
[0062]當通過上述所有準則后，才能判定被判讀的ID編碼為合格；若有其中一項不合格則判定被判讀的ID編碼為不合格，再執行步驟4)。
[0063]以上結合附圖實施例對本發明進行了詳細說明，本領域中普通技術人員可根據上述說明對本發明做出種種變化例。因而，實施例中的某些細節不應構成對本發明的限定，本發明將以所附權利要求書界定的范圍作為保護范圍。
【權利要求】
1.一種ID編碼誤差判讀尺，其特征在于包括: 具有極限邊界的對照本體，所述極限邊界具有用于判讀ID編碼單元邊界的界定尺寸；以及 設于所述對照本體上、且位于所述極限邊界界定尺寸之內的二維檢驗矩陣圖，所述二維檢驗矩陣圖具有用于判讀所述ID編碼單元中各個ID編碼單體的單體限定尺寸。
2.根據權利要求1所述的一種誤差判讀尺，其特征在于: 所述ID編碼單體為未判讀的單個ID編碼標記； 所述ID編碼單元由所述ID編碼單體矩陣排布構成。
3.根據權利要求2所述的一種誤差判讀尺，其特征在于: 所述對照本體為透明的投影片。
4.根據權利要求3所述的一種誤差判讀尺，其特征在于: 所述二維檢驗矩陣圖的單體限定尺寸包括: 與所述ID編碼單元邊界一致的矩陣邊界； 與所述ID編碼單體對應并矩陣排布的單體最小范圍；以及 與所述ID編碼單元對應并矩陣排布的單體最大范圍。
5.根據權利要求4所述的一種誤差判讀尺，其特征在于: 所述單體最小范圍的具體數值為標準ID編碼單體大小的80% ； 所述單體最大范圍的具體數值為標準ID編碼單體大小的100%。
6.根據權利要求5所述的一種誤差判讀尺，其特征在于: 所述極限邊界的界定尺寸包括: 距離所述二維檢驗矩陣圖的外圍四周相當于兩個標準ID編碼單體大小的凈空邊界，所述凈空邊界與所述二維檢驗矩陣圖外圍四周的距離小于或等于IOOum ； 以及基于所述凈空邊界制定的變形偏移邊界。
7.根據權利要求6所述的一種誤差判讀尺，其特征在于: 所述變形偏移邊界為一端偏離所述凈空邊界正三度以及負三度而形成的邊界范圍。
8.一種利用ID誤差判讀尺的判讀方法，其特征在于包括以下步驟: 1)現場監視器拍攝下實際所要判讀的ID編碼單元并形成圖像； 2)根據實際所要判讀的所述ID編碼單元的大小，制作與實際所述ID編碼單元同比例且如權利要求7所述的ID編碼誤差判讀尺； 3)將所述ID編碼誤差判讀尺中的所述對照本體與拍攝的圖像進行對比，并依據一判定準則對所述ID編碼單元進行檢驗判讀； 4)從制程上排除被判讀為不合格ID編碼單元所對應的產品。
9.根據權利要求8所述的一種判讀方法，其特征在于: 所述判定準則包括: a.被判讀的所有ID編碼單體是否形成矩陣排布，每個所述ID編碼單體是否處于對應的所述單體最大范圍內；若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格； b.被判讀的所述ID編碼單體是否大于所述單體最小范圍并且是否小于或等于所述單體最大范圍；若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格； c.被判讀所述ID編碼單元的邊緣是否與所述凈空邊界有兩個標準ID編碼單體以上的距離，并且判讀所述距離是否小于或等于IOOum ;若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格； d.被判讀所述ID編碼單元的變形偏移是否在所述變形偏移邊界范圍內；若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格； 當通過上述所有準則后，才能判定被判讀的ID編碼為合格；若有其中任一項不合格則判定被判讀的ID 編碼為不合格，再執行步驟4)。
【文檔編號】G01B11/00GK104006742SQ201410230672
【公開日】2014年8月27日 申請日期:2014年5月28日 優先權日:2014年5月28日
【發明者】吳韋良, 徐勇, 邱圣富, 邱宗文 申請人:上海和輝光電有限公司