專利名稱：檢測裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型是一種檢測裝置，特別是一種可檢測料片空焊或缺焊的檢測裝置。
背景技術：
隨著科技的進步以及知識的進展，科技產業亦隨之發展迅速，而如何提升各項產品良率，亦是每家廠商所關心的議題，無論是材料或是制程，甚或是檢驗，在每個過程中皆是環環相扣，而為了檢測出人眼難以窺見的缺陷，通常需要較為精密的檢測儀器協助檢測。儀器檢測一般比較常見的是在半導體產業的應用，例如對各類芯片、集成電路等電子組件、印刷電路板，或是LCD屏幕等，進行表面刮傷、瑕疵、異物等各式缺陷檢測。目前科技廠商在藉助儀器進行檢測時，大多都需要透過光學組件檢測。但傳統的檢測機臺，于檢測料片時，大多藉由一臺攝像組件對料片作檢測，而其僅能檢測料片一個面向，如需檢測其它面向，例如料片的四個側邊時，即需要再增加一臺攝像組件，并擺設在不同方位，以對其側邊處進行缺陷檢側。因此，目前市面上為檢側料片是否有空焊(未焊接有焊點)或缺焊(焊點焊接不完整)的問題，皆是采用增加攝像組件的方法，以對料片的側邊處進行檢測。惟以此方法檢測不僅造成成本的增加，而且，因增加的攝像組件其要另外擺放于料片的側邊處，以對側邊進行檢測，因此，亦造成了機臺整體體積過大的問題。因此，如何改良檢測裝置，使得檢測裝置能對料片進行一個面向檢測時，亦能同時側邊處焊點空焊或缺焊，并且減低機臺制造成本及機臺體積的縮減為本案的創作人以及從事此相關行業的技術領域人員亟欲改善的課題。
發明內容本實用新型所要解決的技術問題是:針對上述現有技術中已知料片檢測空焊或缺焊需要額外增加攝像組件及成本過高體積過大的問題的不足，提出一種檢測裝置。為了解決上述技術問題，本實用新型所采用的技術方案是:一種檢測裝置，運用于一機臺，其特點是:該裝置包含載臺、光學檢測模塊及反射鏡組，該載臺置放一料片；該光學檢測模塊設置于該載臺上方，以檢測該料片；該反射鏡組設置于該載臺與該光學檢測模塊之間，包含光源模塊及反射板，該光源模塊用以發射一光線至該料片，該反射板可調整地連接于該光源模塊而鄰近于該料片的一側邊；其中，投射至該側邊的該光線反射至該反射板，該光學檢測模塊對該反射板取一側邊影像。所述反射板更包含一反射材質，用以反射該光線。所述裝置更包含一連接軸，以連接該光學檢測模塊與該反射鏡組。所述光學檢測模塊與該反射鏡組設置于一定位，轉動該料片，使該料片的每一該側邊對應該反射板，并位于該光學檢測模塊下方。所述光學檢測模塊位移至該料片的每一該側邊上方，并旋轉該光學檢測模塊而連動該反射板對應該料片的每一該側邊。本實用新型采用的另一技術方案是:一種檢測裝置，運用于一機臺，其特點是:該裝置包含載臺、光學檢測模塊及反射鏡組，該載臺置放一料片；該光學檢測模塊設置于該載臺上方，以檢測該料片；該反射鏡組設置于該載臺與該光學檢測模塊之間，包含光源模塊及二反射板，該光源模塊用以發射一光線至該料片，該二反射板可調整地連接于該光源模塊而鄰近于該料片相鄰的二側邊；其中，投射至該二側邊的該光線反射至對應的反射板，該光學檢測模塊對該二反射板分別取一側邊影像。所述反射板更包含一反射材質，以反射該光線。所述裝置更包含一連接軸，以連接該光學檢測模塊與該反射鏡組。所述光學檢測模塊與該反射鏡組設置于一定位，轉動該料片，使該料片每一相鄰的該二側邊對應該反射板，且相鄰的該二側邊的一交界處位于該光學檢測模塊下方。所述光學檢測模塊位移至該料片相鄰的該二側邊的一交界處上方，并旋轉該光學檢測模塊而連動該反射板對應該料片每一相鄰的該二側邊。本實用新型采用的再一技術方案是:一種檢測裝置，運用于一機臺，其特點是:該裝置包含載臺、光學檢測模塊及反射鏡組，該載臺置放一料片；該光學檢測模塊設置于該載臺上方，以檢測該料片；該反射鏡組設置于該載臺與該光學檢測模塊之間，包含光源模塊及數個反射板，該光源模塊用以發射一光線至該料片；該數個反射板可調整地連接于該光源模塊而分別鄰近于該料片的一側邊；其中，投射至該側邊的該光線反射至對應的反射板，該光學檢測模塊對每一該反射板取一側邊影像，且對該料片的一頂面取一頂面影像。所述每一反射板更包含一反射材質，以反射該光線。所述裝置更包含一連接軸，以連接該光學檢測模塊與該反射鏡組。所述光學檢測模塊可位移至該料片的每一該側邊上方，并連動該些反射板分別對應該料片的該側邊。如此，藉由具有反射材質的反射板，反射投射至料片側邊處的光線，使得攝像組件藉由對反射板取像，而能僅藉由一臺攝像組件就能直接對料片的四個側邊處作檢測，解決已知料片檢測空焊或缺焊需要額外增加攝像組件，造成成本過高體積過大的問題。以下在實施方式中詳細敘述本實用新型的詳細特征以及優點，其內容足以使任何本領域技術人員了解本實用新型的技術內容并據以實施，且根據本說明書所揭露的內容、申請專利范圍及圖式，任何本領域技術人員可輕易地理解本實用新型相關的目的及優點。
圖1為本發明檢測裝置第一實施例的示意圖。圖2為本發明檢測裝置第一實施例的俯視圖。圖3為本發明檢測裝置第二實施例的示意圖。圖4為本發明檢測裝置第二實施例的俯視圖。圖5為本發明檢測裝置第三實施例的示意圖。圖6為本發明檢測裝置第三實施例的俯視圖一。圖7為本發明檢測裝置第三實施例的俯視圖二。標號說明:10載臺20光學檢測模塊30反射鏡組31光源模塊32反射板33連接板34光源40料片41頂面50連接軸具體實施方式
請參閱圖1所示，圖1為本實用新型的檢測裝置第一實施例的示意圖。本實用新型的檢測裝置，運用于機臺(圖中未示)，包含有載臺10、光學檢測模塊20及反射鏡組30。載臺10為概呈矩形的立體結構，其具有一平面可用以放置料片40。基此，本實用新型的檢測裝置是于此載臺10的區域進行料片40的檢測。以本實用新型而言，料片40具有四個側邊矩形結構，本實用新型的檢測裝置可用以檢測料片40四個側邊處的空焊或缺焊缺陷。但本實用新型料片40并非限定為四個邊，前述僅為舉例，本實用新型的檢測裝置可用以檢測包含任意邊數的料片40。光學檢測模塊20設置于載臺10的上方，用以檢測料片40。基此，光學檢測模塊較佳地可為電荷稱合組件(Charge Coupled Device, CCD),或是互補式金屬氧化物半導體(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor, CMOS)，但本實用新型并非以此為限。反射鏡組30設置于載臺10與光學檢測模塊20之間，基此，反射鏡組30具有光源模塊31與反射板32。其中，光源模塊31具有連接板33及光源34，光源34較佳地可為一環狀光源，但本實用新型并非以此為限。再者，反射板32可調整地連接于光源模塊31的一偵牝其較佳地連接于連接板33的外側邊緣處而鄰近于料片40的側邊，并且反射板32可調整地轉動角度。此外，反射板32更具有反射材質，能用以反射光線，其反射材質(亦稱為不透光材質)較佳地可為金、錫、銅、銀、鐵、鉛、鎘、鑰、鎗、釹、鈦、鉭、或其它材料、或上述的氮化物、或上述的氧化物、或上述的合金、或上述的組合，但本實用新型并非以此為限。基此，當光源模塊31發射光線后，光線將投射至料片40后，經由光學反射，使得光學檢測模塊20得以對料片40取得影像執行檢測。此外，投射至料片40側邊處的光線，亦會經由光學反射至反射板32，再經由調整反射板32的角度，使得光線能再反射至光學檢測模塊20。基此，光學檢測模塊20即可對反射板32取得料片40的側邊影像，使得本實用新型僅需一臺光學檢測模塊20即可對料片40的側邊作焊點空焊或缺焊的缺陷檢測。再者，本實用新型更包含連接軸50，用以連接光學檢測模塊20及反射鏡組30，其連接軸50較佳地連接于連接板33上，使得光學檢測模塊20與反射鏡組30連為一體。請參閱圖2所示，圖2為本實用新型檢測裝置第一實施例的俯視圖。當本實用新型欲對料片40作檢測時，可先將光學檢測模塊20及反射鏡組30設置于定位，并藉由轉動載臺10使得置于其上的料片40轉動，或是其它方式轉動料片40，使得料片40經由轉動之后每一個側邊皆能對應至反射板32，并且側邊位于光學檢測模塊20的下方。基此，料片40在經由轉動之后，光學檢測模塊20皆能透過反射板32對料片40的每一個側邊取側邊影像并作檢測。再者，本實用新型亦能藉由移動光學檢測模塊20及反射鏡組30，使光學檢測模塊20及反射鏡組30位移至料片40的每一側邊上方，同時旋轉光學檢測模塊20，并藉由連接軸50連動反射鏡組30使得反射板能同時移動對應至料片40的每一側邊。基此，以此方式亦能對料片40的每一側邊取側邊影像并作檢測。請參閱圖3所示，圖3為本實用新型檢測裝置第二實施例的示意圖。第二實施例與第一實施例不同的地方在于，第二實施例具有二個反射板32，且二個反射板32為彼此相鄰，并可調整地連接于光源模塊31上，而鄰近于料片40相鄰的二側邊。[0036]請參閱圖4所示，圖4為本實用新型檢測裝置第二實施例的俯視圖。第二實施例欲進行檢測時，亦可藉由轉動載臺10使得置于其上的料片40轉動，或是其它方式轉動料片40，使得料片40經由轉動之后每一個相鄰的二側邊皆能對應至二個反射板32。基此，第二實施例的料片40轉動后，其料片40的二個相鄰側邊的交界處，位于光學檢測模塊20的下方，使得光學檢測模塊20能同時對二個側邊進行檢測，但本實用新型并非以此為限。以第二實施例而言，其矩形料片在進行完第一次的相鄰二個側邊檢測后，僅需要轉動載臺10或料片40 —次，使得剩余的相鄰二個側邊對應至二個反射板32，即能完成檢測，不同于第一實施例，由于料片為矩形料片，在檢測完一個側邊之后，需再轉動載臺10或料片40三次，才能完成所有檢測。此外，第二實施例亦可藉由移動光學檢測模塊20及反射鏡組30，使光學檢測模塊20及反射鏡組30位移至料片40的二個相鄰側邊的交界處上方，進行檢測后，再移動并旋轉光學檢測模塊20，以對其余的相鄰二個側邊進行檢測。請參閱圖5所示，圖5為本實用新型檢測裝置第三實施例的示意圖。第三實施例不同之地方在于，第三實施例具有數個反射板32，并可調整地連接于光源模塊31上，以本實施例而言，反射板32較佳地可為四個，但本實用新型并非以此為限，而可依照料片的側邊多寡，調整反射板32的數量。請參閱圖6所示，圖6為本實用新型檢測裝置第三實施例的一俯視圖。當料片40如尺寸較小時，光學檢測模塊20及反射鏡組30位于料片40中間上方時，反射板32恰可全部位于料片40的外側，使得光學檢測模塊20可同時對料片40的側邊取得側邊影像，及頂面41取得頂面影像。請參閱圖7所示，圖7為本實用新型檢測裝置第三實施例的另一俯視圖。當欲對料片40進行檢測時，例如為矩形料片，如矩形料片尺寸較大而超過反射板32的外側，則可藉由移動載臺10或料片40，使得矩形料片的每一個側邊能移動至光學檢測模塊20下方，因第三實施例的反射板32數量對應矩形料片的側邊數，因此，第三實施例的載臺10或料片40僅需作位移而不需要作轉動，即可進行檢測。此外，第三實施例亦可藉由移動光學檢測模塊20及反射鏡組30，使光學檢測模塊20及反射鏡組30位移至料片40的側邊上方，進行檢測后，再移動光學檢測模塊20，以對其余的側邊進行檢測。基此，因第三實施例的反射板32數量對應矩形料片的側邊數，因此，第三實施例的光學檢測模塊20僅需作位移而不需要作轉動，即可對料片40進行檢測。本實用新型藉由具有反射材質的反射板，反射投射至料片側邊處的光線，使得攝像組件藉由對反射板取像，而能僅藉由一臺攝像組件就能直接對料片的側邊處作檢測，并檢測側邊焊點空焊或缺焊的缺陷，解決已知料片檢測空焊或缺焊需要額外增加攝像組件，造成成本過高體積過大的問題。雖然本實用新型的技術內容已經以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本實用新型，任何本領域技術人員，在不脫離本實用新型的精神所作些許的更動與潤飾，皆應涵蓋于本實用新型的范疇內，因此本實用新型的保護范圍當視后附的申請專利范圍所界定的為準。
權利要求1.一種檢測裝置，運用于一機臺，其特征在于:該裝置包含載臺、光學檢測模塊及反射鏡組，該載臺置放一料片；該光學檢測模塊設置于該載臺上方，以檢測該料片；該反射鏡組設置于該載臺與該光學檢測模塊之間，包含可發射一光線至該料片的光源模塊及反射板，該反射板可調整地連接于該光源模塊而鄰近于該料片的一側邊；其中，投射至該側邊的該光線反射至該反射板，該光學檢測模塊對該反射板取一側邊影像。
2.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于:所述反射板更包含一反射材質，以反射該光線。
3.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于:所述裝置更包含一連接軸，以連接該光學檢測模塊與該反射鏡組。
4.如權利要求3所述的檢測裝置，其特征在于:所述光學檢測模塊與該反射鏡組設置于一定位，轉動該料片，使該料片的每一該側邊對應該反射板，并位于該光學檢測模塊下方。
5.如權利要求3所述的檢測裝置，其特征在于:所述光學檢測模塊位移至該料片的每一該側邊上方，并旋轉該光學檢測模塊而連動該反射板對應該料片的每一該側邊。
6.一種檢測裝置，運用于一機臺，其特征在于:該裝置包含載臺、光學檢測模塊及反射鏡組，該載臺置放一料片；該光學檢測模塊設置于該載臺上方，以檢測該料片；該反射鏡組設置于該載臺與該光學檢測模塊之間，包含可發射一光線至該料片的光源模塊及二反射板，該二反射板可調整地連接于該光源模塊而鄰近于該料片相鄰的二側邊；其中，投射至該二側邊的該光線反射至對應的反射板，該光學檢測模塊對該二反射板分別取一側邊影像。
7.如權利要求6所述的檢測裝置，其特征在于:所述反射板更包含一反射材質，以反射該光線。
8.如權利要求6所述的檢測裝置 ，其特征在于:所述裝置更包含一連接軸，以連接該光學檢測模塊與該反射鏡組。
9.如權利要求8所述的檢測裝置，其特征在于:所述光學檢測模塊與該反射鏡組設置于一定位，轉動該料片，使該料片每一相鄰的該二側邊對應該反射板，且相鄰的該二側邊的一交界處位于該光學檢測模塊下方。
10.如權利要求8所述的檢測裝置，其特征在于:所述光學檢測模塊位移至該料片相鄰的該二側邊的一交界處上方，并旋轉該光學檢測模塊而連動該反射板對應該料片每一相鄰的該二側邊。
11.一種檢測裝置，運用于一機臺，其特征在于:該裝置包含載臺、光學檢測模塊及反射鏡組，該載臺置放一料片；該光學檢測模塊設置于該載臺上方，以檢測該料片；該反射鏡組設置于該載臺與該光學檢測模塊之間，包含可發射一光線至該料片的光源模塊及數個反射板；該數個反射板可調整地連接于該光源模塊而分別鄰近于該料片的一側邊；其中，投射至該側邊的該光線反射至對應的反射板，該光學檢測模塊對每一該反射板取一側邊影像，且對該料片的一頂面取一頂面影像。
12.如權利要求11所述的檢測裝置，其特征在于:所述每一反射板更包含一反射材質，以反射該光線。
13.如權利要求11所述的檢測裝置，其特征在于:所述裝置更包含一連接軸，以連接該光學檢測模塊與該反射鏡組。
14.如權利要求13所述的檢測裝置，其特征在于:所述光學檢測模塊位移至該料片的每一該側邊上方，并連動 該些反射板分別對應該料片的該側邊。
專利摘要一種檢測裝置，運用于機臺，包含載臺，用以置放料片；光學檢測模塊，設置于載臺上方，用以檢測料片；及反射鏡組，設置于載臺與光學檢測模塊之間，包含光源模塊和反射板，該光源模塊用以發射光線至料片；該反射板可調整地連接于光源模塊而鄰近于料片的側邊；于是，投射至側邊的光線反射至反射板，便于光學檢測模塊對反射板取側邊影像，從而，能僅藉由一臺攝像組件就能直接對料片的四個側邊處作檢測，可解決已知料片檢測空焊或缺焊需要額外增加攝像組件，造成成本過高體積過大的問題。
文檔編號G01N21/88GK203037586SQ201320013490
公開日2013年7月3日 申請日期2013年1月11日 優先權日2012年12月12日
發明者蔡鴻儒, 方志恒, 徐志宏, 高志豪 申請人:由田新技股份有限公司