一種半導體光電特性測試盒的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種半導體光電特性測試盒，包括測試盒主體，與所述測試盒主體相配合的前板、前蓋板、蓋板、后板、后蓋板，所述前板上帶有前板插座定位通孔用于固定測試盒插座，所述測試盒插座上固定有發射激光器，所述前板通過前板配合凸出結構與所述測試盒主體配合連接，所述前板帶有前板插針孔用于前板與測試盒主體的位置固定，所述前板還帶有前板定位通孔、前蓋板定位螺孔用于前板與前蓋板的位置固定；后板上設置有積分探測器，后蓋板帶有后蓋定位螺孔用于后蓋板與測試盒主體的位置固定。采用該裝置進行導體光電特性測試，避免了人工測量所帶來的測量誤差和對器件的接觸損壞，進而提高了測量數據的準確性，一致性。
【專利說明】一種半導體光電特性測試盒
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及半導體激光器【技術領域】，尤其涉及一種半導體光電特性測試盒。【背景技術】
[0002]半導體激光器具有體積小、重量輕、電光轉換效率高、性能穩定、可靠性高和壽命長等優點，被廣泛應用于通信、計算機、影視、制造業、航天航空、醫療等領域，已經成為光電行業最有前途的領域。對半導體激光器的性能參數進行測試和表征是掌握激光器特性的關鍵，同時也是判斷激光器好壞的重要依據。對半導體激光器測試的性能參數包括LIV (功率-電流-電壓)、波長、光譜等，其中LIV測試是半導體激光器的基本測試項目。
[0003]根據LIV特性測試原理要求，激光器需保證在黑暗的環境中，避免或最大的減少外界光源、光線對測試結果的干擾；另外光敏面與積分球探測器光敏面的同軸對稱情況及兩者之間的焦距都決定了測試結果的可靠性與一致性；所以設計與半導體激光器測試相匹配的測試盒或測試裝置尤為必要。
實用新型內容
[0004]本實用新型所要解決的技術問題是針對半導體激光器特性測試要求，提供了一種半導體光電特性測試盒。
[0005]本實用新型解決上述技術問題的技術方案如下:一種半導體光電特性測試盒，包括測試盒主體，與所述測試盒主體相配合的前板、前蓋板、蓋板、后板、后蓋板，所述前板上帶有前板插座定位通孔用于固定測試盒插座，所述測試盒插座上固定有發射激光器，所述發射激光器通過導線通孔中的閉環線路連接，形成一個封閉的測試系統；所述前板通過前板配合凸出結構與所述測試盒主體配合連接，所述前板帶有前板插針孔用于前板與測試盒主體的位置固定，所述前板還帶有前板定位通孔、前蓋板定位螺孔用于前板與前蓋板的位置固定；后板上設置有積分探測器，通過壓筒與蓋板配合連接，蓋板與后板配合凹槽結構配合連接，后板配合凸出結構與測試盒主體配合連接，使積分探測器處于位置鎖定狀態，后蓋板帶有后蓋定位螺孔用于后蓋板與測試盒主體的位置固定。
[0006]在上述技術方案的基礎上，本實用新型還可以做如下改進。
[0007]進一步，所述測試盒主體具有測試盒主體后板定位螺孔、測試盒主體同軸安裝結構、導線通孔、測試盒主體后蓋定位螺孔、測試盒主體后板配合凹槽結構、測試盒主體插針孔、測試盒主體前板配合凹槽結構。
[0008]其中，所述測試盒主體后板配合凹槽結構用于后板的配合連接，所述測試盒主體后板定位螺孔用于測試盒主體與后板位置固定，所述測試盒主體后蓋定位螺孔用于測試盒主體與后蓋板的位置固定，所述測試盒主體上的導線通孔用于發射激光器、積分探測器的線路通道；所述測試盒主體前板配合凹槽結構用于前板的配合連接，所述測試盒主體插針孔用于測試盒主體與前板的位置固定；所述測試盒主體同軸安裝結構與后板同軸安裝結構，前板同軸安裝結構，形成同軸結構。[0009]進一步，所述測試盒插座包括插座口、導軌、推條、拔桿，所述測試盒插座口 9為多插針孔結構，所述圓柱形插座軸心帶有與所述測試盒主體同軸安裝結構同軸的圓孔，作為插座同軸安裝結構，保證光路。
[0010]進一步,所述前板帶有與測試盒主體相配合連接的前板配合凸出結構，前板配合凸出結構壁上帶有兩個對稱的插座定位螺孔，用于固定測試盒插座與發射激光器。所述測試盒前板帶有前板定位通孔、前板插針孔，前板定位通孔用于前板與前蓋板的位置固定，前板插針孔用于前板與測試盒主體的位置固定，前板同軸安裝結構與測試盒主體同軸安裝結構形成同軸結構，保證光路。
[0011]所述前蓋板帶有前蓋板定位螺孔，用于前蓋板與前板的位置固定。
[0012]進一步，所述后板的一端帶有與蓋板相配合連接的后板配合凹槽結構，另外一端帶有與測試盒主體相配合連接的后板配合凸出結構。所述后板帶有后板定位通孔用于后板與測試盒主體的位置固定，所述后板還帶有后板定位螺孔用于后板與蓋板的位置固定，其中，后板同軸安裝結構與測試盒主體同軸安裝結構形成同軸結構，保證光路。
[0013]進一步，所述蓋板中心帶有一圓孔作為蓋板同軸安裝結構，中心圓孔周圍對稱分布四個圓孔，作為積分探測器定位螺孔，在圓形測試盒蓋板邊緣處帶有兩個與后板定位螺孔相對應的圓孔，作為蓋板定位螺孔。
[0014]進一步，所述壓筒為圓柱形結構，軸心帶有與蓋板同軸安裝結構同軸的圓孔，作為壓筒同軸安裝結構，保證光路。
[0015]進一步，所述后蓋板帶有后蓋定位螺孔，用于后蓋板與測試盒主體的位置固定，后蓋板還帶有航空插座定位螺孔、后蓋插座孔，用于航空插座的位置固定與儀器的連接。
[0016]進一步，所述插針為圓柱長條形狀，用于前板與測試盒主體的位置固定。
[0017]本實用新型的有益效果是:采用該裝置進行導體光電特性測試，可實現大批量快速測量，避免了人工測量所帶來的測量誤差和對器件的接觸損壞，進而提高了測量數據的準確性，一致性。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0018]圖1為本實用新型所述半導體光電特性測試盒結構圖；
[0019]圖2為本實用新型所述半導體光電特性測試盒插座結構圖；
[0020]圖3為本實用新型所述半導體光電特性測試盒主體后視結構圖；
[0021]圖4為本實用新型所述半導體光電特性測試盒主體主視結構圖；
[0022]圖5為本實用新型所述半導體光電特性測試盒前板結構圖；
[0023]圖6為本實用新型所述半導體光電特性測試盒前蓋板結構圖；
[0024]圖7為本實用新型所述半導體光電特性測試盒后板結構主視圖；
[0025]圖8為本實用新型所述半導體光電特性測試盒后板結構后視圖；
[0026]圖9為本實用新型所述半導體光電特性測試盒蓋板結構圖；
[0027]圖10為本實用新型所述半導體光電特性測試盒壓筒結構圖；
[0028]圖11為本實用新型所述半導體光電特性測試盒后蓋板結構圖；
[0029]圖12為本實用新型所述半導體光電特性測試盒插針結構圖；
[0030]附圖中，各標號所代表的部件列表如下:[0031]1、測試盒主體,2、后板,3、壓筒,4、蓋板,5、后蓋,6、插座,7、前蓋板,8、前板,9、插
座口，10、導軌，11、拔桿，12、推條，13、插座同軸安裝結構，14、測試盒主體后板定位螺孔，
15、測試盒主體同軸安裝結構，16、導線通孔，17、測試盒主體后蓋定位螺孔，18、測試盒主體后板配合凹槽結構，19、測試盒主體插針孔，20、測試盒主體前板配合凹槽結構，21、前板定位通孔，22、前板插座定位通孔，23、前板插針孔，24、前板同軸安裝結構，25、前板配合凸出結構，26、前蓋板定位螺孔，27、后板定位通孔，28、后板定位螺孔，29、后板同軸安裝結構，30、后板配合凹槽結構,31、后板配合凸出結構,32、蓋板同軸安裝結構,33、積分探測器定位螺孔，34、蓋板定位螺孔，35、壓筒同軸安裝結構，36、后蓋定位螺孔，37、后蓋插座孔，38、航空插座定位螺孔，39、插針。
【具體實施方式】
[0032]以下結合附圖對本實用新型的原理和特征進行描述，所舉實例只用于解釋本實用新型，并非用于限定本實用新型的范圍。
[0033]如圖1所示，一種半導體光電特性測試盒，包括測試盒主體I,與所述測試盒主體I相配合的前板8、前蓋板7、蓋板4、后板2、后蓋板5,所述前板8上帶有前板插座定位通孔22用于固定測試盒插座6，所述測試盒插座6上固定有發射激光器，所述發射激光器通過導線通孔16中的閉環線路連接，形成一個封閉的測試系統；所述前板8通過前板配合凸出結構25與測試盒主體I配合連接，所述前板8帶有前板插針孔23用于前板8與測試盒主體I的位置固定，所述前板8還帶有前板定位通孔21、前蓋板定位螺孔26用于前板8與前蓋板7的位置固定；后板2上設置有積分探測器，通過壓筒3與蓋板4配合連接，蓋板4與后板配合凹槽結構30配合連接，后板配合凸出結構31與測試盒主體I配合連接，使積分探測器處于位置鎖定狀態，后蓋板5帶有后蓋定位螺孔36用于后蓋板5與測試盒主體I的位置固定。
[0034]如圖2所示，測試盒插座6包括插座口 9、導軌10、拔桿11、推條12、插座同軸安裝結構13，所述圓柱形插座6軸心帶有與測試盒主體同軸安裝結構15同軸的圓孔，作為插座同軸安裝結構13，保證光路。所述測試盒插座口 9為多插針孔結構，可根據不同測試儀器的要求而更換。
[0035]如圖3、4所示，測試盒主體I帶有與前板8、前蓋板7、后板2、后蓋板5尺寸相配合的結構。包括:測試盒主體后板定位螺孔14、測試盒主體同軸安裝結構15、導線通孔16、測試盒主體后蓋定位螺孔17、測試盒主體后板配合凹槽結構18、測試盒主體插針孔19、測試盒主體前板配合凹槽結構20。
[0036]其中，測試盒主體后板配合凹槽結構18用于后板2的配合連接，測試盒主體后板定位螺孔14用于測試盒主體I與后板2位置固定，測試盒主體后蓋定位螺孔17用于測試盒主體I與后蓋板5的位置固定，測試盒主體I上的導線通孔16用于發射激光器、積分探測器的線路通道；測試盒主體前板配合凹槽結構20用于前板8的配合連接，測試盒主體插針孔19用于測試盒主體I與前板8的位置固定；測試盒主體同軸安裝結構15與后板同軸安裝結構29，前板同軸安裝結構24，形成同軸結構。
[0037]如圖5所示，所述前板8帶有與測試盒主體I相配合連接的前板配合凸出結構25，前板配合凸出結構25壁上帶有兩個對稱的插座定位螺孔22，用于固定測試盒插座6與發射激光器。所述測試盒前板8帶有前板定位通孔21、前板插針孔23，前板定位通孔21用于前板8與前蓋板7的位置固定，前板插針孔23用于前板8與測試盒主體I的位置固定，前板同軸安裝結構24與測試盒主體同軸安裝結構15形成同軸結構，保證光路。
[0038]如圖6所示，所述前蓋板7帶有前蓋板定位螺孔26，用于前蓋板7與前板8的位置固定。
[0039]如圖7、8所示，所述后板2的一端帶有與蓋板4相配合連接的后板配合凹槽結構30，另外一端帶有與測試盒主體I相配合連接的后板配合凸出結構31。所述后板2帶有后板定位通孔27用于后板2與測試盒主體I的位置固定，所述后板2帶有后板定位螺孔28用于后板2與蓋板4的位置固定，其中，后板同軸安裝結構29與測試盒主體同軸安裝結構15形成同軸結構，保證光路。
[0040]如圖9所示，所述蓋板4中心帶有一圓孔作為蓋板同軸安裝結構32，中心圓孔周圍對稱分布四個圓孔，作為積分探測器器定位螺孔33，在圓形測試盒蓋板4邊緣處帶有兩個與后板定位螺孔28相對應的圓孔，作為蓋板定位螺孔34。
[0041]如圖10所示，測試盒壓筒3為圓柱形結構，軸心帶有與蓋板同軸安裝結構32同軸的圓孔，作為壓筒同軸安裝結構35，保證光路。
[0042]如圖11所示，所述后蓋板5帶有后蓋定位螺孔36，用于后蓋板5與測試盒主體I的位置固定，后蓋板5還帶有航空插座定位螺孔38、后蓋插座孔37，用于航空插座的位置固定與儀器的連接。
[0043]如圖12所示，一種半導體光電特性測試盒插針39為圓柱長條形狀，用于前板8與測試盒主體I的位置固定。
[0044]所述半導體光電特性測試盒測試流程主要包括:將測試儀器插入插座口 9內，扣上前蓋板，啟動測試盒，取得測試數據。
[0045]以上所述僅為本實用新型的較佳實施例，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內。
【權利要求】
1.一種半導體光電特性測試盒，包括測試盒主體，與所述測試盒主體相配合的前板、前蓋板、蓋板、后板、后蓋板，所述前板上帶有前板插座定位通孔用于固定測試盒插座，所述測試盒插座上固定有發射激光器，所述發射激光器通過導線通孔中的閉環線路連接，形成一個封閉的測試系統；所述前板通過前板配合凸出結構與所述測試盒主體配合連接，所述前板帶有前板插針孔用于前板與測試盒主體的位置固定，所述前板還帶有前板定位通孔、前蓋板定位螺孔用于前板與前蓋板的位置固定；后板上設置有積分探測器，通過壓筒與蓋板配合連接，蓋板與后板配合凹槽結構配合連接，后板配合凸出結構與測試盒主體配合連接，使積分探測器處于位置鎖定狀態，后蓋板帶有后蓋定位螺孔用于后蓋板與測試盒主體的位置固定。
2.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于:所述測試盒主體具有測試盒主體后板定位螺孔、測試盒主體同軸安裝結構、導線通孔、測試盒主體后蓋定位螺孔、測試盒主體后板配合凹槽結構、測試盒主體插針孔、測試盒主體前板配合凹槽結構。
3.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于:所述測試盒前板帶有前板配合凸出結構，所述前板配合凸出結構壁上帶有兩個對稱定位螺孔，所述測試盒前板還帶有前板定位通孔、前板插針孔、前板同軸安裝結構。
4.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于:所述測試盒插座包括插座口、導軌、推條、拔桿，圓柱形插座軸心帶有與所述測試盒主體同軸安裝結構同軸的圓孑L。
5.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于:所述蓋板中心帶有一圓孔，中心圓孔周圍對稱分布四個圓孔，在圓形測試盒蓋板邊緣處帶有兩個與后板定位螺孔相對應的圓孔。
6.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于:所述后板的一端帶有與蓋板相配合連接的后板配合凹槽結構，另外一端帶有與測試盒主體相配合連接的后板配合凸出結構；所述后板還帶有后板定位通孔、后板定位螺孔、后板同軸安裝結構。
7.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于:壓筒為圓柱形結構，軸心帶有與蓋板同軸安裝結構同軸的圓孔。
8.根據權利要求1所述一種半導體光電特性測試盒，其特征在于:所述測試盒前蓋板帶有前蓋板定位螺孔，后蓋板帶有后蓋定位螺孔、航空插座定位螺孔、后蓋插座孔。
【文檔編號】G01R31/26GK203415813SQ201320531409
【公開日】2014年1月29日 申請日期:2013年8月28日 優先權日:2013年8月28日
【發明者】陳凱飛 申請人:長貝光電（武漢）有限公司