多普勒雷達檢測儀的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供的多普勒雷達檢測儀用于檢測多普勒雷達系統，所述多普勒雷達系統包括控制盒、高頻組件、低頻組件，所述多普勒雷達檢測儀包括：與所述控制盒連接且用于為所述多普勤雷達系統供電的電源模塊、與所述高頻組件連接的高頻參數測試中轉模塊、與所述低頻組件連接且用于測量所述多普勒雷達的低頻參數的電壓以及電流信號的電流/電壓信號測試模塊、與所述低頻組件連接且用于測量低頻參數中電阻信號的電阻信號測試模塊、與所述低頻組件連接且用于測量低頻參數中復雜的交流小信號的獨立射頻測量模塊；所述高頻參數測試中轉模塊外接衰減器、頻譜儀、功率計以及示波器；所述獨立射頻測量模塊外接萬用表。
【專利說明】多普勒雷達檢測儀
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種檢測儀，尤其涉及一種多普勒雷達檢測儀。
【背景技術】
[0002]軍用飛機的各種組件在出產之后，具有一定的保修期，這些組件一旦超過保修期，用戶將對這些組件進行檢測及維護，例如對多普勒雷達系統的全面檢測。多普勒雷達，就是利用多普勒效應進行定位，測速，測距等工作的雷達。所謂多普勒效應就是當聲音、光和無線電波等振動源與觀測者以相對速度V相對運動時，觀測者所收到的振動頻率與振動源所發出的頻率有所不同。因為這一現象是奧地利科學家多普勒最早發現的，所以稱之為多普勒效應。由多普勒效應所形成的頻率變化叫做多普勒頻移，它與相對速度V成正比，與振動的頻率成反比。
[0003]現有檢測設備在檢測普勒雷達系統中存在諸多困難，比如不能檢測全部系統組件；關鍵的參數不能精確測量；檢測的項數有限，需要外接三用表或其他儀器輔助；設施設備條件落后等問題。
實用新型內容
[0004]本實用新型主要解決的技術問題是提供一種多普勒雷達檢測儀，可以通過一個檢測儀即可精確地檢測普勒雷達系統的相關參數，且檢測的項目數多樣化。
[0005]為解決上述技術問題，本實用新型采用的一個技術方案是:提供一種多普勒雷達檢測儀，用于檢測多普勒雷達系統，所述多普勒雷達系統包括控制盒、高頻組件、低頻組件，所述多普勒雷達檢測儀包括:與所述控制盒連接且用于為所述多普勤雷達系統供電的電源模塊、與所述高頻組件連接的高頻參數測試中轉模塊、與所述低頻組件連接且用于測量所述多普勒雷達的低頻參數的電壓以及電流信號的電流/電壓信號測試模塊、與所述低頻組件連接且用于測量低頻參數中電阻信號的電阻信號測試模塊、與所述低頻組件連接且用于測量低頻參數中復雜的交流小信號的獨立射頻測量模塊；所述高頻參數測試中轉模塊外接衰減器、頻譜儀、功率計以及示波器；所述獨立射頻測量模塊外接萬用表。
[0006]其中，所述電源模塊為所述多普勒雷達系統提供27V直流電源以及115V/400HZ的交流電源。
[0007]其中，所述多普勒雷達檢測儀還包括與電源模塊連接的交流電壓表和/或直流電壓表。
[0008]其中，所述高頻參數測試中轉模塊為射頻插座。
[0009]其中，所述電流/電壓信號測試模塊包括與所述低頻組件連接且用于將所述低頻參數的不同的電壓信號以及電流信號進行切換的組合切換電路、與所述組合切換電路連接且用于將切換后信號進行衰減或放大的阻抗匹配模塊、與所述阻抗匹配模塊連接且用于顯示經切換且阻抗匹配后的電流信號的微安表。
[0010]其中，電阻信號測試模塊為測試孔，所述測試孔與所述低頻組件中的兩個電位器的兩個引線電連接。
[0011]其中，所述獨立射頻測量模塊為一與所述低頻組件連接的射頻插座。
[0012]本實用新型的有益效果是:區別于現有技術的情況，本實用新型的多普勒雷達檢測儀可以通過自身精確地為所述多普勒雷達的相關參數進行檢測，且檢測的項目數多樣化。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0013]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0014]圖1是本實用新型多普勒雷達檢測儀第一實施例的方框圖。
[0015]圖2是本實用新型多普勒雷達檢測儀第二實施例的方框圖。
【具體實施方式】
[0016]下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0017]請參見圖1，圖1是本實用新型多普勒雷達檢測儀第一實施例的方框圖。本實施例的多普勒雷達檢測儀10，用于檢測多普勒雷達系統30，所述多普勒雷達系統30包括控制盒301、高頻組件302、低頻組件303，所述多普勒雷達檢測儀10包括:與所述控制盒301連接且用于為所述多普勤雷達系統30供電的電源模塊101、與所述高頻組件302連接的高頻參數測試中轉模塊102、與所述低頻組件303連接且用于測量所述多普勒雷達系統30的低頻參數的電壓以及電流信號的電流/電壓信號測試模塊103、與所述低頻組件303連接且用于測量低頻參數中電阻信號的電阻信號測試模塊104、與所述低頻組件303連接且用于測量低頻參數中復雜的交流小信號的獨立射頻測量模塊105 ;所述高頻參數測試中轉模塊102外接示波器40、衰減器50、頻譜儀60、功率計70 ;所述獨立射頻測量模塊105外接萬用表80。其中:
[0018]所述多普勒雷達系統30中，所述控制盒301用于控制與所述高頻組件302以及低頻組件303連接，用于發出各種控制信號以及控制所述高頻組件302和低頻控制組件輸出高頻參數以及低頻參數。
[0019]所述電源模塊101外接115V/400HZ的交流電源，所述115V/400Hz用于為多普勒雷達中的一些部件提供電源，例如磁控管燈絲電源和偏流伺服電機控制電壓(圖未示)，所述電源模塊101還通過一開關電源(圖未示)將115V/400HZ的交流電源轉換為27V的直流電源，用于為多普勒雷達系統30中的另一些部件供電，例如控制盒301。
[0020]所述高頻參數測試中轉模塊102與所述高頻組件302連接，用于提供一測試相關高頻參數的通道，以方便外接的設備能夠檢測所述高頻參數是否符合相關的標準。本實施例中，所述高頻參數測試中轉模塊102為至少一射頻插座(圖未示)，所述射頻插座與所述高頻組件302電連接，具體地，通過所述高頻組件302的插座與所述高頻組件302電連接，以接收所述高頻組件302傳輸的各種參數信號；所述射頻插座分別外接所述示波器40、所述功率計70、所述衰減器50、通過所述衰減器50外接所述頻譜儀60。當所述射頻插座外接頻譜儀60后，可以測得所述高頻參數的工作頻率，通過所述衰減器50以及功率計70可測得平均功率；當所述射頻插座連接所述示波器40后，可測得所述高頻參數的調制頻率、占空系數以及噪音調制。
[0021]所述電流/電壓信號測試模塊103與所述低頻組件303連接，用于檢測所述低頻參數的電流及電壓信號是否符合相關的標準。其中:
[0022]所述電流/電壓信號測試模塊103包括一組合切換電路1031、一阻抗匹配模塊1032以及一微安表1033。所述組合切換電路1031與所述低頻組件303連接，所述組合切換電路1031包括兩個波動開關以及一個微動開關(圖未示)，所述開關通過組合以用于切換正電壓、負電壓以及正電流、負電流；所述阻抗匹配模塊1032用于對所述切換后的電流及電壓信號進行衰減或者放大，以將信號控制在一范圍內；再通過所述波動開關將所有的信號均切換為電流信號發送至所述微安表1033進行顯示；再通過反算法將顯示的電流信號換算為原始的電壓信號或者電流信號，以檢測這些電壓信號以及電流信號是否符合相關的標準。本實施例中，所述電流/電壓信號測試模塊103除了需要測量現有的所有電流及電壓信號外，還增加測試4項電流及電壓信號，增加的4項見表1:
【權利要求】
1.一種多普勒雷達檢測儀，用于檢測多普勒雷達系統，所述多普勒雷達系統包括控制盒、高頻組件、低頻組件，所述多普勒雷達檢測儀包括: 與所述控制盒連接且用于為所述多普勤雷達系統供電的電源模塊、與所述高頻組件連接的高頻參數測試中轉模塊、與所述低頻組件連接且用于測量所述多普勒雷達的低頻參數的電壓以及電流信號的電流/電壓信號測試模塊、與所述低頻組件連接且用于測量低頻參數中電阻信號的電阻信號測試模塊、與所述低頻組件連接且用于測量低頻參數中復雜的交流小信號的獨立射頻測量模塊； 所述高頻參數測試中轉模塊外接衰減器、頻譜儀、功率計以及示波器； 所述獨立射頻測量模塊外接萬用表。
2.如權利要求1所述的多普勒雷達檢測儀，其特征在于:所述電源模塊為所述多普勒雷達系統提供27V直流電源以及115V/400HZ的交流電源。
3.如權利要求2所述的多普勒雷達檢測儀，其特征在于:還包括與電源模塊連接的交流電壓表和/或直流電壓表。
4.如權利要求1所述的多普勒雷達檢測儀，其特征在于:所述高頻參數測試中轉模塊為射頻插座。
5.如權利要求1所述的多普勒雷達檢測儀，其特征在于:所述電流/電壓信號測試模塊包括:與所述低頻組件連接且用于將所述低頻參數的不同的電壓信號以及電流信號進行切換的組合切換電路、與所述組合切換電路連接且用于將切換后信號進行衰減或放大的阻抗匹配模塊、與所述阻抗匹配模塊連接且用于顯示經切換且阻抗匹配后的電流信號的微安表。
6.如權利要求1所述的多普勒雷達檢測儀，其特征在于:電阻信號測試模塊為測試孔，所述測試孔與所述低頻組件中的兩個電位器的兩個引線電連接。
7.如權利要求1所述的多普勒雷達檢測儀，其特征在于:所述獨立射頻測量模塊為一與所述低頻組件連接的射頻插座。
【文檔編號】G01S7/40GK203444106SQ201320530967
【公開日】2014年2月19日 申請日期:2013年8月28日 優先權日:2013年8月28日
【發明者】楊邑 申請人:成都飛亞航空設備應用研究所有限公司