小功率單向雙向可控硅測試裝置制造方法

小功率單向雙向可控硅測試裝置制造方法
【專利摘要】本發明是關于一種小功率單向雙向可控硅測試裝置，其特征包括：集成電路DIP插座、測試性能顯示電路、可控硅觸發信號回路、直流電源電路；所述的測試性能顯示電路由轉換開關K-1、紅色發光二極管LED1和電阻R2、綠色發光二極管LED2和電阻R1組成；所述的可控硅觸發信號回路由轉換開關K-2、電阻R3和電阻R4組成；所述的直流電源電路由轉換開關K-3、6V直流電源、9V直流電源和電源開關SW組成，所述的集成電路DIP插座的A插孔（T1插孔）接轉換開關K-1的3腳，集成電路DIP插座的K插孔（T2插孔）接轉換開關K-3的3腳，集成電路DIP插座的G插孔（G1插孔）通過按鈕開關AN接轉換開關K-2的3腳。
【專利說明】小功率單向雙向可控硅測試裝置【技術領域】
[0001]本發明屬于電子元器件測量【技術領域】，是關于一種小功率單向雙向可控硅測試裝置。
【背景技術】
[0002]在電子設計或維修工作中，經常需要使用電壓500V以下，電流5A以內的小功率可控硅元件。用于測量單向可控硅(SCR)或雙向可控硅(BCR)性能的方法和儀器很多，專業用于測量單向可控硅(SCR)或雙向可控硅(BCR)的專用儀器雖然性能優良，但存在著售價高，非專業單位或人員難于接受等缺陷。為了彌補和克服這些問題，有必要研制一種電路結構簡潔、制作成本低、工作性能穩定、且實用的測量單向可控硅(SCR)或雙向可控硅(BCR)性能的儀器。
[0003]小功率單向雙向可控硅測試裝置可快捷地測試這兩種可控硅的性能，并能直觀判斷其好壞及觸發性能，其測量結果能夠滿足一般技術要求，它具有電路結構簡單、工作性能穩定、制作成本低等特點。
[0004]以下詳細說明本發明所述的小功率單向雙向可控硅測試裝置在制作過程中所涉及的有關技術內容。

【發明內容】

[0005]發明目的及有益 效果:用于測量單向可控硅(SCR)或雙向可控硅(BCR)性能的方法和儀器很多，專業用于測量單向可控硅(SCR)或雙向可控硅(BCR)的專用儀器雖然性能優良，但存在著售價高，非專業單位或人員難于接受等缺陷。小功率單向雙向可控硅測試裝置可快捷地測試這兩種可控硅的性能，并能直觀判斷其好壞及觸發性能，其測量結果能夠滿足一般技術要求，它具有電路結構簡單、工作性能穩定、制作成本低等特點。
[0006]電路工作原理:轉換開關K (即:三刀雙擲轉換開關)扳至下方時，用作測試單向可控娃SCR,轉換開關K扳至上方時,用作測試雙向可控娃BCR0在測試前,先把被測可控娃各引腳插入對應插孔(兩種可控硅為共用插孔，單向可控硅SCR引腳插孔分別標注為:A插孔(陽極)、K插孔(陰極)、G插孔(柵極)，雙向可控硅BCR的標注是Tl插孔(第一陽極)、T2插孔(第二陽極)、G插孔(柵極)。
[0007]當轉換開關K扳至下方時，接通單極開關SW后，單向可控硅SCR的陽極A、陰極K之間加正電壓；當轉換開關K扳至上方時，雙向可控硅BCR的第一陽極Tl、第二陽極T2極之間加正電壓。在上述兩種情況下，紅色發光二極管LED1，或綠色發光二極管LED2都不應該點亮。如紅色發光二極管LEDl點亮，表明單向可控硅SCR損壞，其陽極A和陰極K已短路；如綠色發光二極管LED2點亮，則表明雙向可控硅BCR損壞，其第一陽極Tl和第二陽極T2已短路。
[0008]當轉換開關K扳至下方時，再按一下按鈕開關AN，給單向可控硅SCR的柵極G (轉換開關K扳至上方時，雙向可控硅BCR的柵極Gl)外加一個觸發信號，在正常情況下，紅色發光二極管LEDl或綠色發光二極管LED2應立即點亮，且在按鈕開關AN松開后，紅色發光二極管LEDl或綠色發光二極管LED2繼續保持點亮，即:表示單向可控硅SCR或雙向可控硅BCR性能完好。如果按下按鈕開關AN后，紅色發光二極管LEDl或綠色發光二極管LED2均不能點亮，則表示單向可控硅SCR或雙向可控硅BCR已經損壞，不具有觸發功能。按下按鈕開關AN后，紅色發光二極管LEDl或綠色發光二極管LED2點亮，而松開按鈕開關AN后，紅色發光二極管LEDl或綠色發光二極管LED2又立即熄滅，則表明單向可控硅SCR或雙向可控硅BCR不具有觸發保持功能，其同樣不能使用。
[0009]技術方案:小功率單向雙向可控硅測試裝置，它包括集成電路DIP插座、測試性能顯示電路、可控硅觸發信號回路、直流電源電路，其特征在于:
[0010]測試性能顯示電路:它由轉換開關κ-1、紅色發光二極管LEDl和電阻R2、綠色發光二極管LED2和電阻Rl組成，轉換開關K-1的I腳通過電阻Rl接綠色發光二極管LED2的負極，綠色發光二極管LED2的正極接電路正極VCC，轉換開關Kl的2腳通過電阻R2接紅色發光二極管LEDl的負極，紅色發光二極管LEDl的正極接電路正極VCC ；
[0011]可控硅觸發信號回路:它由轉換開關K-2、電阻R3和電阻R4組成，轉換開關K2的I腳通過電阻R3接電路正極VCC，轉換開關K-2的2腳通過電阻R4接電路正極VCC ；
[0012]直流電源電路:它由轉換開關K_3、6V直流電源、9V直流電源和單極開關SW組成，轉換開關K-3的I腳接6V直流電源的正極和9V直流電源的負極，9V直流電源的正極通過單極開關SW接電路正極VCC，轉換開關K-3的2腳接6V直流電源的負極；
[0013]集成電路DIP插座的A插孔(Tl插孔)接轉換開關K-1的3腳，集成電路DIP插座的K插孔(T2插孔)接轉換開關K-3的3腳，集成電路DIP插座的G插孔(Gl插孔)通過按鈕開關AN接轉換開關K-2的3腳。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]附圖1是本發明提供一個小功率單向雙向可控硅測試裝置的實施例電路工作原理圖；轉換開關K扳至下方時，用作測試單向可控硅SCR;轉換開關K扳至上方時，用作測試雙向可控硅BCR。
【具體實施方式】
[0015]按照附圖1所示的小功率單向雙向可控硅測試裝置電路工作原理圖和【專利附圖】

【附圖說明】，并按照
【發明內容】
所述的各部分電路中元器件之間連接關系，以及實施方式中所述的元器件技術參數要求和電路制作要點進行實施即可實現本發明，以下結合實施例對本發明的相關技術作進一步的描述。
[0016]元器件的選擇及其技術參數
[0017]電阻Rl的阻值780 Ω ；電阻R2的阻值1.8K Ω ；電阻R3的阻值82 Ω ；電阻R4的阻值 15ΚΩ ；
[0018]LEDl為紅色發光二極管，LED2為綠色發光二極管，選用直徑C 5mm高亮發光二極管；
[0019]K為轉換開關，它包括K-1、Κ_2和K-3，選用三刀雙擲轉換開關；
[0020]AN為按鈕開關，選用常開式按鍵開關；SW為單極開關；[0021 ] 單向可控硅SCR和雙向可控硅BCR使用公共插孔，公共插孔采用集成電路DIP插座；
[0022]兩組直流電源的電壓分別為9V、6V。
[0023]電路制作要點、電路調試及使用方法
[0024]因小功率單向雙向可控硅測試裝置的電路結構比較簡單，制作比較容易，一般情況下只要選用的電子元器件性能完好，并按照說明書附圖1中的元器件連接關系進行焊接，物理連接線及焊接質量經過仔細檢查正確無誤后，本發明的電路基本不需要進行任何調試即可正常工作；
[0025]在使用單向可控硅SCR或雙向可控硅BCR公共插孔時，要根據可控硅的技術資料和使用經驗，一定不要將單向可控硅SCR或雙向可控硅BCR的引腳插錯，否則難以得到正確的測試結果；
[0026]快速掌握小功率單向雙向可控硅測試裝置的使用方法，需要在使用過程中不斷地積累測試經驗；
[0027]使用方法詳見電路工作原理中所述的具體內容。
【權利要求】
1.一種小功率單向雙向可控硅測試裝置，它包括集成電路DIP插座、測試性能顯示電路、可控硅觸發信號回路、直流電源電路，其特征在于: 所述的測試性能顯示電路由轉換開關K-1、紅色發光二極管LEDl和電阻R2、綠色發光二極管LED2和電阻Rl組成，轉換開關K-1的I腳通過電阻Rl接綠色發光二極管LED2的負極，綠色發光二極管LED2的正極接電路正極VCC，轉換開關Kl的2腳通過電阻R2接紅色發光二極管LEDl的負極，紅色發光二極管LEDl的正極接電路正極VCC ； 所述的可控硅觸發信號回路由轉換開關K-2、電阻R3和電阻R4組成，轉換開關K2的I腳通過電阻R3接電路正極VCC，轉換開關K-2的2腳通過電阻R4接電路正極VCC ； 所述的直流電源電路由轉換開關K-3、6V直流電源、9V直流電源和單極開關SW組成，轉換開關K-3的I腳接6V直流電源的正極和9V直流電源的負極，9V直流電源的正極通過單極開關SW接電路正極VCC，轉換開關K-3的2腳接6V直流電源的負極； 所述的集成電路DIP插座的A插孔(Tl插孔)接轉換開關K-1的3腳，集成電路DIP插座的K插孔(T2插孔)接轉換開關K-3的3腳，集成電路DIP插座的G插孔(Gl插孔)通過按鈕開關AN接轉換開關K-2的3腳。
【文檔編號】G01R31/26GK103698683SQ201310740377
【公開日】2014年4月2日 申請日期:2013年12月29日 優先權日:2013年12月29日
【發明者】王志 申請人:王志