全波段光譜掃描儀的制作方法
【專利摘要】全波段光譜掃描儀，主要包括：光源裝置，光分離裝置，一次反射裝置，標準裝置，二次反射裝置，調光控制裝置，三次反射裝置，進樣裝置，四次反射裝置，信號放大裝置，信號校正裝置，信號分析裝置，信號記錄裝置；其中，光源裝置的外罩為鉿鈩合金制成，光源裝置中含有十色玻璃濾光盤，該濾光盤表面覆蓋有厚度為20um的偏溴酸五鈮復合濾光膜，光源裝置中含有近紫外濾光器和遠紅外濾光器，其中，近紫外濾光器含有六硝酸銠鋨納米復合濾光膜；光源裝置含有高能發光電極，電極材料為氧化镅锫合金，光分離裝置中含有八面棱鏡和雙斜晶體光柵，兩者交替串聯排列，一次反射裝置含有拋物面鏡，雙曲面鏡，橢球面鏡。
【專利說明】全波段光譜掃描儀
【技術領域】
[0001] 本發明涉及波段光譜領域，尤其涉及全波段光譜掃描儀。
【背景技術】
[0002] 波段光譜能夠提供分子結構的重要信息，根據光譜掃描結果能夠有效確定分子的 鍵長和分子鍵的強度，便于分析分子內部結構。分子的內部運動狀態發生變化所產生的吸 收或發射光譜，包括整個分子的轉動，分子中原子在平衡位置的振動以及分子內電子的運 動，因此，分子光譜一般有三種類型：轉動光譜、振動光譜和電子光譜。分子中的電子在不同 能級上的躍遷產生電子光譜。電子躍遷常伴隨能量較小的振轉躍遷，與同一電子能態的不 同振動能級躍遷對應的是振動光譜，這部分光譜處在紅外區。振動伴隨著轉動能級的躍遷， 這部分光譜也有較多較密的譜線，純粹由分子轉動能級間的躍遷產生的光譜一般位于波長 較長的遠紅外區和微波區，但是，現階段對于全波段的光譜分析技術還有待提高，因此，有 必要提出一種新的全波段光譜掃描儀。
【發明內容】
[0003] 為了克服現有裝置的不足之處，本發明采用的技術方案如下：
[0004] 全波段光譜掃描儀，其特征在于，主要包括：
[0005] 1-光源裝置，2-光分離裝置，3- -次反射裝置，4-標準裝置，5-二次反射裝 置，6-調光控制裝置，7-三次反射裝置，8-進樣裝置，9一四次反射裝置，10-信號放大 裝置，11-信號校正裝置，12-信號分析裝置，13-信號記錄裝置；
[0006]其中，
[0007] 光源裝置⑴的外罩為鉿妒合金制成，
[0008] 光源裝置（1)中含有十色玻璃濾光盤，該濾光盤表面覆蓋有厚度為20um的偏溴酸 五銀復合濾光膜，
[0009] 光源裝置（1)中含有近紫外濾光器和遠紅外濾光器，其中，近紫外濾光器含有六 硝酸銠鋨納米復合濾光膜；
[0010] 光源裝置⑴含有高能發光電極，電極材料為氧化镅锫合金，
[0011] 光分離裝置（2)中含有八面棱鏡和雙斜晶體光柵，兩者交替串聯排列，
[0012] 一次反射裝置（3)含有拋物面鏡，雙曲面鏡，橢球面鏡；其中，三者的排列方式為， 拋物面鏡位于光束主軸傳播方向的兩端，雙曲面鏡位于中間部分的前端，橢球面鏡位于中 間部分的后端，
[0013] 四次反射裝置（9)含有錐面反射鏡和柱面反射鏡，兩種反射鏡都鍍有七鉻酸釓釔 納米復合反射膜。
[0014] 光源裝置（1)主要用于提供符合分析要求的光線強度和類別，光分離裝置（2)主 要用于將光源裝置發出的光分離成所需要的單色光，光分離裝置（2)由入射狹縫、準直鏡、 色散元件、物鏡和出射狹縫構成。其中色散元件是關鍵部件，作用是將復合光分解成單色 光。入射狹縫用于限制雜散光進入單色器，準直鏡將入射光束變為平行光束后進入色散元 件。物鏡將出自色散元件的平行光聚焦于出口狹縫。出射狹縫用于限制通帶寬度。
[0015] 標準裝置（4)主要用于消除光源強度變化引起的分析誤差，反射裝置主要用于使 平行光軸會聚于拋物面的焦點，以簡化結構和改進光線成像質量，調光控制裝置（6)主要 用于調節反射裝置的方向和角度，保證光線匯集方向的精確程度，進樣裝置（8)主要用于 分析樣品的加入，信號放大裝置（10)主要用于維持光電流的穩定傳輸，信號校正裝置（11) 主要用于消除檢測器靈敏度變化引起的誤差，信號分析裝置（12)和信號記錄裝置（13)主 要用于檢測信號的顯示與記錄。
[0016] 本發明與現有技術相比具有的有益效果是：
[0017] (1)簡化了分析儀器的結構，具有較高的光線成像質量；
[0018] (2)光電流傳輸狀態更加穩定，有效限制了雜散光對分析結果的干擾；
[0019] (3)消除了檢測器靈敏度變化引起的誤差；
[0020] (4)光線匯集方向精確度得到有效提1?。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0021] 圖1是全波段光譜掃描儀的示意圖
[0022] 如圖1所示，本發明所述的全波段光譜掃描儀，主要包括：
[0023] 1-光源裝置，2-光分離裝置，3- 一次反射裝置，4一標準裝置，
[0024] 5-二次反射裝置，6-調光控制裝置，7-三次反射裝置，
[0025] 8-進樣裝置，9一四次反射裝置，10-信號放大裝置，
[0026] 11-信號校正裝置，12-信號分析裝置，13-信號記錄裝置；
[0027] 下面結合附圖對本發明的【具體實施方式】作進一步詳細的描述。
【具體實施方式】
[0028] 通過光源裝置（1)產生合適的光線，結合光分離裝置（2)對光線進行分離，得到的 光束通過一次反射裝置（3)分為兩束光，其中一束光進入到標準裝置（4)用于消除光源強 度變化引起的分析誤差，然后通過二次反射裝置（5)改變光束方向，另一束光進入到三次 反射裝置（7)改變傳播方向后進入到進樣裝置（8)，然后兩束光線在四次反射裝置（9)中匯 集聚集，形成具有光線強度梯度的光電信號，上述反射裝置通過調光控制裝置￠)實現調 控。光電信號通過信號放大裝置（10)放大后，輸入到信號校正裝置（11)用于消除檢測器 靈敏度變化引起的誤差，最后通過信號分析裝置（12)和信號記錄裝置（13)，實現全波段光 譜掃描分析結果的記錄。
【權利要求】
1.全波段光譜掃描儀，其特征在于，主要包括： 1--光源裝置，2-光分離裝置，3- 一次反射裝置，4一標準裝置，5-二次反射裝置， 6-調光控制裝置，7-三次反射裝置，8-進樣裝置，9一四次反射裝置，10-信號放大裝 置，11-信號校正裝置，12-信號分析裝置，13-信號記錄裝置； 其中， 光源裝置（1)的外罩為鉿妒合金制成， 光源裝置（1)中含有十色玻璃濾光盤，該濾光盤表面覆蓋有厚度為20um的偏溴酸五銀 復合濾光膜， 光源裝置（1)中含有近紫外濾光器和遠紅外濾光器，其中，近紫外濾光器含有六硝酸銠 鋨納米復合濾光膜； 光源裝置（1)含有高能發光電極，電極材料為氧化镅锫合金， 光分離裝置（2)中含有八面棱鏡和雙斜晶體光柵，兩者交替串聯排列， 一次反射裝置（3)含有拋物面鏡，雙曲面鏡，橢球面鏡；其中，三者的排列方式為，拋物 面鏡位于光束主軸傳播方向的兩端，雙曲面鏡位于中間部分的前端，橢球面鏡位于中間部 分的后端， 四次反射裝置（9)含有錐面反射鏡和柱面反射鏡，兩種反射鏡都鍍有七鉻酸釓釔納米 復合反射膜。
【文檔編號】G01J3/10GK104048756SQ201410229277
【公開日】2014年9月17日 申請日期:2014年5月28日 優先權日:2014年5月28日
【發明者】儲冬紅, 彭飛, 郭睦庚 申請人:成都中遠千葉科技有限公司