點云的大地測量參照的制作方法

點云的大地測量參照的制作方法
【專利摘要】點云的大地測量參照。提供了一種大地測量方法，該大地測量方法包括以下步驟：獲得針對物體（20）的表面信息；并且針對至少一個參照點（25至27），以大地測量方式進行精確的單個點測量，其中，通過所述至少一個參照點（25至27）提供針對外部坐標系的位置參照，將測量輻射（3、33）對準所述至少一個參照點（25至27），并且在內部坐標系中確定針對所述參照點（25至27）的至少一個方向。
【專利說明】
【技術領域】
[0001] 本發明涉及用于參照坐標系的大地測量方法、大地測量裝置以及計算機程序產 品。 點云的大地測量參照

【背景技術】
[0002] 對于測量目標點來說，從古代起就已知了許多大地測量裝置。在這種情況下，記錄 方向或角以及通常從測量裝置至目標點的要測量的距離，并且具體地，檢測該測量裝置連 同可能出現的參照點的絕對位置，作為空間標準數據。
[0003] 這種大地測量裝置的熟知的示例包括經緯儀、視距儀以及還被稱為電子視距儀或 計算機視距儀的全站儀。根據現有技術的一種大地測量裝置例如在公開文檔EP1686350中 進行了描述。這種裝置具有基于電子傳感器的角，并且在合適時，具有準許針對選定目標確 定方向和距離的距離測量功能。在這種情況下，按該裝置的內部參照系來建立角和距離變 量，并且在合適時，還必須與外部參照系鏈接，以進行絕對位置確定。
[0004] 在許多大地測量應用中，依靠定位在那里的專門設置的目標物體來測量多個點。 所述目標物體通常由具有用于限定測量路徑或測量點的回射器(例如，全向棱鏡）的鉛錘測 桿構成。在這種測量問題中，一些數據、指令、語音以及另一些信息在目標物體(具體地，在 目標物體的一部分上的便攜式數據檢測裝置）與中心測量裝置之間發送，該中心測量裝置 用于控制測量過程并且用于設置或登記測量參數。這種數據的示例包括：目標物體的標識 (所采用棱鏡的類型)、鉛錘測桿的傾角、回射器在地面上的高度，回射器常數或諸如溫度或 空氣壓力的測量值。需要該信息或這些狀況相關參數，以便使能實現對由具有棱鏡的鉛錘 測桿限定的測量點的高精度瞄準和測量。
[0005] 現代的全站儀通常具有緊湊且集成的設計，并且同軸距離測量部件和計算機、控 制和存儲單元通常存在于裝置中。根據全站儀的配置水平，可以集成機動化瞄準或鎖定裝 置以及(在將回射器(例如，全向棱鏡）用作目標物體時）用于目標自動搜索和跟蹤的裝置。 作為人機接口，全站儀可以包括電子顯示/控制單元(通常是具有電子數據存儲裝置的微 處理器計算單元)，其具有顯示器和輸入裝置(例如，鍵盤)。由電子傳感器裝置檢測的測量 數據被饋送至顯示/控制單元，以使可以建立目標點的位置、可選地通過顯示/控制單元顯 示并存儲。根據現有技術已知的全站儀還可以包括用于建立針對外部外圍組件(舉例來說， 如便攜式數據檢測裝置）的無線電連接的無線電數據接口，其具體地，可以被具體實施為數 據記錄儀或現場計算機。
[0006] 對于貓準（sighting或targeting)要測量的目標點來說，通用大地測量裝置具有 望遠鏡瞄準具(舉例來說，如光學望遠鏡)，作為瞄準裝置。一般來說，該望遠鏡瞄準具可以 環繞垂直軸并且環繞與測量裝置的基部相對的水平傾斜軸旋轉，以使該望遠鏡可以通過繞 軸旋轉和傾斜而對準要測量的點。
[0007] 該瞄準裝置的光學系統或光學可視通道通常包含物鏡組、圖像建立系統、聚焦光 學系統以及用于生成標線和目鏡的十字線網格，其例如，按該順序從物體側起排列。聚焦透 鏡組的位置根據物體距離按這樣的方式進行設置，即，焦點上的物體圖像在布置在聚焦平 面中的十字線網格上生成。接著，可以通過目鏡觀察或者例如借助于同軸布置的相機來檢 測該物體圖像。
[0008] 在EP1081459或EP1662278中，以示例性方式示出了大地測量裝置的通用望遠鏡 瞄準具的結構。
[0009] 因為目標物體(例如，通常出于大地測量目的而采用的具有諸如全向棱鏡這樣的 目標標記器的鉛錘測桿）無法利用瞄準裝置以肉眼足夠精確地瞄準（即，不滿足大地測量精 確度要求)，所以盡管通常提供了 30倍的光學放大倍率，但常規測量裝置同時具有作為標準 的、用于充當目標回射器的棱鏡的自動目標跟蹤功能(ATR :"自動目標識別")。為此，常規 來說，將另一分離的ATR光源(例如，多模光纖輸出部，其發射具有處于850nm區域中的波長 的光學輻射)和敏感于該波長的特定的ATR檢測器(例如，CCD區域傳感器)附加地集成在望 遠鏡中。作為示例，EP2141450描述了這樣一種測量裝置，S卩，其具有用于自動瞄準回射目 標的功能并且具有自動目標跟蹤功能。
[0010] 現代裝置除了光學可視通道以外，還可以具有相機，其被集成到望遠鏡瞄準具中， 并且例如同軸地或平行地對準，以檢測圖像，其中，具體地，所檢測圖像可以被描繪為顯示/ 控制單元的顯示器上和/或用于遠程控制的外圍裝置(舉例來說，如數據記錄器）的顯示器 上的活動物體圖像。在這種情況下，該瞄準裝置的光學系統可以具有手動對焦(例如，用于 改變聚焦光學系統的位置的調節螺釘)，或者可以具有自動對焦，其中，聚焦位置例如通過 伺服電動機來改變。作為示例，在EP2219011中描述了大地測量裝置中的這種瞄準裝置。例 如根據DE19710722、DE19926706或者DE19949580中已知用于大地測量裝置的望遠鏡瞄準 具的自動對焦裝置。
[0011] 借助于這種圖像檢測單元，除了測量指定的目標點以外，還可以檢測測量場景的 圖像。因此，可以在該圖像中檢測要測量的目標，并且可選的是，在測量裝置的顯示器上向 用戶顯示。可以基于該圖像獲得針對該物體的其它信息。
[0012] 借助于合適的圖像處理，例如，可以至少以接近方式確定針對物體或該物體的空 間范圍的表面狀態。這里，可以借助于基于該圖像的邊緣提取來確定該物體的空間范圍或 形狀。
[0013] 為了更精確地確定這些物體特性，除了圖像信息以外，還可以考慮針對位于該物 體上的一個或更多個點的位置信息。為此，所述一個點或所述多個點通過測量裝置以精確 的方式瞄準并測量。這樣根據其位置確定的這些點（如所謂的支承點）與圖像信息一起處 理，作為其結果，可以進行更精確的陳述，例如，相關在該圖像中檢測的物體部分的位置。
[0014] 在這種情況下的缺點是，無法利用全站儀進行大面積地形和大地測量上的精確的 物體測量，或者意味著不成比例的高的時間花費（與對該物體的圖像檢測相比)，因為要測 量的每一個點都必須單個地瞄準，并且其位置必須在固定地對準測量輻射的情況下進行確 定。
[0015] 而且，確定由該圖像成像的物體部分的位置具體來說可以僅根據所確定的支承點 來進行，并且高精確度可以僅利用對應的大量支承點來實現，而且，其中，該物體部分的形 狀同樣可以僅基于圖像處理以非常有限的精確度來建立(例如，在物體具有彎曲表面的情 況下)。


【發明內容】

[0016] 因此，本發明的目的是，提供一種改進的測量裝置和對應的方法，其使得能夠實現 對物體的改進的、快速且更精確的大面積物體測量，具體地，其中，可以確定要測量的物體 的位置(按大地參照方式)。
[0017] 本發明另一目的在于，提供一種對應的測量裝置，具體地是全站儀，其中，可以執 行更精確的物體檢測，而且，提供針對該物體的與裝置無關的物體坐標。
[0018] 本發明的另一目的在于，提供一種測量裝置，借助于其，可以監視與絕對坐標系 (作為一另選例，該測量裝置的內部參照系）相關的測量進度。
[0019] 這些目的通過實現獨立權利要求的特征化特征來實現。可以根據從屬的專利權利 要求來收集以另選的或有利的方式開發本發明的特征。
[0020] 本發明涉及用于借助于大地測量裝置來參照一坐標系的大地測量方法。這里，獲 得針對物體的與所述測量裝置的內部坐標系相關的表面信息，具體地是與所述物體的形狀 和/或空間范圍相關的表面信息，以及針對至少一個參照點，以大地測量方式進行精確的 單個點測量，其中，由所述至少一個參照點提供針對外部坐標系的位置參照，將測量輻射精 確地對準所述至少一個參照點，以及當所述測量輻射被對準到所述至少一個參照點上時， 以所述內部坐標系確定針對所述參照點的至少一個方向。
[0021] 根據本發明，另外，存在與參照點無關的掃描以獲得表面信息，包括通過連續地改 變所述測量輻射的所述對準，掃描針對所述物體的指定的掃描區域，具體地，以預定的掃描 點分辨率，確定用于針對位于所述指定的掃描區域內的掃描點進行距離測量所發射的所述 測量輻射的相應距離和相應對準，以及以所述內部坐標系生成表示所述表面信息并且具有 所述掃描點的點云。此外，對所述內部坐標系的、與所述外部坐標系相關的這種參照，具體 地是自動參照，至少基于：由所述參照點提供的針對所述外部坐標系的所述位置參照，和在 所述內部坐標系中針對所述參照點的指定的方向，使得以所述外部坐標系確定所述點云的 至少一個取向（具體地，位置)。
[0022] 由此，根據本發明，既可以按掃描方式以預定的點對點分辨率來檢測物體區域(例 如，以每秒鐘1000個至10000或更多個測量點的測量速率，并且以千米范圍內的測量范圍 (對應于大地測量比例)），也可以按非常精確的方式瞄準并測量單個參照點。通過掃描，針 對要測量的物體獲得點云，其中，云的位置、取向以及標度最初僅在所述測量裝置的所述內 部坐標系中獲知并確定，而且作為其結果，可以(僅）進行與所述物體的與所述內部參照系 相關的相對陳述。
[0023] 例如，為了確定所述點云的絕對位置、取向和/或空間范圍，所述點云必須以總體 (外部）坐標系來登記，即，所述內部坐標系與所述總體坐標系相關地進行參照。根據本發 明，通過測量所述單個參照點（或幾個參照點）來進行該登記，該參照點的位置例如在該總 體坐標系中是已知的（即，該點向所述外部坐標系提供位置參照)。作為該信息的結果(作為 所述測量的結果，總體坐標系中的已知位置以及至少內部坐標系中的針對點的已知方向）， 現在，進行所述坐標系的相互參照，即，將所述點云登記在該總體坐標系中。
[0024] 結果，所述點云的位置、取向以及標度，而且，所述物體的取向和/或位置及其空 間范圍在該外部系統中是確定并已知的。
[0025] 這里，根據本發明，所述掃描步驟、參照點測量步驟以及相互登記步驟全部利用并 且通過所述測量裝置(或者指配給所述測量裝置的控制器）來執行。因此，不再需要用于登 記點云的附加的后處理步驟。
[0026] 根據本發明，為了提供針對所述外部坐標系的所述位置參照，具體地，所述至少一 個參照點的絕對位置在所述外部坐標系中是已知的，并且基于所述至少一個參照點的所述 已知絕對位置進行所述參照。
[0027] 在本發明的范圍內，具體地，可以通過大地測量參照校準點或者回射器或者以已 知的定位或對準設置的大地測量裝置，以所述外部坐標系來提供所述至少一個參照點。
[0028] 根據本發明的【具體實施方式】，以所述內部坐標系確定到所述至少一個參照點的距 離和所述參照點的位置，并且在所述內部坐標系中基于所述參照點的所確定的位置進行所 述參照。
[0029] 就所述掃描過程的實施方式而言，根據本發明，尤其是，在掃描范圍內，當確定所 述測量輻射的所述相應距離和所述相應對準時，在所述指定的掃描區域內連續地修改所述 測量輻射的所述對準。結果，可以實現對物體表面的真實掃描感測，其中，在所述測量輻射 移動期間，可以利用根據本發明的大地測量裝置，具體地，利用全站儀或經緯儀，來足夠精 確地執行測量。
[0030] 這種利用大地測量裝置的掃描基本上可以通過使用高精度、快速且精確控制的致 動器或伺服電機來實現，作為其結果，可以以快速、精確且連續的方式來引導所述測量裝置 的所述瞄準單元，并由此引導所述測量輻射，從而可以同時測量所述瞄準單元的角位置和 針對瞄準的距離。而且，以可以對應地快速處理所檢測的測量數據的這種方式來配置所述 裝置的控制和估計單元。
[0031] 在參照范圍內，根據本發明，所述內部坐標系可以按這樣的方式來調節：具體地， 針對所述內部坐標系的位置和標度，所述內部坐標系與所述外部坐標系一致，具體地，對應 于所述外部坐標系。為此，所述內部坐標系可以旋轉和/或偏移和/或其標度可以按恰當 方式修改。因而，具體地，所述內部坐標系與所述總體坐標系相同。
[0032] 根據本發明的另一【具體實施方式】，基于另一參照信息，具體地基于附加的GNSS位 置信息和/或基于針對所述內部坐標系和所述外部坐標系兩者公共的附加的點，與所述外 部坐標系相關地參照所述內部坐標系，該點的位置例如通過單個點測量來確定。
[0033] 就考慮當前存在的測量狀態而言，根據本發明，可以在所述測量方法的范圍內檢 測大氣狀態信息和/或限定幾何測量信息，具體地是，氣象數據或測量軸誤差，具體地是， 環境溫度、空氣壓力和/或大氣濕度。
[0034] 具體地，關于這點，在確定針對相應的掃描點的距離時和/或在確定到所述至少 一個參照點的距離時，處理所述大氣狀態信息和/或所述幾何測量信息，并且存在距離修 正，以基于所述距離修正來確定相應的距離。另選的是，或者除此以外，基于所述大氣狀態 信息和/或所述幾何測量信息，針對在所述掃描范圍內確定的所述掃描點在所述外部坐標 系中的位置來調節在所述掃描范圍內確定的所述掃描點，具體地，所述點云在所述內部坐 標系中的所述取向。
[0035] 換句話說，這種狀態信息還可以在測量過程(單個點測量或掃描）期間檢測，并且 可以基于該信息來進行測量修正。這里，所述修正例如可以借助于"查找表"來建立，借助 于其，例如針對具體環境溫度來限定關聯的修正值。
[0036] 根據本發明的另一【具體實施方式】，另一些掃描點的掃描的至少另一些實例；以另 一坐標系獲得具有所述另一些掃描點的另一點云；利用在所述另一坐標系中確定的至少到 至少一個參照點和/或針對另一參照點的方向，對于所述參照點和/或對于所述另一參照 點以大地測量方式進行精確的單個點測量；以及至少基于在所述另一坐標系中的針對所述 參照點的所確定的方向，與所述外部坐標系相關地參照所述另一坐標系。這兩個另一掃描 和單個點測量的步驟，具體地，以與所述測量裝置相同的設置來進行，以使可以將特定的單 個點測量過程指配給掃描過程。
[0037] 具體地，在這種情況下，根據不同的設置點，從不同的設置點進行所述掃描和掃描 的所述至少一些實例，其中，所述相應的點云的所述取向（或位置）按所述外部坐標系確定， 并因此，相對彼此地確定所述相應的點云的所述取向。
[0038] 利用根據本發明的該方法變型例，例如，可以從不同的視角檢測一個或更多個物 體的多個點云，并且這些點云可以彼此相對地參照或者以外部坐標系登記，以使這些在公 共坐標系中是可用的。通過示例的方式，在公共總體坐標系中參照所有點云，以使針對每一 個點云以該系統限定相對位置和標度。
[0039] 結果，例如，可以精確地重構從多個視角檢測的物體的空間范圍和/或形狀，并且 可以基于所生成的點云來創建針對真實物體來說是逼真的模型。
[0040] 可以利用一個測量裝置并且改變該裝置在這些設置點的設置來進行從不同的設 置點進行的掃描(從而，由此生成的點云的鏈接的相應參照)。另選的是，為此可以在不同設 置點來使用多個大地測量裝置。
[0041] 就增加針對所述掃描點的確定的位置的精確度而言，根據本發明的具體實施方 式，基于與所述外部坐標系相關地對所述內部坐標系和所述另一坐標系進行的所述參照， 在所述外部坐標系中存在指定的掃描點的位置和/或所述另一些掃描點的位置的至少部 分的相互調節，具體地，存在位置修正。
[0042] 根據本發明，所述大地測量方法通過并利用所述大地測量裝置來執行，其中，所述 測量裝置至少包括：一種掃描功能，所述掃描功能用于通過掃描來檢測所述掃描點并生成 所述點云，和一種單個點測量功能，所述單個點測量功能用于高精度地確定針對所述參照 點的方向。具體地，用于執行所述測量方法的所述測量裝置根據下述實施方式中的任何一 種來具體實施。根據本發明，所述掃描、單個點測量以及參照方法步驟全部利用所述測量裝 置(具體地，針對所述掃描步驟和所述單個點測量步驟）并且直接在所述測量裝置上(具體 地，針對所述參照步驟）執行。
[0043] 本發明還涉及一種大地測量裝置，具體地是全站儀或多站，該大地測量裝置包括： 基部，所述基部限定樞軸；結構，所述結構布置在所述基部上，并且能夠環繞所述樞軸相對 于所述基部旋轉，其中，所述結構限定與所述樞軸大致正交的傾斜軸；瞄準單元，具體地是 望遠鏡瞄準具，其中，所述瞄準單元被設置成，使得所述瞄準單元能夠環繞所述傾斜軸相對 于所述結構旋轉并且具有發射單元，所述發射單元具有用于生成并發射測量輻射的射束 源。而且，所述測量裝置具有用于測量針對點的距離的距離測量功能，用于測量所述測量 輻射的對準的角測量功能，以及用于數據處理并且用于控制所述測量裝置的控制和處理單 J L· 〇
[0044] 而且，所述測量裝置具有單個點測量功能，其中，所述單個點測量功能能夠通過所 述控制和處理單元以這樣的方式來執行：能夠通過以高精度的方式與所述測量輻射對準， 以精確的大地測量的方式來測量至少一個參照點，其中，由所述至少一個參照點來提供針 對外部坐標系的位置參照，以及當將所述測量輻射對準所述至少一個參照點時，能夠在所 述測量裝置的內部坐標系中確定針對所述參照點的至少一個方向。
[0045] 換句話說，當執行由所述控制和處理單元自動控制的單個點測量功能時，所述測 量輻射被高精度地對準至少一個(與掃描點無關）參照點，其中，通過所述至少一個參照點 設置針對外部坐標系的位置參照，具體地，其中，所述參照點的絕對位置在外部坐標系中是 已知的，以精確的大地測量方式測量所述參照點，并且以所述內部坐標系確定針對所述參 照點的至少一個方向。
[0046] 根據本發明，而且，所述測量裝置配備有與參照點無關的掃描功能，其中，所述掃 描功能可以通過所述控制和處理單元按這樣的方式來執行：能夠通過連續地改變所述測量 輻射在位于指定的掃描區域內的掃描點上的對準，以預定的掃描點分辨率來測量所述掃描 點；并且能夠以所述測量裝置的所述內部坐標系生成具有所述掃描點的點云。這里，在全部 時間（具體地，連續地）改變所述測量輻射的所述對準，以使作為其結果，可以連續地掃描所 述掃描區域內的所述掃描點。
[0047] 換句話說，當通過所述控制和處理單元自動控制地執行所述掃描功能時，存在以 下步驟：隨著連續地改變位于指定的掃描區域內的掃描點的所述測量輻射的對準而進行掃 描，并且以預定的掃描點分辨率測量所述掃描點，并且以所述測量裝置的內部坐標系生成 具有所述掃描點的點云。
[0048] 所述測量裝置另外具有參照功能，其中，當通過所述控制和處理單元執行所述參 照功能時，至少基于以下各項與所述外部坐標系相關地參照所述內部坐標系：由所述參照 點提供的針對所述外部坐標系的位置參照，以及能夠由所述單個點測量功能確定的、在所 述內部坐標系中的到所述參照點的方向，使得以所述外部坐標系確定所述點云的至少一個 取向。
[0049] 根據本發明的【具體實施方式】的測量裝置，以這樣的方式來設置所述控制和處理單 元，即，可以利用所述大地測量裝置來執行如上所述的大地測量方法。
[0050] 為改進用戶友好性，具體地，所述測量裝置可以包括：具有估計單元的遙控單元， 其中，所述參照功能可以通過所述估計單元來執行；和/或包括用于描繪測量信息的顯示 單元，具體地，其中，可以通過對點云的掃描點的至少部分描繪來描繪掃描進度。
[0051] 為了檢測另一些位置相關信息，根據本發明的測量裝置在具體配置級別方面，包 括用于檢測GNSS位置信息的GNSS模塊，具體地，其中，可以處理所述GNSS位置信息，以在 所述外部坐標系中修正所述掃描點的位置和/或所述點云的位置，和/或在所述掃描點測 量和/或參照點測量期間調節測量值。
[0052] 通過示例的方式，這種GNSS信息可以被用于執行所謂的"智能站設置"，即，例如， 測量連接點與測量裝置("智能站"）的方向，而不（尚未）獲知所測量點的坐標。所述點的位 置僅通過所述測量裝置在所述連接點上的隨后的定位而變得已知，其中，在該點發生借助 于GNSS的位置確定。該點一旦作為其結果變得已知，就通過考慮所建立的點位置來計算并 更新第一設置的取向（即，在瞄準所述連接點時)。這里，按第一設置生成的點云由此也可以 被更新。
[0053] 具體地，所述測量裝置可以按這樣的方式具體實施，S卩，所述瞄準單元包括：具有 成像光學系統的成像系統，該成像光學系統具有聚焦組；和用于生成并以圖形方式提供瞄 準視場的成像的像平面，具體地，其中，所述瞄準視場通過所述成像系統來限定，并且所述 瞄準視場在所述像平面下的成像可以借助于所述聚焦組的圖像聚焦在焦點上以圖形方式 提供。
[0054] 而且，本發明涉及一種存儲在機器可讀介質上的、具有程序代碼的計算機程序產 品，所述計算機程序產品被設置成，具體地，如果所述程序在具體實施為根據本發明所述的 測量裝置的控制和處理單元的電子數據處理單元上或者在具體實施為根據本發明的測量 裝置的估計單元的電子數據處理單元上執行，則根據上述大地測量方法中的任一方法，控 制所述掃描和所述單個點測量，并且執行與所述外部坐標系相關地參照所述內部坐標系。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0055] 下面，基于附圖中示意性地描繪的具體的示例性實施方式，按完全示例性的方式， 對根據本發明的方法和根據本發明的裝置進行更詳細說明，其中，還將討論本發明的進一 步優點。詳細地：
[0056] 圖1示出了根據本發明的測量裝置、要檢測的物體以及指定了參照點的目標；
[0057] 圖2示出了根據本發明的兩個大地測量裝置以及從不同的視角檢測物體；
[0058] 圖3a至圖3c示出了根據本發明在掃描或參照范圍內生成的針對物體的相應的點 云；以及
[0059] 圖4示出了根據本發明的針對測量過程的流程圖。

【具體實施方式】
[0060] 圖1示出了根據本發明的測量裝置1，具體實施為全站儀或多站，其具有基部、可 以相對于該基部環繞樞軸旋轉的支承體，以及瞄準單元2,瞄準單元2可以環繞兩個軸(樞 軸和傾斜軸)旋轉，其中，該傾斜軸由該支承體限定。而且，示出了要測量的物體20、兩個回 射器26、27以及在高地的最高點十字架25。
[0061] 多站包括全站儀的典型功能，而且具有快速且非常精確的掃描功能，其中，基本上 基于改進的控制電動機(其可以更快速地致動并更快速地動作，并且更有功效)，可以實現 該瞄準裝置的更快速且更精確的對準。結果，可以在相對較短的時段內掃描預定的測量區 域中的許多點，并且可以利用所掃描的點來創建對應的點云。通過示例的方式，因而可以在 改變測量輻射(用于掃描物體20)的對準的同時，每秒鐘檢測1000個測量點。由于可實現 測量精確度(在適當的大地測量精確方面的單個點測量的范圍內的精確度(就測量持續時 間而言)）并結合由此可以實現的高測量速度和掃描點分辨率，這種掃描過程可以被稱為真 實掃描。
[0062] 測量裝置1具有掃描功能，其中，當其被執行時，在預定的掃描區域內測量掃描點 (在此，該掃描區域大致對應于從該裝置的設置可見的物體的空間范圍)，并且利用所測量 的掃描點來生成表示物體表面信息的點云。這里，通過以連續地掃描并測量掃描點的方式， 依次地并連續地對準瞄準單元來進行掃描。這里，針對每一個掃描點，以裝置1的內部參照 系確定針對相應的掃描點的距離和方向，即，指定支承體相對于基部的相對位置的擺角以 及指定瞄準單元2相對于支承體的位置的傾角。因此，提供了距離和角測量功能。
[0063] 對于距離測量來說，借助于瞄準單元2來發射測量輻射3并對準掃描區域。通常， 可以由設置在測量裝置1上的激光二極管生成的(準直）激光輻射被用作測量輻射3。通 過以預定的掃描點分辨率來對掃描區域進行掃描的方式對準瞄準單元來引導該測量輻射3 (參見箭頭3a)。
[0064] 根據本發明，測量裝置1以這樣的方式來具體實施，即，根據希望的掃描點分辨率 和到要測量的物體20的距離，例如，在這種掃描期間每秒鐘檢測250或1000個掃描點。
[0065] 作為該掃描過程的結果，顯現點云20a (參照圖3a)，S卩，許多測量點，其中，針對每 一個測量點確定測量輻射3的相應方向和距離值，因此，以測量裝置1的內部坐標系獲知相 關測量點的坐標。這里，點云20a包括可以根據物體20相對于測量裝置1的位置來檢測(對 于測量裝置1是可見的）的那些掃描點。
[0066] 通過示例，可以由點云20a得到物體20的空間范圍和形狀。另外，可以針對每一 個測量點測量由測量裝置1檢測的并且在物體20上反射的測量輻射3的強度值，因此，可 以得到相關物體20的表面情況的附加信息，例如，材料信息。
[0067] 而且，可以例如基于經掃描的測量環境的附加的檢測的全景圖像(例如，基于對應 的檢測的圖像的RGB值）來對點云20a著色。因此，可以在點云20a上疊加附加的圖像信 息。
[0068] 因此，可以借助于點云20a來生成針對物體20的信息，但無法獲得關于物體20的 (相對）空間位置和/或對準的可靠且精確的陳述。為了確定物體20 (或點云20a)的空間 位置或者為了確定與其它物體或坐標系相對的位置，必需建立針對外部坐標系（=其它坐 標系）的參照，其例如使得可以建立絕對的大地測量位置參照。
[0069] 為此，根據本發明，測量裝置1除了掃描功能以外，還具有單個點測量功能，在其 范圍內，可以執行具體的單個目標點(參照點)的精確的大地測量瞄準和測量。為此，測量輻 射33首先精確地對準要測量的點。在該單個點測量期間，測量輻射33精確地保持針對要 測量的相應點的限定的對準，同時在掃描期間連續地改變測量輻射33的對準。具體地，該 對準由用戶人工地進行，其中，用戶可以利用設置在瞄準單元2中的望遠鏡、借助于十字線 或者通過自動目標識別（ATR)功能而以光學方式精確地瞄準目標點，其中，在位置敏感檢測 器上檢測所反射的測量輻射33的落點，并且基于此，存在電動機驅動的可控對準。
[0070] 通過瞄準三個參照目標（回射器26、27以及最高點十字架25)，它們的坐標在外部 坐標系中是已知的并且它們充當參照點，可以以該外部坐標系來校準測量裝置1 (=以該外 部坐標系來確定測量裝置1的位置和對準)，并且因此，可以確定內部坐標系（或點云20a) 與外部坐標系之間的位置和/或取向關系。
[0071] 為此，測量裝置1包括恰當的參照功能。這里，用于測量三個參照目標25至27并 且用于掃描過程的測量裝置1適用于相同的設置，即，該測量裝置1不在掃描過程與單個點 測量過程之間移動。對于利用三個已知的參照點25至27進行精確校準來說，確定針對參 照點25至27的相應方向（S卩，相應的擺角和傾角）就足夠了，而不需要針對參照點25至27 的附加的距離測量，但可以另外確定距離，例如，用于在外部坐標系對測量裝置1的更精確 的位置確定。
[0072] 因此，作為該高精度校準的結果，獲知了針對兩個坐標系的公共點（具體地，測量 裝置1的設置點4)和系統的相應取向。結果，可以與該外部坐標系相關地參照該內部坐標 系，例如，通過旋轉、平移和/或縮放內部坐標系，并且例如可以執行針對點云20a的恰當的 坐標變換。
[0073] 如果已經利用測量裝置1執行了參照測量，則因此，限定了裝置1的設置，則可以 直接參照外部(絕對）坐標系來生成借助于掃描而生成的點云。
[0074] 對于例如用于定位測量裝置1的設置點4是已知的情況來說，針對已知點25至27 的單次測量滿足該校準的需要，作為其結果，可以確定針對該點的方向，并由此確定測量裝 置1的對準。
[0075] 如果使用第一和第二測量裝置1，則測量裝置1的相互瞄準滿足校準第二測量裝 置1的需要，其中，針對第一裝置1的設置點4和空間取向在外部坐標系中是已知的。
[0076] 除了上面描述或概述的校準例程以外，還可以根據從現有技術已知的另選方法來 校準大地測量裝置1。
[0077] 由于該方法，當在掃描期間測量點時，掃描分辨率和由此用于確定位置的可實現 精確度顯著低于在單個點大地測量期間的可實現精確度。在掃描期間，測量射束3大體上 連續地移動，其明顯地限制針對每一個單個點的測量持續時間。具體地，這樣做時，針對每 一個測量點在指定的測量時間中（取決于希望的分辨率）執行整合，其中，測量射束3被移 動。通過對比，在單個點測量期間，測量射束33精確地對準目標并且保持該對準。因此，通 過根據本發明的方式在外部坐標系中登記(參照）點云20a來進行單個點測量，可以實現顯 著更大的精確度，并由此，與基于經測量的掃描點的登記相比，以外部參照系大致更精確地 確定點云20a的位置。
[0078] 這樣做時，更有利地是直接在測量裝置1上并利用測量裝置1來登記點云20a，而 且對此來說，對于專門針對該目的具體實施的單獨的計算機系統來說，不需要耗時的數據 傳輸。而且，作為其結果，即使根據測量裝置1的不同的設置測量多個點云，用戶也可以跟 隨總體的掃描進度。
[0079] 此外，對于登記點云20a來說，不相關的是，這種登記(或者在外部坐標系中校準 測量裝置1)是在掃描并檢測針對物體20的點云20a之前發生還是在該掃描之后發生。因 此，點云20a即使在被生成之后也仍可以在外部坐標系中針對其空間位置或取向來被參 照。
[0080] 因為可以執行單個點測量，所以可以測量參照目標25至27,以按照比在掃描過程 的范圍內可能的距離更大的距離(例如，最高點十字架25)來登記具有大地測量精確度的點 云。因此，在外部坐標系中實現對點云的大致更精確的參照。
[0081] 圖2示出了根據本發明的兩個大地測量裝置1、11 (多站)、要測量的物體20以及 回射器28。通過利用多個測量裝置1、11，例如可以從不同的視角檢測物體20或者可以覆 蓋更大的測量區域。
[0082] 在第一測量裝置1的第一設置中（=將裝置1定位在第一設置點4)，掃描物體20 并且生成對應的第一點云20a(參照圖3a)。這里，點云20a由利用測量裝置1在物體20的 面21、22上檢測的掃描點構成。無法從設置點4瞄準或掃描物體20的表面23。
[0083] 利用第二測量裝置11，從第二設置位置14掃描物體20。在利用第二測量單元的 掃描過程期間，檢測物體20的面23并且生成對應的點云20b (參照圖3b)。其中，無法從 第二裝置11的視角通過測量輻射3來瞄準兩個面21、22。
[0084] 由此，可在兩個不同的內部坐標系中獲得兩個點云20a至20b，其分別被指配給相 應的測量裝置1、11。兩個點云20a至20b不存在針對彼此的相對參照。
[0085] 為了獲取公共點云20c (參照圖3c)(其表示物體20的具有真實精確度的兩個面 21、22與面23)，兩個點云20a至20b彼此進行參照。根據本發明，在公共坐標系中對點云 20a至20b的參照可以依靠這樣的事實來獲得，S卩，在單個點測量的范圍內，通過第二裝置 11非常精確地瞄準第一測量裝置1 (作為參照點)，并且這樣做時，裝置1、11之間的距離和 第二裝置11的對準被檢測到。而且，第二裝置11因此被第一裝置瞄準（由測量輻射33所 描繪，其在每一種情況下被發射并且可以被接收)。結果，測量裝置1、11的相對定位和對準 (并由此，內部坐標系的相對定位和對準）是已知的，并且兩個點云20a至20b可以被轉移 到公共坐標系中（例如，轉移到第一測量裝置的坐標系中，其在這種情況下被視為外部坐標 系)，或者彼此參照(借助于根據本發明的參照功能)。
[0086] 作為根據本發明的參照的結果，點云20a至20b可以以這樣的方式彼此相對地鏈 接，并且其掃描點可以按這樣的方式被組合以形成總體的點云20c，即，與僅通過點云20a 至20b中的一個點云相比，通過該組合的點云20c以更多的細節表示物體20。
[0087] 而且，兩個測量裝置1、11皆可以具有GNSS接收器5、15,借助于此，在每一種情 況下，可以接收來自衛星系統的位置信息(例如，GPS信號、GLONASS信號或Galileo信號）。 借助于該位置信息，可以針對測量系統1、11中的每一個確定地球坐標系中的絕對位置，其 中，作為裝置1、11對準的結果(其同樣可以被確定(參見上述：相互瞄準；然而，為此，滿足 確定測量方向的需要)），還可以確定裝置的絕對對準(例如，北/東向對準)。利用該信息， 可以在該外部坐標系中（地球坐標系）登記點云20a至20c。由此，可以在該系統中確定點 云20a至20c的位置以及物體20的位置(位置和取向）。因此，可以獲得針對物體20的絕 對坐標(其是測量裝置1、11的內部坐標系的獨立坐標)。
[0088] 作為利用兩個測量裝置1、11的另選例，可以連續地在兩個設置點4、14設置單一 測量裝置，并由此可以在每一種情況中掃描物體20,并且可以生成點云20a至20b。對于測 量裝置的每一個設置來說，根據本發明，例如通過回射器28的精確的單個瞄準，與總體坐 標系（overarching coordinate system)相關地，參照相應生成的點云20a至20b，回射器 28的位置6在該總體坐標系中是已知的(在設置位置4、14在每一種情況下是已知的情況 下)。因此，兩個點云20a至20b可以在公共坐標系中被參照。
[0089] 如果設置點4、14的位置是未知的，則依靠這樣的事實在外部坐標系中進行校準， 艮P，除了已知目標28的位置以外，其它目標(在此未描繪）（其位置同樣在外部坐標系中是 已知的）還借助于單個點測量功能進行測量(至少針對這些目標的方向）。
[0090] 而且，點云可以彼此相關地生成并參照，或者依靠在第一設置位置被掃描的第一 點云登記在公共坐標系中，而且在該位置，利用單個點測量功能在第二位置精確地測量回 射器。隨后，將回射器和測量裝置的設置位置互換，掃描另一點云，并且借助于單個點測量 精確地瞄準回射器，從而作為其結果，確定測量裝置與回射器相關的相對位置。
[0091] 通過重復這些步驟，即，在第三位置設置并精確地測量回射器，并且互換測量裝置 和回射器(在第三位置）的位置以及這種"反向測量"的另一些實例，可以生成相互參照測量 的序列（"橫貫（traverse)")。可以在公共坐標系中提供和/或顯示(例如，在測量裝置的顯 示器上）由此生成的點云。通過與外部坐標系相關的附加參照(例如，與地球坐標相關)，還 可以在該坐標系中計算點云的位置，即，確定點云(和由此表示的物體）在地球坐標系中的 絕對位置。
[0092] 利用該方法，可以跨越其中僅存在難以測量的參照點的地形區域或其中不存在參 照點的地形區域。接著，以第一已知的參照點開始橫貫，并且借助于測量裝置以及測量回射 器相對于該測量裝置的位置，來提供其它的跨越點。隨后的測量可以鏈接至這些人工提供 的點。這種橫貫通過測量另一已知的最終點來完成。這里，在跨越的范圍內人工提供的所 有參照點可以根據它們的位置基于該最終點的已知的位置來進行更新。因此，還可以對在 橫貫的范圍內生成的點云的位置進行修正。
[0093] 當例如在橫貫范圍內生成多個相互參照測量時，由此生成的單個點云的測量值可 以被用于相互調節。也就是說，如果通過掃描來檢測相互交疊的測量區域，則可以在相應的 點云借助于參照點測量(單個點測量）而根據本發明進行相互參照并且以同一坐標系的坐 標獲知了測量點之后，通過與關聯的測量值相比較(具體地，通過形成平均值）來確定在每 一種情況下測量多次的點。
[0094] 而且，當利用多個多站(在此未示出）時，借助于其，在每一種情況下，測量并生成 點云以及確定針對參照點的取向，當以在公共坐標系中以更新的方式可獲得這些點云的這 種方式來更新或調節參照點的坐標時，可以針對由多站檢測到的所有點云進行相應坐標更 新。
[0095] 圖4示出了根據本發明的用于具有對在坐標系掃描期間生成的點云進行掃描和 登記的測量過程的流程圖。
[0096] 最初，在第一步驟41中，按第一設置來設置大地測量裝置(其被具體實施為用于 掃描物體并且用于高精度地測量單個點(例如，多站)）。
[0097] 隨后，通過對參照點單個的、精確的大地測量，進行滿足測量要求的將測量裝置校 準到外部坐標系中（步驟42)，其中，例如，瞄準已知點卿，在外部坐標系中具有已知位置的 點）。針對這種單個點測量的測量范圍明顯大于用于掃描的可獲取的測量范圍，因為測量輻 射精確地對準測量點并且在整個測量期間保持，并由此，可以針對一點實現更長的測量持 續時間（即，更長時間的整合時段)。
[0098] 此后，在另一步驟43中，限定一掃描區域，在該掃描區域內，同樣檢測多個掃描 點，以確定點對點分辨率。為此，例如，可以針對每一個掃描點限定測量射束的偏轉的速度 和/或針對測量持續時間的整合時間。
[0099] 接著，通過在所限定的掃描區域內在該物體上引導測量射束并且（同時）測量針對 每一個掃描點的角和距離值，而基于在步驟43中進行的設置，掃描44該物體。作為該掃描 過程的結果，生成了在該測量裝置的內部坐標系中的具有這些掃描點的點云。
[0100] 在掃描步驟44之后，借助于在步驟42建立的校準值在外部坐標系中參照45點 云，以使至少該點云的取向（具體地，位置）在外部坐標系中是已知的，或者使得在內部坐標 系與外部坐標系之間確定參照。結果，可以在該外部坐標系中獲得物體坐標，即，該物體的 空間范圍和位置以及取向。
[0101] 根據本發明，可以在步驟42之前執行步驟43和44。
[0102] 在已經進行了登記或參照45點云的步驟之后，測量裝置可以可選地按另一設置 來定位，以執行另一掃描(步驟46)，其中，步驟42至45在該另一設置下再一次執行，或者完 成47測量過程。
[0103] 作為該測量過程的結果48,獲取一個或更多個點云，其中，這些可直接地以正確 (希望)的坐標系(例如，在其中已知該參照點的位置的情況下是地球坐標系)獲得，而不需要 必須針對這種登記執行的附加的后處理步驟(例如，在辦公室工作區)。
[0104] 在單個點測量或掃描的范圍內，還可以考慮大氣信息(舉例來說，例如在相應的測 量下存在的空氣壓力、溫度和/或大氣濕度）及其對相應測量的影響。
[0105] 另選的或附加的，可以在相應的測量過程期間考慮幾何修正數據（例如，針對北向 對準)。
[0106] 具體地，可以借助于測量裝置的控制器利用不同的坐標系來執行根據本發明的對 點云的參照。具體地，提供用于遙控該裝置的控制部。
[0107] 應理解的是，所描繪的這些圖僅按示意性的方式描繪了可能示例性實施方式。根 據本發明，不同方法彼此之間同樣可以組合，并且與用于大地目標測量的方法和裝置以及 利用現有技術的測量裝置(具體地，全站儀或多站）相組合。
【權利要求】
1. 一種用于借助于大地測量裝置（1、11)來對坐標系進行參照的大地測量方法，該方 法包括以下步驟： 獲得針對物體（20)的與所述測量裝置（1、11)的內部坐標系相關的表面信息，具體地 是與所述物體（20)的形狀和/或空間范圍相關的表面信息；以及 針對至少一個參照點（25至28)，以大地測量方式進行精確的單個點測量，其中， 由所述至少一個參照點（25至28)提供針對外部坐標系的位置參照； 將測量輻射（3、33)精確地對準到所述至少一個參照點（25至28)上；以及 當所述測量輻射（3、33)被對準到所述至少一個參照點（25至28)上時，以所述內部坐 標系確定到所述參照點（25至28)的至少一個方向， 其特征在于 與參照點無關地掃描以獲得所述表面信息，包括以下步驟： 通過連續地改變所述測量輻射（3、33)的所述對準，掃描針對所述物體（20)的指定的 掃描區域； 具體地，以預定的掃描點分辨率，確定用于針對位于指定的掃描區域內的掃描點進行 距離測量所發射的所述測量輻射（3、33)的相應距離和相應對準；以及 以所述內部坐標系生成表示所述表面信息并且具有所述掃描點的點云（20a至20c)， 并且 對所述內部坐標系的、與所述外部坐標系相關的這種參照，具體地是自動參照，至少基 于： 由所述參照點（25至28)提供的針對所述外部坐標系的所述位置參照；和 在所述內部坐標系中到所述參照點（25至28)的指定的方向， 使得以所述外部坐標系確定所述點云（20a至20c)的至少一個取向。
2. 根據權利要求1所述的大地測量方法， 其特征在于 所述至少一個參照點（25至28)的絕對位置在所述外部坐標系中是已知的，并且基于 所述至少一個參照點（25至28)的已知的絕對位置來進行所述參照。
3. 根據權利要求1或2所述的大地測量方法， 其特征在于 通過以下各項在所述外部坐標系中提供所述至少一個參照點（25至28): 大地測量參照的校準點（25)或 回射器（26至28)或 以已知的定位或對準設置的大地測量裝置（1、11)。
4. 根據權利要求1至3中的任一項所述的大地測量方法， 其特征在于 以所述內部坐標系確定到所述至少一個參照點（25至28)的距離和所述參照點（25至 28)的位置，并且在所述內部坐標系中基于所述參照點（25至28)的所確定的位置進行所述 參照。
5. 根據權利要求1至4中的任一項所述的大地測量方法， 其特征在于 在掃描范圍內，當確定所述測量輻射（3、33)的所述相應距離和所述相應對準時，在所 述指定的掃描區域內連續地修改所述測量輻射（3、33)的所述對準，和/或 在參照范圍內，以這樣的方式調節所述內部坐標系，具體地，對于所述內部坐標系的位 置和標度，所述內部坐標系與所述外部坐標系一致，具體地，對應于所述外部坐標系。
6. 根據權利要求1至5中的任一項所述的大地測量方法， 其特征在于 基于進一步的參照信息，具體地，基于附加的GNSS位置信息和/或基于針對所述內部 坐標系和所述外部坐標系兩者公共的附加的點，與所述外部坐標系相關地參照所述內部坐 標系。
7. 根據權利要求1至6中的任一項所述的大地測量方法， 其特征在于 在所述測量方法的范圍內檢測大氣狀態信息和/或限定幾何測量信息，具體地是，氣 象數據或測量軸誤差，具體地是，環境溫度、空氣壓力和/或大氣濕度，其中， 在確定針對相應的掃描點的距離時和/或在確定到所述至少一個參照點（25至28)的 距離時，處理所述大氣狀態信息和/或所述幾何測量信息，并且存在距離修正，以基于所述 距離修正來確定所述相應距離，和/或 基于所述大氣狀態信息和/或所述幾何測量信息，針對在所述掃描范圍內確定的所述 掃描點在所述外部坐標系中的位置來調節在所述掃描范圍內確定的所述掃描點，具體地， 所述點云（20a至20c)在所述內部坐標系中的所述取向。
8. 根據權利要求1至7中的任一項所述的大地測量方法， 其特征在于 另一些掃描點的掃描的至少一個另一些實例； 以另一坐標系獲得具有所述另一些掃描點的另一點云（20a至20c); 利用在所述另一坐標系中確定的至少到至少一個參照點（25至28)和/或針對另一參 照點（25至28 )的方向，對于所述參照點（25至28 )和/或對于所述另一參照點（25至28 ) 以大地測量方式進行精確的單個點測量；以及 至少基于在所述另一坐標系中的到所述參照點（25至28)的所確定的方向，與所述外 部坐標系相關地參照所述另一坐標系， 具體地，其中，從不同的設置點（4、14)進行所述掃描和掃描的所述至少一些實例，其 中，在所述外部坐標系中確定相應的點云（20a至20c)的取向，并因此，相對彼此確定所述 相應的點云（20a至20c)的所述取向。
9. 根據權利要求8所述的大地測量方法， 其特征在于 基于與所述外部坐標系相關地對所述內部坐標系和所述另一坐標系進行的所述參照， 在所述外部坐標系中存在指定的掃描點的位置和/或所述另一些掃描點的位置的至少部 分的相互調節，具體地，存在位置修正。
10. 根據權利要求1至9中的任一項所述的大地測量方法， 其特征在于 所述大地測量方法通過并利用所述大地測量裝置（1、11)來執行，其中，所述測量裝置 (1、11)至少包括： 一種掃描功能，所述掃描功能用于通過掃描來檢測所述掃描點并生成所述點云（20a 至20c)，和 一種單個點測量功能，所述單個點測量功能用于高精度地確定到所述參照點（25至 28)的方向， 具體地，其中，根據權利要求11至14中的任一項來具體實施所述大地測量裝置（1、 11)。
11. 一種大地測量裝置（1、11)，具體地是全站儀或多測站，所述大地測量裝置包括： 基部，所述基部限定樞軸； 結構，所述結構布置在所述基部上，并且能夠繞所述樞軸相對于所述基部樞轉，其中， 所述結構限定與所述樞軸大致正交的傾斜軸； 瞄準單元（2)，具體地是望遠鏡瞄準具，其中，所述瞄準單元（2)被設置成，使得所述瞄 準單元（2)能夠繞所述傾斜軸相對于所述結構樞轉，并且所述瞄準單元（2)具有發射單元， 所述發射單元具有用于生成并發射測量輻射（3、33)的射束源； 距離測量功能，所述距離測量功能用于測量到點的距離； 角測量功能，所述角測量功能用于測量所述測量輻射（3、33)的對準； 控制和處理單元，所述控制和處理單元用于數據處理并且用于控制所述測量裝置；以 及 單個點測量功能，其中，所述單個點測量功能能夠通過所述控制和處理單元以這樣的 方式來執行： 能夠通過以高精度的方式與所述測量輻射（3、33)對準，以精確的大地測量的方式來測 量至少一個參照點（25至28)，其中，由所述至少一個參照點（25至28)來提供針對外部坐 標系的位置參照；以及 當將所述測量輻射（3、33)對準到所述至少一個參照點（25至28)上時，能夠在所述測 量裝置（1、11)的內部坐標系中確定針對所述參照點（25至28)的至少一個方向， 其特征在于包括 與參照點無關的掃描功能，其中，所述掃描功能能夠通過所述控制和處理單元以這樣 的方式來執行： 能夠通過連續地改變所述測量輻射（3、33)在位于指定的掃描區域內的掃描點上的對 準，以預定的掃描點分辨率來測量所述掃描點；并且 能夠以所述測量裝置（1、11)的所述內部坐標系生成具有所述掃描點的點云（20a至 20c)，以及 參照功能，其中，當所述參照功能由所述控制和處理單元執行時，至少基于以下各項與 所述外部坐標系相關地參照所述內部坐標系： 由所述參照點（25至28)提供的針對所述外部坐標系的位置參照，以及 能夠由所述單個點測量功能確定的、在所述內部坐標系中的到所述參照點（25至28) 的方向， 使得以所述外部坐標系確定所述點云（20a至20c )的至少一個取向。
12. 根據權利要求11所述的大地測量裝置（1、11)， 其特征在于 以這樣的方式來設置所述控制和處理單元，即，能夠利用所述大地測量裝置（1、11)來 執行根據權利要求1至10中的任一項所述的大地測量方法。
13. 根據權利要求11或12所述的大地測量裝置（1、11)， 其特征在于 所述測量裝置（1、11) 包括具有估計單元的遙控單元，其中，所述參照功能能夠由所述估計單元來執行，和/ 或 包括用于描繪測量信息的顯示單元，具體地，其中，能夠通過對點云（20a至20c)的掃 描點的至少部分的描繪來描繪掃描進度。
14. 根據權利要求11至13中的任一項所述的大地測量裝置（1、11)， 其特征在于 所述測量裝置（1、11)包括用于檢測GNSS位置信息的GNSS模塊（5、15)，具體地，其中， 能夠處理所述GNSS位置信息： 以在所述外部坐標系中修正所述掃描點的位置和/或所述點云（20a至20c) 的位置，和/或 以在掃描點測量和/或參照點測量期間調節所測量的值。
15. -種存儲在機器可讀介質上的、具有程序代碼的計算機程序產品，用于： 具體地，如果所述程序在具體實施為根據權利要求11至14中的任一項所述的測量裝 置（1、11)的控制和處理單元的電子數據處理單元上或者在具體實施為根據權利要求13所 述的估計單元的電子數據處理單元上執行，則用于根據權利要求1至10中的任一項所述的 大地測量方法的 控制掃描和單個點測量的步驟，并且 執行與所述外部坐標系相關地對所述內部坐標系進行參照的步驟。
【文檔編號】G01C15/00GK104101334SQ201410136452
【公開日】2014年10月15日 申請日期:2014年4月4日 優先權日:2013年4月5日
【發明者】H-M·佐格, N·科特祖爾 申請人:萊卡地球系統公開股份有限公司