電連接器測試適配器的制作方法

專利名稱：電連接器測試適配器的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及電子器件測試技術，特別是指一種電連接器測試適配器。
背景技術：
在各類電子系統中，電連接器在器件與器件、組件與組件、系統與系統之間進行電氣連接和信號傳遞，是構成一個完整系統所必須的基礎元件。在各種軍機和武器裝備中，電連接器的用量較大，特別是飛機上使用電連接器的用量特別大。一般來講一架飛機電連接器的使用量可達數百件至幾千件，牽扯到好幾萬個線路。因此，電連接器除了要滿足一般的性能要求外，特別重要的要求是電連接器必須達到接觸良好，工作可靠，維護方便，其工作可靠與否直接影響飛機電路的正常工作，涉及整個主機的安危。為此，主機電路對電連接器的質量和可靠性有非常嚴格的要求，也正因為電連接器的高質量和高可靠性，使它也廣泛應用于航空、航天、國防等軍用系統中。而在對各類電連接器的檢測過程中，需要對其進行絕緣、耐壓等性能指標測試。目前微矩形電連接器測試絕大多數都是直接采用與絕緣電阻測試儀相連的兩根測試表筆，在每個接觸件之間或接觸件與殼體之間搭接，檢驗其絕緣電阻、介質耐壓是否合格。這種測試方法可靠性較差，極有可能產生漏檢，每個接點不可能像有測試工裝那樣可以控制檢測時間，所以國內傳統的測試方法有可能造成誤判，并且測試效率低。為了提高電連接器檢測的效率，保證測試準確性，使電連接器的測試用于大批量產品在線檢測，迫切需要制作電連接器測試適配器，保證測試適配器能更準確地與電連接器進行對接和互換，測試時與電連接器的接觸更加穩定可靠，測試效率更高
實用新型內容
·有鑒于此，本實用新型的目的在于提出一種電連接器測試適配器，使得電連接器的測試更加可靠，測試效率更高。基于上述目的本實用新型提供的一種電連接器測試適配器，包括測試板和適配轉接箱；所述測試板包括測試面板和測試電路；所述測試面板，包括:用于提示測試狀態的提示模塊，用于提供測試過程中各部件之間連接接口的連接模塊，以及用于選擇測試功能的選擇模塊；所述測試電路，包括驅動模塊、控制模塊；所述驅動模塊包括用于提供電源的驅動電源電路；所述控制模塊包括控制電路，用于在各測試功能下控制各部件間的信號變換及傳輸；所述適配轉接箱，包括電連接器接口模塊、轉接模塊，用于為所有待測電連接器提供與測試板之間的轉接。在一個實施例中，所述測試面板包括測試前面板和測試后面板，所述提示模塊和選擇模塊設置在測試前面板上；所述測試面板的連接模塊包括用于連接所述適配轉接箱的測試端口、絕緣測試插孔、耐壓測試插孔、供電電源插孔、連接絕緣耐壓測試儀的通信接口 ；所述測試端口設置在所述測試前面板上；所述絕緣測試插孔、耐壓測試插孔、供電電源插孔、連接絕緣耐壓測試儀的通信接口設置在所述測試后面板上。在另一個實施例中，所述測試面板的連接模塊還包括公共測試點和點對殼測試點，用于連接絕緣耐壓測試儀的電連接器轉接器。在另一個實施例中，所述測試面板的選擇模塊至少包括高壓測試、停止測試兩種功能按鈕，分別對應于測試電連接器的絕緣耐壓性能和停止對電連接器測試。在另一個實施例中，所述適配轉接箱的電連接器接口模塊至少包括電連接器系列為J30、J30J、J63A、CDb、J40、J29A其中之一的系列中的任意型號對應的電連接器接口。在另一個實施例中，所述適配轉接箱的轉接模塊，將所述每個電連接器接口中的每個連接點對應轉接到所述測試前面板上用于連接所述適配轉接箱的測試端口上。在另一個實施例中，所述每個電連接器接口的第I至N個連接點，對應連接到所述測試前面板上的128芯測試端口的第I至N個連接點。在另一個實施例中，所述測試電路的控制模塊包括單片機及至少八個時間繼電器；所述八個繼電器的控制端連接所述單片機，由所述單片機控制所述八個繼電器的通斷；所述八個繼電器以反極性并聯的兩個繼電器為一組分為四組繼電器組，分別用于控制被測電連接器的點對點、橫排對橫排、豎排對豎排、點對殼的測試。在另一個實施例中，所述控制模塊還包括與所述測試端口的每個連接點都分別連接一組反極性連接的時間繼電器，其中一個時間繼電器均正向連接到所述的高壓輸出的正輸出，另一個時間繼電器反向連接到所述的高壓輸的負輸出。在另一個 實施例中，所述測試電路的驅動模塊包括電源芯片及變壓器，所述電源芯片將供電電源轉換為所述單片機的驅動電源，所述變壓器將供電電源轉換為所述繼電器的控制電壓。從上面所述可以看出，本實用新型提供的電連接器測試適配器，適配轉接箱的使用可以大大降低了測試端口與連接線插頭的插拔次數從而使得所述電連接器測試適配器使用壽命得以大大的提高，從而提高了測試效率，很大提高了測試的可靠性和安全性，解決了高密度、小間距的電連接器測試難題，使得測試時接觸更加穩定可靠，測試效率更高，避免了電連接器斷路、短路、誤配線測試等問題。并且，利用單片機和繼電器配合控制，繼電器和時間繼電器的自動切換控制功能，一次完成了絕緣或耐壓測試，大大提高了測試效率，減少了測試時間，提高了元器件的安全可靠性。進一步的，利用絕緣耐壓測試儀的絕緣電阻和耐壓介質測試的自動切換功能，可以不用更換絕緣耐壓測試儀的高壓輸入測試表筆插入的插孔位置，之間從絕緣測試切換到耐壓測試，即可在絕緣測試完成后直接進行耐壓測試，使得絕緣電阻和介質耐壓一步測試成功，從而使得插拔一次連接線插頭就可以完成絕緣、耐壓、導通測試，提高了元器件的安全可靠性，有效提高了日常的測試效率，減少了測試時間。并且采用備用的絕緣耐壓測試儀的電連接器轉接器，使得當所述適配轉接箱突然工作不正常導致無法進行絕緣耐壓測試時，則可利用所述測試面板上備用設置的公共測試點1、2、3和對殼測試點進行所述的絕緣耐壓測試，保證測試的可靠性。較佳的，采用能滿足耐高壓的繼電器，可進一步提高所述電連接器測試適配器的可靠性。

圖1為本實用新型公開的電連接器測試適配器實施例示意圖；圖2a為本實用新型實施例測試前面板示意圖；圖2b為本實用新型實施例測試后面板示意圖；圖3a為本實用新型實施例適配轉接箱示意圖；圖3b為本實用新型實施例適配轉接箱中待測電連接器連接點間的連接示意圖；圖4為本實用新型實施例測試電路示意圖；圖4a為本實用新型實施例控制模塊的控制電路示意圖；圖4b為本實用新型實施例驅動模塊的驅動電源電路示意圖；圖4c為本實用新型實施例單片機驅動繼電器原理圖；圖5a為本實用新型實施例待測電連接器J30-51ZK的結構圖；圖5b為本實用新型實施例待測電連接器J30-51ZK的接口結構圖；圖6為本實用新型實施例絕緣耐壓測試儀的電連接器轉接器的連接示意圖。
具體實施方式
為使本實用新型的目的、技術方案和優點更加清楚明白，以下結合具體實施例，并參照附圖，對本實用新型進一步詳細說明。本實用新型所公開的一種電連接器測試適配器，包括測試板和適配轉接箱；所述測試板包括測試面板和測試電路；所述測試面板，包括:用于提示測試狀態的提示模塊，用于提供測試過程中各部件之間連接接口的連接模塊，以及用于選擇測試功能的選擇模塊；所述測試電路，包括驅動模塊、控制模塊；所述驅動模塊包括用于提供電源的驅動電源電路；所述控制模塊包括控制電路，用于在各測試功能下控制各部件間的信號變換及傳輸；所述適配轉接箱，包括電連接器接口模塊、轉接模塊，用于為所有待測電連接器提供與測試板之間的轉接。參考附圖1，為本實用新型公開的電連接器測試適配器實施例示意圖。所述電連接器測試適配器，包括測試板和適配轉接箱。所述測試板包括測試面板(參考附圖2a和2b)和測試電路(參考附圖4、附圖4a至4c)。所述測試面板分為測試前面板和測試后面板，包括:用于提示測試狀態的提示模塊，用于提供測試過程中各部件之間連接接口的連接模塊，以及用于選擇測試功能的選擇模塊。所述測試電路，包括驅動模塊、控制模塊、測試模塊；所述驅動模塊包括用于提供電源的驅動電源電路；所述控制模塊包括控制電路，用于在各測試功能下控制各部件間的信號變換及傳輸；所述測試模塊包括用于配合測試的外圍電路。所述適配轉接箱，包括電連接器接口模塊、轉接模塊，用于為所有待測電連接器提供與測試板之間的轉 接。[0048]參考附圖2a和2b，分別為本實用新型實施例測試前面板和測試后面板示意圖。所述測試面板分為測試前面板和測試后面板，包括:用于提示測試狀態的提示模塊，用于提供測試過程中各部件之間連接接口的連接模塊，以及用于選擇測試功能的選擇模塊。所述測試面板的選擇模塊設置在測試前面板上；所述提示模塊包括用于測試狀態提示(例如電源指示、對殼指示、高壓指示、報警指示等)的發光二極管；所述測試面板的選擇模塊包括高壓測試、停止測試兩種功能按鈕，分別對應于絕緣耐壓性能和停止對電連接器測試。所述測試面板的連接模塊包括用于連接所述適配轉接箱的測試端口、公共測試點I至3、點對殼測試點、絕緣測試插孔、耐壓測試插孔、供電電源插孔、連接絕緣耐壓測試儀的通信接口 ；所述測試端口、公共測試點I至3、點對殼測試點設置在所述測試前面板上；所述絕緣測試插孔、耐壓測試插孔、供電電源插孔、連接絕緣耐壓測試儀的通信接口設置在所述測試后面板上。參考附圖3a，為本實用新型實施例適配轉接箱示意圖。所述適配轉接箱，包括電連接器接口模塊、轉接模塊，用于為所有待測電連接器提供與測試板之間的轉接。所述適配轉接箱的電連接器接口模塊包括電連接器系列為J30、J30J、J63A、⑶以J40、J29A的多個型號對應的電連接器接口。其中，J30系列待測電連接器包括型號為 J30-9TJ、J30-15TJ、J30-21TJ、J30-25TJ、J30-31TJ、J30-37TJ、J30-51TJ、J30-66TJ、J30-15ZK、J30-21ZK、J30-25ZK、J30-31ZK、J30-37ZK、J30-51ZK、J30-65ZK、J30-69ZK 的電連接器J30J系列待測電連接器包括型號為J30J-9TJ、J30J-15TJ、J30J-21TJ、J30J-25TJ、J30J-31TJ、J30J-37TJ、J30J-51TJ、J30J-66TJ、J30J-74TJ、J30J-100TJ、J30J-9ZK、J30J-15ZK、J30J-21ZK、J30 J-25ZK、J30J-31ZK、J30J-37ZK、J30J-51ZK、J30J-66ZK、J30J-74ZK、J30J-100ZK的電連接器；J63A系列待測電連接器包括型號為J63A-9TJ、J63A-15TJ、 J63A-21TJ、 J63A-25TJ、 J63A-31TJ、 J63A-37TJ、 J63A-51TJ、 J63A-9ZK、J63A-15ZK、J63A-21ZK、J63A-25ZK、J63A-31ZK、J63A-37ZK、J63A-51ZK、J63A-65ZK、J63A-69ZK的電連接器；CDb系列待測電連接器包括型號為CDb-13TJ、CDb-19TJ、CDb_31TJ、CDb-33TJ、CDb-52TJ、CDb_79TJ、CDb-lOOTJ、CDb_13ZK、CDb_19ZK、CDb_31ZK、CDb_33ZK、CDb-52ZK、CDb-79ZK、CDb-1OOZK的電連接器；J40系列待測電連接器包括型號為J40-11TJ、J40-13TJ, J40-15TJ, J40-25TJ, J40-31TJ, J40-39TJ, J40-51TJ, J40-11ZK、J40-13ZK、J40-15ZK、J40-25ZK、J40-31ZK、J40-39ZK、J40-51ZK 的電連接器；J29A 系列待測電連接器包括型號為 J29A-9TJ、J29A-15TJ、J29A-21TJ、J29A-25TJ、J29A-31TJ、J29A-37TJ、J29A-51TJ, J29A-66TJ, J29A-9ZK、J29A-15ZK、J29A-21ZK、J29A-25ZK、J29A-31ZK、J29A-37ZK、J29A-51ZK、J29A-66ZK的電連接器；對應于所述各型號的待測電連接器，所述適配轉接箱上則設置了對應的電連接器接口(參照附圖3)。本實施例中適配轉接箱上僅例舉性的設置了部分可測試的電連接器接口(電連接器系列為J30、J30J、J63A、CDb、J40、J29A的多個型號對應的電連接器接口)，當需要對其他型號的電連接器進行測試時，可相應增加接口，也應當屬于本實用新型保護范圍。所述適配轉接箱的轉接模塊，包括適配測試接口以及用于將所述每個電連接器接口中的每個連接點對應連接到該測試接口的連接點上的轉接板和轉接電路。參考附圖3b，為本實用新型實施例適配轉接箱中待測電連接器連接點間的連接示意圖。圖中左半部分三塊豎直排列的板即為所述的轉接板，從上到下依次為第一轉接板、第二轉接板、第三轉接板。以J30-*TJ 系列為例，包括型號為 J30-9TJ、J30-15TJ、J30-21TJ、J30-25TJ、J30-31TJ、J30-37TJ、J30-51TJ、J30-66TJ共8種待測電連接器，對應的分別包括9、15、21、25、31、37、51、66個連接點，所述型號為J30-9TJ的電連接器的連接點對應連接到第一轉接板的第I至第9個連接點，所述型號為J30-15TJ的電連接器的連接點對應連接到第一轉接板的第10至第24個連接點，以此類推，所述型號為J30-66TJ的電連接器的連接點則對應連接到第一轉接板的第190至第255個連接點，于此，J30-*TJ系列電連接器則占用了第一轉接板的前255個連接點，下一個系列待測電連接器也是采用此方式連接第一轉接板上還未被占用的連接點，當第一轉接板的連接點全部被占用，或不夠下一個待測電連接器連接時，則連接到第二轉接板，同理，再占用第三轉接板；由于本實施例中各系列的待測連接器的芯線數目太大，鑒于篇幅原因，在此只以例舉方式表示出了三塊轉接板；按照所述連接方式，使得每個待測電連接器均能與轉接板的連接點對應連接。所述轉接電路包括多根連接線，所述每根連接線將所述每個電連接器接口中的每個連接點對應轉接到所述適配測試接口上，轉接方法如下:所述適配測試接口為128芯接口，具有128個連接點，所述J30、J30J、J63A、CDb、J40、J29A系列的待測電連接器對應于轉接板上的點則對應連接到測試接口的連接點，例如，第一轉接板的第I至第9個連接點通過連接線對應連接該測試接口的第I至第9個連接點，假設第一轉接板 的第10至第24個連接點是型號為J30-15TJ的電連接器，那么相應的，第一轉接板的第10至第24個連接點則通過連接線對應連接該測試接口的第I至第15個連接點，依次類推，完成所有待測電連接器接口中的每個連接點對應連接到該測試接口的連接點上的轉接。最后，再通過一條測試連接線將128芯適配測試接口與所述測試前面板上的128芯測試端口連接；使得所述每個待測電連接器接口的第I至N個連接點，對應連接到所述測試前面板上的128芯測試端口的第I至N個連接點；則完成了將所述每個電連接器接口中的每個連接點對應轉接到所述測試前面板上用于連接所述適配轉接箱的測試端口上，并最終完成了所有待測電連接器與測試板之間的轉接。參考附圖4，為本實用新型實施例測試電路示意圖。所述測試電路，包括驅動模塊、控制模塊、測試模塊；所述驅動模塊包括用于提供電源的驅動電源電路；所述控制模塊包括控制電路，用于在各測試功能下控制各部件間的信號變換及傳輸。參考附圖4a，為本實用新型實施例控制模塊的控制電路示意圖；所述測試電路的控制模塊包括單片機及九個繼電器；所述九個繼電器的控制端連接所述單片機，由所述單片機控制所述九個繼電器的通斷；所述九個繼電器的控制電壓端連接24V控制電壓(參考附圖4b )，所述九個繼電器的接地端接地。所述九個繼電器的高壓輸入端連接所述測試后面板上的絕緣測試插孔和耐壓測試插孔，用于接收絕緣耐壓測試儀高壓輸入；所述第一繼電器NI用于總控，主要起保護作用；另外八個繼電器以反極性并聯(參照附圖4c)的兩個繼電器為一組分為四組繼電器組，因此，所述繼電器組中以反極性并聯的兩個繼電器的高壓輸入端則分別接入絕緣耐壓測試儀的正負兩個測試輸入表筆，使得所述以反極性并聯的兩個繼電器的高壓輸出同時也是反極性的；因此，得到了反極性成對的高壓輸出①至④；絕緣耐壓測試時，分別用于控制被測電連接器的點對點、橫排對橫排、豎排對豎排、點對殼的測試。所述測試電路的控制模塊還包括與所述128芯測試端口的每個連接點都分別連接一組反極性連接的時間繼電器；其中一個時間繼電器均正向連接到所述的高壓輸出①至④的正輸出(+/_)，另一個時間繼電器反向連接到所述的高壓輸出①至④的負輸出(_/+)，即所述128芯測試端口總共要連接256個時間繼電器，其中，對應的，與第I連接點正向連接的時間繼電器為第一時間繼電器，與第I連接點反向連接的時間繼電器為第二時間繼電器，依次類推，與第128連接點正向連接的時間繼電器為第二百五十五時間繼電器，與第128連接點反向連接的時間繼電器為第二百五十六時間繼電器；所述256個時間繼電器的控制端分別連接到所述單片機。參考附圖4b，為本實用新型實施例驅動模塊的驅動電源電路示意圖；所述測試電路的驅動模塊包括電源芯片及變壓器，所述電源芯片將供電電源轉換為所述單片機的驅動電源，所述變壓器將供電電源轉換為所述繼電器的控制電壓。所述電源芯片將供電電源轉換為5V直流電源+3.3V交流電源，并連接到所述單片機的驅動電源端，用于為所述單片機供電；所述變壓器將供電電源轉換為繼電器的24V控制電壓，并連接至IJ所述繼電器的控制電壓端，其為用于帶動所述繼電器的電源，使得繼電器內部觸點吸合。
參考附圖4c，為本實用新型實施例單片機驅動繼電器原理圖。此圖例舉了單片機在控制第一組繼電器時的工作原理。從圖中可以看出，所述繼電器組中的兩個繼電器是以反極性并聯的，其中一個繼電器的高壓輸入端正向連接是絕緣耐壓測試儀的一個高壓輸入測試表筆，另一個繼電器的的高壓輸入端反向連接是絕緣耐壓測試儀的另一個高壓輸入測試表筆，使得，當絕緣耐壓測試儀的高壓輸入且繼電器導通時，則其正向高壓輸入通過正向連接的繼電器連接待測點(點、或橫排、或豎排、或外殼)，其反向高壓輸入通過反向連接的繼電器連接另一待測點(點、或橫排、或豎排、或外殼)。同理可得，其他幾組繼電器組也是類似的原理。下面以型號為J30-51ZK的待測連接器為例，介紹所述電連接器測試適配器的絕緣耐壓測試過程及工作原理。參考附圖5，為本實用新型實施例待測電連接器J30-51ZK的結構圖，該電連接器包括位于電連接器外殼內的芯線和露在電連接器外殼外的引線。絕緣測試:首先，將待測電連接器J30-51ZK插在適配轉接箱上對應的電連接器接口上；然后，將供電電源連接到所述測試后面板上的供電電源插孔，所述測試前面板上的電源指示發光二極管發亮，供電電源對所述電連接器測試適配器供電(參照附圖4);接著，將絕緣耐壓測試儀的通信接口與所述測試后面板的通信接口連接，用于測試儀器的通信連接；隨后，將絕緣耐壓測試儀的高壓輸入測試表筆分別插入所述絕緣測試插孔，調節絕緣耐壓測試儀的高壓輸入電壓至所需要的測試電壓；然后，按壓所述測試前面板上的高壓測試按鈕進行絕緣測試，相應的，所述測試前面板上的高壓指示發光二極管發亮。[0076]此時，所述電源芯片開始供給所述單片機3.3V驅動電源，單片機開始工作，且單片機內部程序會自動通過所述通信接口傳輸信號來驅動絕緣耐壓測試儀工作，通過絕緣測試耐壓儀顯示檢測情況、合格與不合格。接著，所述單片機首先控制所述第一繼電器組打開，開始進行待測電連接器J30-51ZK的點與點間絕緣測試:首先，單片機控制與第I連接點正向連接的第一時間繼電器導通，使得正向高壓輸出①輸入到所述第I連接點，然后，單片機依次控制(即時序控制)與第2連接點至第51連接點反向連接的第四時間繼電器至第一百零二時間繼電器(都是第偶數個時間繼電器)導通，使得反向高壓輸出①依次輸入到所述第2連接點至第51連接點，測試過程中，通過所述通信接口傳輸信號并在所述絕緣耐壓測試儀上顯示測試結果，則依次測出了所述第I連接點與被測電連接器中其他連接點間的絕緣電阻；然后，同樣的，單片機控制與第2連接點正向連接的第三時間繼電器導通，使得正向高壓輸出①輸入到所述第2連接點，然后，單片機依次控制(即時序控制)與第I連接點、第3連接點至第51連接點反向連接的第二時間繼電器、第六時間繼電器至第一百零二時間繼電器(都是第偶數個時間繼電器)導通，使得反向高壓輸出①依次輸入到所述第I連接點、第3連接點至第51連接點，測試過程中，通過所述通信接口傳輸信號并在所述絕緣耐壓測試儀上顯示測試結果，則依次測出了所述第2連接點與被測電連接器中其他連接點間的絕緣電阻；依次類推，單片機控制相應的時間繼電器的通斷，完成了被測電連接器所有芯線間的點對點絕緣電阻測試。接著，所述單片機控制所述第二繼電器組打開，開始進行待測電連接器J30-51ZK的橫排與橫排間的絕緣測試。首先，單片機控制與第I連接點至第18連接點正向連接的第一時間繼電器至第三十五時間繼 電器(都是第奇數個時間繼電器)同時導通，使得正向高壓輸出②輸入到所述第I連接點至第18連接點，然后，單片機控制與第16連接點至第35連接點反向連接的第三十二時間繼電器至第七十時間繼電器(都是第偶數個時間繼電器)同時導通，使得反向高壓輸出②輸入到所述第16連接點至第35連接點，測試過程中，通過所述通信接口傳輸信號并在所述絕緣耐壓測試儀上顯示測試結果，則測出了所述第I橫排連接點與第2橫排連接點間的絕緣電阻；然后，單片機切換到控制與第36連接點至第51連接點反向連接的第七十二時間繼電器至第一百零二時間繼電器(都是第偶數個時間繼電器)同時導通，測試過程中，通過所述通信接口傳輸信號并在所述絕緣耐壓測試儀上顯示測試結果，則測出了所述第I橫排連接點與第3橫排連接點間的絕緣電阻；依次類推，單片機控制相應的時間繼電器的通斷，完成了被測電連接器所有芯線橫排對橫排的絕緣電阻測試。然后，所述單片機控制所述第三繼電器組打開，開始進行待測電連接器J30-51ZK的豎排與豎排間的絕緣測試:首先，單片機控制與第I連接點、第19連接點、和第36連接點正向連接的第一時間繼電器、第三十七時間繼電器、和第七十一時間繼電器同時導通，使得正向高壓輸出③輸入到所述第I連接點、第19連接點、和第36連接點，然后，單片機控制與第2連接點、第20連接點、和第37連接點反向連接的第四時間繼電器、第四十時間繼電器、和第七十四時間繼電器同時導通，使得反向高壓輸出③輸入到所述第2連接點、第20連接點、和第37連接點，測試過程中，通過所述通信接口傳輸信號并在所述絕緣耐壓測試儀上顯示測試結果，則測出了所述第I豎排連接點與第2豎排連接點間的絕緣電阻；然后，單片機切換到控制與第3連接點、第21連接點、和第38連接點反向連接的第六時間繼電器、第四十二時間繼電器、和第七十六時間繼電器同時導通，測試過程中，通過所述通信接口傳輸信號并在所述絕緣耐壓測試儀上顯示測試結果，則測出了所述第I豎排連接點與第3豎排連接點間的絕緣電阻；依次類推，單片機控制相應的時間繼電器的通斷，完成了被測電連接器所有芯線豎排對豎排的絕緣電阻測試。最后，所述單片機控制所述第四繼電器組打開，開始進行待測電連接器J30-51ZK的點與外殼間的絕緣測試:此時，需將所述絕緣耐壓測試儀的高壓輸入的反向輸入測試表筆連接到所述被測電連接器的外殼。然后，單片機控制與第I連接點正向連接的第一時間繼電器導通，使得正向高壓輸出④輸入到所述第I連接點，測試過程中，通過所述通信接口傳輸信號并在所述絕緣耐壓測試儀上顯示測試結果，則測出了所述第I連接點與被測電連接器外殼間的絕緣電阻；然后，單片機切換到控制與第2連接點正向連接的第三時間繼電器導通，測試過程中，通過所述通信接口傳輸信號并在所述絕緣耐壓測試儀上顯示測試結果，則測出了所述第2連接點與被測電連接器外殼 間的絕緣電阻；依次類推，單片機控制相應的時間繼電器的通斷，完成了被測電連接器所有芯線與外殼間的絕緣電阻測試。通過單片機控制繼電器組的通斷來切換點與點、橫排與橫排、豎排與豎排、點與外殼的測試模式，并在相應模式中對應控制與測試端口連接點相連的時間繼電器的通斷來依次進行測試，最終完成了待測電連接器J30-51ZK的所有絕緣性能測試。采用類似的原理，即可測試其他系列其他型號的待測電連接器的絕緣性能。耐壓測試:絕緣測試結束后，絕緣測試耐壓儀自動切換為耐壓測試，然后對被測電連接器進行介質耐壓測試。首先，將待測電連接器J30-51ZK插在適配轉接箱上對應的電連接器接口上；然后，將供電電源連接到所述測試后面板上的供電電源插孔，所述測試前面板上的電源指示發光二極管發亮，供電電源對所述電連接器測試適配器供電(參照附圖4);接著，將絕緣耐壓測試儀的通信接口與所述測試后面板的通信接口連接，用于測試儀器的通信連接；隨后，將絕緣耐壓測試儀的高壓輸入測試表筆分別插入所述耐壓測試插孔，調節絕緣耐壓測試儀的高壓輸入電壓至所需要的測試電壓；然后，按壓所述測試前面板上的高壓測試按鈕進行耐壓測試，相應的，所述測試前面板上的高壓指示發光二極管發亮。此時，所述電源芯片開始供給所述單片機3.3V驅動電源，單片機開始工作，且單片機內部程序會自動通過所述通信接口傳輸信號來驅動絕緣耐壓測試儀工作，通過絕緣測試耐壓儀顯示檢測情況、合格與不合格。所述單片機首先控制所述第一繼電器組打開，開始進行待測電連接器J30-51ZK的點與點間耐壓測試:首先，單片機控制與第I連接點正向連接的第一時間繼電器導通，使得正向高壓輸出①輸入到所述第I連接點，然后，單片機依次控制(即時序控制)與第2連接點至第51連接點反向連接的第四時間繼電器至第一百零二時間繼電器(都是第偶數個時間繼電器)導通，使得反向高壓輸出①依次輸入到所述第2連接點至第51連接點，測試過程中，通過所述通信接口傳輸信號并在所述絕緣耐壓測試儀上顯示測試結果，則依次測出了所述第I連接點與被測電連接器中其他連接點間的介質耐壓；然后，同樣的，單片機控制與第2連接點正向連接的第三時間繼電器導通，使得正向高壓輸出①輸入到所述第2連接點，然后，單片機依次控制(即時序控制)與第I連接點、第3連接點至第51連接點反向連接的第二時間繼電器、第六時間繼電器至第一百零二時間繼電器(都是第偶數個時間繼電器)導通，使得反向高壓輸出①依次輸入到所述第I連接點、第3連接點至第51連接點，測試過程中，通過所述通信接口傳輸信號并在所述絕緣耐壓測試儀上顯示測試結果，則依次測出了所述第2連接點與被測電連接器中其他連接點間的介質耐壓；依次類推，單片機控制相應的時間繼電器的通斷，完成了被測電連接器所有芯線間的點對點介質耐壓測試。可以看出，其實點與點間的耐壓測試和絕緣測試的過程類似，在此，對于橫排與橫排、豎排與豎排、點與外殼的耐壓測試過程則不再贅述，可參考相應的絕緣測試過程即可。通過單片機控制繼電器組的通斷來切換點與點、橫排與橫排、豎排與豎排、點與外殼的測試模式，并在相應模式中對應控制與測試端口連接點相連的時間繼電器的通斷來依次進行測試，最終完成了待測電連接器J30-51ZK的所有耐壓性能測試。采用類似的原理，即可測試其他系列其他型號的待測電連接器的耐壓性能。進一步的，當所述適配轉接箱突然工作不正常導致無法進行絕緣耐壓測試時，則可利用所述公共測試點1、2、3和對殼測試點進行所述的絕緣耐壓測試。參考附圖6，為本實用新型實施例絕緣耐壓測試儀的電連接器轉接器的連接示意圖。所述公共測試點1、2、3和對殼測試點分別連接所述正向高壓輸出①至④。所述絕緣耐壓測試儀的電連接器轉接器包括插頭I至4，測試時，只需將需要測試的芯線歸類分別連接到所述插頭I至4中任意兩個，然后將所述絕緣耐壓測試儀的正向高壓輸入測試表筆插入絕緣耐壓測試插孔其中之一，然后將與待測電連接器的待測芯線連接所述插頭的其中一個對應插到所述公共測試點1、2、3和對殼測試點對應的插孔，另一個插頭與所述絕緣耐壓測試儀的反向高 壓輸入測試表筆相連，則可進行相應測試。從上述實施例可以看出，采用本實用新型所提供的電連接器測試適配器，適配轉接箱的使用可以大大降低了測試端口與連接線插頭的插拔次數從而使得所述電連接器測試適配器使用壽命得以大大的提高，從而提高了測試效率，很大提高了測試的可靠性和安全性，解決了高密度、小間距的電連接器測試難題，使得測試時接觸更加穩定可靠，測試效率更高，避免了電連接器斷路、短路、誤配線測試等問題。并且，利用單片機和繼電器配合控制，繼電器和時間繼電器的自動切換控制功能，一次完成了絕緣或耐壓測試，大大提高了測試效率，減少了測試時間，提高了元器件的安全可靠性。進一步的，利用絕緣耐壓測試儀的絕緣電阻和耐壓介質測試的自動切換功能，可以不用更換絕緣耐壓測試儀的高壓輸入測試表筆插入的插孔位置，之間從絕緣測試切換到耐壓測試，即可在絕緣測試完成后直接進行耐壓測試，使得絕緣電阻和介質耐壓一步測試成功，從而使得插拔一次連接線插頭就可以完成絕緣、耐壓、導通測試，提高了元器件的安全可靠性，有效提高了日常的測試效率，減少了測試時間。并且采用備用的絕緣耐壓測試儀的電連接器轉接器，使得當所述適配轉接箱突然工作不正常導致無法進行絕緣耐壓測試時，則可利用所述測試面板上備用設置的公共測試點1、2、3和對殼測試點進行所述的絕緣耐壓測試，保證測試的可靠性。較佳的，采用能滿足耐高壓的繼電器，可進一步提高所述電連接器測試適配器的
可靠性。需要特別指出的是，上述實施例中，所述測試面板設置為了測試前面板和測試后面板的形式，但將接口都設置于一塊面板上，而不采用前后兩塊面板的方式也是可以實現本實用新型目的的，另外，設置兩塊分離的前面板，當然也是可以實現本實用新型目的的，因此可見，凡在本實用新型的精神和原則之內，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內。上述實施例中，所述提示模塊包括了測試狀態提示發光二極管。其中，測試狀態提示發光二極管所述包括了電源指示、對殼指示、高壓指示、報警指示等測試狀態提示的發光二極管，但本領域普通技術人員可以想到，這里的狀態提示并不都是必須的，根據相應的輔助功能設置，其還可以做出多種變化，都應該屬于本實用新型的保護范疇。上述實施例中，所述測試電路的驅動模塊包括電源芯片及變壓器，本領域普通技術人員可以很容易想到，這種驅動模塊設置還有很多方式，并不局限在電源芯片和變壓器的這一種搭配上，其他的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內。所屬領域的普通技術人員應當理解:以上所述僅為本實用新型的具體實施例而已，并不用于限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在 本實用新型的保護范圍之內。
權利要求1.一種電連接器測試適配器，其特征在于，包括測試板和適配轉接箱； 所述測試板包括測試面板和測試電路； 所述測試面板，包括:用于提示測試狀態的提示模塊，用于提供測試過程中各部件之間連接接口的連接模塊，以及用于選擇測試功能的選擇模塊； 所述測試電路，包括驅動模塊、控制模塊；所述驅動模塊包括用于提供電源的驅動電源電路；所述控制模塊包括控制電路，用于在各測試功能下控制各部件間的信號變換及傳輸; 所述適配轉接箱，包括電連接器接口模塊、轉接模塊，用于為所有待測電連接器提供與測試板之間的轉接。
2.根據權利要求1所述的電連接器測試適配器，其特征在于，所述測試面板包括測試前面板和測試后面板，所述提示模塊和選擇模塊設置在測試前面板上；所述測試面板的連接模塊包括用于連接所述適配轉接箱的測試端口、絕緣測試插孔、耐壓測試插孔、供電電源插孔、連接絕緣耐壓測試儀的通信接口 ；所述測試端口設置在所述測試前面板上；所述絕緣測試插孔、耐壓測試插孔、供電電源插孔、連接絕緣耐壓測試儀的通信接口設置在所述測試后面板上。
3.根據權利要求2所述的電連接器測試適配器，其特征在于，所述測試面板的連接模塊還包括公共測試點和點對殼測試點，用于連接絕緣耐壓測試儀的電連接器轉接器。
4.根據權利要求2所述的電連接器測試適配器，其特征在于，所述測試面板的選擇模塊至少包括高壓測試、停止測試兩種功能按鈕，分別對應于測試電連接器的絕緣耐壓性能和停止對電連接器測試。
5.根據權利要求2所述的電連接器測試適配器，其特征在于，所述適配轉接箱的電連接器接口模塊至少包括電·連接器系列為J30、J30J、J63A、CDb、J40、J29A其中之一的系列中的任意型號對應的電連接器接口。
6.根據權利要求5所述的電連接器測試適配器，其特征在于，所述適配轉接箱的轉接模塊，將所述每個電連接器接口中的每個連接點對應轉接到所述測試前面板上用于連接所述適配轉接箱的測試端口上。
7.根據權利要求6所述的電連接器測試適配器，其特征在于，所述每個電連接器接口的第I至N個連接點，對應連接到所述測試前面板上的128芯測試端口的第I至N個連接點。
8.根據權利要求1-7任意一項所述的電連接器測試適配器，其特征在于，所述測試電路的控制模塊包括單片機及至少八個時間繼電器；所述八個繼電器的控制端連接所述單片機，由所述單片機控制所述八個繼電器的通斷；所述八個繼電器以反極性并聯的兩個繼電器為一組分為四組繼電器組，分別用于控制被測電連接器的點對點、橫排對橫排、豎排對豎排、點對殼的測試。
9.根據權利要求8所述的電連接器測試適配器，其特征在于，所述控制模塊還包括與所述測試端口的每個連接點都分別連接一組反極性連接的時間繼電器，其中一個時間繼電器均正向連接到所述的高壓輸出的正輸出，另一個時間繼電器反向連接到所述的高壓輸的負輸出。
10.根據權利要求9所述的電連接器測試適配器，其特征在于，所述測試電路的驅動模塊包括電源芯片及變壓器，所述電源芯片將供電電源轉換為所述單片機的驅動電源，所述變壓器將供電電 源轉換為所述繼電器的控制電壓。
專利摘要本實用新型公開了一種電連接器測試適配器，包括測試板和適配轉接箱；所述測試板包括測試面板和測試電路；所述測試面板，包括用于提示測試狀態的提示模塊，用于提供測試過程中各部件之間連接接口的連接模塊，以及用于選擇測試功能的選擇模塊；所述測試電路，包括驅動模塊、控制模塊；所述驅動模塊包括用于提供電源的驅動電源電路；所述控制模塊包括控制電路，用于在各測試功能下控制各部件間的信號變換及傳輸；所述適配轉接箱，包括電連接器接口模塊、轉接模塊，用于為所有待測電連接器提供與測試板之間的轉接；可以看到，本實用新型所提供的一種電連接器測試適配器，使得電連接器的測試更加可靠，測試效率更高。
文檔編號G01R31/12GK203133118SQ20132000183
公開日2013年8月14日 申請日期2013年1月4日 優先權日2013年1月4日
發明者劉鳳, 石華, 王耀輝, 胡開蕊, 王順, 張麗娟, 趙慧婷 申請人:航天科工防御技術研究試驗中心