一種微波放大器測試座的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種微波放大器測試座，它包括測試電路板（6），測試電路板（6）位于測試支架（1）的上表面，測試電路板（6）上有測試孔針（5），測試孔針（5）與微帶線（7）連接，在測試支架（1）上有接頭（2）和金屬電極（4），接頭（2）的內芯和金屬電極（4）與測試電路板（6）下表面的微帶線（7）連接；解決了現有技術對大功率有源微波放大器測試時需要直接焊接測試線在器件引腳上存在的測試效率低，不適用于大批量測試工作，且會給被測器件帶來機械損傷，在測試過程中接觸不良、接地面積不夠、固定不牢、容易造成較大的測試數據誤差等問題。
【專利說明】一種微波放大器測試座
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及微波放大器測試技術，尤其涉及一種微波放大器測試座。
【背景技術】
[0002]對于大功率有源微波放大器，其工作頻率在IOGHz以上，增益在35dBm以上，工作時需提供直流電源，由于這種有源微波放大器工作頻率很高，封裝特殊，目前還沒有專用的測試裝置，通常出廠測試時是將測試線直接焊接在被測大功率有源微波放大器的器件引腳上，這種方式嚴重影響了被測放大器的可焊性，給后續安裝使用帶來了麻煩；而且這種測試方式效率不高，耗費大量的人力物力，不適用于大批量的測試工作，使微波放大器測試時采用常規觸點或焊接方式所帶來的機械損傷、接觸不良、接地面積不夠、固定不牢、容易造成較大的測試數據誤差等問題。
【發明內容】
[0003]本實用新型要解決的技術問題:提供一種微波放大器測試座，以解決現有技術對大功率有源微波放大器測試時需要直接焊接測試線在器件引腳上存在的測試效率低，不適用于大批量測試工作，且會給被測器件帶來機械損傷，在測試過程中接觸不良、接地面積不夠、固定不牢、可靠性不高、容易造成較大的測試數據誤差等問題。
[0004]本實用新型技術方案:
[0005]一種微波放大器測試座，它包括測試電路板，測試電路板位于測試支架的上表面，測試電路板上有測試孔針，測試孔針與微帶線連接，在測試支架上有接頭和金屬電極，接頭的內芯和金屬電極與測試電路板下表面的微帶線連接。
[0006]測試電路板上表面為全覆銅地線，下表面為測試電路。
[0007]測試電路板通過四個安裝孔與測試支架上表面固定。
[0008]測試孔針安裝在安裝在測試電路板中間的四個菱形排列的圓形通孔內。
[0009]接頭位于測試支架的左右側，接頭對稱安裝，接頭的內芯與微帶線焊接。
[0010]金屬電極位于測試支架的上下側。
[0011]測試針孔安裝間距尺寸與被測器件管腳間距尺寸相同，管徑尺寸與被測器件引腳直徑相同。
[0012]在微帶線上連接有隔直電容。
[0013]電源正電極和地線之間連接有濾波電容。
[0014]本實用新型的有益效果:
[0015]將被測器件直接插入到本實用新型微波放大器測試座中，連接相關微波測試設備后，即可實現對金屬直插封裝大功率有源微波放大器的測試，而不需要在被測器件管腳上焊接測試線；由于本實用新型公開的微波放大器測試座采用具有緊縮功能的圓形測試孔針，保證了微波放大器和測試座的完全電氣連接，減少了功率衰減；同時使用了大面積覆銅的微波電路板，保證了足夠大的接地面積，提高了測試的抗干擾能力，使測試數據更穩定可靠。因此相比現有技術，本實用新型具有結構簡單、通用性強、安裝方便等特點，提高了微波放大器測試可靠性和效率，解決了現有技術對大功率有源微波放大器測試時需要直接焊接測試線在器件引腳上存在的測試效率低，不適用于大批量測試工作，且會給被測器件帶來機械損傷，在測試過程中接觸不良、接地面積不夠、固定不牢、可靠性低、容易造成較大的測試數據誤差等問題。
[0016]【專利附圖】
【附圖說明】:
[0017]圖1為本實用新型俯視示意圖；
[0018]圖2為本實用新型仰視示意圖。
[0019]【具體實施方式】:
[0020]—種微波放大器測試座,它包括測試電路板6,測試電路板6位于測試支架I的上表面，測試電路板6上有測試孔針5，測試孔針5與微帶線7連接，在測試支架I上有接頭2和金屬電極4，接頭2的內芯和金屬電極4與測試電路板6下表面的微帶線7連接；測試支架I采用金屬支架，上下表面開口，上表面開口小于下表面，下表面開口尺寸與測試電路板6相同。
[0021]測試電路板6上表面為全覆銅地線，下表面為測試電路。
[0022]測試電路板6通過四個安裝孔3與測試支架I上表面固定。
[0023]測試孔針5安裝在安裝在測試電路板6中間的四個菱形排列的圓形通孔內；測試針孔5安裝間距尺寸與被測器件管腳間距尺寸相同，管徑尺寸與被測器件引腳直徑相同。
[0024]接頭2位于測試支架I的左右側，接頭2對稱安裝，接頭2的內芯與微帶線7焊接，接頭2米用SAM接頭。
[0025]金屬電極4位于測試支架I的上下側。
[0026]在微帶線7上連接有隔直電容8，隔直電容8采用焊接，其容值根據被測器件的工作頻率確定。
[0027]電源正電極和地線10之間連接有濾波電容9，容值小于0.47mF。
[0028]使用本實用新型對微波放大器進行測試時，將被測放大器插入測試孔針內，保證器件金屬殼與測試電路板的上表面覆銅地線完全接觸；在金屬支架前后的電極上接上直流電源，電壓值根據被測器件工作電壓確定，將微波信號源的輸出和頻譜分析儀的輸入分別連接到左右2個SAM接頭上，啟動測試設備即可完成對微波放大器的測試。
【權利要求】
1.一種微波放大器測試座，它包括測試電路板(6),其特征在于:測試電路板(6)位于測試支架(I)的上表面，測試電路板(6)上有測試孔針(5)，測試孔針(5)與微帶線(7)連接，在測試支架(I)上有接頭(2 )和金屬電極(4)，接頭(2 )的內芯和金屬電極(4)與測試電路板(6)下表面的微帶線(7)連接。
2.根據權利要求1所述的一種微波放大器測試座，其特征在于:測試電路板(6)上表面為全覆銅地線，下表面為測試電路。
3.根據權利要求1或2所述的一種微波放大器測試座，其特征在于:測試電路板(6)通過四個安裝孔(3)與測試支架(I)上表面固定。
4.根據權利要求1所述的一種微波放大器測試座，其特征在于:測試孔針(5)安裝在安裝在測試電路板(6 )中間的四個菱形排列的圓形通孔內。
5.根據權利要求1所述的一種微波放大器測試座，其特征在于:接頭(2)位于測試支架(O的左右側，接頭(2)對稱安裝，接頭(2)的內芯與微帶線(7)焊接。
6.根據權利要求1所述的一種微波放大器測試座，其特征在于:金屬電極(4)位于測試支架(I)的上下側。
7.根據權利要求1所述的一種微波放大器測試座，其特征在于:測試針孔(5)安裝間距尺寸與被測器件管腳間距尺寸相同，管徑尺寸與被測器件引腳直徑相同。
8.根據權利要求1所述的一種微波放大器測試座，其特征在于:在微帶線(7)上連接有隔直電容(8)。
9.根據權利要求1所述的一種微波放大器測試座，其特征在于:電源正電極和地線(10 )之間連接有濾波電容(9 )。
【文檔編號】G01R1/04GK203479845SQ201320612581
【公開日】2014年3月12日 申請日期:2013年9月30日 優先權日:2013年9月30日
【發明者】袁文, 邱云峰, 張文輝, 雷蕓 申請人:貴州航天計量測試技術研究所